CN105759521B - 用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，所述测试线路包括第一数据线测试短棒、第二数据线测试短棒，所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒均包括红色信号线、绿色信号线及蓝色信号线，所述数据线的一端依照蓝、红、红、绿、绿、蓝色信号线的顺序与所述第一数据线测试短棒连接，所述数据线的另一端依照红、红、绿、绿、蓝、蓝色信号线的顺序与所述第二数据线测试短棒连接。本发明的优点在于，提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，其能够实现纯色画面，提高测试精确度。

Description

用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路
技术领域
本发明涉及液晶显示面板领域，尤其涉及一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路。
背景技术
在液晶显示面板生产过程中，一般都会进行一次加电点亮的测试，以检测液晶像素显示是否正常。现有的液晶面板测试检测的技术中，主要采用测试短棒(Shorting bar)面板布线的方式来进行测试，所述测试短棒就是将独立的栅信号或数据信号进行短接的面板区域，液晶显示面板内部发生的各种异常，理论上通过这一测试就可以在这一站检测出来，应该要保证能给每一颗子像素提供信号进行测试。
如图1所示，图1示出了一种典型的液晶面板LCD阵列基板的结构示意图，所述阵列基板包括显示区10及位于所述显示区10***的***区域11。
在显示区10内设置有多条相互垂直的数据线Dm及栅线Gn，每一条数据线Dm与栅线Gm交叉处连接一子像素14。在所述***区域11设置有第一测试短棒15及公共电极线16，所述第一测试短棒15上设置有红色信号线R、绿色信号线G及蓝色信号线B(分别对应于红绿蓝R/G/B的测试)，与红色子像素连接的数据线Dm均连接至红色信号线R，与绿色子像素连接的数据线Dm均连接至绿色信号线G，与蓝色子像素连接的数据线Dm均连接至蓝色信号线B，红色信号线R、绿色信号线G及蓝色信号线B用于向所述数据线Dm发生数据线测试信号，所述公共电极线16用于向显示区10中各子像素14提供公共电极；在所述***区域还设置有第二测试短棒18，所述第二测试短棒18设置有多条栅线测试线19，分别和显示区10中各栅线Gn连接，用于向所述栅线Gn发生栅线测试信号，通过所述第一测试短棒15及第二测试短棒18即可将子像素14点亮，当第一测试短棒15给出R信号及第二测试短棒18开启时，所有红色子像素点亮，当第一测试短棒15给出Gn信号及第二测试短棒18开启时，所有绿色子像素点亮，当第一测试短棒15给出B信号及第二测试短棒18开启时，所有蓝色子像素点亮，从而检测液晶像素显示是否有缺陷。
目前TV面板的分辨率越来越高，屏幕尺寸一定，分辨率越高，数据线随即也越来越多，数据线越多，所需要的将外部数据信号引入液晶显示面板内的COF(Chip on Film覆晶薄膜)数量也越来越多，而COF的引脚有一定数量上限，COF与COF之间的距离也需要足够的空间来满足制程边界(margin)。而尺寸一定的面板，由于空间有限，单侧所放的COF IC有一定的数量限制，当面板数据线越来越多的情况下，就很难像传统设计方案一样摆放COF。
参见图2，半源极驱动HSD(Half Source Driving)像素阵列以虚线方框所示的八个子像素为一周期，左右相邻的子像素共用一条数据线，使得数据线的数目相对于传统液晶驱动像素阵列的数据线数目减半。同一行的相邻子像素连接不同的扫描线，同一行相隔一个子像素的子像素连接相同的扫描线，从而上下相邻的子像素连接不同的扫描线。半源极驱动HSD像素阵列能够减少date COF的使用，降低成本，且解决了传统的像素阵列键合空间不足的问题。
对于具有上述半源极驱动HSD像素阵列液晶面板，常规的液晶面板检测方法显然不能应用，因此，亟需一种应用于上述半源极驱动HSD像素阵列液晶面板的测试线路。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是，提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，其能够对数据线信号从液晶面板上下两侧交叉给入的液晶面板进行测试，提供高准确度的测试。
为了解决上述问题，本发明提供了一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，所述测试线路包括第一数据线测试短棒、第二数据线测试短棒，所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒均包括红色信号线、绿色信号线及蓝色信号线，所述数据线的一端依照蓝、红、红、绿、绿、蓝色信号线的顺序与所述第一数据线测试短棒连接，所述数据线的另一端依照红、红、绿、绿、蓝、蓝色信号线的顺序与所述第二数据线测试短棒连接。
进一步，一第一数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的蓝色信号线，所述第一数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的红色信号线；与所述第一数据线相邻的第二数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的红色信号线，所述第二数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的红色信号线；与所述第二数据线相邻的第三数据线的一端连接所述第一数据测试短棒的红色信号线，所述第三数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的绿色信号线；与所述第三数据线相邻的第四数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的绿色信号线，所述第四数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的绿色信号线；与所述第四数据线相邻的第五数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的绿色信号线，所述第五数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的蓝色信号线；与所述第五数据线相邻的第六数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的蓝色信号线，所述第六数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的蓝色信号线；所述液晶显示面板的数据线与所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒如此依次循环连接。
进一步，所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒分别设置在所述液晶显示面板的上下两侧。
进一步，在所述第一数据线测试短棒侧还设置有一第一公共电极线。
进一步，在所述第二数据线测试短棒侧还设置有一第二公共电极线。
进一步，所述测试线路还包括与所述第一数据线测试短棒对应的第一奇数栅线测试短棒及第一偶数栅线测试短棒、与所述第二数据线测试短棒对应的第二奇数栅线测试短棒及第二偶数栅线测试短棒，所述第一奇数栅线测试短棒及所述第二奇数栅线测试短棒交替与液晶显示面板的奇数栅线连接，所述第一偶数栅线测试短棒及第二偶数栅线测试短棒交替与液晶显示面板的偶数栅线连接。
进一步，所述第一奇数栅线测试短棒、第一偶数栅线测试短棒、第二奇数栅线测试短棒及第二偶数栅线测试短棒设置在所述液晶显示面板的同一侧。
进一步，在所述第一奇数栅线测试短棒、第一偶数栅线测试短棒、第二奇数栅线测试短棒及第二偶数栅线测试短棒侧还设置有一第三公共电极线。
进一步，所述液晶显示面板包括显示区域及位于所述显示区域***的***区域，所述测试线路设置在液晶显示面板的***区域。
本发明的优点在于，提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，其能够实现纯色画面，提高测试精确度。
附图说明
图1是一种典型的液晶面板LCD阵列基板的结构示意图；
图2是半源极驱动像素阵列的结构示意图；
图3是本发明液晶显示面板的阵列基板的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明提供的液晶显示面板测试线路的具体实施方式做详细说明。
参见图3，液晶显示面板包括显示区30及设置在所述显示器30***的***区域40。在显示区30内设置有多条相互垂直的数据线及栅线，每一条数据线与栅线交叉处连接一子像素31。在本具体实施方式中，示意性地标示出数据线D1～D12及栅线G1～G5。
所述液晶显示面板包括多个子像素31，两数据线与两栅线围成的像素区域内设置有两个子像素，左右相邻的两个像素区域的其中两个子像素31共用一条数据线，使得数据线的数目相对于传统液晶驱动像素阵列的数据线数目减半，同一行相邻子像素31连接不同的扫描线，同一行相隔一个子像素的子像素31连接相同的扫描线，从而上下相邻的子像素31连接不同的扫描线，即为半源极驱动(HSD)像素阵列的结构，例如，如图3所示，以第二行为例，左右相邻的两个子像素31均连接到第二数据线D2，同一行相邻子像素31分别连接到栅线G3及G4，同一行相隔一个子像素的子像素31连接到栅线G3。
在所述***区域40设置有液晶显示面板测试线路。本发明液晶显示面板测试线路包括第一数据线测试短棒41及第二数据线测试短棒42。所述第一数据线测试短棒41及第二数据线测试短棒42均包括红色信号线R、绿色信号线G及蓝色信号线B。
所述数据线的一端依照蓝、红、红、绿、绿、蓝色信号线的顺序与所述第一数据线测试短棒连接，所述数据线的另一端依照红、红、绿、绿、蓝、蓝色信号线的顺序与所述第二数据线测试短棒连接，所述第一数据线测试短棒41及第二数据线测试短棒42用于向数据线输入测试信号。
例如，一第一数据线D1的一端连接所述第一数据线测试短棒41的蓝色信号线B，所述第一数据线D1的另一端连接所述第二数据线测试短棒42的红色信号线R；与所述第一数据线D1相邻的第二数据线D2的一端连接所述第一数据线测试短棒41的红色信号线R，所述第二数据线D2的另一端连接所述第二数据线测试短棒42的红色信号线R；与所述第二数据线D2相邻的第三数据线D3的一端连接所述第一数据测试短棒41的红色信号线R，所述第三数据线D3的另一端连接所述第二数据线测试短棒42的绿色信号线G；与所述第三数据线D3相邻的第四数据线D4的一端连接所述第一数据线测试短棒41的绿色信号线G，所述第四数据线D4的另一端连接所述第二数据线测试短棒42的绿色信号线G；与所述第四数据线D4相邻的第五数据线D5的一端连接所述第一数据线测试短棒41的绿色信号线G，所述第五数据线D5的另一端连接所述第二数据线测试短棒42的蓝色信号线B；与所述第五数据线D5相邻的第六数据线D6的一端连接所述第一数据线测试短棒41的蓝色信号线B，所述第六数据线D6的另一端连接所述第二数据线测试短棒42的蓝色信号线B；所述液晶显示面板的数据线与所述第一数据线测试短棒41及第二数据线测试短棒42如此依次循环连接，使得所述液晶显示面板的数据线与所述第一数据线测试短棒41及第二数据线测试短棒42连接，以进行液晶显示面板的测试。
所述测试线路还包括与所述第一数据线测试短棒41对应的第一奇数栅线测试短棒43及第一偶数栅线测试短棒44、与所述第二数据线测试短棒42对应的第二奇数栅线测试短棒45及第二偶数栅线测试短棒46。
所述第一奇数栅线测试短棒43及第一偶数栅线测试短棒44与所述第一数据线测试短棒41对应是指，所述第一奇数栅线测试短棒43及第一偶数栅线测试短棒44作为第一数据线测试短棒41的开关，即当需要第一数据线测试短棒41向数据线输入测试信号时，则开启所述第一奇数栅线测试短棒43及第一偶数栅线测试短棒44，关闭第二奇数栅线测试短棒45及第二偶数栅线测试短棒46。
所述第二奇数栅线测试短棒45及第二偶数栅线测试短棒46与所述第二数据线测试短棒42对应指的是，所述第二奇数栅线测试短棒45及第二偶数栅线测试短棒46作为第二数据线测试短棒42的开关，即当需要第二数据线测试短棒42向数据线输入测试信号时则开启第二奇数栅线测试短棒45及第二偶数栅线测试短棒46，关闭所述第一奇数栅线测试短棒43及第一偶数栅线测试短棒44。
所述第一奇数栅线测试短棒43及所述第二奇数栅线测试短棒45交替与液晶显示面板的奇数栅线连接，例如，如图3所示，所述第一奇数栅线测试短棒43连接栅线G1、G5，所述第二奇数栅线测试短棒45连接栅线G3、G7；所述第一偶数栅线测试短棒44及第二偶数栅线测试短棒46交替与液晶显示面板的偶数栅线连接，例如，如图3所示，所述第一偶数栅线测试短棒44连接栅线G2、G6，所述第二偶数栅线测试短棒46连接栅线G4、G8。
本发明液晶显示面板测试线路测试过程如下，每输入一次信号，只能点亮四分之一的对应的像素信号。
开启所述第一奇数栅线测试短棒43，所述第一奇数栅线测试短棒43向一部分奇数栅线输入测试信号，所述第一数据线测试短棒41的红色信号线R向与其连接的数据线输入信号，则所有奇数行的一半的红色像素点亮，所述第一数据线测试短棒41的绿色信号线G向与其连接的数据线输入信号，则所有奇数行的一半的绿色像素点亮，所述第一数据线测试短棒41的蓝色信号线B向与其连接的数据线输入信号，则所有奇数行的一半的蓝色像素点亮。
开启所述第一偶数栅线测试短棒44，所述第一偶数栅线测试短棒44向一部分偶数栅线输入测试信号，所述第一数据线测试短棒41的绿色信号线G向与其连接的数据线输入信号，则所有奇数行的另一半的红色像素点亮，所述第一数据线测试短棒41的蓝色信号线B向与其连接的数据线输入信号，则所有奇数行的另一半的绿色像素点亮，所述第一数据线测试短棒41的红色信号线R向与其连接的数据线输入信号，则所有奇数行的另一半的蓝色像素点亮。
即数据线与所述第一数据线测试短棒41的接线顺序是BRRGGB。
开启所述第二奇数栅线测试短棒45，所述第二奇数栅线测试短棒45向另一部分奇数栅线输入测试信号，所述第二数据线测试短棒42的蓝色信号线B向与其连接的数据线输入信号，则所有偶数行的一半的红色像素点亮，所述第二数据线测试短棒42的红色信号线R向与其连接的数据线输入信号，则所有偶数行的一半的绿色像素点亮，所述第二数据线测试短棒42的绿色信号线G向与其连接的数据线输入信号，则所有偶数行的一半的蓝色像素点亮。
开启所述第二偶数栅线测试短棒46，所述第二偶数栅线测试短棒46向另一部分偶数栅线输入测试信号，所述第二数据线测试短棒42的红色信号线R向与其连接的数据线输入信号，则所有偶数行的另一半的红色像素点亮，所述第二数据线测试短棒42的绿色信号线G向与其连接的数据线输入信号，则所有偶数行的另一半的绿色像素点亮，所述第二数据线测试短棒42的蓝色信号线B向与其连接的数据线输入信号，则所有偶数行的另一半的蓝色像素点亮。
即数据线与所述第二数据线测试短棒42的接线顺序是RRGGBB。
进一步，所述第一数据线测试短棒41及第二数据线测试短棒42分别设置在所述液晶显示面板的上下两侧，所述第一奇数栅线测试短棒43、第一偶数栅线测试短棒44、第二奇数栅线测试短棒45及第二偶数栅线测试短棒46设置在所述液晶显示面板的同一侧。
在所述第一数据线测试短棒41侧还设置有一第一公共电极线47，在所述第二数据线测试短棒42侧还设置有一第二公共电极线48，在所述奇数栅线测试短棒43及偶数栅线测试短棒44侧还设置有一第三公共电极线49，所述第一公共电极线47、第二公共电极线48及第三公共电极线49都是com电位馈入点，这三个公共电极的com电位是一样的，均是用于提供液晶显示面板的com电位，设置多个馈入点使液晶显示面板com电位实现均一性。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，其特征在于，所述测试线路包括第一数据线测试短棒、第二数据线测试短棒，所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒均包括红色信号线、绿色信号线及蓝色信号线，所述数据线的一端依照蓝、红、红、绿、绿、蓝色信号线的顺序与所述第一数据线测试短棒连接，所述数据线的另一端依照红、红、绿、绿、蓝、蓝色信号线的顺序与所述第二数据线测试短棒连接，其中一第一数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的蓝色信号线，所述第一数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的红色信号线；与所述第一数据线相邻的第二数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的红色信号线，所述第二数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的红色信号线；与所述第二数据线相邻的第三数据线的一端连接所述第一数据测试短棒的红色信号线，所述第三数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的绿色信号线；与所述第三数据线相邻的第四数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的绿色信号线，所述第四数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的绿色信号线；与所述第四数据线相邻的第五数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的绿色信号线，所述第五数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的蓝色信号线；与所述第五数据线相邻的第六数据线的一端连接所述第一数据线测试短棒的蓝色信号线，所述第六数据线的另一端连接所述第二数据线测试短棒的蓝色信号线；所述液晶显示面板的数据线与所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒如此依次循环连接。
2.根据权利要求1所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒分别设置在所述液晶显示面板的上下两侧。
3.根据权利要求1所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，在所述第一数据线测试短棒侧还设置有一第一公共电极线。
4.根据权利要求3所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，在所述第二数据线测试短棒侧还设置有一第二公共电极线。
5.根据权利要求1所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，所述测试线路还包括与所述第一数据线测试短棒对应的第一奇数栅线测试短棒及第一偶数栅线测试短棒、与所述第二数据线测试短棒对应的第二奇数栅线测试短棒及第二偶数栅线测试短棒，所述第一奇数栅线测试短棒及所述第二奇数栅线测试短棒交替与液晶显示面板的奇数栅线连接，所述第一偶数栅线测试短棒及第二偶数栅线测试短棒交替与液晶显示面板的偶数栅线连接。
6.根据权利要求5所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，所述第一奇数栅线测试短棒、第一偶数栅线测试短棒、第二奇数栅线测试短棒及第二偶数栅线测试短棒设置在所述液晶显示面板的同一侧。
7.根据权利要求5所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，在所述第一奇数栅线测试短棒、第一偶数栅线测试短棒、第二奇数栅线测试短棒及第二偶数栅线测试短棒侧还设置有一第三公共电极线。
8.根据权利要求1所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，所述液晶显示面板包括显示区域及位于所述显示区域***的***区域，所述测试线路设置在液晶显示面板的***区域。
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