CN105740319B - 一种修正采样数据的方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种修正采样数据的方法及装置,涉及数字图像处理技术领域,用以解决现有技术中存在采样设备误差导致采样数据时间点不均匀的问题。该方法包括:创建存储数据,将设定的基准时间和时间间隔添加到所述存储数据中;获取采样时间,根据采样时间,基准时间和时间间隔,确定采样时间内的采样次数;根据采样次数,采样时间,基准时间和时间间隔,确定采样时间和基准时间之间的时间偏移量;根据时间偏移量,采样次数,采样时间,基准时间和时间间隔,对采样时间进行修正,得到修正后的采样时间;将修正后的采样时间和修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
Description
技术领域
本发明涉及数字图像处理技术领域,更具体的涉及一种修正采样数据的方法及装置。
背景技术
采样数据是指在离散的时间间隔中取得的信息数据。其中,采样数据的获取受到采样装置、采样方法、实际采样时间间隔和传输采样数据的网络宽带等因素的影响,使得获取到的采样数据在时间上存在误差,并不是均匀的采样时间获取到的采样数据。
现有技术中,一般是采用设定的基准时间,将采样数据在时间上存在的误差与基准时间进行比较,并且认为在基准时间的正负偏差范围内的采样时间都不用进行时间修正,这种方法无法检测到采样获取时丢失的采样数据,而修正后的采样数据还存在可能由于丢失采样数据而导致采样时间点不均匀的问题。
综上所述,现有技术中,存在采样设备误差,而导致采样数据时间点不均匀的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种修正采样数据的方法及装置,用以解决现有技术中存在采样设备误差导致采样数据时间点不均匀的问题。
本发明实施例提供一种修正采样数据的方法,包括:
创建存储数据,将设定的基准时间和时间间隔添加到所述存储数据中;
获取采样时间,根据所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间内的采样次数;
根据所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间和所述基准时间之间的时间偏移量;
根据所述时间偏移量,所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,对所述采样时间进行修正,得到修正后的采样时间;
将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
优选地,所述根据所述时间偏移量,所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,对所述采样时间进行修正,得到修正后的采样时间,包括:
若所述时间偏移量大于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修正:
T’=T0+R*(N+1)
或者
若所述时间偏移量小于等于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修改:
T’=T0+R*N
其中,T’为修正后的采样时间,T0为基准时间,R为时间间隔,N为采样时间内的采样次数。
优选地,所述将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中,包括:
将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据进行更新,将所述更新后的采样时间和所述更新后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
本发明实施例还提供一种修正采样数据的装置,包括:
创建单元,用于创建存储数据,将设定的基准时间和时间间隔添加到所述存储数据中;
第一确定单元,用于获取采样时间,根据所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间内的采样次数;
第二确定单元,用于根据所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间和所述基准时间之间的时间偏移量;
修正单元,用于根据所述时间偏移量,所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,对所述采样时间进行修正,得到修正后的采样时间;
添加单元,用于将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
优选地,所述修正单元具体用于:
若所述时间偏移量大于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修正:
T’=T0+R*(N+1)
或者
若所述时间偏移量小于等于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修改:
T’=T0+R*N
其中,T’为修正后的采样时间,T0为基准时间,R为时间间隔,N为采样时间内的采样次数。
优选地,所述添加单元具体用于:
将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据进行更新,将所述更新后的采样时间和所述更新后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
本发明实施例中,创建存储数据,将设定的基准时间和时间间隔添加到所述存储数据中;获取采样时间,根据所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间内的采样次数;根据所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间和所述基准时间之间的时间偏移量;根据所述时间偏移量,所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,对所述采样时间进行修正,得到修正后的采样时间;将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。上述实施例中,通过初始化一个存储数据,根据采样时间、时间间隔和基准时间,可以确定采样时间和基准时间的时间偏移量,将与基准时间正负偏差在合理范围内的采样时间和该采样时间对应的采样数据添加到存储数据中,从而避免了现有的采样设备误差导致采样数据时间点不均匀的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种修正采样数据的方法流程示意图;
图2为本发明实施例提供的一种修正采样数据的装置结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1示例性的示出了本发明实施例提供的一种修正采样数据的方法流程示意图,该方法至少可以应用于图形图像处理中。
如图1所示,本发明实施例提供的一种修正采样数据的方法,包括以下步骤:
步骤101,创建存储数据,将设定的基准时间和时间间隔添加到所述存储数据中;
步骤102,获取采样时间,根据所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间内的采样次数;
步骤103,根据所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间和所述基准时间之间的时间偏移量;
步骤104,根据所述时间偏移量,所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,对所述采样时间进行修正,得到修正后的采样时间;
步骤105,将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
在步骤101中,存储数据中包括的所有数据具有按键与数值的对应关系,该存储数据和数组比较类似,其中,在数组中存在索引,而存储数据本身也是对象。
在步骤101中的基准时间和时间间隔是预先设定的,其中,基准时间的时间长度和时间间隔的时间长度没有严格的限定,但是,基准时间的时间长度大于时间间隔的时间长度,在本发明实施例中,对基准时间和时间间隔的具体数值不做限定。
在步骤102中,采样时间的获取可以通过设定的测试周期确定,还可以通过其他方式确定,在本发明实施例中,对采样时间的获取不做具体的限定。由于采样时间、基准时间和时间间隔都已经确定,可以根据确定的采样时间、基准时间和时间间隔,计算在采样时间内的采样次数。
具体地,可以根据公式(1)确定采样时间内的采样次数:
N=(T1-T0)/R (1)
在公式(1)中,N为采样时间内的采样次数,T1为采样时间,T0为基准时间,R为时间间隔。
需要说明的是,在上述实施例中,若根据公式(1)确定的采样次数为非整数,则对公式(1)确定的数值进行取整。
举例来说,若采样时间为5分钟,基准时间为2分钟,时间间隔为0.4,根据公式(1),可以确定采样时间内的采样次数为7.5,根据公式(1)的规定,进一步地,确定采样时间内的采样次数为7次。
在步骤103中,根据确定的采样次数,采样时间,基准时间和时间间隔,可以进一步的确定采样时间和基准时间的时间偏移量。
具体地,可以根据公式(2)确定采样时间和基准时间之间的时间偏移量:
F=T1-(T0+R*N) (2)
在公式(2)中,F为采样时间和基准时间之间的时间偏移量,T1为采样时间,T0为基准时间,R为时间间隔,N采样时间内的采样次数。
在步骤104中,根据时间偏移量,采样次数,采样时间,基准时间和时间间隔,对采样时间进行修正,具体地:
若确定的时间偏移量大于时间间隔的一半,则可以按照公式(3)对采样时间进行修正:
T’=T0+R*(N+1) (3)
在公式(3)中,T’为修正后的采样时间,T0为基准时间,R为时间间隔,N为采样时间内的采样次数。
进一步地,若确定的时间偏移量小于等于时间间隔的一半,则可以按照公式(4)对采样时间进行修改:
T’=T0+R*N (4)
在公式(4)中,T’为修正后的采样时间,T0为基准时间,R为时间间隔,N为采样时间内的采样次数。
在步骤105中,根据确定的修正后的采样时间,将与修正后的采样时间对应的采样数据进行更新,在本发明实施例中,对更新采样时间对应的采样数据的具体方法不做限定。
进一步地,可以将更新后的采样时间和更新后的采样时间对应的采样数据添加到存储数据中。
在本发明实施例中,创建存储数据,将设定的基准时间和时间间隔添加到所述存储数据中;获取采样时间,根据所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间内的采样次数;根据所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间和所述基准时间之间的时间偏移量;根据所述时间偏移量,所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,对所述采样时间进行修正,得到修正后的采样时间;将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。上述实施例中,通过初始化一个存储数据,根据采样时间、时间间隔和基准时间,可以确定采样时间和基准时间的时间偏移量,将与基准时间正负偏差在合理范围内的采样时间和该采样时间对应的采样数据添加到存储数据中,通过上述方法,可以创建一个修正后的采样时间和与该修正后的采样时间对应的采样数据,从而避免了现有的采样设备误差导致采样数据时间点不均匀的问题。
基于同一发明构思,本发明实施例提供了一种修正采样数据的装置,由于该装置解决技术问题的原理与一种修正采样数据的方法相似,因此该装置的实施可以参见方法的实施,重复之处不再赘述。
如图2所述,为本发明实施例提供的一种修正采样数据的装置结构示意图,包括创建单元201,第一确定单元202,第二确定单元203,修正单元204和添加单元205。
创建单元201,用于创建存储数据,将设定的基准时间和时间间隔添加到所述存储数据中;
第一确定单元202,用于获取采样时间,根据所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间内的采样次数;
第二确定单元203,用于根据所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间和所述基准时间之间的时间偏移量;
修正单元204,用于根据所述时间偏移量,所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,对所述采样时间进行修正,得到修正后的采样时间;
添加单元205,用于将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
优选地,所述修正单元204具体用于:
若所述时间偏移量大于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修正:
T’=T0+R*(N+1)
或者
若所述时间偏移量小于等于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修改:
T’=T0+R*N
其中,T’为修正后的采样时间,T0为基准时间,R为时间间隔,N为采样时间内的采样次数。
优选的,所述添加单元205具体用于:
将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据进行更新,将所述更新后的采样时间和所述更新后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
应当理解,以上一种修正采样数据的装置包括的单元仅为根据该设备装置实现的功能进行的逻辑划分,实际应用中,可以进行上述单元的叠加或拆分。并且该实施例提供的一种修正采样数据的装置所实现的功能与上述实施例提供的一种修正采样数据的方法一一对应,对于该装置所实现的更为详细的处理流程,在上述方法实施例一中已做详细描述,此处不再详细描述。
本领域内的技术人员应明白,本发明的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此,本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (4)
1.一种修正采样数据的方法,其特征在于,包括:
创建存储数据,将设定的基准时间和时间间隔添加到所述存储数据中;
获取采样时间,根据所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间内的采样次数;
根据所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间和所述基准时间之间的时间偏移量;根据如下公式确定采样时间和基准时间之间的时间偏移量:
F=T1-(T0+R*N)
其中T1为采样时间;
根据所述时间偏移量,所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,对所述采样时间进行修正,得到修正后的采样时间,包括:
若所述时间偏移量大于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修正:
T’=T0+R*(N+1)
或者
若所述时间偏移量小于等于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修改:
T’=T0+R*N
其中,T’为修正后的采样时间,T0为基准时间,R为时间间隔,N为采样时间内的采样次数;
将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中,包括:
将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据进行更新,将所述更新后的采样时间和所述更新后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
3.一种修正采样数据的装置,其特征在于,包括:
创建单元,用于创建存储数据,将设定的基准时间和时间间隔添加到所述存储数据中;
第一确定单元,用于获取采样时间,根据所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间内的采样次数;
第二确定单元,用于根据所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,确定所述采样时间和所述基准时间之间的时间偏移量;根据如下公式确定采样时间和基准时间之间的时间偏移量:
F=T1-(T0+R*N)
其中T1为采样时间;
修正单元,用于根据所述时间偏移量,所述采样次数,所述采样时间,所述基准时间和所述时间间隔,对所述采样时间进行修正,得到修正后的采样时间;所述修正单元具体用于:
若所述时间偏移量大于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修正:
T’=T0+R*(N+1)
或者
若所述时间偏移量小于等于所述时间间隔的一半,则按照下列公式对所述采样时间进行修改:
T’=T0+R*N
其中,T’为修正后的采样时间,T0为基准时间,R为时间间隔,N为采样时间内的采样次数;
添加单元,用于将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
4.如权利要求3所述的装置,其特征在于,所述添加单元具体用于:
将所述修正后的采样时间和所述修正后的采样时间对应的采样数据进行更新,将所述更新后的采样时间和所述更新后的采样时间对应的采样数据添加到所述存储数据中。
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PB01 | Publication | ||
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