CN105720155B - 一种发光二极管led及其制作方法 - Google Patents
一种发光二极管led及其制作方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105720155B CN105720155B CN201610073410.8A CN201610073410A CN105720155B CN 105720155 B CN105720155 B CN 105720155B CN 201610073410 A CN201610073410 A CN 201610073410A CN 105720155 B CN105720155 B CN 105720155B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- layer
- type
- hole
- transparency conducting
- current barrier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title abstract description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 68
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims abstract description 41
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 25
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 22
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 16
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 claims description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 6
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 5
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 3
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 3
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 238000004151 rapid thermal annealing Methods 0.000 description 2
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 2
- 229910004541 SiN Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 239000007792 gaseous phase Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical class [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MRNHPUHPBOKKQT-UHFFFAOYSA-N indium;tin;hydrate Chemical compound O.[In].[Sn] MRNHPUHPBOKKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000035800 maturation Effects 0.000 description 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/14—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure
- H01L33/145—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure with a current-blocking structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0062—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
- H01L33/0075—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds comprising nitride compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/36—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
- H01L33/38—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
- H01L33/385—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending at least partially onto a side surface of the semiconductor body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/36—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
- H01L33/38—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
- H01L33/387—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape with a plurality of electrode regions in direct contact with the semiconductor body and being electrically interconnected by another electrode layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0016—Processes relating to electrodes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
本发明公开了一种发光二极管及其制作方法,属于半导体技术领域。所述发光二极管包括衬底、N型层、发光层、P型层,P型层上开设有延伸到N型层的凹槽,P型层上层叠有第一电流阻挡层、第一透明导电层、以及钝化层,钝化层内设有延伸到P型层的第一通孔、以及延伸到第一透明导电层的第二通孔,P型焊盘设置在第一通孔内,P型电极线设置在第二通孔内,N型层上层叠有第二电流阻挡层、第二透明导电层、N型焊盘和N型电极线,第二电流阻挡层和第二透明导电层内沿N型电极线的延伸方向设有延伸到N型层的第三通孔,N型焊盘和N型电极线通过第三通孔与N型层形成欧姆接触。本发明提高了LED的发光亮度,LED的电压降低。
Description
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,特别涉及一种发光二极管LED及其制作方法。
背景技术
随着第三代半导体技术的兴起和不断成熟,半导体照明以能耗小、无污染、高亮度、长寿命等优势,成为人们关注的焦点,也带动了整个行业上中下游产业的蓬勃发展。其中,半导体发光二极管(Light Emitting Diode,简称LED)的制造是核心技术之一,不断提高LED的发光亮度是自始至终追求的目标。
现有的LED包括衬底、以及依次层叠在衬底上的N型层、发光层、P型层、电流阻挡层、透明导电层、钝化层,P型层上开设有从P型层延伸到N型层的凹槽,P型层上设有依次穿过电流阻挡层、透明导电层、钝化层的P型电极,N型层上设有穿过钝化层的N型电极。
在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题:
为了将N型电极设置N型层上,从P型层延伸到N型层的凹槽的面积较大,使得设置在P型层和N型层之间的发光层的面积较小,导致LED的发光亮度低、电压高。
发明内容
为了解决现有技术发光亮度低的问题,本发明实施例提供了一种发光二极管及其制作方法。所述技术方案如下:
一方面,本发明实施例提供了一种发光二极管,所述发光二极管包括衬底、以及依次层叠在所述衬底上的N型层、发光层、P型层,所述P型层上开设有从所述P型层延伸到所述N型层的凹槽,所述P型层上依次层叠有第一电流阻挡层、第一透明导电层、以及延伸到所述凹槽内的钝化层,所述钝化层内设有延伸到所述P型层的第一通孔、以及延伸到所述第一透明导电层的第二通孔,P型焊盘设置在所述第一通孔内,P型电极线设置在所述第二通孔内,所述N型层上层叠有第二电流阻挡层、第二透明导电层、以及N型焊盘和N型电极线,所述第二电流阻挡层和所述第二透明导电层内沿所述N型电极线的延伸方向设有若干延伸到所述N型层的第三通孔,所述N型焊盘和所述N型电极线通过所述第三通孔与所述N型层形成欧姆接触。
可选地,所述第二电流阻挡层包括若干由所述第三通孔分离的单元,所述单元的形状为圆形、环形、三角形、五角星形中的一种或多种。
优选地,所述单元沿所述N型电极线的延伸方向的长度与所述单元之间的间距之比为1/4~3/4。
可选地,所述N型焊盘与所述N型层之间层叠有所述第二电流阻挡层和所述第二透明导电层。
另一方面,本发明实施例提供了一种发光二极管的制作方法,所述制作方法包括:
在衬底上依次形成N型层、发光层、P型层;
在所述P型层上开设从所述P型层延伸到所述N型层的凹槽;
在所述P型层上形成第一电流阻挡层,在所述N型层上形成第二电流阻挡层,所述第二电流阻挡层内设有多个延伸到所述N型层的第三通孔;
在所述P型层上、以及所述第一电流阻挡层上形成第一透明导电层,在所述第二电流阻挡层上形成第二透明导电层;
在所述第一透明导电层上形成延伸到所述凹槽内的钝化层,所述钝化层内设有延伸到所述P型层的第一通孔、以及延伸到所述第一透明导电层的第二通孔;
在所述第一通孔内设置P型焊盘,在所述第二通孔内设置P型电极线,在所述第三通孔内设置N型焊盘,在所述第三通孔内和所述第二透明导电层上设置N型电极线。
可选地,所述第二电流阻挡层包括若干由所述第三通孔分离的单元,所述单元的形状为圆形、环形、三角形、五角星形中的一种或多种。
优选地,所述单元沿所述N型电极线的延伸方向的长度与所述单元之间的间距之比为1/4~3/4。
可选地,所述N型焊盘与所述N型层之间层叠有所述第二电流阻挡层和所述第二透明导电层。
可选地,所述在所述第一透明导电层上形成延伸到所述凹槽内的钝化层,所述钝化层内设有延伸到所述P型层的第一通孔、以及延伸到所述第一透明导电层的第二通孔,包括:
在所述第一透明导电层和所述第二透明导电层上铺设一层钝化层;
采用光刻工艺在所述钝化层上形成设定图形的光刻胶;
利用所述设定图形的光刻胶对所述钝化层进行刻蚀,在所述钝化层内形成延伸到所述P型层的第一通孔、以及延伸到所述第一透明导电层的第二通孔。
优选地,所述在所述第一通孔内设置P型焊盘,在所述第二通孔内设置P型电极线,在所述第三通孔内设置N型焊盘,在所述第三通孔内和所述第二透明导电层上设置N型电极线,包括:
在所述第一通孔内、第二通孔内、第三通孔内、以及所述光刻胶上形成电极;
剥离所述光刻胶,得到所述P型焊盘、所述P型电极线、所述N型焊盘、以及所述N型电极线。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
通过在N型层上层叠第二电流阻挡层、第二透明导电层、以及N型焊盘和N型电极线,第二电流阻挡层和第二透明导电层中沿N型电极线的延伸方向设有若干延伸到N型层的第三通孔,N型焊盘和N型电极线通过第三通孔与N型层形成欧姆接触,N型焊盘接入的电流分别通过各个通孔内的N型电极线进入,电流分区域聚集,有利于电流的扩散,提高了LED的发光亮度,同时各个区域的电流之间形成并联电路,降低了LED的电压。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例一提供的一种发光二极管的结构示意图;
图2是本发明实施例一提供的电极的结构示意图;
图3是本发明实施例一提供的N型电极线的结构示意图;
图4是本发明实施例二提供的一种发光二极管的的制作方法的流程图;
图5a-图5f是本发明实施例二提供的发光二极管的制作过程中的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
实施例一
本发明实施例提供了一种发光二极管,适用于正装单颗、正装串并联的LED芯片,参见图1,该发光二极管包括衬底1、以及依次层叠在衬底1上的N型层2、发光层3、P型层4,P型层4上开设有从P型层4延伸到N型层2的凹槽10,P型层4上依次层叠有第一电流阻挡层5a、第一透明导电层6a、以及延伸到凹槽10内的钝化层7,钝化层7内设有延伸到P型层4的第一通孔(图中未示出)、以及延伸到第一透明导电层6a的第二通孔20b,P型焊盘8aa(见图2)设置在第一通孔内,P型电极线8ab设置在第二通孔20b内,N型层2上层叠有第二电流阻挡层5b、第二透明导电层6b、以及N型焊盘8ba和N型电极线8bb,参见图3,第二电流阻挡层5b和第二透明导电层6b内沿N型电极线8bb的延伸方向设有若干延伸到N型层4的第三通孔,N型焊盘8ba和N型电极线8bb通过第三通孔与N型层4形成欧姆接触。
参见图2,P型焊盘8aa与P型电极线8ab之间欧姆接触,P型电极线8ab沿垂直于发光二极管的生长方向延伸;N型焊盘8ba与N型电极线8bb之间欧姆接触,N型电极线8bb沿垂直于发光二极管的生长方向延伸。容易知道,图1是图2中A-A方向的剖视图,图3是图2中B-B方向的剖视图。
在本实施例中,衬底1可以为蓝宝石衬底,N型层2可以为N型GaN层,发光层3可以为交替形成的InGaN层和GaN层,P型层4可以为P型GaN层。
可选地,N型焊盘8ba与N型层4之间层叠有第二电流阻挡层5b和第二透明导电层6b。
可选地,参见图3,第二电流阻挡层5b包括若干由第三通孔分离的单元5ba,单元的形状可以为圆形、环形、三角形、五角星形中的一种或多种。
优选地,单元沿N型电极线8bb的延伸方向的长度与单元之间的间距之比可以为1/4~3/4,如1/2。实验证明,单元沿N型电极线8bb的延伸方向的长度与单元之间的间距之比为1/2时亮度和电压性能达到最优。
可选地,第二电流阻挡层5b和第一电流阻挡层5a的材料可以均采用SiO2、SiON或者SiN,以达到较好的绝缘效果,而且采用业内通用材料、成本低。
可选地,第二透明导电层6b和第一透明导电层6a的材料可以均采用氧化铟锡(Indium Tin Oxides,简称ITO)或者NiAu。采用业内通用材料、成本低。
可选地,钝化层7的材料可以均采用SiO2或者SiON。
可选地,P型焊盘8aa、P型电极线8ab、N型焊盘8ba、N型电极线8bb的材料可以均采用Ni/Al/Cr/Ni/Au。
本发明实施例通过在N型层上层叠第二电流阻挡层、第二透明导电层、以及N型焊盘和N型电极线,第二电流阻挡层和第二透明导电层中沿N型电极线的延伸方向设有若干延伸到N型层的第三通孔,N型焊盘和N型电极线通过第三通孔与N型层形成欧姆接触,N型焊盘接入的电流分别通过各个通孔内的N型电极线进入,电流分区域聚集,有利于电流的扩散,提高了LED的发光亮度,同时各个区域的电流之间形成并联电路,降低了LED的电压。
实施例二
本发明实施例提供了一种发光二极管的制作方法,适用于制作实施例一提供的发光二极管,参见图4,该方法包括:
步骤201:在衬底上依次形成N型层、发光层、P型层。
图5a为步骤201执行之后的发光二极管的结构示意图。其中,1为衬底,2为N型层,3为发光层,4为P型层。
具体地,衬底可以为蓝宝石衬底,N型层可以为N型GaN层,发光层可以为交替生长的InGaN层和GaN层,P型层可以为P型GaN层。
可选地,该步骤201可以包括:
采用金属有机化合物化学气相沉淀(Metal-organic Chemical VaporDeposition,简称MOCVD)技术在衬底上依次形成N型层、发光层和P型层。
优选地,在步骤201之前,该方法还可以包括:
在衬底上形成至少一层缓冲层;
在缓冲层上依次形成N型层、发光层和P型层。
可以理解地,在衬底和N型层之间先形成缓冲层,有利于N型层、发光层和P型层的生长,提高晶体质量。
步骤202:在P型层上开设从P型层延伸到N型层的凹槽。
图5b为步骤202执行之后的发光二极管的结构示意图。其中,1为衬底,2为N型层,3为发光层,4为P型层,10为凹槽。
可选地,该步骤202可以包括:
在P型层上形成一层光刻胶;
采用光刻工艺溶解部分光刻胶;
在光刻胶的保护下,采用感应耦合等离子体(Inductively Coupled Plasma,简称ICP)刻蚀工艺在P型层上开设从P型层延伸至N型层的凹槽;
剥离光刻胶并进行清洗。
优选地,在步骤202之前,该方法还可以包括:
清洗发光二极管。
步骤203:在P型层上形成第一电流阻挡层,在N型层上形成第二电流阻挡层,第二电流阻挡层内设有多个延伸到N型层的第三通孔。
图5c为步骤203执行之后的发光二极管的结构示意图。其中,1为衬底,2为N型层,3为发光层,4为P型层,10为凹槽,5a为第一电流阻挡层,5b为第二电流阻挡层。
可选地,第二电流阻挡层和第一电流阻挡层的材料可以均采用SiO2、SiON或者SiN。
可选地,第二电流阻挡层包括若干由第三通孔分离的单元,单元的形状可以为圆形、环形、三角形、五角星形中的一种或多种。
优选地,单元沿N型电极线8bb的延伸方向的长度与单元之间的间距之比可以为1/4~3/4。
可选地,该步骤203可以包括:
采用等离子体增强化学气相沉积法(Plasma Enhanced Chemical VaporDeposition,简称PECVD)在P型层和N型层上形成电流阻挡层;
在电流阻挡层形成一层光刻胶;
采用光刻工艺溶解部分光刻胶;
在光刻胶的保护下,采用湿法腐蚀技术腐蚀电流阻挡层,得到第一电流阻挡层和的第二电流阻挡层;
剥离光刻胶并进行清洗。
步骤204:在P型层上、以及第一电流阻挡层上形成第一透明导电层,在第二电流阻挡层上形成第二透明导电层。
图5d为步骤204执行之后的发光二极管的结构示意图。其中,1为衬底,2为N型层,3为发光层,4为P型层,10为凹槽,5a为第一电流阻挡层,5b为第二电流阻挡层,6a为第一透明导电层,6b为第二透明导电层。
可选地,第二透明导电层和第一透明导电层的材料可以均采用ITO或者NiAu。
可选地,该步骤204可以包括:
采用磁控溅射技术或者电子束蒸发技术在P型层上、第一电流阻挡层上、第二电流阻挡层上、以及N型层上沉积透明导电层;
在透明导电层上形成一层光刻胶;
采用光刻工艺溶解部分光刻胶;
在光刻胶的保护下,采用湿法腐蚀技术腐蚀透明导电层,得到第一透明导电层和第二透明导电层;
剥离光刻胶并进行清洗。
优选地,在步骤204之后,该方法还可以包括:
采用快速热退火(rapid thermal annealing,简称RAT)技术或者在退火炉中氧气氛围内进行高温退火,使第一透明导电层与P型层之间形成良好的欧姆接触。
优选地,在步骤204之后,该方法还可以包括:
清洗发光二极管。
步骤205:在第一透明导电层上形成延伸到凹槽内的钝化层,钝化层内设有延伸到P型层的第一通孔、以及延伸到第一透明导电层的第二通孔。
图5e为步骤205执行之后的发光二极管的结构示意图。其中,1为衬底,2为N型层,3为发光层,4为P型层,10为凹槽,5a为第一电流阻挡层,5b为第二电流阻挡层,6a为第一透明导电层,6b为第二透明导电层,7为钝化层,20b为第二通孔。
可选地,钝化层的材料可以均采用SiO2或者SiON。
可选地,该步骤205可以包括:
采用PECVD在第一透明导电层和第二透明导电层上沉积一层钝化层;
采用光刻工艺在钝化层上形成设定图形的光刻胶;
利用设定图形的光刻胶对钝化层进行刻蚀,在钝化层内形成延伸到P型层的第一通孔、以及延伸到第一透明导电层的第二通孔。
步骤206:在第一通孔内设置P型焊盘,在第二通孔内设置P型电极线,在第三通孔内设置N型焊盘,在第三通孔内和第二透明导电层上设置N型电极线。
图5f为步骤206执行之后的发光二极管的结构示意图。其中,1为衬底,2为N型层,3为发光层,4为P型层,10为第二凹槽,5a为第一电流阻挡层,5b为第二电流阻挡层,6a为第一透明导电层,6b为第二透明导电层,7为钝化层,20b为第二通孔,8ab为P型电极线,8ba为N型焊盘,8bb为N型电极线。
可选地,P型焊盘、P型电极线、N型焊盘、N型电极线的材料可以均采用Ni/Al/Cr/Ni/Au。
可选地,该步骤206可以包括:
在第一通孔内、第二通孔内、第三通孔内、以及光刻胶上形成电极;
剥离光刻胶,得到P型焊盘、P型电极线、N型焊盘、以及N型电极线。
可选地,在步骤206之后,该方法还可以包括:
采用炉管退火技术进行高温退火,使P型电极线与第一透明导电层、P型焊盘与P型层、N型电极线和N型焊盘与N型层之间良好的欧姆接触。
实验证实,当选择第二电流阻挡层和第一电流阻挡层的材料采用SiO2、第二透明导电层和第一透明导电层的材料采用ITO、采用磁控溅射技术沉积透明导电层、采用RAT技术进行高温退火、钝化层的材料采用SiO2时,制成的10mil×30mil的单颗LED芯片发光均匀,并且芯片电压、漏电、抗静电性能、反向电压、开启电压等各方面参数均表现优良,发光强度提高5%,电压降低0.03V,从点侧图上得到的片内生产综合良率达到93.56%。
当选择第二电流阻挡层和第一电流阻挡层的材料采用SiN、第二透明导电层和第一透明导电层的材料采用NiAu、采用电子束蒸发技术沉积透明导电层、在退火炉内中氧气氛围内进行高温退火、钝化层的材料采用SiON时,制成的25mil×25mil的单颗LED芯片发光均匀,并且芯片电压、漏电、抗静电性能、反向电压、开启电压等各方面参数均表现优良,发光强度提高4.6%,电压降低0.05V,从点侧图上得到的片内生产综合良率达到91.6%
本发明实施例通过在N型层上层叠第二电流阻挡层、第二透明导电层、以及N型焊盘和N型电极线,第二电流阻挡层和第二透明导电层中沿N型电极线的延伸方向设有若干延伸到N型层的第三通孔,N型焊盘和N型电极线通过第三通孔与N型层形成欧姆接触,N型焊盘接入的电流分别通过各个通孔内的N型电极线进入,电流分区域聚集,有利于电流的扩散,提高了LED的发光亮度,同时各个区域的电流之间形成并联电路,降低了LED的电压。另外,依次采用光刻工艺形成所需形状的电极、钝化层相比,本实施例先采用光刻工艺形成所需形状的钝化层,再通过剥离刻蚀所需形状的钝化层所用的光刻胶,形成所需形状的电极,节省了一道光刻工艺,缩短生产周期,降低生长成成本。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种发光二极管,所述发光二极管包括衬底、以及依次层叠在所述衬底上的N型层、发光层、P型层,所述P型层上开设有从所述P型层延伸到所述N型层的凹槽,所述P型层上依次层叠有第一电流阻挡层、第一透明导电层、以及延伸到所述凹槽内的钝化层,所述钝化层内设有延伸到所述P型层的第一通孔、以及延伸到所述第一透明导电层的第二通孔,P型焊盘设置在所述第一通孔内,P型电极线设置在所述第二通孔内,其特征在于,所述N型层上层叠有第二电流阻挡层、第二透明导电层、以及N型焊盘和N型电极线,所述第二电流阻挡层和所述第二透明导电层内沿所述N型电极线的延伸方向设有若干延伸到所述N型层的第三通孔,所述N型焊盘和所述N型电极线通过所述第三通孔与所述N型层形成欧姆接触,
所述第二电流阻挡层包括若干由所述第三通孔分离的单元,所述单元沿所述N型电极线的延伸方向的长度与所述单元之间的间距之比为1/4~3/4。
2.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述单元的形状为圆形、环形、三角形、五角星形中的一种或多种。
3.根据权利要求1-2任一项所述的发光二极管,其特征在于,所述N型焊盘与所述N型层之间层叠有所述第二电流阻挡层和所述第二透明导电层。
4.一种发光二极管的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括:
在衬底上依次形成N型层、发光层、P型层;
在所述P型层上开设从所述P型层延伸到所述N型层的凹槽;
在所述P型层上形成第一电流阻挡层,在所述N型层上形成第二电流阻挡层,所述第二电流阻挡层内设有多个延伸到所述N型层的第三通孔;
在所述P型层上、以及所述第一电流阻挡层上形成第一透明导电层,在所述第二电流阻挡层上形成第二透明导电层;
在所述第一透明导电层上形成延伸到所述凹槽内的钝化层,所述钝化层内设有延伸到所述P型层的第一通孔、以及延伸到所述第一透明导电层的第二通孔;
在所述第一通孔内设置P型焊盘,在所述第二通孔内设置P型电极线,在所述第三通孔内设置N型焊盘,在所述第三通孔内和所述第二透明导电层上设置N型电极线,
所述第二电流阻挡层包括若干由所述第三通孔分离的单元,所述单元沿所述N型电极线的延伸方向的长度与所述单元之间的间距之比为1/4~3/4。
5.根据权利要求4所述的制作方法,其特征在于,所述单元的形状为圆形、环形、三角形、五角星形中的一种或多种。
6.根据权利要求4-5任一项所述的制作方法,其特征在于,所述N型焊盘与所述N型层之间层叠有所述第二电流阻挡层和所述第二透明导电层。
7.根据权利要求4-5任一项所述的制作方法,其特征在于,所述在所述第一透明导电层上形成延伸到所述凹槽内的钝化层,所述钝化层内设有延伸到所述P型层的第一通孔、以及延伸到所述第一透明导电层的第二通孔,包括:
在所述第一透明导电层和所述第二透明导电层上铺设一层钝化层;
采用光刻工艺在所述钝化层上形成设定图形的光刻胶;
利用所述设定图形的光刻胶对所述钝化层进行刻蚀,在所述钝化层内形成延伸到所述P型层的第一通孔、以及延伸到所述第一透明导电层的第二通孔。
8.根据权利要求7所述的制作方法,其特征在于,所述在所述第一通孔内设置P型焊盘,在所述第二通孔内设置P型电极线,在所述第三通孔内设置N型焊盘,在所述第三通孔内和所述第二透明导电层上设置N型电极线,包括:
在所述第一通孔内、第二通孔内、第三通孔内、以及所述光刻胶上形成电极;
剥离所述光刻胶,得到所述P型焊盘、所述P型电极线、所述N型焊盘、以及所述N型电极线。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610073410.8A CN105720155B (zh) | 2016-02-03 | 2016-02-03 | 一种发光二极管led及其制作方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610073410.8A CN105720155B (zh) | 2016-02-03 | 2016-02-03 | 一种发光二极管led及其制作方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105720155A CN105720155A (zh) | 2016-06-29 |
CN105720155B true CN105720155B (zh) | 2018-07-31 |
Family
ID=56154697
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610073410.8A Active CN105720155B (zh) | 2016-02-03 | 2016-02-03 | 一种发光二极管led及其制作方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN105720155B (zh) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109326702A (zh) * | 2017-07-31 | 2019-02-12 | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 | 一种具有环形电极结构的led芯片及其制备方法 |
CN107507896A (zh) * | 2017-09-25 | 2017-12-22 | 广东工业大学 | 一种紫外led光源倒装结构 |
CN108110107A (zh) * | 2017-12-18 | 2018-06-01 | 湘能华磊光电股份有限公司 | 一种led芯片的制作方法 |
CN108321269A (zh) * | 2018-04-08 | 2018-07-24 | 聚灿光电科技(宿迁)有限公司 | Led芯片及其制造方法 |
CN110534623B (zh) * | 2019-09-03 | 2021-06-11 | 厦门乾照光电股份有限公司 | Led芯片及其制作方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20120037636A (ko) * | 2010-10-12 | 2012-04-20 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 및 발광 소자 패키지 |
KR20120041646A (ko) * | 2010-10-21 | 2012-05-02 | 갤럭시아포토닉스 주식회사 | 전류 저지층을 포함하는 발광 다이오드 및 발광 다이오드 패키지 |
CN202749409U (zh) * | 2012-08-13 | 2013-02-20 | 安徽三安光电有限公司 | 增强电极附着力的氮化镓基发光二极管 |
CN103117332A (zh) * | 2011-11-16 | 2013-05-22 | 晶元光电股份有限公司 | 光电元件 |
CN104465920A (zh) * | 2013-09-17 | 2015-03-25 | 丰田合成株式会社 | 第iii族氮化物半导体发光器件 |
-
2016
- 2016-02-03 CN CN201610073410.8A patent/CN105720155B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20120037636A (ko) * | 2010-10-12 | 2012-04-20 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 및 발광 소자 패키지 |
KR20120041646A (ko) * | 2010-10-21 | 2012-05-02 | 갤럭시아포토닉스 주식회사 | 전류 저지층을 포함하는 발광 다이오드 및 발광 다이오드 패키지 |
CN103117332A (zh) * | 2011-11-16 | 2013-05-22 | 晶元光电股份有限公司 | 光电元件 |
CN202749409U (zh) * | 2012-08-13 | 2013-02-20 | 安徽三安光电有限公司 | 增强电极附着力的氮化镓基发光二极管 |
CN104465920A (zh) * | 2013-09-17 | 2015-03-25 | 丰田合成株式会社 | 第iii族氮化物半导体发光器件 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105720155A (zh) | 2016-06-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105720156B (zh) | 一种发光二极管及其制作方法 | |
CN105720155B (zh) | 一种发光二极管led及其制作方法 | |
CN103219352B (zh) | 阵列式结构的led组合芯片及其制作方法 | |
CN107808914A (zh) | 一种发光二极管及其制作方法 | |
CN103094442A (zh) | 一种氮化物发光二极管及其制备方法 | |
CN104332532A (zh) | 一种高光效发光二极管的制作方法 | |
CN105720142B (zh) | 一种发光二极管芯片的制备方法 | |
CN101257072A (zh) | 一种立体式空间分布电极的发光二极管及其制造方法 | |
CN109860349A (zh) | 一种led芯片及其制造方法 | |
CN107863432B (zh) | 一种提升led性能的led制备方法以及led芯片 | |
CN103647010B (zh) | 一种大功率led芯片的制作方法 | |
CN103682021B (zh) | 金属电极具有阵列型微结构的发光二极管及其制造方法 | |
CN105742418A (zh) | 一种发光二极管芯片及其制作方法 | |
WO2023137814A1 (zh) | 一种高压led芯片的制作方法 | |
CN108321274A (zh) | Led芯片及其制造方法 | |
CN106784231A (zh) | 一种led芯片及其制作方法 | |
CN105304782B (zh) | 一种蓝绿发光二极管芯片 | |
KR20090067305A (ko) | 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법 | |
CN109638133B (zh) | 半导体芯片及其制造方法 | |
CN209471992U (zh) | 半导体芯片 | |
CN106992235A (zh) | 一种发光二极管芯片 | |
CN106784174B (zh) | 一种led芯片及其制作方法 | |
CN207993889U (zh) | Led芯片 | |
CN102790158B (zh) | 具有高提取效率的GaN基LED芯片制作方法 | |
CN202405306U (zh) | 一种高光效、低光衰以及高封装良率led芯片 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |