CN105607314A - 一种液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，所述方法包括：获取液晶显示模组的闪烁度原始值；计算液晶显示模组的闪烁度最优值；判断闪烁度最优值是否为最优化；若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示模组的闪烁度校准，而且在烧录闪烁度最优值后，还进行检测烧录值的步骤，这样就大大降低了烧录出现次品的情况，提高了生产的良品率，提高了总的生产效率，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

Description

一种液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置

技术领域

本发明涉及校准技术领域，更具体的说，涉及一种液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置。

背景技术

液晶显示模组总会存在一定程度的闪烁现象，闪烁值过大会造成观察者的视觉疲劳和不适，因此液晶显示模组在出厂前需要进行闪烁度调节，将闪烁度控制在预定的范围内，有利于用户的观看和护眼。

目前，使用液晶显示模组闪烁度测试仪测试液晶显示模组的闪烁度时，通常是员工通过观测测试仪的数值来手动调节液晶显示模组的参数，在确认参数是最佳值后，将其写入到液晶显示模组中。此调节方法步骤繁多，而且由于大多步骤是手动操作，存在误判与误操作风险，且对员工的专业技能要求较高。

因此，亟需一种效率更高，更加可靠的液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种效率更高，更加可靠的液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，所述方法包括：

获取液晶显示模组的闪烁度原始值；

计算液晶显示模组的闪烁度最优值；

判断闪烁度最优值是否为最优化；

若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；

判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

进一步的，在所述获取液晶显示模组的闪烁度原始值的步骤之前还包括，

初始化液晶显示模组；

确认液晶显示模组工作状态是否正常；

若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦。

进一步的，在所述计算液晶显示模组的闪烁度最优值的步骤之后还包括，

测试液晶显示模组的闪烁度值。

进一步的，所述闪烁度原始值通过使用硅光电池检测液晶显示模组表面的亮暗变化获取；并通过运算放大器对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。

进一步的，使用ARM芯片作为闪烁度感应单元的主控芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。

一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，包括：

主控芯片，与主控芯片相连的升降平台，测试液晶显示模组的闪烁度感应单元，与闪烁度感应单元相连的运算放大器，与运算放大器相连的滤波器，与滤波器相连的模数转换器，所述主控芯片还与液晶显示模组相连，其中，所述主控芯片包括：

获取模块，用于获取液晶显示模组的闪烁度原始值；

处理模块，用于计算液晶显示模组的闪烁度最优值；

第一测试模块，用于判断闪烁度最优值是否为最优化；

写入模块，若计算的闪烁度最优值为最优化，则用于将最优值烧录到液晶显示模组中；

第二测试模块，用于判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

进一步的，所述主控芯片还包括：

初始化模块，用于初始化液晶显示模组；

液晶测试模块，用于确认液晶显示模组工作状态是否正常；

对焦模块，用于若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦；

其中，所述对焦模块与所述获取模块相连。

进一步的，所述主控芯片还包括：

闪烁检测模块，用于测试液晶显示模组的闪烁度值；

其中，所述闪烁检测模块与处理模块和第一测试模块相连。

进一步的，所述闪烁度感应单元为硅光电池，所述运算放大器可对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。

进一步的，所述主控芯片为ARM芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。

本发明相对于现有技术来说具有以下有益效果：现有技术中，有通过人工观测液晶显示模组测试仪的数值来手动调节液晶显示屏的参数，在确认参数是最佳值后，将其固化在液晶显示屏中，此调节方法步骤繁多，而且由于大多步骤是手动操作，存在误判与误操作风险，且对员工的专业技能要求较高；或者使用液晶显示屏闪烁度测试仪测试液晶显示屏的闪烁度，其测得的值会由主控处理，主控会自动调整液晶显示屏的参数，并在闪烁度最优化后将参数固化在液晶显示屏中，但是闪烁度测试仪的成本与维护费用昂贵，且主控无法对液晶显示屏的工作状态及烧录后的数值进行确认，存在了一定的风险性。本发明中，由于方法包括，获取液晶显示模组的闪烁度原始值；计算液晶显示模组的闪烁度最优值；判断闪烁度最优值是否为最优化；若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。这样，就可以通过闪烁度感应单元测试得到液晶显示模组的闪烁度值，然后将这个数值发送给主控芯片，主控芯片在获取到闪烁度原始值后，就会根据获取的众多闪烁度原始值进行计算得到液晶显示模组的闪烁度最优值，然后，主控芯片就会判断闪烁度最优值是否为最优化，如果为最优化就将计算得到的最优值烧录到液晶显示模组中，之后，主控芯片会从液晶显示模组中检测烧录的闪烁度最优值是否与计算得到最优值相同，若是相同的，则就完成了本次校准，若检测烧录的闪烁度最优值与计算得到最优值不相同，则会进行重新烧录，直到烧录值与计算得到的最优值相同，即可完成本次校准，这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示模组的闪烁度校准，而且在烧录闪烁度最优值后，还进行检测烧录值的步骤，这样就大大降低了烧录出现次品的情况，提高了生产的良品率，提高了总的生产效率，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

附图说明

图1是本发明实施例一的液晶显示模组闪烁度的校准方法的流程图；

图2是本发明实施例二的液晶显示模组闪烁度的校准方法的流程图；

图3是本发明实施例三的液晶显示模组闪烁度的校准装置的示意图；

图4是本发明实施例三的主控芯片的示意图；

图5是本发明实施例三的升降平台的示意图；

图6是本发明实施例三的主控芯片第一部分的原理图；

图7是本发明实施例三的主控芯片第二部分的原理图；

图8是本发明实施例三的主控芯片第三部分的原理图；

图9是本发明实施例三的主控芯片第四部分的原理图；

图10是本发明实施例三的主控芯片第五部分的原理图。

其中：10、主控芯片，11、获取模块，12、处理模块，13、第一测试模块，14、写入模块，15、第二测试模块,16、烧录检测模块。17、闪烁检测模块，18、初始化模块，19、液晶测试模块，20、对焦模块。

具体实施方式

在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作描述成顺序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。

在上下文中所称“主控芯片”，也称为“芯片”，是指可以通过运行预定程序或指令来执行数值计算和/或逻辑计算等预定处理过程的智能电子设备，其可以包括处理器与存储器，由处理器执行在存储器中预存的存续指令来执行预定处理过程，或是由ASIC、FPGA、DSP等硬件执行预定处理过程，或是由上述二者组合来实现。计算机设备包括但不限于服务器、个人电脑、笔记本电脑、平板电脑、智能手机等。

需要说明的是，所述主控芯片仅为举例，其他现有的或今后可能出现的主控芯片如可适用于本发明，也应包含在本发明保护范围以内，并以引用方式包含于此。

后面所讨论的方法(其中一些通过流程图示出)可以通过硬件、软件、固件、中间件、微代码、硬件描述语言或者其任意组合来实施。当用软件、固件、中间件或微代码来实施时，用以实施必要任务的程序代码或代码段可以被存储在机器或计算机可读介质(比如存储介质)中。(一个或多个)处理器可以实施必要的任务。

这里所公开的具体结构和功能细节仅仅是代表性的，并且是用于描述本发明的示例性实施例的目的。但是本发明可以通过许多替换形式来具体实现，并且不应当被解释成仅仅受限于这里所阐述的实施例。

应当理解的是，虽然在这里可能使用了术语“第一”、“第二”等等来描述各个单元，但是这些单元不应当受这些术语限制。使用这些术语仅仅是为了将一个单元与另一个单元进行区分。举例来说，在不背离示例性实施例的范围的情况下，第一单元可以被称为第二单元，并且类似地第二单元可以被称为第一单元。这里所使用的术语“和/或”包括其中一个或更多所列出的相关联项目的任意和所有组合。

应当理解的是，当一个单元被称为“连接”或“耦合”到另一单元时，其可以直接连接或耦合到所述另一单元，或者可以存在中间单元。与此相对，当一个单元被称为“直接连接”或“直接耦合”到另一单元时，则不存在中间单元。应当按照类似的方式来解释被用于描述单元之间的关系的其他词语(例如“处于...之间”相比于“直接处于...之间”，“与...邻近”相比于“与...直接邻近”等等)。

这里所使用的术语仅仅是为了描述具体实施例而不意图限制示例性实施例。除非上下文明确地另有所指，否则这里所使用的单数形式“一个”、“一项”还意图包括复数。还应当理解的是，这里所使用的术语“包括”和/或“包含”规定所陈述的特征、整数、步骤、操作、单元和/或组件的存在，而不排除存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

还应当提到的是，在一些替换实现方式中，所提到的功能/动作可以按照不同于附图中标示的顺序发生。举例来说，取决于所涉及的功能/动作，相继示出的两幅图实际上可以基本上同时执行或者有时可以按照相反的顺序来执行。

下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。

实施例一

如图1所示，一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，所述方法包括：

S100，获取液晶显示模组的闪烁度原始值；

S200，计算液晶显示模组的闪烁度最优值；

S300，判断闪烁度最优值是否为最优化；

S400，若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；

S500，判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

本发明中，由于方法包括，S100获取液晶显示模组的闪烁度原始值；S200计算液晶显示模组的闪烁度最优值；S300，判断闪烁度最优值是否为最优化；S400，若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；S500判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。这样，就可以通过闪烁度感应单元测试得到液晶显示模组的闪烁度值，然后将这个数值发送给主控芯片，主控芯片在获取到闪烁度原始值后，就会根据获取的众多闪烁度原始值进行计算得到液晶显示模组的闪烁度最优值，然后，主控芯片就会判断闪烁度最优值是否为最优化，如果为最优化就将计算得到的最优值烧录到液晶显示模组中，之后，主控芯片会从液晶显示模组中检测烧录的闪烁度最优值是否与计算得到最优值相同，若是相同的，则就完成了本次校准，若检测烧录的闪烁度最优值与计算得到最优值不相同，则会进行重新烧录，直到烧录值与计算得到的最优值相同，即可完成本次校准，这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示模组的闪烁度校准，而且在烧录闪烁度最优值后，还进行检测烧录值的步骤，这样就大大降低了烧录出现次品的情况，提高了生产的良品率，提高了总的生产效率，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。当然，如果计算的闪烁度最优值不是最优化，则就会返回到S200计算液晶显示模组的闪烁度最优值的步骤中进行继续计算，直到计算出符合最优化的闪烁度最优值。

另外，本实施例中，在将若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中S400的步骤之后，还有步骤，检测烧录到液晶显示模组的烧录值，这样就方便S500的判断步骤。

根据本实施例中的一个示例，在所述获取液晶显示模组的闪烁度原始值S100的步骤之前还包括，

初始化液晶显示模组；

确认液晶显示模组工作状态是否正常；

若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦。

这样，就可以在对液晶显示模组进行校准之前先对液晶显示模组的工作状态进行确认，看看液晶显示模组是否可以正常工作，避免因液晶显示模组的问题而导致校准的失败，提高校准的效率，确认液晶显示模组的工作状态可以通过测试液晶显示模组的工作电压、电流、亮度等参数来判断。

根据本实施例中的另一个示例，在所述计算液晶显示模组的闪烁度最优值S102的步骤之后还包括，

测试液晶显示模组的闪烁度值。

这样，在计算闪烁度最优值之前，可以再次获取液晶显示模组的闪烁度值，从而通过更多的闪烁度值来进行计算，增加取样样本，提高闪烁度最优值的计算精度。

根据本实施例中的另一个示例，所述闪烁度原始值通过使用硅光电池检测液晶显示模组表面的亮暗变化获取；并通过运算放大器对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。硅光电池的成本较低，测试准确度较高，使用起来方便，运算放大器和滤波器可以对信号进行处理、进行滤波，产生干净的可用模拟信号，方便信号的使用，然后通过ADC(模数转换器)转换将闪烁度模拟信号转换为直流信号，由主控对数字信号进行处理及运算，用以识别当前闪烁度等级及判断是否为最优化值。

根据本实施例中的另一个示例，使用ARM芯片作为闪烁度感应单元的主控芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。这样可以提高数据传输的效率，保证数据传送的稳定性和校准的准确性。其中，GPIO为通用输入/输出，或总线扩展器，利用工业标准I2C、SMBus或SPI接口简化了I/O口的扩展。当微控制器或芯片组没有足够的I/O端口，或当***需要采用远端串行通信或控制时，GPIO产品能够提供额外的控制和监视功能。

本实施例中，使用ARM芯片作为校准仪的主控芯片，驱动液晶显示模组显示，并通过GPIO口实时读取液晶显示模组的工作状况，确保液晶显示模组的工作正常。

主控芯片通过GPIO口控制升降平台，自动调整闪烁度感应单元与液晶显示屏的距离，提烁度测试数据的准确性。如主控芯片确认液晶显示模组没有正常工作，升降平台将自动抬起，终止校准流程。

使用硅光电池检测液晶显示模组表面的亮暗变化，生成闪烁度的原始值，通过运算放大器对信号进行放大并通过滤波器对信号进行滤波，产生干净的可用模拟信号。

通过ADC转换将闪烁度模拟信号转换为直流信号，由主控对数字信号进行处理及运算，用以识别当前闪烁度等级及判断是否为最优化值。

主控芯片将运算得出的最优化参数固化入液晶显示模组中，并通过GPIO口确认固化入液晶显示模组中的参数是否正确。并显示“通过”或“不通过”画面提示操作人员。

主控芯片确认步骤结束后通过GPIO口控制升降平台抬升，表示步骤已全部结束，提示操作人员断电。

本实施例通过气压式升降平台自动调整闪烁度感应单元的与液晶显示屏的距离，增加闪烁度测试数据的准确性，并将测试数据通过ADC(模数转换器)转换提供给主控分析，主控完成数据分析后自动调整液晶显示屏的参数，并计算出闪烁度最优值，主控将最优值参数固化入液晶显示屏中，固化完成后主控再次调出液晶显示屏的参数确认是否固化正确，提升稳定性。此套发明所有动作均由仪器完成，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

此外，本实施例中，使用硅光电池作为闪烁度感应单元，提供闪烁度的原始值。使用ADC转换器对闪烁度原始值进行数模转换，为主控提供有效信号。主控对液晶显示屏的工作状态进行确认，保证液晶显示屏的工作状态正常。主控对闪烁度信号进行处理，运算，调试及输出。主控对固化在液晶显示屏中的参数进行调取并确认，保证调试成功。使用气压式升降平台，自动调整闪烁度感应单元与液晶显示屏的距离，保证闪烁度测试数据的准确性。通过主控芯片GPIO口控制电磁阀的开关，实现程序控制气压式升降平台。

实施例二

如图2所示，本实施例公开一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，可以认为是对实施例一的进一步阐述和细化，所示方法包括：

S70，初始化液晶显示模组；

S80，确认液晶显示模组工作状态是否正常；

S90,若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦。

S100，获取液晶显示模组的闪烁度原始值；

S200，计算液晶显示模组的闪烁度最优值；

S201，测试液晶显示模组的闪烁度值。

S300，判断闪烁度最优值是否为最优化；

S400，若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；

S401，检测烧录到液晶显示模组的烧录值；

S500，判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

其中，步骤S90中，若液晶显示模组工作状态不是正常的，则将返回到开始状态，对新的液晶显示模组进行初始化，检测新的液晶显示模组的工作状态；步骤S300中，若闪烁度最优值不是最优化，则返回到步骤S200中，重新对液晶显示模组的闪烁度最优值进行计算；在步骤S500中，若判断烧录的烧录值不是正确的，那么就会返回到步骤S400中，对液晶显示模组进行重新烧录。

这种液晶显示模组的校准方法就会非常可靠和高效的进行校准，提高校准效率。

实施例三

如图3和图4所示，本发明公开一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，包括：

主控芯片10，与主控芯片相连的升降平台31，测试液晶显示模组30的闪烁度感应单元32，与闪烁度感应单元32相连的运算放大器33，与运算放大器相连的滤波器34，与滤波器34相连的模数转换器35，所述主控芯片10还与液晶显示模组30相连，其中，所述主控芯片10包括：

获取模块11，用于获取液晶显示模组的闪烁度原始值；

处理模块12，用于计算液晶显示模组的闪烁度最优值；

第一测试模块13，用于判断闪烁度最优值是否为最优化；

写入模块14，用于若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；

第二测试模块15，用于判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

这样，就可以通过闪烁度感应单元32测试得到液晶显示模组30的闪烁度值，然后将这个数值发送给主控芯片10，主控芯片10的获取模块11在获取到闪烁度原始值后，处理模块12就会根据获取的众多闪烁度原始值进行计算得到液晶显示模组的闪烁度最优值，然后第一测试模块13就会判断闪烁度最优值是否为最优化，如果为最优化则写入模块14就将计算得到的最优值烧录到液晶显示模组中，之后，主控芯片10的第二测试模块15会从液晶显示模组中检测烧录的闪烁度最优值是否与计算得到最优值相同，若是相同的，则就完成了本次校准，若检测烧录的闪烁度最优值与计算得到最优值不相同，则会进行重新烧录，直到烧录值与计算得到的最优值相同，即可完成本次校准，这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示模组的闪烁度校准，而且在烧录闪烁度最优值后，还进行检测烧录值的步骤，这样就大大降低了烧录出现次品的情况，提高了生产的良品率，提高了总的生产效率，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

第一测试模块13还可以用于，若如果计算的闪烁度最优值不是最优化，则就会返回到处理模块12中继续计算液晶显示模组的闪烁度最优值中，直到计算出符合最优化的闪烁度最优值。

另外，本实施例中，本装置还设有烧录检测模块16，所述烧录检测模块16位于所述写入模块14和第二测试模块15之间，方便第二测试模块15的判断。

根据本实施例中的另一个示例，所述主控芯片还包括：

闪烁检测模块17，用于测试液晶显示模组的闪烁度值；所述闪烁检测模块17位于处理模块12和第一测试模块13之间。

根据本实施例中的一个示例，所述主控芯片10还包括：

初始化模块18，用于初始化液晶显示模组；

液晶测试模块19，用于确认液晶显示模组工作状态是否正常；

对焦模块20，用于若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦；

其中，所述对焦模块与所述获取模块相连。这样，就可以在对液晶显示模组进行校准之前先对液晶显示模组的工作状态进行确认，看看液晶显示模组是否可以正常工作，避免因液晶显示模组的问题而导致校准的失败，提高校准的效率，确认液晶显示模组的工作状态可以通过测试液晶显示模组的工作电压、电流、亮度等参数来判断。

其中，所述调整模块与所述写入测试模块相连。这样，在计算闪烁度最优值之前，可以再次获取液晶显示模组的闪烁度值，从而通过更多的闪烁度值来进行计算，增加取样样本，提高闪烁度最优值的计算精度。

根据本实施例中的另一个示例，所述闪烁度感应单元为硅光电池，所述运算放大器可对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。硅光电池的成本较低，测试准确度较高，使用起来方便，运算放大器和滤波器可以对信号进行处理、进行滤波，产生干净的可用模拟信号，方便信号的使用，然后通过ADC(模数转换器)转换将闪烁度模拟信号转换为直流信号，由主控对数字信号进行处理及运算，用以识别当前闪烁度等级及判断是否为最优化值。

根据本实施例中的另一个示例，所述主控芯片为ARM芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。这样可以提高数据传输的效率，保证数据传送的稳定性和校准的准确性。

如图5所示，本实施例中，利用的是升降平台31实现控制闪烁度感应单元32与液晶显示模组30之间的距离的，升降平台31上还设有运算放大器33和滤波器34，以及同样放置在升降平台31底部的主控芯片10。

本实施例中，使用ARM芯片作为校准仪的主控芯片，驱动液晶显示模组显示，并通过GPIO口实时读取液晶显示模组的工作状况，确保液晶显示模组的工作正常。

主控芯片通过GPIO口控制升降平台，自动调整闪烁度感应单元与液晶显示屏的距离，提烁度测试数据的准确性。如主控芯片确认液晶显示模组没有正常工作，升降平台将自动抬起，终止校准流程。

使用硅光电池检测液晶显示模组表面的亮暗变化，生成闪烁度的原始值，通过运算放大器对信号进行放大并通过滤波器对信号进行滤波，产生干净的可用模拟信号。

通过ADC转换将闪烁度模拟信号转换为直流信号，由主控对数字信号进行处理及运算，用以识别当前闪烁度等级及判断是否为最优化值。

主控芯片将运算得出的最优化参数固化入液晶显示模组中，并通过GPIO口确认固化入液晶显示模组中的参数是否正确。并显示“通过”或“不通过”画面提示操作人员。

主控芯片确认步骤结束后通过GPIO口控制升降平台抬升，表示步骤已全部结束，提示操作人员断电。

本实施例通过气压式升降平台自动调整闪烁度感应单元的与液晶显示屏的距离，增加闪烁度测试数据的准确性，并将测试数据通过ADC(模数转换器)转换提供给主控分析，主控完成数据分析后自动调整液晶显示屏的参数，并计算出闪烁度最优值，主控将最优值参数固化入液晶显示屏中，固化完成后主控再次调出液晶显示屏的参数确认是否固化正确，提升稳定性。此套发明所有动作均由仪器完成，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

此外，本实施例中，使用硅光电池作为闪烁度感应单元，提供闪烁度的原始值。使用ADC转换器对闪烁度原始值进行数模转换，为主控提供有效信号。主控对液晶显示屏的工作状态进行确认，保证液晶显示屏的工作状态正常。主控对闪烁度信号进行处理，运算，调试及输出。主控对固化在液晶显示屏中的参数进行调取并确认，保证调试成功。使用气压式升降平台，自动调整闪烁度感应单元与液晶显示屏的距离，保证闪烁度测试数据的准确性。通过主控芯片GPIO口控制电磁阀的开关，实现程序控制气压式升降平台。

如图5至图9所示，是本实施例的主控芯片的原理图。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特征在于，所述方法包括：

获取液晶显示模组的闪烁度原始值；

计算液晶显示模组的闪烁度最优值；

判断闪烁度最优值是否为最优化；

若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；

判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

2.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特征在于，在所述获取液晶显示模组的闪烁度原始值的步骤之前还包括，

初始化液晶显示模组；

确认液晶显示模组工作状态是否正常；

若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦。

3.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特征在于，在所述计算液晶显示模组的闪烁度最优值的步骤之后还包括，

测试液晶显示模组的闪烁度值。

4.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特征在于，所述闪烁度原始值通过使用硅光电池检测液晶显示模组表面的亮暗变化获取；并通过运算放大器对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。

5.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特征在于，使用ARM芯片作为闪烁度感应单元的主控芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。

6.一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特征在于，包括：

主控芯片，与主控芯片相连的升降平台，测试液晶显示模组的闪烁度感应单元，与闪烁度感应单元相连的运算放大器，与运算放大器相连的滤波器，与滤波器相连的模数转换器，所述主控芯片还与液晶显示模组相连，其中，所述主控芯片包括：

获取模块，用于获取液晶显示模组的闪烁度原始值；

处理模块，用于计算液晶显示模组的闪烁度最优值；

第一测试模块，用于判断闪烁度最优值是否为最优化；

写入模块，若计算的闪烁度最优值为最优化，则用于将最优值烧录到液晶显示模组中；

第二测试模块，用于判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

7.根据权利要求6所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特征在于，所述主控芯片还包括：

初始化模块，用于初始化液晶显示模组；

液晶测试模块，用于确认液晶显示模组工作状态是否正常；

对焦模块，用于若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦；

其中，所述对焦模块与所述获取模块相连。

8.根据权利要求6所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特征在于，所述主控芯片还包括：

闪烁检测模块，用于测试液晶显示模组的闪烁度值；

其中，所述闪烁检测模块与处理模块和第一测试模块相连。

9.根据权利要求6所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特征在于，所述闪烁度感应单元为硅光电池，所述运算放大器可对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。

10.根据权利要求6所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特征在于，所述主控芯片为ARM芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。