CN105527878A - 一种数据采集方法、装置及数据采集调试*** - Google Patents
一种数据采集方法、装置及数据采集调试*** Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种数据采集方法、装置及数据采集调试***,用以解决现有技术中采用计算机进行数据采集时导致的资源浪费以及将调试信息保存到设备内存时导致的重要数据丢失的问题,该装置包括:调试接口,用于与待测设备进行物理连接;微控制单元MCU,与调试接口相连,用于通过调试接口接收待测设备发送的调试信息,并将调试信息按照指定格式发送至数据存储单元;数据存储单元,与MCU相连,用于存储接收到的调试信息;电源管理单元,用于为数据采集装置供电。这样,可以脱离计算机独立运行,不需要人工值守,也不会造成资源浪费,通过独立的***运行,提高了数据采集装置的稳定性,且可以保证待测设备的所有调试信息都进行采集。
Description
技术领域
本发明涉及通信领域,尤其涉及一种数据采集方法、装置及数据采集调试***。
背景技术
芯片开发过程中,都需要进行调试,在调试通过后,才能进行批量生产,然而,随着芯片的片上***复杂度的不断提高以及操作***的多样性趋势,调试手段是否有效直接跟生产效率相关,显得越来越重要。对于开发产品出现的低概率事件,需要耗费较长时间进行调试,在事件重现过程中,即整个调试过程,需要将产品调试过程中所有的调试数据记录并保存,以便研发人员根据调试数据获取一些关键信息,对产品进行优化。显然,而在芯片开发过程中调试数据信息的采集是必不可少的。
目前常用的调试数据信息采集方式包括以下三种:
(1)串口调试信息记录,需要把待调试芯片的串口连接到通用异步收发传输器(UniversalAsynchronousReceiver/Transmitter,UART)接收端,通常是计算机的串口,或者是UART转通用串行总线(UniversalSerialBus,USB)的串口工具,最后通过计算机的工具抓取日志log信息并保存。
(2)安卓调试(AndroidDebugBridge,ADB)调试信息记录,调试Android程序的有效手段,需要计算机安装ADB调试环境,并通过计算机端的USB口连接Android设备,对Android设备的log信息进行保存。
(3)将调试信息保存到设备内存,待调试设备进行***调试时,将调试信息保存到设备的内存上。在保存调试信息时,只有***完全启动以后才能进行。
例如,对开发的产品进行老化测试,对批次数量达50-100台的产品进行常温、高温以及低温条件下无故障运行48小时或72小时。在待调试产品样本数量较多时,采用串口调试信息记录和ADB调试信息记录这两种调试数据信息采集方式时,需要每台待调试产品都连接一台计算机,因此,会导致资源的浪费,且数据采集效率较低,而采用将调试信息保存到设备内存的调试数据信息采集方式时,由于必须在***运行正常时才能采集调试信息,因此,会在***运行异常时的很多重要的调试信息会丢失。
发明内容
本发明实施例提供一种数据采集方法、装置及数据采集调试***,用以解决现有技术中采用计算机进行数据采集时导致的资源浪费以及采用将调试信息保存到设备内存时导致的重要数据丢失的问题。
本发明实施例提供的具体技术方案如下:
一种数据采集装置,包括:
调试接口,用于与待测设备进行物理连接;
微控制单元MCU,与调试接口相连,用于通过调试接口接收所述待测设备发送的调试信息,并将所述调试信息按照指定格式发送至数据存储单元;
数据存储单元,与MCU相连,用于存储接收到的所述调试信息;
电源管理单元,用于为所数据采集装置供电。
这样,采用数据采集装置对待测设备的调试信息进行采集,可以脱离于计算机独立运行,不需要人工值守,也不会造成资源浪费,通过独立的***运行,提高了数据采集装置的稳定性,且数据采集装置与待测设备建立物理连接后,即可采集待测设备的调试信息,可以保证待测设备的所有调试信息都进行采集,避免了遗漏调试信息的情况。
较佳地,所述调试接口采用物理通信接口与待测设备进行物理连接。
较佳地,所述MCU具体用于:
接收到所述待测设备发送的调试信息后,根据所述调试信息生成保存调试信息任务请求,并将所述保存调试信息任务请求的优先级设置为最高。
MCU通过这种方式实时获取待测设备的调试信息,并实时进行处理并保存。
较佳地,所述MCU还用于:
接收到所述待测设备发送的设定周期内的或设定数目的调试信息后,判断所述数据存储单元的存储空间是否大于所述调试信息的占用空间;
若是,则将所述调试信息按照指定格式发送至所述数据存储单元;
否则,根据所述调试信息的占用空间删除所述数据存储单元中已经存储的数据,再将所述调试信息按照指定格式发送至所述数据存储单元。
这样,MCU可以保证数据存储单元有足够的存储空间存储接收到的调试信息。
较佳地,所述电源管理单元通过与所述调试接口连接获取电量为所述数据采集装置供电。
这样,电源管理单元在数据采集装置与待测设备进行物理连接后,可以直接从待测设备的物理接口进行取电。
较佳地,所述电源管理单元还包括异常处理单元,用于在数据采集设备处于运行异常状态时,为所述数据采集装置供电。
这样,可以保证在数据采集设备处于运行异常时,如在数据采集设备插拔的时刻、断电时刻等,还可以保存异常时刻的调试信息。
较佳地,还包括:
显示单元,用于在调试接口与待测设备进行物理连接后,显示运行状态信息。
这样,可以提醒用户数据采集设备的运行状态。
一种如上述的数据采集装置的数据采集方法,包括:
数据采集装置确定与待测设备建立物理连接;
所述数据采集装置接收所述待测设备发送的调试信息,并将所述调试信息按照指定格式进行存储。
采用数据采集装置对待测设备的调试信息进行采集,可以脱离于计算机独立运行,不需要人工值守,也不会造成资源浪费,通过独立的***运行,提高了数据采集装置的稳定性,且数据采集装置与待测设备建立物理连接后,即可采集待测设备的调试信息,可以保证待测设备的所有调试信息都进行采集,避免了遗漏调试信息的情况。
较佳地,所述数据采集装置采用物理通信接口与待测设备进行物理连接。
较佳地,进一步包括:
所述数据采集装置根据接收到的调试信息生成保存调试信息任务请求,并将所述保存调试信息任务请求的优先级设置为最高。
数据采集装置通过这种方式实时获取待测设备的调试信息,并实时进行处理并保存。
较佳地,将所述调试信息按照指定格式进行存储,包括:
所述数据采集装置接收到所述待测设备发送的设定周期内的或设定数目的调试信息后,判断所述数据采集装置的存储空间是否大于所述调试信息的占用空间;
若是,则将所述调试信息按照指定格式发送至所述数据采集装置;
否则,根据所述调试信息的占用空间删除所述数据采集装置中已经存储的数据,再将所述调试信息按照指定格式发送至数据采集装置。
这样,MCU可以保证数据存储单元有足够的存储空间存储接收到的调试信息。
较佳地,所述数据采集装置通过与所述待测设备建立的物理连接获取电量为所述数据采集装置供电。
这样,电源管理单元在数据采集装置与待测设备进行物理连接后,可以直接从待测设备的物理接口进行取电。
较佳地,所述数据采集装置中的异常处理单元在数据采集设备处于运行异常状态时,为所述数据采集装置供电。
这样,可以保证在数据采集设备处于运行异常时,如在数据采集设备插拔的时刻、断电时刻等,还可以保存异常时刻的调试信息。
一种数据采集调试***,包括:待测设备、调试设备,还包括上述的数据采集装置;
所述数据采集装置在数据采集阶段与所述待测设备相连,在数据调试阶段,与所述调试设备相连;
所述数据采集装置用于:确定与待测设备建立物理连接后,接收所述待测设备发送的调试信息,并将所述调试信息按照指定格式进行存储;
确定与所述调试设备相连后,将存储的调试信息加载至所述调试设备。
采用本发明技术方案,采用数据采集装置对待测设备的调试信息进行采集,可以脱离于计算机独立运行,不需要人工值守,也不会造成资源浪费,通过独立的***运行,提高了数据采集装置的稳定性,且数据采集装置与待测设备建立物理连接后,即可采集待测设备的调试信息,可以保证待测设备的所有调试信息都进行采集,避免了遗漏调试信息的情况。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种数据采集装置结构示意图;
图2为本发明实施例提供的数据采集装置采集待测设备的调试信息流程图;
图3为本发明实施例提供的一种数据采集方法的具体流程图;
图4为本发明实施例提供的一种数据采集调试***的结构图。
具体实施方式
采用本发明实施例中的技术方案,能够有效地避免现有技术中采用计算机进行数据采集时导致的资源浪费以及采用将调试信息保存到设备内存时导致的重要数据丢失的问题。
本发明实施例提供了一种数据采集装置,下面结合附图对本发明优选的实施方式进行详细说明。
参阅图1所示,本发明实施例提供的一种数据采集装置包括:
调试接口101,用于与待测设备进行物理连接;
微控制单元(MicroControlUnit,MCU)102,与调试接口101相连,用于通过调试接口101接收待测设备发送的调试信息,并将调试信息按照指定格式发送至数据存储单元103;
数据存储单元103,与MCU102相连,用于存储接收到的调试信息;
电源管理单元104,用于为该数据采集装置供电。
优选的,调试接口101可以但不限于采用以下任意一种物理通信接口与待测设备进行物理连接:通用异步收发传输器(UniversalAsynchronousReceiverTransmitter,UART)、通用串行总线(UniversalSerialBus,USB)、集成电路总线(Inter-IntegratedCircuit,IIC)、安全数字输入输出(SecureDigitalInputandOutputCard,SDIO)、串行外设接口(SerialPeripheralInterface,SPI)、快速传输(Trans-flash,TF)卡以及安全数码(SecureDigitalMemory,SD)卡。
MCU102具体用于:
接收到待测设备发送的调试信息后,根据调试信息生成保存调试信息任务请求,并将该保存调试信息任务请求的优先级设置为最高。
MCU102接收到待测设备发送的调试信息后,将该调试信息对应的保存调试信息任务请求的优先级设置为最高,即MCU102优先保存该调试信息,这样,MCU102通过这种方式实时获取待测设备的调试信息,并实时进行处理并保存。
MCU还用于:
接收到待测设备发送的设定周期内的或设定数目的调试信息后,判断数据存储单元的存储空间是否大于调试信息的占用空间;
若是,则将该调试信息按照指定格式发送至数据存储单元;
否则,根据该调试信息的占用空间删除数据存储单元中已经存储的数据,再将该调试信息按照指定格式发送至数据存储单元。
这样,MCU可以保证数据存储单元有足够的存储空间存储接收到的调试信息。
具体的,MCU102将调试信息按照指定格式发送至数据存储单元103,例如,MCU102可以将调试信息按照TXT文本格式或DOC文档格式保存至数据存储单元103;或者,MCU102可以将调试信息按照时间、命令、地址、数据作为一条调试信息保存至数据存储单元103。
数据存储单元103可以永久化调试信息,保证掉电后不会丢失数据。一般地,数据存储单元103可以但不限于使用TF卡或资料存储型闪存nandflash存储调试信息,这样,当数据采集装置采集完待测设备的调试信息后,可以将数据存储单元103直接取出,安装到计算机上,即可读取数据。
其中,电源管理单元104可以通过外部供电,也可以由待测设备供电。
较佳地,电源管理单元104通过与调试接口101连接获取电量为数据采集装置供电。这样,电源管理单元104在数据采集装置与待测设备进行物理连接后,可以直接从待测设备的物理接口进行取电。例如,若调试接口101使用TF卡接口,则电源管理单元104从待测设备的IF接口上取电,实现数据采集装置的各路供电;若调试接口101使用USB接口,则电源管理单元104从待测设备的USB接口上取电,实现数据采集装置的各路供电。
可选地,电源管理单元104还包括异常处理单元,用于在数据采集设备处于运行异常状态时,为该数据采集装置供电。
在待测设备的调试过程中,往往最后一笔调试信息也是关键数据,例如,待测设备运行到有问题的数据时,发生死机现象,然而,此时的调试信息是调试人员需要捕捉分析调试的关键数据。因此,待测设备与数据采集装置建立或取消物理连接时,以及待测设备掉电时等待测设备运行异常时,电源管理单元104通过增加电路为MCU102和数据存储单元103供电,使数据采集装置有足够的时间保存调试信息,其中,增加电路的方式可以但不限于增加大电容。
较佳地,数据采集装置还包括:
显示单元105,用于在调试接口101与待测设备进行物理连接后,显示运行状态信息。该显示单元105可以采用指示灯等来提示用户数据采集装置的运行状态信息。
采用数据采集装置对待测设备的调试信息进行采集,可以脱离与计算机独立运行,不需要人工值守,也不会造成资源浪费,通过独立的***运行,提高了数据采集装置的稳定性,且数据采集装置与待测设备建立物理连接后,即可采集待测设备的调试信息,不需要等数据采集装置以及待测设备的启动完成后才能存储调试信息,可以保证待测设备的所有调试信息都进行采集,避免了遗漏调试信息的情况。
参阅图2所示的数据采集装置采集待测设备的调试信息流程图,具体流程为:
步骤201:***待测设备,即数据采集装置与待测设备建立物理连接。
步骤202:接收待测设备的设定周期内的或设定数目的调试信息。
步骤203:判断数据采集装置中的数据存储单元是否有足够的存储空间,若是,则执行步骤205,否则,执行步骤204。
步骤204:根据接收的调试信息的占用空间,删除数据存储单元中已经存储的数据。
步骤205:数据存储单元保存该调试信息。
步骤206:判定待测设备是否运行异常,如与数据采集装置的连接断开、掉电、死机等异常情况,若是,则执行步骤207,否则,执行202,继续接收待测设备的下一笔调试信息。
步骤207:保存最后一笔调试信息。
基于上述实施例,参阅图3所示,本发明实施例还提供了一种数据采集方法,适用于上述实施例中的数据采集装置,该方法的具体流程为:
步骤301:数据采集装置确定与待测设备建立物理连接。
具体的,数据采集装置可以但不限于采用以下任意一种物理通信接口接口与待测设备进行物理连接:UART、USB、IIC、SDIO、SPI、卡以及SD卡。
步骤302:数据采集装置接收待测设备发送的调试信息,并将该调试信息按照指定格式进行存储。
优选的,在接收到待测设备发送的调试信息后,数据采集装置根据接收到的调试信息生成保存调试信息任务请求,并将该保存调试信息任务请求的优先级设置为最高。
优选的,将所述调试信息按照指定格式进行存储,包括:
数据采集装置接收到待测设备发送的设定周期内的或设定数目的调试信息后,判断数据采集装置的存储空间是否大于所述调试信息的占用空间;
若是,则将所述调试信息按照指定格式发送至数据采集装置;
否则,根据所述调试信息的占用空间删除数据采集装置中已经存储的数据,再将所述调试信息按照指定格式发送至数据采集装置。
数据采集装置通过与待测设备建立的物理连接获取电量为数据采集装置供电。
较佳的,数据采集装置中的异常处理单元在数据采集设备处于运行异常状态时,为数据采集装置供电。
基于上述实施例,本发明实施例还提供了一种数据采集调试***,参阅图4所示,该数据采集调试***包括:待测设备401、调试设备403以及如上述实施例提供的数据采集装置402,
数据采集装置402在数据采集阶段与待测设备401相连,在数据调试阶段,与调试设备403相连;
数据采集装置402用于:确定与待测设备401建立物理连接后,接收待测设备401发送的调试信息,并将调试信息按照指定格式进行存储;
确定与调试设备403相连后,将存储的调试信息加载至调试设备403。
综上所述,通过本发明实施例中提供的一种数据采集方法、装置及数据采集调试***,该装置包括:调试接口,用于与待测设备进行物理连接;MCU,与调试接口相连,用于通过调试接口接收待测设备发送的调试信息,并将调试信息按照指定格式发送至数据存储单元;数据存储单元,与MCU相连,用于存储接收到的调试信息;电源管理单元,用于为数据采集装置供电。采用数据采集装置对待测设备的调试信息进行采集,可以脱离于计算机独立运行,不需要人工值守,也不会造成资源浪费,通过独立的***运行,提高了数据采集装置的稳定性,且数据采集装置与待测设备建立物理连接后,即可采集待测设备的调试信息,不需要等数据采集装置以及待测设备的启动完成后才能存储调试信息,可以保证待测设备的所有调试信息都进行采集,避免了遗漏调试信息的情况。
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明实施例的精神和范围。这样,倘若本发明实施例的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (14)
1.一种数据采集装置,其特征在于,包括:
调试接口,用于与待测设备进行物理连接;
微控制单元MCU,与调试接口相连,用于通过调试接口接收所述待测设备发送的调试信息,并将所述调试信息按照指定格式发送至数据存储单元;
数据存储单元,与MCU相连,用于存储接收到的所述调试信息;
电源管理单元,用于为数据采集装置供电。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述调试接口采用物理通信接口与待测设备进行物理连接。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述MCU具体用于:
接收到所述待测设备发送的调试信息后,根据所述调试信息生成保存调试信息任务请求,并将所述保存调试信息任务请求的优先级设置为最高。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述MCU还用于:
接收到所述待测设备发送的设定周期内的或设定数目的调试信息后,判断所述数据存储单元的存储空间是否大于所述调试信息的占用空间;
若是,则将所述调试信息按照指定格式发送至所述数据存储单元;
否则,根据所述调试信息的占用空间删除所述数据存储单元中已经存储的数据,再将所述调试信息按照指定格式发送至所述数据存储单元。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述电源管理单元通过与所述调试接口连接获取电量为所述数据采集装置供电。
6.如权利要求1-5任一项所述的装置,其特征在于,所述电源管理单元还包括异常处理单元,用于在数据采集设备处于运行异常状态时,为所述数据采集装置供电。
7.如权利要求1-5任一项所述的装置,其特征在于,还包括:
显示单元,用于在调试接口与待测设备进行物理连接后,显示运行状态信息。
8.一种如权利要求1-7任一项所述的数据采集装置的数据采集方法,其特征在于,包括:
数据采集装置确定与待测设备建立物理连接;
所述数据采集装置接收所述待测设备发送的调试信息,并将所述调试信息按照指定格式进行存储。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述数据采集装置采用物理通信接口与待测设备进行物理连接。
10.如权利要求8所述的方法,其特征在于,进一步包括:
所述数据采集装置根据接收到的调试信息生成保存调试信息任务请求,并将所述保存调试信息任务请求的优先级设置为最高。
11.如权利要求8所述的方法,其特征在于,将所述调试信息按照指定格式进行存储,包括:
所述数据采集装置接收到所述待测设备发送的设定周期内的或设定数目的调试信息后,判断所述数据采集装置的存储空间是否大于所述调试信息的占用空间;
若是,则将所述调试信息按照指定格式存储至所述数据采集装置;
否则,根据所述调试信息的占用空间删除所述数据采集装置中已经存储的数据,再将所述调试信息按照指定格式存储至所述数据采集装置。
12.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述数据采集装置通过与所述待测设备建立的物理连接获取电量为所述数据采集装置供电。
13.如权利要求8-12任一项所述的方法,其特征在于,所述数据采集装置中的异常处理单元在数据采集设备处于运行异常状态时,为所述数据采集装置供电。
14.一种数据采集调试***,包括:待测设备、调试设备,其特征在于,还包括如权利要求1-7任一项所述的数据采集装置;
所述数据采集装置在数据采集阶段与所述待测设备相连,在数据调试阶段,与所述调试设备相连;
所述数据采集装置用于:确定与待测设备建立物理连接后,接收所述待测设备发送的调试信息,并将所述调试信息按照指定格式进行存储;
确定与所述调试设备相连后,将存储的调试信息加载至所述调试设备。
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PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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