CN105372888B - 液晶显示装置及其像素测试方法 - Google Patents

Abstract

液晶显示装置及其像素测试方法。公开了一种液晶显示LCD装置以及一种用于测试该LCD装置的像素的方法，其中，上下彼此相邻的像素被布置在显示区域中以共享选通线，并且像素的自动探测测试图案被布置在非显示区域中。该LCD装置包括：多个像素，其被布置在显示区域中；以及测试图案，其被布置在非显示区域中，以将测试信号提供给所述多个像素中的每一个，其中，所述多个像素当中的上下彼此相邻的两个像素共享单个选通线并且从彼此不同的不同数据线接收数据电压，并且测试图案包括至少一个数据短路条和至少一个开关单元，以将测试信号按照颜色提供给所述多个像素中的每一个。

Description

液晶显示装置及其像素测试方法

技术领域

本发明涉及液晶显示(LCD)装置以及用于测试该LCD装置的像素的方法，在该LCD装置中，在垂直方向(即，一个选通线的上下方向)上彼此相邻的像素被布置在显示区域中以共享选通线，并且自动探测测试图案被布置在非显示区域中。

背景技术

随着诸如移动终端和笔记本计算机的各种便携式电子装置的发展，针对可应用于这些装置的平板显示装置的需求不断增加。

在这些平板显示装置当中，LCD装置由于诸如用于大量生产的高度发展的技术、容易作为驱动手段、低功耗、高画面质量和大尺寸屏幕的各种优点而适用于便携式装置，并且LCD装置的应用领域已经增加。

LCD装置通过将从外部输入的图像信号转换成数据电压并且控制用于透射多个像素的液晶层的光的透射率来显示基于图像信号的图像。

LCD装置通过执行以下工艺来制造：在薄膜晶体管(TFT)阵列基板(下基板)上形成包括TFT的各种图案；在滤色器阵列基板上形成包括滤色器层的各种图案；将TFT阵列基板和滤色器阵列基板彼此接合并且在TFT阵列基板和滤色器阵列基板之间注入液晶的液晶单元工艺；以及将TFT阵列基板与驱动电路连接的模块工艺。

在制造了TFT阵列基板之后，执行测试用于检测诸如形成在基板上的线的短路的线缺陷、TFT的缺陷和像素图案的缺陷的自动探测的工艺。

用于自动探测测试的测试图案被布置在液晶面板的非显示区域中。短路条被用作用于自动探测测试的测试图案，并且驱动信号通过短路条而施加到选通线和数据线，由此测试TFT阵列基板上的线和像素是否已经正常地形成。

图1简要例示了根据现有技术的布置有自动探测测试图案的LCD装置。图1示出了液晶面板的TFT阵列基板。

参照图1，根据现有技术的LCD装置的TFT阵列基板包括显示区域A/A和非显示区域N/A。

在显示区域A/A中，多个选通线12和多个数据线14被布置为彼此交叉，并且由选通线12和数据线14之间的交叉来限定多个像素16。薄膜晶体管TFT和存储电容器Cst被布置在所述多个像素中的每一个中。

图1示出了一次选通/一个数据的像素结构。红色、绿色和蓝色的像素被布置成条纹的形状。将来自相同的选通线的扫描信号提供给布置在一条水平线上的像素，由此它们的TFT被切换。布置在一条垂直线上的相同的颜色的像素通过从相同的数据线接收数据电压来显示图像。

在非显示区域N/A中，测试图案被布置为测试多个选通线12、多个数据线14和多个像素16是否已经正常地形成。多个使能开关20和多个数据短路条被布置为测试图案。所述多个使能开关20通过多个链接线40连接到所述多个数据短路条30，并且通过链接线和数据焊盘(未示出)连接到多个数据线14。

尽管图1例示了布置有三个数据短路条30，然而对数据短路条30的数量没有限制，并且两个数据短路条或六个数据短路条通常可以被布置为执行自动探测测试。

如果布置有两个数据短路条，则多个数据线可以被划分成偶数线和奇数线，并且全部像素被划分成1/2，由此对像素进行测试。如果布置有三个数据短路条，则多个数据线可以被划分成红色像素的数据线、绿色像素的数据线以及蓝色像素的数据线，由此针对各个颜色对像素进行测试。

在根据现有技术的LCD装置中，红色、绿色和蓝色的像素被设置为条纹的形状，并且测试图案被布置为适用于一般LCD装置的像素的结构，其中，像素不共享选通线和数据线。可以利用三个短路条30来针对红色、绿色和蓝色的像素的各个颜色对像素进行测试。

近来，虽然已经开发出在与选通线的延伸方向垂直的方向(即，垂直方向或者上下方向)上彼此相邻的像素共享选通线的两个数据/一次选通的像素结构，但是出现了不能通过图1所示的测试图案针对两个数据/一次选通的像素结构来执行自动探测测试的问题。也就是说，像素的布置结构以及针对自动探测测试的测试图案彼此不匹配，由此不能正常执行自动探测测试。

上述像素结构、测试图案以及用于测试像素的方法已经由本申请的发明人拥有以设计出本发明，或者是在设计本发明的过程期间获得的技术信息。因此，上述像素结构、测试图案以及用于测试像素的方法可以不被视为在本发明的提交日之前向一般公众公开的已知技术。

发明内容

因此，本发明致力于一种液晶显示(LCD)装置及其像素测试方法，该LCD装置及其像素测试方法基本上消除了由于现有技术的局限和缺点而导致的一个或更多个问题。

本发明的一个优点在于提供一种LCD装置，该LCD装置包括用于在与选通线的延伸方向垂直的方向(即，上下方向)上彼此相邻的像素共享选通线的两个数据/一次选通的像素结构的自动探测测试的测试图案。在本申请中，选通线的延伸方向被称为水平方向或行方向，而数据线的延伸方向被称为上下方向(即，垂直方向或列方向)。因此，根据本发明的测试图案使得能够测试多个选通线、多个数据线或者多个像素是否正常地形成。

本发明的另一个优点在于提供一种用于针对上下彼此相邻的像素共享选通线的两个数据/一次选通的像素结构的自动探测测试来测试像素的方法。

本发明的另外的优点和特征将在下面的描述中被部分地阐述，并且对于本领域普通技术人员而言在查阅下文之后部分地将变得明显或者可以从本发明的实践而得知。通过独立权利要求的特征来实现这些目的。可以通过在所撰写的说明书及其权利要求书以及附图中具体指出的结构来实现并获得本发明的目的和其它优点。

为了实现这些目的和其它优点，并且根据本发明的目的，如本文具体实现并广泛描述的，一种液晶显示(LCD)装置包括：多个像素，其被布置在显示区域中；以及测试图案，其被布置在非显示区域中，用于向所述多个像素中的每一个提供测试信号，该测试图案包括至少一个数据短路条和至少一个开关单元，以将所述测试信号按照颜色提供给所述多个像素中的每一个。可以通过彼此交叉的多个选通线和多个数据线来限定所述像素。另外，所述像素可以包括不同的颜色的像素，例如红色像素、绿色像素、蓝色像素或白色像素。优选地，所述多个像素当中的上下彼此相邻的两个像素被配置为共享单个选通线，并且从彼此不同的不同数据线接收数据电压。所述两个相邻像素可以具有相同的颜色。因此，与选通线垂直的方向上的两个相邻像素可以连接到同一选通线。也就是说，优选地，彼此相邻并且其间具有选通线的两个像素都连接到该选通线，但是连接到不同的数据线。优选地，不同颜色的像素被交替布置在行方向上(即，平行于所述选通线)，并且相同颜色的像素被布置在垂直方向上(即，在垂直于所述选通线或者平行于所述数据线的方向上)。优选地，一种颜色的像素被划分成两个像素组，第一组像素连接到偶数选通线，并且第二组像素连接到奇数选通线。因此，可以存在每种颜色两个像素组。优选地，水平线上的像素交替连接到第一(奇数编号的)选通线(例如，像素线上方或者沿着像素线的第一侧)以及第二(偶数编号的)选通线(例如，像素线下方或者沿着像素线的第二侧)。因此，可以根据像素颜色以及到偶数编号或者奇数编号的选通线的连接来将像素分组，使得像素组的总数量优选地对应于颜色的数量的两倍。因此，一个像素组的像素可以具有相同的颜色并且连接到相同类型的选通线(即，偶数编号的选通线或者奇数编号的选通线)，但是连接到两个不同的数据线。换句话说，可以存在每个像素组两个不同的数据线。

根据本发明的实施方式的LCD装置的测试图案可以包括：多个红色数据短路条，其将多个像素中的红色像素划分成两个组并且将测试信号提供给所述两个组；多个绿色数据短路条，其将多个像素中的绿色像素划分成两个组并且将测试信号提供给所述两个组；以及多个蓝色数据短路条，其将多个像素中的蓝色像素划分成两个组并且将测试信号提供给所述两个组。当然，除了红色像素、绿色像素和蓝色像素以外，还可以存在白色像素。因此，优选地，所述测试图案包括每种颜色两个短路条，使得相同颜色的像素被划分成两个组。因此，一个数据短路条可以将具有相同的颜色并且连接到偶数编号的选通线的像素分组，另一个数据短路条可以将也具有这种颜色并且连接到奇数编号的选通线的像素进行分组。也就是说，所述数据短路条可以将与数据线连接进而与具有相同的颜色并且连接到相同类型的选通线(即，奇数编号的选通线或者偶数编号的选通线)的像素连接的链接线进行连接。数据短路条的数量或者开关单元的数量可以对应于像素组的数量。

根据本发明的实施方式的LCD装置的测试图案可以包括单个开关单元，用于分别将从所述多个数据短路条分别输入到与所述数据短路条对应的像素的测试信号(例如，来自所述多个红色数据短路条的测试信号、来自所述多个绿色数据短路条的测试信号以及来自所述多个蓝色数据短路条的测试信号)选择性地提供给所述红色像素、所述绿色像素或所述蓝色像素。

根据本发明的实施方式的LCD装置的测试图案可以包括单个数据短路条，用于将测试信号提供给所述多个像素中的每一个。

根据本发明的实施方式的LCD装置的测试图案可以包括：多个红色开关单元，其将所述多个像素中的红色像素划分成两个组，并且将所述测试信号提供给所述红色像素；多个绿色开关单元，其将所述多个像素中的绿色像素划分为两个组，并且将所述测试信号提供给所述绿色像素；以及多个蓝色开关单元，其将所述多个像素中的蓝色像素划分成两个组，并且将所述测试信号提供给所述蓝色像素。因此，优选地，所述测试图案包括每种颜色两个开关单元，使得相同颜色的像素被划分成两个组。因此，一个开关单元可以将具有相同的颜色并且连接到偶数编号的选通线的像素进行连接，并且另一个开关单元可以将具有相同的颜色并且连接到奇数编号的选通线的像素进行连接。

在本发明中的另一个方面，一种用于测试液晶显示(LCD)装置的像素的方法包括以下步骤：利用至少一个数据短路条和至少一个开关单元来将测试信号按照颜色提供给所述像素中的每一个。优选地，上下彼此相邻的两个像素共享单个选通线，并且从彼此不同的不同数据线接收数据电压。因此，与选通线垂直的方向上的两个相邻像素可以连接到同一选通线。也就是说，优选地，彼此相邻并且其间具有选通线的两个像素都连接到该选通线，但是连接到不同的数据线。优选地，所述多个像素被划分成两个组，第一组像素连接到偶数选通线，并且第二组像素连接到奇数选通线。优选地，不同颜色的像素交替地布置在行方向上(即，平行于所述选通线)，并且相同颜色的像素被布置在垂直方向上(即，垂直于所述选通线并且平行于所述数据线的方向上)。也就是说，红色像素、绿色像素和蓝色像素中的每一种可以被划分成两个组。所述测试信号可以被提供给相应的组以点亮或接通像素。因此，可以针对每种颜色优选地通过将所述测试信号顺序地提供给相应的组来接通所述像素(例如，红色像素、绿色像素和蓝色像素)。

所述方法还可以包括以下步骤：将扫描信号提供给奇数选通线，并且将测试信号提供给与所述奇数选通线连接的第一颜色的奇数组像素，以点亮所述第一颜色的所述奇数组像素；以及将扫描信号提供给偶数选通线，并且将测试信号提供给与所述偶数选通线连接的所述第一颜色的偶数组像素，以点亮所述第一颜色的所述偶数组像素。也就是说，所述一种颜色的像素可以被划分成包括连接到奇数选通线的像素的奇数组以及包括连接到偶数选通线的像素的偶数组。例如，所述方法可以包括以下步骤：通过将扫描信号提供给奇数选通线并且将所述测试信号提供给红色像素的第一红色组来点亮第一红色组；以及通过将扫描信号提供给偶数选通线并且将所述测试信号提供给所述红色像素的第二红色组来点亮第二红色组。如上所述，本文中描述的方法的实施方式可以应用于LCD装置。

所述方法还可以包括以下步骤：通过将扫描信号提供给偶数选通线并且将所述测试信号提供给绿色像素的第一绿色组来点亮第一绿色组；以及通过将扫描信号提供给奇数选通线并且将所述测试信号提供给所述绿色像素的第二绿色组来点亮第二绿色组。

所述方法还可以包括以下步骤：通过将扫描信号提供给奇数选通线并且将所述测试信号提供给蓝色像素的第一蓝色组来点亮第一蓝色组；以及通过将扫描信号提供给偶数选通线并且将所述测试信号提供给所述蓝色像素的第二蓝色组来点亮第二蓝色组。如果还包括白色像素，则还可以执行用于点亮所述白色像素的第一白色组和第二白色组的对应步骤。

要理解的是，本发明的以上总体描述和以下详细描述二者是示例性和说明性的，并且旨在提供对要求保护的本发明的进一步解释。

附图说明

附图被包括以提供对本发明的进一步理解，并且被并入本申请且构成本申请的一部分，附图例示了本发明的实施方式，并且与本说明书一起用来解释本发明的原理。附图中：

图1简要例示了根据现有技术的布置有自动探测测试图案的LCD装置；

图2简要例示了根据本发明的LCD装置；

图3例示了根据本发明的布置在LCD装置的显示区域中的像素结构；

图4A例示了用于图3所示的像素结构的自动探测测试的测试图案的第一实施方式；

图4B例示了图4A所示的测试图案的等效电路；

图5A例示了用于图3所示的像素结构的自动探测测试的测试图案的第二实施方式；

图5B例示了图5A所示的测试图案的等效电路；

图6和图7例示了用于测试绿色像素的方法；

图8和图9例示了绿色像素测试期间的点亮错误；

图10和图11例示了用于测试红色像素的方法；以及

图12和图13例示了用于测试蓝色像素的方法。

具体实施方式

现在将详细地参照本发明的示例性实施方式，附图中例示了本发明的这些示例性实施方式的示例。在任何可能的情况下，在整个附图中将使用相同的附图标记来指代相同或相似的部件。在本发明的以下描述中，如果本发明的技术中已知的元件或功能的详细描述与本发明的主题不相关，则将省略这些详细描述。

将通过参照附图描述的以下实施方式来阐明本发明的优点和特征及其实现方法。然而，本发明可以按照不同的形式来具体实现，并且不应当被理解为限于本文阐述的实施方式。相反，提供这些实施方式，使得本公开将是彻底和完整的，并且将本发明的范围充分地传达给本领域技术人员。另外，仅由权利要求的范围来限定本发明。

附图中公开的用于描述本发明的实施方式的形状、尺寸、比例、角度和数量仅是示例，并且因此，本发明不限于例示的细节。相似的附图标记自始至终指代相似的元件。在以下描述中，当相关的已知功能或配置的详细描述被确定为不必要地使本发明的重点模糊不清时，将省略所述详细描述。在本说明书中描述的“包括”、“具有”和“包含”被使用的情况下，除非使用了“仅～”，否则还可以添加另一部件。除非相反地提到，否则单数形式的术语可以包括复数形式。

在解释元件时，尽管没有明确的描述，然而该元件被解释为包括误差范围。本发明的各种实施方式的特征可以部分地或者整体地彼此结合或组合，并且可以被不同地彼此互操作并且从技术上驱动，正如本领域技术人员能够充分地理解那样。本发明的实施方式可以彼此独立地执行，或者可以按照互相依赖的关系一起执行。

在参照附图进行描述之前，根据本发明的实施方式的LCD装置包括液晶面板，并且还可以包括用于驱动该液晶面板的驱动电路。本发明具体地集中于液晶面板的下基板(TFT阵列基板)。制造下基板，并且然后将短路条和线图案用于自动探测测试。因此，将省略液晶面板的上基板(滤色器阵列基板)以及用于驱动该液晶面板的驱动电路的图和详细描述。

在下文中，将参照附图描述根据本发明的实施方式的LCD装置及其像素测试方法。

图2简要地例示了根据本发明的LCD装置，并且图3例示了根据本发明的布置在LCD装置的显示区域中的像素结构。图3示出了LCD装置的TFT阵列基板。

参照图2和图3，本发明的LCD装置100可以包括液晶面板110和驱动电路120。液晶面板110包括显示区域AA和非显示区域NA。驱动电路120可以连接到布置在非显示区域NA中的链接线，并且将驱动信号输出到多个像素。驱动电路120可以包括定时控制器、选通驱动器、数据驱动器和电源。由于已经知道驱动电路120的这些元件，因此将省略对它们的详细描述。

如图3所示，多个选通线112和多个数据线114被布置在TFT阵列基板的显示区域AA中，并且通过选通线112和数据线114之间的交叉来限定多个像素116。尽管未被示出，然而像素电极和公共电极可以被布置在像素116中。黑底以及R、G和B滤色器还可以被布置在滤色器阵列基板上，并且偏振膜可以附接到TFT阵列基板的下部和滤色器阵列基板的上部中的每一个。

在这种情况下，公共电极可以被布置在滤色器阵列基板上，由此可以在扭曲向列(TN)模式或垂直配向(VA)模式下驱动公共电极。公共电极可以被布置在TFT阵列基板上，由此可以在面内切换(IPS)模式或边缘场切换(FFS)模式下驱动公共电极。直下型背光单元或边缘型背光单元可以被用作背光单元。

在图3中，红色像素、绿色像素和蓝色像素按照矩阵布置被布置为两个数据/一次选通的像素结构。红色像素、绿色像素和蓝色像素被交替布置在水平方向上，而相同颜色的像素被布置在垂直方向上。当然，还可以包括白色像素，使得红色像素、绿色像素、蓝色像素和白色像素被交替地布置在水平方向(即，平行于数据线的方向)上。然而，在下文中，使用红色像素、绿色像素和蓝色像素来例示本发明，但是不限于此。

更详细地，红色像素被布置在第一垂直线VL1中，绿色像素被布置在第二垂直线VL2中，蓝色像素被布置在第三垂直线VL3中，红色像素被布置在第四垂直线VL4中，绿色像素被布置在第五垂直线VL5中，并且蓝色像素被布置在第六垂直线VL6中。按照这种方式，基于垂直线重复地布置像素。红色像素、绿色像素和蓝色像素被交替地布置在第一水平线HL1至第四水平线HL4中。按照这种方式，基于水平线重复地布置像素。

在这种情况下，上下彼此相邻的两个像素(即，在垂直方向上并且其间具有选通线的两个相邻像素)通过共享一个选通线来接收扫描脉冲，并且从彼此不同的数据线接收数据电压。连接到相同的数据线的像素的TFT沿着垂直方向被布置为Z字形形状。

基于第一选通线GL1，两个红色像素R1和R2共享第一选通线GL1。第一红色像素R1被布置在第一选通线GL1上方以接收扫描信号，并且第二红色像素R2被布置在第一选通线GL1下方以接收扫描信号。第一红色像素R1的TFT连接到第一数据线DL1以接收数据电压，并且第二红色像素R2的TFT连接到第二数据线DL2以接收数据电压。

基于第一选通线GL1，两个蓝色像素B1和B2共享第一选通线GL1。第一蓝色像素B1和第二蓝色像素B2通过跳过一个像素区域来分别从第一红色像素R1和第二红色像素R2布置。第一蓝色像素B1被布置在第一选通线GL1上方以接收扫描信号，并且第二蓝色像素B2被布置在第一选通线GL1下方以接收扫描信号。第一蓝色像素B1的TFT连接到第四数据线DL4以接收数据电压，并且第二蓝色像素B2的TFT连接到第三数据线DL3以接收数据电压。

基于第一选通线GL1，两个绿色像素G1和G2共享第一选通线GL1。第一绿色像素G1和第二绿色像素G2通过跳过一个像素区域来分别从第一蓝色像素B1和第二蓝色像素B2布置。第一绿色像素G1被布置在第一选通线GL1上方以接收扫描信号，并且第二绿色像素G2被布置在第一选通线GL1下方以接收扫描信号。第一绿色像素G1的TFT连接到第五数据线DL5以接收数据电压，并且第二绿色像素G2的TFT连接到第六数据线DL6以接收数据电压。

基于第二选通线GL2，两个绿色像素G3和G4共享第二选通线GL2。第三绿色像素G3被布置在第二选通线GL2上方以接收扫描信号，并且第四绿色像素G4被布置在第二选通线GL2下方以接收扫描信号。第三绿色像素G3的TFT连接到第二数据线DL2以接收数据电压，并且第四绿色像素G4的TFT连接到第三数据线DL3以接收数据电压。

基于第二选通线GL2，两个红色像素R3和R4共享第二选通线GL2。第三红色像素R3和第四红色像素R4通过跳过一个像素区域来分别从第三绿色像素G3和第四绿色像素G4布置。第三红色像素R3被布置在第二选通线GL2上方以接收扫描信号，并且第四红色像素R4被布置在第二选通线GL2下方以接收扫描信号。第三红色像素R3的TFT连接到第五数据线DL5以接收数据电压，并且第四红色像素R4的TFT连接到第四数据线DL4以接收数据电压。

基于第二选通线GL2，两个蓝色像素B3和B4共享第二选通线GL2。第三蓝色像素B3和第四蓝色像素B4通过跳过一个像素区域来分别从第三红色像素R3和第四红色像素R4布置。第三蓝色像素B3被布置在第二选通线GL2上方以接收扫描信号，并且第四蓝色像素B4被布置在第二选通线GL2下方以接收扫描信号。第三蓝色像素B3的TFT连接到第六数据线DL6以接收数据电压，并且第四蓝色像素B4的TFT连接到第七数据线DL4以接收数据电压。

用于自动探测测试的测试图案的第一实施方式

图4A例示了用于图3所示的像素结构的自动探测测试的测试图案的第一实施方式。图4B例示了图4A所示的测试图案的等效电路。

参照图4A和图4B，上下彼此相邻的两个像素共享一个选通线以接收扫描脉冲，并且测试图案被布置在非显示区域NA中，以对两个像素从不同的数据线接收数据电压的两个数据/一次选通的像素结构进行自动探测测试。用于自动探测测试的测试图案包括多个数据短路条130和至少一个使能开关单元150。

使能开关单元150通过多个链接线140与多个数据短路条130连接，并且通过多个链接线140和数据焊盘(未示出)与数据线114连接。

针对多个红色、绿色和蓝色像素按照相同的颜色来执行像素的自动探测测试。此时，按照以下方式来执行红色、绿色和蓝色像素的自动探测测试：将相同颜色的像素划分成两个组，并且然后按照适当的顺序(例如，顺序地)点亮连接到偶数选通线的像素以及连接到奇数选通线的像素。

由于按照针对每种颜色将红色、绿色和蓝色像素划分成两个组的方式来执行自动探测测试，因此所有像素被划分成总共六个像素组D1至D6，由此测试信号被施加到各个像素组。为此，布置六个数据短路条130。测试信号通过六个数据短路条130被施加到所有红色、绿色和蓝色像素。尽管未被示出，从单独设置的测试设备提供用于所有像素的自动探测测试的测试信号。如果还包括白色像素，则所有像素被划分成总共八个像素组。然后，可以布置八个数据短路条130，以将测试信号施加到红色、绿色、蓝色和白色像素。

结合起来参照图3以及图4A和图4B，第一数据短路条131用于将第一测试信号提供给第一像素组D1，第二数据短路条132用于将第二测试信号提供给第二像素组D2，第三数据短路条133用于将第三测试信号提供给第三像素组D3，第四数据短路条134用于将第四测试信号提供给第四像素组D4，第五数据短路条135用于将第五测试信号提供给第五像素组D5，并且第六数据短路条136用于将第六测试信号提供给第六像素组D6。按照这种方式，将重复地布置第一像素组D1至第六像素组D6，并且使用六个数据短路条130以及使能开关单元150来执行所有红色、绿色和蓝色像素的点亮测试。如果还包括白色像素，则可以设置第七数据短路条和第八数据短路条，以分别将第七测试信号和第八测试信号提供给第七像素组和第八像素组。也就是说，数据短路条130的数量可以对应于像素组的数量。

多个使能开关ES被布置在使能开关单元150中。第一测试信号至第六测试信号可以被顺序地施加到第一短路条131至第六短路条136。此时，在施加第一测试信号至第六测试信号时，及时将使能信号施加到布置在使能开关单元150中的多个使能开关ES的栅极，由此可以测试所有像素的点亮。此时，由于多个使能开关ES共享同一使能开关，所以多个使能开关ES同时打开或关闭。然而，第一测试信号至第六测试信号在它们彼此不同的相应时间被施加。因此，第一像素组至第六像素组可以通过选择性地点亮来进行测试。因此，各个像素组D1可以被顺序地测试。然而，所有第一像素组D1可以被同时测试，然后所有像素组D2可以被同时测试，依此类推。在这种情况下，可以不需要使能开关单元。

在这种情况下，第一测试信号至第六测试信号可以是相同的数据电压，或者可以是彼此不同的不同数据电压。

根据本发明的实施方式的LCD装置可以使得能够通过按照颜色点亮红色、绿色和蓝色(以及白色)像素而无需在红色、绿色和蓝色(以及白色)像素的自动探测测试期间使颜色混合来准确地执行像素测试。

用于自动探测测试的测试图案的第二实施方式

图5A例示了用于图3所示的像素结构的自动探测测试的测试图案的第二实施方式。图5B例示了图5A所示的测试图案的等效电路。

参照图5A和图5B，垂直方向(例如，选通线的上下方向)上彼此相邻的两个像素共享一个选通线以接收扫描脉冲，并且测试图案被布置在非显示区域NA中以对两个像素从不同的数据线接收数据电压的两个数据/一次选通的像素结构进行自动探测测试。用于自动探测测试的测试图案包括单个数据短路条160和多个使能开关单元180。

针对红色、绿色和蓝色像素按照相同的颜色来执行像素的自动探测测试。此时，按照以下方式来执行所有红色、绿色和蓝色像素的自动探测测试：将相同颜色的像素划分成两个组，并且然后按照适当的顺序(例如，顺序地)点亮连接到偶数选通线的像素以及连接到奇数选通线的像素。此外，还可以包括白色像素。因此，如前面解释的，各个像素组D1至D6可以被顺序地测试。然而，所有像素组D1可以被同时测试，然后所有像素组D2可以被同时测试，依此类推。

由于按照针对各种颜色将红色、绿色和蓝色像素划分成两个组的方式来执行自动探测测试，因此所有像素被划分成总共六个像素组，由此测试信号被施加到各个像素组。为此，布置单个数据短路条160，并且布置六个使能开关单元181至186。因此，如果包括白色像素，则所有像素被划分成总共八个像素组，并且可以布置八个使能开关单元。也就是说，使能开关单元180的数量可以对应于像素组的数量。

在所例示的实施方式中，与数据线的总数量的1/6对应的使能开关ES被布置在第一使能开关单元181至第六使能开关单元186中的每一个中，由此使能开关ES的数量可以等同于数据线的总数量。

即使在使用单个数据短路条160的情况下，可以使用第一使能开关单元181至第六使能开关单元186来选择性地切换施加到红色、绿色和蓝色像素的测试信号。

结合起来参照图3以及图5A和图5B，数据短路条160针对所有像素被共同地布置。第一使能开关单元181用于将第一测试信号提供给第一像素组D1，第二使能开关单元182用于将第二测试信号提供给第二像素组D2。第三使能开关单元183用于将第三测试信号提供给第三像素组D3。第四使能开关单元184用于将第四测试信号提供给第四像素组D4。第五使能开关单元185用于将第五测试信号提供给第五像素组D5。第六使能开关单元186用于将第六测试信号提供给第六像素组D6。

按照这种方式，重复地布置第一像素组D1至第六像素组D6，并且可以使用单个数据短路条160以及第一使能开关单元181至第六使能开关单元186来执行所有红色、绿色和蓝色像素的点亮测试。

测试信号被施加到数据短路条160。此时，在施加测试信号时，及时将使能信号顺序地施加到布置在第一使能开关单元181至第六使能开关单元186中的多个使能开关ES的栅极，由此可以测试所有像素的点亮。

第一像素组至第六像素组共享一个数据短路条160，由此同一测试信号被施加到所有像素。然而，使能信号在它们彼此不同的相应时间被施加到布置在第一使能开关单元181至第六使能开关单元186中的多个使能开关ES。因此，第一像素组至第六像素组可以通过选择性地点亮来进行测试。根据本发明的实施方式的LCD装置可以使得能够通过按照颜色点亮红色、绿色、蓝色像素而无需在红色、绿色、蓝色像素的自动探测测试期间使颜色混合来准确地执行像素测试。由于根据本发明的实施方式的LCD装置可以将所有像素的测试信号施加到单个短路条，因此可以减小布置短路条所需的区域。

在根据本发明的实施方式的用于测试LCD装置的像素的方法中，可以针对各种颜色来执行红色、绿色和蓝色像素的自动探测测试。首先，将描述用于测试绿色像素的方法。随后，将描述用于测试红色像素和蓝色像素的方法。

用于测试绿色像素的方法1

图6和图7例示了用于测试绿色像素的方法。

参照图6和图7，所有绿色像素被划分成两个组(即，第一绿色组和第二绿色组)，并且然后进行测试。由于图6和图7示出了所有像素中的仅一些，因此将基于图6和图7所示的像素来描述用于测试像素的方法。

所有数据线被划分成1/6，由此第一测试信号至第六测试信号被重复地施加到每六个数据线的相应数据线。更详细地，第一测试信号被施加到第一数据线，第二测试信号被施加到第二数据线，第三测试信号被施加到第三数据线，第四测试信号被施加到第四数据线，第五测试信号被施加到第五数据线，并且第六测试信号被施加到第六数据线。另外，第一测试信号至第六测试信号被顺序地施加到每N+6个数据线的相应数据线(N是大于1的自然数)。

参照绿色像素的布置结构，绿色像素被布置在第二数据线DL2和第三数据线DL3之间，并且另外的绿色像素被布置在第五数据线DL5和第六数据线DL6之间。

针对自动探测测试的描述，将数据线称为测试线，以对应于第一测试信号至第六测试信号的输入。

第一种方法可以被应用于如图4所示的第一实施方式。因此，结合起来参照图4和图6，扫描信号被施加到偶数选通线，以点亮被布置在第二测试线DL2和第三测试线DL3之间的第一绿色组的绿色像素。此时，将第二测试信号施加到第二测试线DL2，并且将第三测试信号施加到第三测试线DL3。

为此，将第二测试信号施加到如图4所示的第二数据短路条132，并且将第三测试信号施加到第三数据短路条133。此时，将使能信号施加到使能开关单元150，由此将第二测试信号提供给第二测试线DL2，并且将第三测试信号提供给第三测试线DL3。

共享偶数选通线的绿色像素的TFT被接通，并且来自第二测试线DL2的第二测试信号以及来自第三测试线DL3的第三测试信号被施加到TFT被接通的绿色像素，由此所有绿色像素中的第一绿色组的绿色像素被点亮。

随后，结合起来参照图4和图7，扫描信号被施加到奇数选通线，以点亮被布置在第五测试线DL5和第六测试线DL6之间的第二绿色组的绿色像素。此时，第五测试信号被施加到第五测试线DL5，并且第六测试信号被施加到第六测试线DL6。

为此，将第五测试信号施加到图4所示的第五数据短路条135，并且将第六测试信号施加到第六数据短路条136。此时，使能信号被施加到使能开关单元150，由此第五测试信号被提供给第五测试线DL5，并且第六测试信号被提供给第六测试线DL6。

共享奇数选通线的绿色像素的TFT被接通，并且来自第五测试线DL5的第五测试信号以及来自第六测试线DL6的第六测试信号被施加到TFT被接通的绿色像素，由此所有绿色像素中的第二绿色组的绿色像素被点亮。

如上所述，第一绿色组和第二绿色组被交替地点亮，由此可以执行所有绿色像素的自动探测测试。

用于测试绿色像素的方法2

第二种方法也可以应用于如图5所示的第二实施方式。因此，结合起来参照图5和图6，扫描信号被施加到偶数选通线，以点亮被布置在第二测试线DL2和第三测试线DL3之间的第一绿色组的绿色像素。此时，将测试信号施加到第二测试线DL2和第三测试线DL3。

为此，将测试信号施加到图5所示的数据短路条160，并且在输入测试信号时，及时将使能信号提供给第二使能开关单元182和第三使能开关单元183，由此将测试信号提供给第二测试线DL2和第三测试线DL3。

共享偶数选通线的绿色像素的TFT被接通，并且来自第二测试线DL2的测试信号以及来自第三测试线DL3的测试信号被施加到TFT被接通的绿色像素，由此所有绿色像素中的第一绿色组的绿色像素被点亮。

随后，结合起来参照图5和图7，扫描信号被施加到奇数选通线，以点亮被布置在第五测试线DL5和第六测试线DL6之间的第二绿色组的绿色像素。此时，测试信号被施加到第五测试线DL5和第六测试线DL6。

为此，将测试信号施加到图5所示的数据短路条180，并且在输入测试信号时，及时将使能信号提供给第五使能开关单元185和第六使能开关单元186，由此测试信号被提供给第五测试线DL5和第六测试线DL6。

共享奇数选通线的绿色像素的TFT被接通，并且来自第五测试线DL5的测试信号以及来自第六测试线DL6的测试信号被施加到TFT被接通的绿色像素，由此所有绿色像素中的第二绿色组的绿色像素被点亮。

如上所述，第一绿色组和第二绿色组被交替点亮，由此可以执行所有绿色像素的自动探测测试。

在根据本发明的实施方式的用于测试LCD装置的像素的方法中，可以针对各种颜色来点亮红色、绿色和蓝色像素，由此可以在绿色像素的自动探测测试期间在不使红色像素和蓝色像素的颜色混合的情况下准确地执行绿色像素的测试。

图8和图9例示了绿色像素的测试期间的点亮错误。

点亮测试的错误

图8和图9例示了绿色像素的测试期间的点亮错误。

参照图8，当期望点亮第一绿色组的像素时，将测试信号施加到第二测试线DL2和第三测试线DL3，并且将扫描信号施加到奇数选通线。在这种情况下，红色像素和蓝色像素被点亮，由此发生点亮错误。也就是说，第一绿色组未被点亮，红色像素和蓝色像素被点亮。

参照图9，当期望点亮第二绿色组的像素时，将测试信号施加到第五测试线DL5和第六测试线DL6，并且将扫描信号施加到偶数选通线。在这种情况下，红色像素和蓝色像素被点亮，由此发生点亮错误。也就是说，第二绿色组未被点亮，红色像素和蓝色像素被点亮。

为了防止发生点亮错误，根据参照图4至图7描述的方法，将扫描信号选择性地提供给选通线，并且将测试信号选择性地提供给像素。

用于测试红色像素的方法1

第一种方法可以应用于如图4所示的第一实施方式。图10和图11例示了用于测试红色像素的方法。

参照图10和图11，所有红色像素被划分成两个组(即，第一红色组和第二红色组)，并且然后进行测试。由于图10和图11中示出了所有像素中的仅一些，因此将基于图10和图11所示的像素来描述用于测试像素的方法。

参照红色像素的布置结构，红色像素被布置在第一数据线DL1和第二数据线DL2之间，并且另外的红色像素被布置在第四数据线DL4和第五数据线DL5之间。

针对自动探测测试的描述，将数据线称为测试线，以对应于第一测试信号至第六测试信号的输入。

结合起来参照图4和图10，扫描信号被施加到奇数选通线，以点亮被布置在第一测试线DL1和第二测试线DL2之间的第一红色组的红色像素。此时，第一测试信号被施加到第一测试线DL1，并且第二测试信号被施加到第二测试线DL2。

为此，将第一测试信号施加到图4所示的第一数据短路条131，并且将第二测试信号施加到第二数据短路条132。此时，使能信号被施加到使能开关单元150，由此第一测试信号被提供给第一测试线DL1，并且第二测试信号被提供给第二测试线DL2。

共享奇数选通线的红色像素的TFT被接通，并且来自第一测试线DL1的第一测试信号以及来自第二测试线DL2的第二测试信号被施加到TFT被接通的红色像素，由此所有红色像素中的第一红色组的红色像素被点亮。

随后，结合起来参照图4和图11，扫描信号被施加到偶数选通线，以点亮被布置在第四测试线DL4和第五测试线DL5之间的第二红色组的红色像素。此时，第四测试信号被施加到第四测试线DL4，并且第五测试信号被施加到第五测试线DL5。

为此，将第四测试信号施加到图4所示的第四数据短路条134，并且将第五测试信号施加到第五数据短路条135。此时，使能信号被施加到使能开关单元150，由此第四测试信号被提供给第四测试线DL4，并且第五测试信号被提供给第五测试线DL5。

共享偶数选通线的红色像素的TFT被接通，并且来自第四测试线DL4的第四测试信号以及来自第五测试线DL5的第五测试信号被施加到TFT被接通的红色像素，由此所有红色像素中的第二红色组的红色像素被点亮。

如上所述，第一红色组和第二红色组被交替点亮，由此可以执行所有红色像素的自动探测测试。

用于测试红色像素的方法2

第二方法可以应用于如图5所示的第二实施方式。结合起来参照图5和图10，扫描信号被施加到奇数选通线，以点亮被布置在第一测试线DL1和第二测试线DL2之间的第一红色组的红色像素。此时，将测试信号施加到第一测试线DL1和第二测试线DL2。

为此，将测试信号施加到图5所示的数据短路条160，并且在输入测试信号时，及时将使能信号提供给第一使能开关单元181和第二使能开关单元182，由此将测试信号提供给第一测试线DL1和第二测试线DL2。

共享奇数选通线的红色像素的TFT被接通，并且来自第一测试线DL1的测试信号以及来自第二测试线DL2的测试信号被施加到TFT被接通的红色像素，由此所有红色像素中的第一红色组的红色像素被点亮。

随后，结合起来参照图5和图11，扫描信号被施加到偶数选通线，以点亮被布置在第四测试线DL4和第五测试线DL5之间的第二红色组的红色像素。此时，测试信号被施加到第四测试线DL4和第五测试线DL5。

为此，将测试信号施加到图5所示的数据短路条180，并且在输入测试信号时，及时将使能信号提供给第四使能开关单元184和第五使能开关单元185，由此测试信号被提供给第四测试线DL4和第五测试线DL5。

共享偶数选通线的红色像素的TFT被接通，并且来自第四测试线DL4的测试信号以及来自第五测试线DL5的测试信号被施加到TFT被接通的红色像素，由此所有红色像素中的第二红色组的红色像素被点亮。

如上所述，第一红色组和第二红色组被交替点亮，由此可以执行所有红色像素的自动探测测试。

在根据本发明的实施方式的用于测试LCD装置的像素的方法中，可以针对各种颜色来点亮红色、绿色和蓝色像素，由此可以在红色像素的自动探测测试期间在不使绿色像素和蓝色像素的颜色混合的情况下准确地执行红色像素的测试。

用于测试蓝色像素的方法1

第一种方法可以应用于如图4所示的第一实施方式。图12和图13例示了用于测试蓝色像素的方法。

参照图12和图13，所有蓝色像素被划分成两个组(即，第一蓝色组和第二蓝色组)，并且然后进行测试。由于图12和图13中示出了所有像素中的仅一些，因此将基于图12和图13所示的像素来描述用于测试像素的方法。

参照蓝色像素的布置结构，蓝色像素被布置在第三数据线DL3和第四数据线DL4之间，并且另外的蓝色像素被布置在第六数据线DL6和第七数据线DL7之间。

针对自动探测测试的描述，将数据线称为测试线，以对应于第一测试信号至第六测试信号的输入。

结合起来参照图4和图12，扫描信号被施加到奇数选通线，以点亮被布置第三测试线DL3和第四测试线DL4之间的第一蓝色组的蓝色像素。此时，第三测试信号被施加到第三测试线DL3，并且第四测试信号被施加到第四测试线DL4。

为此，将第三测试信号施加到图4所示的第三数据短路条133，并且将第四测试信号施加到第四数据短路条134。此时，使能信号被施加到使能开关单元150，由此第三测试信号被提供给第三测试线DL3，并且第四测试信号被提供给第四测试线DL4。

共享奇数选通线的蓝色像素的TFT被接通，并且来自第三测试线DL3的第三测试信号以及来自第四测试线DL4的第四测试信号被施加到TFT被接通的蓝色像素，由此所有蓝色像素中的第一蓝色组的蓝色像素被点亮。

随后，结合起来参照图4和图13，扫描信号被施加到偶数选通线，以点亮被布置在第六测试线DL6和第一测试线DL1之间的第二蓝色组的蓝色像素。此时，第六测试信号被施加到第六测试线DL6，并且第一测试信号被施加到第一测试线DL1。

为此，将第六测试信号施加到图4所示的第六数据短路条136，并且将第一测试信号施加到第一数据短路条131。此时，使能信号被施加到使能开关单元150，由此第六测试信号被提供给第六测试线DL6，并且第一测试信号被提供给第一测试线DL1。

共享偶数选通线的蓝色像素的TFT被接通，并且来自第六测试线DL6的第六测试信号以及来自第一测试线DL1的第一测试信号被施加到TFT被接通的蓝色像素，由此所有蓝色像素中的第二蓝色组的蓝色像素被点亮。

如上所述，第一蓝色组和第二蓝色组被交替点亮，由此可以执行所有蓝色像素的自动探测测试。

用于测试蓝色像素的方法2

第二方法可以应用于如图5所示的第二实施方式。结合起来参照图5和图12，扫描信号被施加到奇数选通线，以点亮被布置在第三测试线DL3和第四测试线DL4之间的第一蓝色组的蓝色像素。此时，将测试信号施加到第三测试线DL3和第四测试线DL4。

为此，将测试信号施加到图5所示的数据短路条160，并且在输入测试信号时，及时将使能信号施加到第三使能开关单元183和第四使能开关单元184，由此测试信号被提供给第三测试线DL3和第四测试线DL4。

共享奇数选通线的蓝色像素的TFT被接通，并且来自第三测试线DL3的测试信号以及来自第四测试线DL4的测试信号被施加到TFT被接通的蓝色像素，由此所有蓝色像素中的第一蓝色组的蓝色像素被点亮。

随后，结合起来参照图5和图13，扫描信号被施加到偶数选通线，以点亮被布置在第六测试线DL6和第一测试线DL1之间的第二蓝色组的蓝色像素。此时，测试信号被施加到第六测试线DL6和第一测试线DL1。

为此，将测试信号施加到图5所示的数据短路条180，并且在输入测试信号时，及时将使能信号提供给第六使能开关单元186和第一使能开关单元181，由此测试信号被提供给第六测试线DL6和第一测试线DL1。

共享偶数选通线的蓝色像素的TFT被接通，并且来自第六测试线DL6的测试信号以及来自第一测试线DL1的测试信号被施加到TFT被接通的蓝色像素，由此所有蓝色像素中的第二蓝色组的蓝色像素被点亮。

如上所述，第一蓝色组和第二蓝色组被交替点亮，由此可以执行所有蓝色像素的自动探测测试。

在根据本发明的实施方式的用于测试LCD装置的像素的方法中，可以针对各种颜色来点亮红色、绿色和蓝色像素，由此可以在蓝色像素的自动探测测试期间在不使红色像素和绿色像素的颜色混合的情况下准确地执行蓝色像素的测试。

如上所述，根据本发明，可以获得以下优点。

根据本发明的实施方式的LCD装置可以提供用于上下彼此相邻的像素共享选通线的两个数据/一次选通的像素结构的自动探测测试的测试图案。

此外，根据本发明，可以针对上下彼此相邻的像素共享选通线的两个数据/一次选通的像素结构的自动探测测试来提供用于测试像素的方法。

在根据本发明的实施方式的用于测试LCD装置的像素的方法中，可以针对各种颜色来点亮红色、绿色和蓝色像素，由此可以在不使像素的颜色混合的情况下准确地执行红色、绿色和蓝色像素的自动探测测试。

对于本领域技术人员将显而易见的是，能够在不脱离本发明的范围的情况下对本发明进行各种修改和变型。因此，本发明旨在涵盖本发明的修改和变型，只要它们落入所附权利要求书及其等同物的范围内即可。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2014年8月7日提交的韩国专利申请No.10-2014-0101782的权益，针对所有目的，通过引用将其并入本文，如同在此充分阐释一样。

Claims (15)

1.一种液晶显示LCD装置，该LCD装置包括：

液晶面板，其包括显示区域和非显示区域；

多个像素，其被布置在所述显示区域中，所述像素包括不同颜色的像素，其中，在与选通线的方向垂直的方向上彼此相邻的两个像素连接到相同的选通线和不同的数据线；以及

测试图案，其被布置在所述非显示区域中，以向所述多个像素中的每一个提供测试信号，其中，所述测试图案包括至少一个数据短路条和至少一个开关单元，所述开关单元连接到所述数据线并且连接到所述数据短路条，以将所述测试信号按照颜色提供给所述多个像素中的每一个，

其中，各种颜色的像素被划分成至少两个像素组，并且一个像素组的像素由所述测试图案共同连接，并且

其中，所述测试信号被顺序地提供给一种颜色的像素的第一像素组和第二像素组。

2.根据权利要求1所述的LCD装置，其中，各种颜色的所述像素根据所述像素是连接到偶数编号的选通线还是连接到奇数编号的选通线而被划分成两个像素组。

3.根据权利要求1所述的LCD装置，其中，所述数据短路条的数量或者所述开关单元的数量对应于所述像素组的数量。

4.根据权利要求1所述的LCD装置，其中，一个像素组的像素由一个开关单元或者由一个数据短路条共同连接。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的LCD装置，其中，所述测试图案包括针对各种颜色的多个数据短路条，其中，所述数据短路条将各种颜色的像素划分成至少两个组，以将所述测试信号提供给所述两个组。

6.根据权利要求5所述的LCD装置，其中，所述测试图案包括单个开关单元，以分别将从针对各种颜色的所述多个数据短路条输入的所述测试信号选择性地提供给各种颜色的所述像素。

7.根据权利要求1至4中的任一项所述的LCD装置，其中，所述测试图案包括单个数据短路条，以将所述测试信号提供给所述多个像素。

8.根据权利要求7所述的LCD装置，其中，所述测试图案包括针对各种颜色的多个开关单元，以将各种颜色的像素划分成至少两个组，从而将所述测试信号提供给各种颜色的像素的所述两个组。

9.一种用于测试液晶显示LCD装置的像素的方法，所述像素具有不同的颜色，其中，在与选通线的方向垂直的方向上彼此相邻的两个像素连接到相同的选通线和不同的数据线，该方法包括以下步骤：

利用包括至少一个数据短路条和至少一个开关单元的测试图案来将测试信号按照颜色提供给所述像素中的每一个，

其中，各种颜色的像素被划分成至少两个像素组，一个像素组的像素由所述测试图案共同连接，并且其中，所述测试信号被提供给相应的像素组。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述测试信号被顺序地提供给一种颜色的像素的第一像素组和第二像素组。

11.根据权利要求9或10所述的方法，其中，各种颜色的所述像素根据所述像素是连接到偶数编号的选通线还是连接到奇数编号的选通线而被划分成两个像素组。

12.根据权利要求9至10中的任一项所述的方法，该方法还包括以下步骤：

通过将扫描信号提供给奇数选通线并且将所述测试信号提供给一种颜色的像素的第一组来点亮该第一组；以及

通过将扫描信号提供给偶数选通线并且将所述测试信号提供给所述一种颜色的像素的第二组来点亮该第二组。

13.根据权利要求12所述的方法，重复以下步骤：点亮针对各种颜色的第一组和第二组。

14.根据权利要求12所述的方法，其中，通过将所述测试信号施加到分别与所述像素组的两个数据线对应的两个数据短路条并且通过将使能信号提供给所述开关单元来将所述测试信号提供给一种颜色的第一像素组或第二像素组。

15.根据权利要求12所述的方法，其中，通过将所述测试信号施加到一个数据短路条并且通过将使能信号提供给分别与所述像素组的两个数据线对应的两个开关单元来将所述测试信号提供给一种颜色的第一像素组或第二像素组。