CN105277962A - 用于x射线反向散射应用的可见x射线指示和检测*** - Google Patents
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Abstract
本发明涉及用于X射线反向散射应用的可见X射线和监测***。一种X射线反向散射指示和检测***(100),包括关于作为X射线(1506)的目标的目标区域(1404)布置的对象(1402),以使从所述目标区域(1404)反向散射的X射线(1506)照射所述对象的表面(1910)。所述对象(1402)的所述表面(1910)包括当被反向散射的X射线(1412)接触到时发出具有可见光(1416)的荧光的X射线敏感指示剂物质(1912)。
Description
技术领域
本公开涉及X射线的指示、检测和表征,并且更具体地涉及反向散射的X射线。
背景技术
X射线是人眼看不见的光的能量形式。众所周知,X射线有很多有用的应用,如在医学、牙科学和科学研究中。
然而,因为X射线能量极高,所以不使用昂贵的、先进的设备很难检测到它们。类似地,定量表征X射线的通量通常需要昂贵的、先进的设备。因此,用于检测和表征X射线的新的和改进的技术是希望的,尤其是对于反向散射的X射线。反向散射的X射线是目标区域然后从所述目标区域散射的X射线,潜在地照射除了所述目标区域以外的一个或更多个额外区域。
发明内容
说明性实施例提供了许多不同的实施方式。例如,说明性实施例提供了X射线反向散射指示和检测***,包括关于作为X射线的目标的目标区域布置的对象,以使从所述目标区域反向散射的X射线照射所述对象的表面。所述对象的所述表面包括当被反向散射的X射线接触时发出具有可见光的荧光的X射线敏感指示剂物质。
说明性实施例也提供了X射线泄漏检测器。所述检测器包括被布置的X射线发生器、目标区域,以使由所述X射线发生器产生的X射线照射所述目标区域;以及被布置在所述X射线发生器前面的屏蔽件。所述屏蔽件经配置用于阻止从所述目标区域反向散射的X射线。所述检测器也包括相对于所述目标区域布置在所述屏蔽件后面的第一面板。X射线敏感Q-dot溶液被布置在所述第一面板上,所述X射线敏感Q-dot溶液经配置用于当X射线照射所述X射线敏感Q-dot溶液时发出具有可见光的荧光。
说明性实施例也提供了一种方法。所述方法包括检查用品,所述用品具有被布置在所述用品的至少一部分上的X射线敏感Q-dot溶液。所述X射线敏感Q-dot溶液经配置用于当X射线照射所述X射线敏感Q-dot溶液时发出可见光的荧光。检查包括确定是否所述X射线敏感Q-dot溶液在发出荧光。
说明性实施例也提供了一种用品。所述用品包括包含表面的对象和被布置在所述表面上的X射线敏感Q-dot溶液。所述X射线敏感Q-dot溶液经配置用于当X射线照射所述X射线敏感Q-dot溶液时发出具有可见光的荧光。所述Q-dot溶液以从字、字符和图像组成的组中选择的图案放置在所述表面上。
说明性实施例也提供了一种X射线监测器。所述监测器包括X射线测量工具,所述X射线测量工具包括外壳、在所述外壳上且经配置用于接收X射线通量的传感器目标区域以及被布置在所述外壳内部且经配置用于测量所述X射线通量的X射线检测器。所述监测器也包括被布置在所述传感器目标区域上的X射线敏感Q-dot溶液,所述X射线敏感Q-dot溶液经配置用于当X射线照射所述X射线敏感Q-dot溶液时发出具有可见光的荧光。
进一步地,本公开包括根据以下条款的实施例:
条款1.一种X射线反向散射指示和检测***(100)包括:
关于作为X射线(1506)的目标的目标区域(1404)布置的对象(1402),以使从所述目标区域(1404)反向散射的反向散射X射线(1412)照射所述对象(1402)的表面(1910),其中所述对象(1402)的所述表面(1910)包括当被反向散射的X射线(1412)接触到时发出具有可见光(1416)的荧光的X射线敏感指示剂物质(1912)。
条款2.根据条款1所述的X射线反向散射指示和检测***(100),其中发出荧光的所述X射线敏感指示剂物质(1912)是Q-dot溶液(1796)。
条款3.根据条款1所述的X射线反向散射指示和检测***(100)进一步包括额外的X射线敏感指示剂物质(1912)。
条款4.根据条款1所述的X射线反向散射指示和检测***(100)进一步包括:
关于所述对象(1402)操作性布置的图像采集设备(1916),用于检测来源于所述X射线敏感指示剂物质(1912)的荧光的所述可见光(1416)。
条款5.根据条款4所述的X射线反向散射指示和检测***(100)进一步包括:
与图像采集设备(1916)通信的计算机(1522),所述计算机(1522)存储所述可见光(1416)的图像(1512)且执行所述图像(1512)的分析。
条款6.根据条款1所述的X射线反向散射指示和检测***(100)进一步包括X射线发生器(1406)。
条款7.根据条款6所述的X射线反向散射检测器***,其中所述X射线发生器(1406)和与所述图像采集设备(1916)通信的计算机(1522)通信,其中所述计算机(1522)基于由所述图像采集设备(1916)获得的所述可见光(1416)的所述图像(1512)的所述分析修改所述X射线发生器(1406)的操作。
条款8.根据条款6所述的X射线反向散射指示和检测***,其中所述对象(1402)包括:
第一面板(1424),在所述X射线发生器(1406)的前面,但到所述X射线发生器(1406)的第一侧面;
第二面板(1426),在所述X射线发生器(1406)的前面,但到所述X射线发生器(1406)的第二侧面,第二侧面在所述第一侧面的对面;
第三面板(1428),相对于所述X射线发生器(1406),在所述第一面板(1424)的第一远端处、大约垂直于所述第一面板(1424);
第四面板(1430),相对于所述X射线发生器(1406),在所述第二面板(1426)的第二远端处、大约垂直于所述第二面板(1426);以及
第五面板(1432),相对于所述X射线发生器(1406)在所述目标区域(1404)的后面。
条款9.X射线泄漏检测器(1500)包括:
X射线发生器(1406);
目标区域(1404),其被布置以使由所述X射线发生器(1406)产生的X射线(1506)照射所述目标区域(1404);
屏蔽件(404),被布置在所述X射线发生器(1406)的前面,所述屏蔽件(404)经配置用于阻止从所述目标区域(1404)反向散射的X射线(1510);
第一对象(1402),相对于所述目标区域(1404)被布置在所述屏蔽件(404)的后面;
被布置在所述第一对象上的X射线敏感Q-dot溶液(1812),所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)经配置用于当X射线(1518)照射所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)时发出具有可见光(1416)的荧光。
条款10.根据条款9所述的X射线泄漏检测器(1500)进一步包括:
关于所述第一对象(1402)操作性布置的摄像机(1414),以使所述摄像机(1414)能够检测来源于所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)的荧光的所述可见光(1416)。
条款11.根据条款10所述的X射线泄漏检测器(1500)进一步包括:
存储所述可见光(1416)的图像(1512)且分析所述可见光(1416)来识别X射线(1506)在所述目标区域(1404)上存在的计算机(1522)。
条款12.根据条款9所述的X射线泄漏检测器(1500)进一步包括:
第二对象(1402),相对于所述目标区域(1404)被布置在所述屏蔽件(404)的后面,而且相对于所述X射线发生器(1406)进一步被布置在所述第一对象(1402)的对面;以及
第二X射线敏感Q-dot溶液(1528),被布置在所述第二对象上,所述第二X射线敏感Q-dot溶液(1528)经配置用于当X射线(1518)照射所述第二X射线敏感Q-dot溶液(1528)时发出具有可见光(1416)的荧光。
条款13.根据条款12所述的X射线泄漏检测器(1500),其中所述第一对象(1402)被布置用于接收从所述X射线发生器(1406)的准直器泄漏的第一X射线(1506),而所述第二对象(1402)被布置用于接收从电缆(1538)从所述X射线发生器(1406)离开的位置泄漏的第二X射线(1506)。
条款14.一种检测X射线(1506)的方法包括:
检查具有X射线敏感物质的对象(1402)来检测荧光,当X射线(1518)照射被布置在所述对象(1402)的所述表面(1910)的至少一部分上的所述物质时,所述X射线敏感物质发出可见光(1416)的荧光。
条款15.根据条款14所述的方法,其中所述物质是Q-dot溶液。
条款16.一种用品,包括:
对象(1402),包括表面(1910);
X射线敏感Q-dot溶液(1812),被布置在所述对象的所述表面(1910)上,所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)经配置用于当X射线(1518)照射所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)时发出具有可见光(1416)的荧光。
条款17.X射线监测器(500)包括:
X射线测量工具(1802),包括外壳(1804)、在所述外壳(1804)上且经配置用于接收X射线通量(1808)的传感器目标区域(1404)、以及被布置在所述外壳(1804)内部且经配置用于测量所述X射线通量(1808)的X射线检测器(1810);
被布置在所述传感器目标区域(1404)上的X射线敏感Q-dot溶液(1812),所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)经配置用于当X射线(1518)照射所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)时发出具有可见光(1416)的荧光。
条款18.根据条款17所述的X射线监测器(500),其中所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)进一步延伸通过且包围所述传感器目标区域(1404)。
条款19.根据条款18所述的X射线监测器(500)进一步包括:
摄像机(1414),被布置用于监测所述可见光(1416);以及
计算机(1418),被连接到所述摄像机(1414),其中所述计算机(1418)经配置用于基于所述可见光(1416)的特征确定是否预期量的X射线通量(1808)进入所述传感器目标区域(1404)。
条款20.根据条款19所述的X射线监测器(500)进一步包括:
机械装置(1820),被连接到所述计算机(1818),所述机械装置(1820)经配置用于调整所述X射线测量工具(1802)的方向,而且其中所述计算机(1818)进一步经配置用于基于所述特征命令所述机械装置(1820)调整所述方向,以使所需量的X射线通量(1808)进入所述传感器目标区域(1404)。
附图说明
在随附权利要求中阐述了说明性实施例认为新颖性特征的特征。然而,当结合附图阅读参考以下本公开的说明性实施例的具体实施方式,将会更好的理解说明性实施例及其优选使用模式、进一步的目标和特征,其中:
图1根据说明性实施例示出X射线反向散射指示和检测***的侧视图;
图2根据说明性实施例示出图1中所示的X射线反向散射指示和检测***的俯视图;
图3根据说明性实施例示出另一个X射线反向散射指示和检测***;
图4根据说明性实施例示出X射线泄漏指示和检测***;
图5根据说明性实施例示出X射线监测器;
图6根据说明性实施例示出图5的X射线监测器的前视图;
图7根据说明性实施例示出用于应用Q-dot溶液的技术;
图8根据说明性实施例示出用于表征X射线照射检测器的技术;
图9根据说明性实施例示出表面上X射线敏感Q-dot溶液的图案;
图10根据说明性实施例示出表面上X射线敏感Q-dot溶液的另一个图案;
图11根据说明性实施例示出用X射线敏感Q-dot处理的衣着用品;
图12根据说明性实施例示出用X射线敏感Q-dot处理的另一个衣着用品;
图13根据说明性实施例示出用X射线敏感Q-dot处理的另一个衣着用品;
图14是根据说明性实施例的X射线反向散射指示和检测***;
图15是根据说明性实施例的X射线泄漏检测器;
图16是根据说明性实施例的用于检查用品的方法的流程图;
图17是根据说明性实施例包括在对象的表面上的X射线敏感Q-dot溶液的图案的用品;
图18是根据说明性实施例的X射线监测器;
图19是根据说明性实施例的X射线反向散射指示和检测***;以及
图20是根据说明性实施例的数据处理***的图示说明。
具体实施方式
说明性实施例提供了几种有用的功能。例如,说明性实施例识别和考虑廉价地检测X射线(包括反向散射的X射线)仍然是具有挑战性的。说明性实施例也识别和考虑用于在光的可见光谱中利用指示剂检测X射线存在的机械装置将允许对X射线的存在给出快速反应。说明性实施例也识别和考虑使用可见光指示的X射线的存在和分布,将允许普通可见光摄像机指导和控制X射线相关的设备,包括X射线发生器、X射线目标、X射线监测器,等等。
如在此使用的,“X射线”,类似可见光,是光子,电磁辐射的一种形式。X射线有在大约0.01纳米到大约10纳米范围的波长,对应于在大约30pHz(3*10^16Hz)到大约30eHz(3*10^19Hz)范围的频率,而且对应于在大约100电子伏(eV)到大约100千电子伏(KeV)范围内的能量。
电磁辐射包括普通可见光。然而,电磁辐射包括很多光子的能量,具有沿着整个电磁光谱的小范围能量的可见光。如果电磁光谱的范围以能量级沿直线排列,那么无线电波将在最右边,其次是微波,然后红外线,然后可见光,然后紫外线,然后X射线,然后伽马射线。光子表现为粒子和波,被表征为一束波。波可以被描述为具有波长、振幅和频率;因此,光子(包括可见光)可以被表征为具有波长和频率。光子能量越少波长越长,反之,光子的能量越多波长越短。同样地,光子能量越少频率越低,反之,光子能量越多频率越高。
如在此使用的,“荧光”是指由已经吸收了照射物质的不同频率的入射光子的所述物质发射发射光子。荧光是一种冷发光。因为所述入射光子而增加能量状态的分子或原子,随后减少的能量状态使得所述分子或原子发射所述荧光,荧光发生。荧光也可以作为不同的激发技术如来源于高能电子的轰击的荧光的结果而发生。说明性实施例也可以应用于这些其他类型的荧光。
在大多数情况下,荧光的发射光比入射的、吸收的光有更长的波长和更少的能量。在一些情况下,如在双光子吸收中,来自荧光的发射光可以与吸收的光有相同的或更短的波长,而且与所述吸收的光有相同的能量或者比所述吸收的光有更多的能量。然而,在此描述的说明性实施例,主要指的是单光子吸收和低能量发射光子。具体地,在此描述的说明性实施例主要指的是来源于X射线吸收的可见光的荧光。
如上所述,X射线对于人眼是不可见的,所以X射线设备的用户通常使用昂贵的专用传感器或监测器来指示X射线的存在。X射线设备的用户也可以穿戴显示X射线曝光已经发生的胶片佩章。然而,这样的佩章只能检测过去存在X射线且通常产生照射这样的佩章的X射线通量的不足量的表征。
在X射线曝光下发出具有可见光的荧光的量子点(Q-dot)已经被开发出来。因此,Q-dot可以允许使用可见光检测X射线,不过更确切地所述可见光荧光仅仅指示X射线近期已经被所述Q-dot吸收。因为这些Q-dot在存在X射线时迅速发出荧光,而且因为所述Q-dot的分子快速恢复到当额外的X射线照射Q-dot的相同的区域时能够再次发出荧光,Q-dot允许使用可见光用于迅速表征X射线。
发出具有可见光的荧光的Q-dot已经被开发出来以响应对于更高能量的伽马射线的曝光。因此,在此描述的关于X射线的所有的说明性实施例也可以关于伽马射线的检测和表征而使用。类似地,说明性实施例可以关于高能电子的检测和表征而使用。
在一个说明性实施例中,Q-dot和Q-dot基聚合物纳米复合材料可以被用作用于X射线闪烁和成像应用的指示剂。Q-dot指示剂提供极好的X射线冷发光,包括高分辨率、快速衰减、非-余辉(afterglow)、高阻止本领(highstoppingpower),以及与电荷耦合设备检测器的优良的光谱匹配。因此,Q-dot可以是对于X射线指示和检测应用有用的纳米荧光粉技术。Q-dot可以从不同公司购买,如纽约特洛伊的EvidentTechnologies公司。在一个具体非限制性说明性实施例中,Q-dot可以是碲化镉(CdTe)Q-dot。可以使用其他Q-dot。
Q-dot及其纳米复合材料可以被用于从X射线的可见指示受益的新颖的过程和布置中。说明性实施例论述这些新颖的过程和布置。
图1根据一个说明性实施例示出了X射线反向散射指示和检测***100的侧视图。X射线反向散射指示和检测***100包括产生和引导X射线104朝向目标区域106的X射线发生器102,所述目标区域106是目标108的部分。X射线104从目标区域散射,生成反向散射的X射线。所述反向散射的X射线显示为远离目标区域106指向的箭头。
一些所述反向散射的X射线照射目标面板110或面板112中的一个。在一个说明性实施例中,面板110和面板112可以都是传统的或常规的X射线检测器,其表面已经用Q-dot溶液处理。所述面板可以在具有其他形状和功能的对象的表面上,所述表面已经应用Q-dot。因此,说明性实施例并不局限于平面矩形对象,如图1和图2所示,而且可以有任何所需的形状,例如,弯曲的或其他形状。所述两个面板被放置在X射线发生器102的任一侧上,专门拦截所述反向散射的X射线。更多或更少的X射线检测器面板可以存在于不同的说明性实施例中。在一个说明性实施例中,面板110和面板112实际上是具有洞的单个面板,来自X射线发生器102的X射线通过所述洞进行传送。在图1所示的说明性实施例中,面板110包括指示剂溶液层114,例如,Q-dot溶液,如上所述。面板112包括Q-dot溶液层116,如上所述。这些Q-dot溶液可以是相同的,但是在浓度、原子组成方面也可以不同,或在其他方面彼此不同,这取决于反向散射X射线监测器的所需实施方式。在任何情况下,在反向散射的X射线存在的情况下,所述Q-dot溶液发出荧光。
可选地,一个或更多个检测设备,如图像采集设备,例如,摄像机118可以被提供。摄像机118可以经配置用于记录当被X射线照射时由所述Q-dot溶液发射的可见光荧光。摄像机118是可选的,因为在一些情况下,人类操作员可以检测所述可见光荧光。在其他说明性实施例中,计算机可以与摄像机118通信。计算机的一个示例可以是图20所示的数据处理***2000。结合连接到X射线发生器102的伺服或其他机械设备,所述计算机可以用于改变X射线发生器102的操作以响应所述荧光的具体特征。例如,如果所述荧光指示X射线的通量过高,那么X射线发生器102可以被命令以产生更少的X射线。相反地,如果所述荧光指示X射线的通量过低,那么X射线发生器102可以被命令产生更多的X射线。在另一个说明性实施例中,如果所述荧光指示X射线的通量打在目标108上的不正确的位置,那么X射线发生器102可以被命令改变其指向的方向。这些说明性实施例只是示例性的;其他的示例是可能的。因此,这些说明性实施例没必要限制本申请要求保护的发明。
同样地,面板110或112可以被连接到机械致动器且可以被移动以响应由摄像机118检测到的所述荧光。更进一步地,目标108可以被连接到机械致动器且可以被移动以响应由摄像机118检测到的所述荧光。在另一个说明性实施例中,所有的面板110和112、目标108以及X射线发生器102可以由以响应由摄像机118检测到的荧光而操作的计算机控制。
图2根据一个说明性实施例示出图1中所示的X射线反向散射指示和检测***100的俯视图。因此,X射线发生器200对应于图1的X射线发生器102,面板202对应于图1的面板110,而面板204对应于图1的面板112。图2显示了面向图1的目标108的面板110和112的面。图2示出散射的X射线导致所述面板的所述主面上的指示剂(如Q-dot)发出荧光且产生面板110和112中检测器采集的荧光的可见光图像。因此,所述X射线反向散射检测器的表面可以用Q-dot溶液涂覆或喷涂。这些检测器将显示在向后或向前方向上散射场的能量、范围和形状。对于反向散射应用,使用荧光指示剂如Q-dot,在X射线存在的情况下,所述检测器的所述表面将可视地发光来显示所述面板中所述检测器正在感测的所述X射线的能量分布和通量的测量。***参数(包括检测器距离、大小、源能量(其影响散射))能够被优化以最优检测来自受检查的每个部件或结构的散射。如果所述检测器的表面对于操作员来说不易于看到,则电荷耦合器件(CCD)、互补金属氧化物半导体(CMOS)摄像机、或一些其他检测设备能够被安装在所述面板上或所述面板附近,指着所述面板且被连接到所述操作员能够观察到的监测器。同样地,所述摄像机可以被连接到计算机以便修改所述X射线发生器、所述面板或所述目标的操作,如上所述。这样的计算机的示例可以是在图20中示出的数据处理***2000。注意,在面板110和面板112包含其他类型的X射线检测器的情况下,所述Q-dot溶液提供检验使用这些其他类型的检测器测量的X射线的表征或者用于快速检验关于预期的X射线通量的所述X射线检测器的所需的位置的第二方法。
如在箭头206的综合区域中可以看出,随着照射面板202或面板204的所述X射线通量的性质变化,荧光的强度和/或颜色可以变化。所述荧光的颜色或强度可以指示面板202或面板204的给出部分上较低或较高的X射线通量。通过这种方式,所述X射线通量可以在视觉上进行表征。结合摄像机,计算机也可以将可见荧光视作输入且生成所述X射线通量的数字表征和/或记录。
图3根据一个说明性实施例示出另一个X射线反向散射指示和检测***。在图3中示出的***是在图1和图2中示出的***的变型。因此,相对于图1,X射线发生器300对应于X射线发生器100,X射线302对应于X射线102,目标区域304对应于目标区域106,目标306对应于目标108,面板308对应于面板110,面板310对应于面板112,以及摄像机312对应于摄像机118。
然而,在图3中示出的变型中,面板的位置已经修改。面板308可以被表征为在X射线发生器300前面但到X射线发生器300的第一侧面的第一面板,而面板310可以表征为在X射线发生器300前面但到X射线发生器300第二侧面的第二面板,第二侧面在所述第一侧面的对面。
在一个说明性实施例中,可以***术语“第一”和“第二”以使面板308或面板310中的另一个被认为是所述“第一”面板。在一个说明性实施例中,面板308和面板310两者都可以是具有洞或其他孔的单个面板,X射线302通过所述洞或其他孔可以进行传送。此外,面板314和面板316分别地被提供在与面板308和310大约呈直角的位置。面板314可以被表征为,相对于所述X射线发生器300,在所述第一面板的第一远端、大约垂直于所述第一面板的第三面板。面板316可以被表征为,相对于所述X射线发生器300,在所述第二面板的第二远端、大约垂直于所述第二面板的第四面板。X射线荧光Q-dot已经被应用于面板314和面板316,以便视觉上表征从目标区域304散射的一部分X射线。
在一个说明性实施例中,面板314和面板316是单个面板,如围绕面板308和/或面板310的周边完全包住或部分包住的圆形面板或某一其他面板形状。在一个说明性实施例中,面板308、310、314和316是如图所示成形的单个连续对象。在一个说明性实施例中,示出的任何面板的角度可以相对彼此改变。在一个说明性实施例中,X射线荧光Q-dot也可以被另外放置在面板308或面板310中的一个或两个上。因此,说明性实施例并不必要局限于图3中示出的具体配置。
可选地,面板318可以被放置在目标区域304的后面。面板318可以被表征为,相对于X射线发生器300,在目标区域304的后面的第五面板。面板318也可以用X射线荧光Q-dot来涂覆。面板318上的所述X射线Q-dot的荧光可以视觉上指示从目标区域304散射的但是不以朝向X射线发生器300的大致方向反射回来的X射线的存在。
在图3中示出的说明性实施例可以被表征为X射线散射指示剂。在该说明性实施例中,示出的所述面板可以用X射线敏感Q-dot溶液来涂覆且被放置在围绕X射线反向散射测试设施的不同位置处。所述面板可以提供受***件(即,目标108)的任一侧上、向前或向后方向上的所述X射线散射的能量分布和通量的测量。由这些散射指示剂提供的信息对于检查程序测试和优化***参数可以是有用的。摄像机118(其对可见光是敏感敏感的)能够用于采集所述荧光的图像以显示在监测器上以及进行图像数据存储和分析。
图4根据一个说明性实施例示出了X射线泄漏指示和检测***。在图4中示出的所述X射线泄漏指示和检测***是在图1到图3中示出的所述X射线反向散射检测***的变型。
X射线发生器400可以产生不准备朝向目标422发射的额外X射线。这样的X射线可以表征被为“泄漏的”X射线。如图4所示,X射线408和X射线410是泄漏的X射线。泄漏的X射线通常可以从X射线发生器400的准直器412发射,如由X射线408所示。泄漏的X射线通常也可以从X射线发生器400的外壳部分(此处电缆暴露(例如通常在区域414)))发射,如由X射线408所示。电缆暴露的X射线发生器400的外壳区域通常具有较少的屏蔽,这意味着在一些情况下泄漏的X射线可以从这些区域发射。
用于检测泄漏的X射线的有用的可见指示剂可以采用对象的形式,如涂有指示剂(如X射线荧光Q-dot)的面板。因此,提供面板416和面板418,每个涂有X射线荧光Q-dot。面板416可以被布置且角度被设定以便有效地检测泄漏的X射线408。类似地,面板418可以被布置且角度被设定以便有效地检测泄漏的X射线410。
在一个说明性实施例中,面板416和面板418可以以相对彼此呈一定角度并在发射的X射线402行进的方向上,被布置在X射线发生器400的任一侧。该角度可以是相对于彼此的任何期望角度,以便任何泄漏的X射线通量的检测或指示在传感器区域内被最大化。换句话说,所述角度可以基于泄漏的X射线的行进的预期方向进行选择。可选地,可以参考一些其他对象来选择该角度。
为了确保只有泄漏的X射线被检测到,可以设置用于拦截从目标反向散射的X射线的一个或更多个屏蔽件。例如,屏蔽件404和屏蔽件406防止从目标422反向散射的X射线的传送,所述目标422可以是图1的目标108。这些屏蔽件也可以具有双重功能:作为反向散射的X射线检测器或涂覆有X射线荧光Q-dot的面板,以便检测反向散射的X射线。因此,例如,屏蔽件404可以对应于图1的面板110且屏蔽件406可以对应于图1的面板112。在任意情况下,例如,屏蔽件404和屏蔽件406防止从目标422反向散射的X射线与可能从X射线发生器400发射的泄漏的X射线混淆。上述说明性实施例的变型是可能的。在一个示例中,面板416和面板418可以有任何所希望的形状。在另一个示例中,可以存在更多或更少的面板。在另一个示例中,屏蔽件404和屏蔽件406可以是单个单一的屏蔽件,或者可以是多个额外的屏蔽件。屏蔽件404和屏蔽件406可以有任何所希望的形状。面板416、面板418、屏蔽件404和屏蔽件406中的任一个也可以具有双重功能:作为X射线检测器材料、X射线胶片或X射线敏感摄像机。面板416和面板418中的一个或两个可以具有双重功能:作为旨在阻止泄漏的X射线离开X射线产生设备的区域的屏蔽功能。
可选地,摄像机420可以被提供用于光学地监测来自面板416和/或面板418的荧光。计算机,如图20的数据处理***2000,可以被连接到摄像机420。所述计算机可以从所述摄像机接收光学数据,然后存储或分析从面板416和/或面板418发射的荧光的图案。在一个说明性实施例中,可以基于这样的分析来控制X射线发生器400的操作。例如,如果泄漏的X射线的通量超过阈值,那么X射线发生器400可以被关闭或者被命令产生更少发射X射线402。替代地,基于来自面板416和/或面板418的荧光的分析,可以对X射线发生器400的任何部分手动地或自动地做出调整,以便使检测的X射线的泄漏最小化,
因此,图4显示了一个或更多个X射线泄漏检测屏幕的示例。在一个说明性实施例中,X射线荧光Q-dot可以被混合到载体中且被喷涂在屏幕上,如面板416和/或面板418。所述屏幕可以被放置到毗邻X射线***,如X射线发生器400,但是也包括其他X射线源、X射线反向散射***、便携式数字X射线***等等。所述屏幕可以用于检查或用于监测所述X射线***中的泄漏。在准直器中,X射线的泄漏通常可以发生所述电缆离开所述源的源附接处,以及发生在X射线发生器400的其他位置处。能够使用操作员在一段距离处观察来执行从所述屏幕监测荧光。替代地,可见光摄像机,如CCD摄像机或CMOS摄像机,能够被安装在所述屏幕上或者所述屏幕的附近并且瞄准喷涂物(cover),以便所述摄像机能够采集Q-dot荧光图像以显示在监测器上或者用于由计算机进行分析。
如上所述,在图4中示出的布置可以改变。因此,在图4中示出的说明性实施例并不必须限制本申请要求保护的发明。
图5根据一个说明性实施例示出X射线监测器。图6根据一个说明性实施例示出图5的所述X射线监测器的前视图。图5和图6指的是相同的X射线监测器;因此,图5和图6使用相同的附图标记。在一个说明性实施例中,X射线监测器500可以用于代替图1到图4中示出的涂有X射线荧光Q-dot的面板中的任何一个。在一个说明性实施例中,X射线监测器500可以是电离室X射线监测器,不过X射线监测器500有可能是X射线测量器或任何其他的X射线检测器。
无论X射线监测器500采用何种形式,X射线监测器500包括外壳502,其中用于检测和测量X射线的设备位于所述外壳502中。为了可携带性,可以提供具有把手504的X射线监测器500。屏幕506可以显示任何检测的X射线通量的读数。关于在图5中示出的说明性实施例,当所述X射线通量指向X射线监测器500的前面508时,X射线监测器500是最敏感敏感的。
现在转到图6,传感器区域600可以是对入射X射线通量最敏感的X射线监测器500的区域。X射线荧光Q-dot602可以被放置在传感器区域600上或者传感器区域600的周围来构成点滴指示剂。因此,X射线荧光Q-dot602可以延伸通过且包围传感器区域600,和/或者覆盖传感器区域600的部分或整个传感器区域600。
X射线荧光Q-dot602可以在存在X射线通量的情况下发出荧光。如果X射线通量的源是以相对密集的光束,X射线荧光Q-dot602可以用于帮助指导X射线监测器500的位置或角度,以便X射线通量的方向在传感器区域600内被最大化。
例如,如果随着X射线监测器500移动,X射线荧光Q-dot602的荧光增加,那么可以假设更多的X射线进入传感器区域600。相反地,如果随着X射线监测器500移动,X射线荧光Q-dot602的荧光减少,那么可以假设更少的X射线进入传感器区域600。使用X射线荧光Q-dot602的可视荧光作为移动X射线监测器500的指导,X射线监测器500可以被来回移动或以其他方式变化角度,直到X射线的最大通量进入传感器区域600。如果X射线监测器500被连接到计算机和运动机制,而且利用一个或更多个可见光摄像机监测X射线荧光Q-dot602的荧光,那么X射线监测器500可以被自动调整以使进入传感器区域600的X射线的量最大化。例如,所述摄像机可以监测来自X射线荧光Q-dot602的荧光且传输相应的数据到所述计算机。接着,所述计算机能够命令所述运动机制移动X射线监测器500,以便从X射线荧光Q-dot602发射的可见荧光的量被最大化。
图7根据一个说明性实施例示出用于应用Q-dot溶液的技术。该技术可以关于将X射线荧光Q-dot应用到图1到图6中的面板或设备中的任何一个而被使用。X射线荧光Q-dot700可以通过喷涂、涂装、浸涂或其他方式应用到面板的表面。例如,Q-dot700可以被放置在溶液中且被放置在气溶胶设备702里。然后,气溶胶设备702可以用于喷涂或涂覆对象704的表面。对象704可以是关于图1到图4描述的面板中的任一个,或X射线监测器,如图5和图6的X射线监测器500。气溶胶设备702可以由手动泵喷洒设备或用于应用溶液到对象的任何其他适合的设备来代替。
因此,X射线敏感Q-dot混合物能够被生成以通过颜色指示撞击的X射线。这些溶液能够被混合到用于喷涂或以其他方式应用到作为X射线证据(witness)的各种结构上的涂料或涂剂。
因此,图7提供了检查X射线敏感指示剂喷雾。Q-dot可以被混合在液态载体中,使用气溶胶或压缩空气将载体喷涂到指示剂结构上,从而在X射线片库(vault)中可视地显示X射线的撞击。表面能够是X射线平面或后壁,X射线从源发射到X射线平面或后壁上。对象704可以是被放置在X射线检测器或胶片的后面或旁边的平面面板以可视地显示X射线的位置。所述喷雾能够是可去除的或永久的。
图8根据一个说明性实施例示出了用于表征X射线照射检测器的技术。图8是在图1到图6中示出的用于指示和检测X射线的***和方法的变型。
X射线发生器800产生X射线802,其至少部分指向目标804。目标804可以是使用X射线802检查的研究对象或受***件。X射线802中的一些可以通过目标804被阻止或传送。使用被布置在检测器806上的X射线荧光Q-dot808,可以可视地示出X射线到达检测器806的图案。因此,X射线荧光Q-dot可以混合在液态载体中,其被喷涂或涂装到检测器806的前面的盖子810上。当受到X射线撞击,X射线荧光Q-dot将发出荧光,允许操作员容易地显现看到何时何地所述X射线撞击到检测器806上。例如,该可见信息能够被用于迅速地通知所述操作员何时X射线存在,而不使用检测设备。该可见信息也可以用于在使用检测器806之前预检查目标804的成像。例如,在设置检查目标804之前和/或之后,该可见信息能够显示距离X射线发生器800一段距离处的X射线802的横截面和大小。该可见信息也能够显示X射线802如何通过目标804衰减。
图9根据一个说明性实施例示出表面上X射线敏感Q-dot的图案。图10根据一个说明性实施例示出表面上X射线敏感Q-dot的另一个图案。因此,图9和图10各代表可以被放置在对象上的X射线荧光Q-dot的示例性图案。很多其他的图案也是可能的。这些图案能够被放置在关于图1到图8中示出的面板或对象中的任一个上。
图9显示指示牌900。在一个说明性实施例中,指示牌900上的字“X-RAYINUSE(正使用X射线)”中的一些字母或全部字母可以使用X射线荧光Q-dot来形成。因此,当X射线照射指示牌900时,这些字母中的一部分或全部可以发出可见光,指示用户X射线正在照射指示牌900。用户知道X射线在附近后,然后可以采取任何适当的行动。
图10显示指示牌1000。就像指示牌900,X射线荧光Q-dot可以以一种图案使用以指示X射线的存在。然而,对于指示牌1000,X射线荧光Q-dot被安排为辐射警告标志1002的形状。因此,当X射线照射辐射警告标志1002时,在没有检测设备的辅助下,观察员可以将所述标志检测为“发光”以指示X射线的存在。在一个说明性实施例中,辐射警告标志1002周围的字也可以用X射线荧光Q-dot处理且在存在X射线时发光。在一个说明性实施例中,只有辐射警告标志1002周围的字用X射线荧光Q-dot处理且在存在X射线时发光。很多其他变型也是可能的。
因此,图9和图10代表用于X射线存在的非供电指示剂。可以使用X射线荧光Q-dot来制作在存在X射线时点亮的字母或标志。这些指示牌或安全证据,或指示剂,可以被放置在产生的光束的边缘,以便当所述产生的光束在发生时所述指示牌点亮。当接近检查设施时,操作员可以立刻看到所述指示牌。
在一个变型的说明性实施例中,摄像机能够用于采集所述指示牌的图像以显示在其他位置处的一个或更多个监测器上。因此,X射线的存在可以从远程位置被可视地监测到。
图11根据一个说明性实施例示出用X射线敏感Q-dot处理的衣着用品。图12根据一个说明性实施例示出了用X射线敏感Q-dot处理的另一个衣着用品。图13根据一个说明性实施例示出了用X射线敏感Q-dot处理的另一个衣着用品。因此,图11到图13代表用于可视地指示X射线存在的X射线荧光Q-dot处理的衣着用品的不同说明性实施例。
图11显示了手腕带1100,其已经用X射线荧光Q-dot处理。图12显示了戒指1200,其已经用X射线荧光Q-dot处理。图13显示了粘合带1300,其已经用X射线荧光Q-dot处理。这些衣着用品的每一个可以被穿戴在人体的一部分上,以便可视地指示X射线的存在。
在一个说明性实施例中,X射线荧光Q-dot的浓度或密度可以被设置,以便当只存在自然背景的X射线时,很难检测到由所述X射线荧光Q-dot发射的所述荧光。因此,只有当高于背景强度的X射线存在时,这些衣着用品发出具有明亮强度的荧光,发送信号给观察员:阈值量的X射线正被发射。
在其他说明性实施例中,指示剂可以被应用于其他便携式对象的表面。例如,粘合带1300可以是胶带,该胶带可以被应用于X射线片库或X射线通量将被监测的其他区域中的任何方便表面。在另一个示例中,手腕带1100可以环绕预期遇到X射线通量的机器或移动机器人缠绕。在另一个示例中,所述X射线荧光Q-dot处理的衣着用品可以是佩章、衬衫、帽子或任何其他对象。因此,说明性实施例并不必须局限于在图11到图13中示出的对象。
在图11到图13中示出的说明性实施例提供了用于迅速可见的指示辐射曝光的方法。指示剂可以被提供给在医学、工业和商业领域中围绕X射线辐射工作的人们。
图14是根据一个说明性实施例的X射线反向散射指示和检测***。反向散射指示和检测***1400可以是在图1到图3中所述的实施例的变型。
反向散射指示和检测***1400包括对象1402,其关于作为X射线发生器1406的目标的目标区域1404布置,以使从目标区域1404反向散射的X射线发生器1406的X射线1408能够照射对象1402。对象1402的表面涂覆有X射线敏感Q-dot溶液1410,其经配置用于当X射线1412照射X射线敏感Q-dot溶液1410时发出具有可见光的荧光。
该说明性实施例可以改变。因此,例如,反向散射指示和检测***1400也可以包括摄像机1414,其关于对象1402操作性布置,以使摄像机1414能够检测来源于X射线敏感Q-dot溶液1410的荧光的可见光1416。
在一个说明性实施例中,反向散射指示和检测***1400也可以包括与摄像机1414通信的计算机1418。计算机1418可以经配置用于存储可见光1416的图像1420且执行图像1420的分析。计算机1418的一个示例可以是在图20中示出的数据处理***2000。
在一个说明性实施例中,反向散射指示和检测***1400可以包括X射线发生器1406,其可以与计算机1418通信。计算机1418可以进一步经配置用于基于摄像机1414获得的可见光1416的图像1420的分析修改X射线发生器1406的操作。
在一个说明性实施例中,计算机1418可以进一步经配置用于基于可见光1416分析反向散射X射线1412的图案1422且确定图案1422与反向散射X射线的预期图案是否匹配。在经配置用于修改X射线发生器1406的操作中,计算机1418经配置用于基于图案1422修改X射线发生器1406的操作。
在一个说明性实施例中,反向散射指示和检测***1400可以包括第一面板1424、第二面板1426、第三面板1428、第四面板1430和第五面板1432中的一个或更多个。第一面板1424可以在X射线发生器1406的前面,但到X射线发生器1406的第一侧面。第二面板1426可以在X射线发生器1406的前面,但到X射线发生器1406的第二侧面,第二侧面在所述第一侧面的对面。第三面板1428相对于X射线发生器1406可以在第一面板1424的第一远端处、大约垂直于第一面板1424。第四面板1430相对于X射线发生器1406可以在第二面板1426的第二远端处、大约垂直于第二面板1426。第五面板1432相对于X射线发生器1406可以在目标区域1404的后面。
在一个说明性实施例中,X射线敏感Q-dot溶液1410可以被布置在面板1424到1432中的一个或更多个上。因此,X射线敏感Q-dot溶液1410可以在选自包括下列项的组中的面板上:1)第一面板1424和第二面板1426;2)第一面板1424、第二面板1426和第五面板1432;以及3)第一面板1424、第二面板1426、第三面板1428、第四面板1430和第五面板1432的全部。反向散射指示和检测***1400的其他变型是可能的。因此,图14的说明性实施例并不必须限制本申请要求保护的发明。
图15根据一个说明性实施例的一种X射线泄漏检测器。X射线泄漏检测器1500可以图4中示出的所述X射线泄漏检测器的变型。
在一个说明性实施例中,X射线泄漏检测器1500包括X射线发生器1502和目标区域1504,它们被布置为使得X射线发生器1502产生的X射线1506照射目标区域1504。X射线泄漏检测器1500也可以包括布置在X射线发生器1502前面的屏蔽件1508。屏蔽件1508可以经配置用于阻止从目标区域1504反向散射的X射线1510。屏蔽件1508可以是一个或更多个面板。
X射线泄漏检测器1500也可以包括相对于目标区域1504被布置在屏蔽件1502后面的第一面板1512。X射线敏感Q-dot溶液1514可以被布置在第一面板1512上。X射线敏感Q-dot溶液1514可以经配置用于当X射线1518照射X射线敏感Q-dot溶液1514时发出具有可见光1516的荧光。
在一个说明性实施例中,X射线泄漏检测器1500也可以包括关于第一面板1512操作性布置的摄像机1520,以使摄像机1520能够检测来源于X射线敏感Q-dot溶液1514的荧光的可见光1516。在这种情况下,X射线泄漏检测器1500可以进一步包括与摄像机1520通信的计算机1522。计算机1522可以经配置用于存储可见光1516的图像1524且执行可见光1516的分析。计算机1522的示例可以是在图20中示出的数据处理***2000。
在一个说明性实施例中,X射线泄漏检测器1500可以包括相对于目标区域1504被布置在屏蔽件1508后面的第二面板1526。第二面板1526可以进一步相对于X射线发生器1502被布置在第一面板1512的对面。在这种情况下,第二X射线敏感Q-dot溶液1528可以被布置在第二面板1526上。第二X射线敏感Q-dot溶液1528可以经配置用于当X射线1532照射第二X射线敏感Q-dot溶液1528时发出具有可见光1530的荧光。
在一个说明性实施例中,第一面板1512和第二面板1526可以以相对彼此呈一定角度地布置,所述角度是相对于期望由X射线发生器1502发射的X射线1506的方向。在另一个说明性实施例中,第一面板1512可以被布置用于接收从准直器1534泄漏的X射线1518(其可以被表征为第一X射线)。X射线发生器1502和第二面板1526可以被布置用于接收从电缆1538从X射线发生器1502离开的位置1536泄漏的X射线1532(其可以被表征为第二X射线)。
图16是根据一个说明性实施例的用于检查用品的方法的流程图。方法1600可以使用在图11到图13中示出的所述X射线荧光Q-dot处理的对象中的任一个来实施。
方法1600可以通过检查具有X射线敏感物质的对象开始(操作1602),当X射线照射被布置在所述对象的所述表面的至少一部分上的所述物质时,所述X射线敏感物质发出可见光的荧光。该过程此后可以结束。
该方法可以改变。例如,所述用品可以是从戒指、手镯、织物和佩章组成的组中选择的衣着用品。所述用品可以是任何对象,无论是由个人穿戴还是附接到机器。
图17是根据一个说明性实施例的包括在对象的表面上X射线敏感Q-dot溶液的图案的用品。用品1700可以是在图9和图10中示出的所述指示牌中的任一个的变型。
用品1700可以包括对象1702,所述对象1702包括表面1704。X射线敏感Q-dot溶液1706可以被布置在表面1704上。X射线敏感Q-dot溶液1706可以经配置用于当X射线照射所述X射线敏感Q-dot溶液1706时发出具有可见光的荧光。X射线敏感Q-dot溶液1706可以以选自包括字、字符和图像的组中的图案被放置在表面1704上。该图案可以采用任何形状、字母、数字或符号。
图18是根据一个说明性实施例的X射线监测器。X射线监测器1800可以是图5和图6的X射线监测器500的示例。
X射线监测器1800可以包括X射线测量工具1802。X射线测量工具1802可以包括外壳1804。X射线测量工具1802可以包括在外壳1804上且经配置用于接收X射线通量1808的传感器目标区域1806。X射线测量工具1802可以包括被布置在外壳1804内部且经配置用于测量X射线通量1808的X射线检测器1810。X射线测量工具1802也可以包括被布置在传感器目标区域1806上的X射线敏感Q-dot溶液1812。X射线敏感Q-dot溶液1812可以经配置用于当X射线(如X射线通量1808)照射X射线敏感Q-dot溶液1812时发出具有可见光1814的荧光。
该说明性实施例可以改变。例如,X射线敏感Q-dot溶液1812可以进一步延伸穿过且包围传感器目标区域1806。然而,X射线敏感Q-dot溶液1812可以占用更少或更多的区域。
在一个附加说明性实施例中,摄像机1816可以被布置用于监测可见光1814。计算机1818可以被连接到摄像机1816。计算机1818可以经配置用于基于可见光1814的特征确定是否预期量的X射线通量进入传感器目标区域1806。计算机1818的示例可以是在图20中示出的数据处理***2000。
在另一个说明性实施例中,机械装置1820可以被连接到计算机1818。机械装置1820可以经配置用于调整X射线测量工具1802的方向。计算机1818可以进一步经配置用于基于所述特征命令机械装置1820调整所述方向,以使所需量的X射线通量进入传感器目标区域1806。其他变型也是可能的。因此,关于图18示出的说明性实施例并不必要限制本申请要求保护的发明。
图19是根据一个说明性实施例的X射线反向散射指示和检测***。反向散射指示和检测***1900可以是在图1到图3中所述的实施例的变型,也是图14的反向散射指示和检测***1400的变型。
X射线反向散射指示和检测***1900包括对象1902,其关于作为X射线1906的目标的目标区域1904布置,以使从目标区域1904反向散射的反向散射X射线1908照射对象1902的表面1910。对象1902的表面1910包括当被反向散射X射线1908接触到时发出具有可见光1914的荧光的X射线敏感指示剂物质1912。
X射线反向散射指示和检测***1900可以改变。例如,在一个说明性实施例中,发出荧光的X射线敏感指示剂物质可以是Q-dot溶液。在另一个说明性实施例中,可以提供额外的X射线敏感指示剂物质。所述额外的X射线敏感指示剂物质可以被放置在X射线敏感指示剂物质1912上面、旁边或下面。所述额外的X射线敏感指示物质可以覆盖表面1910的部分,而X射线敏感指示剂物质1912覆盖表面1910的另一部分。
在另一个说明性实施例中,X射线反向散射指示和检测***1900可以进一步包括关于对象1902操作性布置的图像采集设备1916,用于检测来源于X射线敏感指示剂物质1912的荧光的可见光1914。在另一个说明性实施例中,X射线反向散射指示和检测***1900也可以包括与图像采集设备1916通信的计算机1918,计算机1918存储可见光1914的图像1920且执行图像1920的分析。计算机1918的示例可以是在图20中示出的数据处理***2000。
在另一个说明性实施例中,X射线反向散射指示和检测***1900可以包括X射线发生器1922。然而,X射线发生器1922对于在图19中示出的说明性实施例的所述操作不是必要的。X射线发生器1922可以和与图像采集设备1916通信的计算机1918通信。在这种情况下,计算机1918可以基于图像采集设备1916获得的可见光1914的图像1920的所述分析修改X射线发生器1922的操作。
在另一个说明性实施例中,对象1902可以采用多种形式。例如,对象1902可以是第一面板1924,第一面板1924在X射线发生器1922的前面,但到X射线发生器1922的第一侧面。除第一面板以外或代替第一面板1924,对象1902也可以包括第二面板1926,第二面板1926在X射线发生器1922的前面,但到X射线发生器1922的第二侧面,第二侧面在所述第一侧面的对面。除第一面板1924和/或第二面板1926以外或代替第一面板1924和/或第二面板1926,对象1902也可以包括第三面板1928,第三面板1928相对于X射线发生器1922,在第一面板1924的第一远端处、大约垂直于第一面板1924。除第一面板1924、第二面板1926和/或第三面板1928以外或代替第一面板1924、第二面板1926和/或第三面板1928,对象1902也可以包括第四面板1930,第四面板1930相对于X射线发生器1922,在第二面板1926的第二远端处、大约垂直于第二面板1926。除第一面板1924、第二面板1926、第三面板1928和/或第四面板1930以外或代替第一面板1924、第二面板1926、第三面板1928和/或第四面板1930,对象1902也可以包括第五面板1932,第五面板1932相对于X射线发生器1922在目标区域1904的后面。
附加变型是可能的。因此,说明性实施例并不必要局限于在图19中示出的说明性实施例。所以,图19中示出的说明性实施例并不必须限制本申请要求保护的发明。
现在转到图20,根据一个说明性实施例描述了数据处理***的图示说明。在图20中的数据处理***2000是可以被用于实施在此公开的说明性实施例或任何其他模块或***或过程的数据处理***的示例,例如,实施图16的方法1600、图1到图13发出荧光的表征。在该说明性示例中,数据处理***2000包括通信结构2002,其提供处理器单元2004、存储器2006、永久性存储装置2008、通信单元2010、输入/输出(I/O)单元2012和显示器2014之间的通信。
处理器单元2004用来执行可以被下载到存储器2006中的软件的指令。处理器单元2004可以是若干处理器、多处理器核或一些其他类型的处理器,这取决于具体实施方式。如参考项目在此使用的,若干意为一个或更多个项目。进一步地,可以使用若干异构处理器***实施处理器单元2004,其中在异构处理器***中,主处理器与辅助处理器存在于单个芯片上。作为另一个说明性示例,处理器单元2004可以是包含多个相同类型的处理器的对称多处理器***。
存储器2006和永久性存储装置2008是存储设备2016的示例。存储设备是任何一块能够存储信息的硬件,所述信息如,例如,但不限于,数据、函数形式的程序代码和/或其他临时和/或永久性的适合信息。存储设备2016在这些示例中也可以被称为计算机可读存储设备。在这些示例中,例如,存储器2006可以是随机存取存储器或任何其他适合的易失性或非易失性存储设备。永久性存储装置2008可以采用各种形式,这取决于具体实施方式。
例如,永久性存储装置2008可以包含一个或更多个组件或设备。例如,永久性存储装置2008可以是硬盘、闪存、可重写光盘、可重写磁带或上述的一些组合。永久性存储装置2008使用的介质也可以是可移除的。例如,可移除硬盘可以被用于永久性存储装置2008。
在这些示例中,通信单元2010提供了与其他数据处理***或设备的通信。在这些示例中,通信单元2010是网络接口卡。通信单元2010可以通过使用物理和无线通信链路的一个或两个来提供通信。
输入/输出(I/O)单元2012允许与可以被连接到数据处理***2000的其他设备输入和输出数据。例如,输入/输出(I/O)单元2012可以通过键盘、鼠标和/或某一其他适合的输入设备为用户输入提供连接。进一步地,输入/输出(I/O)单元2012可以发送输出到打印机。显示器2014提供向用户显示信息的机制。
操作***的指令、应用程序和/或程序可以位于存储设备2016中,存储设备2016通过通信结构2002与处理器单元2004通信。在这些说明性示例中,指令以函数形式存在于永久性存储装置2008上。这些指令可以被下载到存储器2006中,用于由处理器单元2004执行。不同实施例的过程可以由处理器单元2004使用计算机实施的指令来执行,所述计算机实施的指令可以位于存储器中,如存储器2006中。
这些指令被称为程序代码、计算机可用的程序代码或计算机可读的程序代码,所述程序代码、计算机可用的程序代码或计算机可读的程序代码可以由处理器单元2004中的处理器读取和执行。不同的实施例中的程序代码可以体现在不同的物理或计算机可读存储介质上,如存储器2006或永久性存储装置2008。
程序代码2018以函数形式位于选择性可移除的计算机可读介质2020上且可以被下载或传输到数据处理***2000用于由处理器单元2004执行。在这些示例中,程序代码2018和计算机可读介质2020形成计算机程序产品2022。在一个示例中,计算机可读介质2020可以是计算机可读存储介质1224或计算机可读信号介质2026。例如,计算机可读存储介质1224可以包括光盘或磁盘,所述光盘或磁盘被***或放入驱动器或其他设备用于传输到存储设备上,所述驱动器或其他设备是永久性存储装置2008的部分,如硬盘驱动器是永久性存储装置2008的部分。计算机可读存储介质1224也可以采用永久性存储装置的形式,如硬盘驱动器、指状驱动器或闪存,其被连接到数据处理***2000。在一些情况下,计算机可读存储介质1224可以是从数据处理***2000不可移除的。
替代地,可以使用计算机可读信号介质2026传输程序代码2018到数据处理***2000。例如,计算机可读信号介质2026可以是,例如,包含程序代码2018的传播的数据信号。例如,计算机可读信号介质2026可以是电磁信号、光信号和/或任何其他合适类型的信号。这些信号可以通过通信链路进行传送,所述通信链路如无线通信链路、光导纤维电缆、同轴电缆、电线和/或任何其他适合类型的通信链路。换句话说,在说明性示例中,所述通信链路和/或所述连接可以是物理的或无线的。
在一些说明性实施例中,程序代码2018可以通过计算机可读信号介质2026从另一个设备或数据处理***经过网络被下载到永久性存储装置2008,用于在数据处理***2000中使用。例如,在服务器数据处理***中的计算机可读存储介质中存储的程序代码可以从所述服务器经过网络被下载到数据处理***2000。提供程序代码2018的数据处理***可以是服务器计算机、客户端计算机或某一其他能够存储和传送程序代码2018的设备。示出数据处理***2000的不同的组件并不是为了对不同的实施例可以被实施的方式提供架构限制。不同的说明性实施例可以在除了针对数据处理***2000已经示出的那些组件之外或代替针对数据处理***2000示出的那些组件的组件的数据处理***中实施。在图20中示出的其他组件可以与说明性示例示出的不同。可以使用任何能够运行程序代码的硬件设备或***实施不同的实施例。作为一个示例,数据处理***可以包括与无机组件集成的有机组件和/或可以完全由排除人的有机组件组成。例如,存储设备可以由有机半导体组成。
在另一个说明性示例中,处理器单元2004可以采用硬件单元的形式,所述硬件单元具有被制成或经配置用于特定用途的电路。这种类型的硬件可以执行操作,而不需要将程序代码从存储设备下载到存储器对其进行配置来执行操作。
例如,当处理器单元2004采用硬件单元的形式,处理器单元2004可以是经配置用于执行若干操作的电路***、专用集成电路(ASIC)、可编程逻辑器件或某一其他适合类型的硬件。对于可编程逻辑器件,该器件经配置用于执行所述若干操作。该器件可以在以后经重新配置或可以经永久地配置用于执行所述若干操作。例如,可编程逻辑器件的示例包括可编程逻辑阵列、可编程阵列逻辑、现场可编程逻辑阵列、现场可编程门阵列和其他适合的硬件器件。关于这种类型的实施方式,因为对于不同实施例的过程是在硬件单元中被实施的,所以程序代码2018可以省略。
在另一个说明性示例中,可以使用在计算机和硬件单元中形成的处理器的组合实施处理器单元2004。处理器单元2004可以具有若干硬件单元和经配置用于运行程序代码2018的若干处理器。关于该描述的示例,可以在所述若干硬件单元中实施所述过程中的一些,然而可以在所述若干处理器中实施其他过程。
作为另一个示例,数据处理***2000中的存储设备是可以存储数据的任何硬件装置。存储器2006、永久性存储装置2008和计算机可读介质2020是有形形式的存储设备的示例。
在另一个示例中,总线***可以用于实施通信结构2002且可以由一个或更多个总线组成,如***总线或输入/输出总线。当然,可以使用任何适合类型的架构实施所述总线***,其中任何适合类型的架构被连接到所述总线***、在不同组件或设备之间提供数据传输。此外,通信单元可以包括一个或更多个用于传送和接收数据的设备,如调制解调器或网络适配器。进一步地,例如,存储器可以是存储器2006或高速缓冲存储器,如在可以存在于通信结构2002中的接口和内存控制器中心(hub)构建的。
数据处理***2000也可以包括关联存储器2028。关联存储器2028可以被称为内容可寻址存储器。关联存储器2028可以与通信结构2002通信。关联存储器2028也可以与存储设备2016通信,或者在一些说明性实施例中也可以被认为是存储设备2016的部分。虽然示出了一个关联存储器2028,但是可以存在额外的关联存储器。关联存储器2028可以是用于实施在此描述的任何计算机实施的方法的指令的永久的计算机可读存储介质。
不同的说明性实施例能够采用完全硬件实施例、完全软件实施例或包含硬件和软件元素两者的实施例的形式。一些实施例以软件进行实施,所述软件包括,但不局限于形式如,例如,固件、常驻软件和微码。
此外,不同的实施例能够采用从计算机可用介质或计算机可读介质可存取的计算机程序产品的形式,所述计算机可用介质或计算机可读介质提供执行指令的计算机或任何设备或***使用的程序代码或者提供与执行指令的计算机或任何设备或***结合的程序代码。为了该公开的目的,计算机可用介质或计算机可读介质一般能够是能够包含、存储、通信、传播或运输所述程序用于由指令执行***、装置或设备使用或者与指令执行***、仪器或设备结合的任何有形装置。
例如,所述计算机可用介质或计算机可读介质能够是,但不局限于电子、磁的、光学、电磁、红外线或半导体***,或传播介质。计算机可读介质的非限制性示例包括半导体或固态存储器、磁带、可移除计算机软盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、硬磁盘和光盘。光盘可以包括光盘只读存储器(CD-ROM)、读/写光盘(CD-R/W)和DVD。
进一步地,计算机可用介质或计算机可读介质可以包含或存储计算机可读或可用程序代码,以使当在计算机上执行所述计算机可读或可用程序代码时,该计算机可读或可用程序代码的所述执行使所述计算机经过通信链路传送另一个计算机可读或可用程序代码。该通信链路可以使用介质,所述介质是,例如但不局限于,物理的或无线的。
适合存储和/或执行计算机可读或计算机可用程序代码的数据处理***将包括直接或通过通信结构(如***总线)间接地耦合到存储器元件的一个或更多个处理器。所述存储器元件可以包括在实际执行所述程序代码期间使用的本地存储器、大容量存储器和高速缓冲存储器,所述高速缓冲存储器提供至少一些计算机可读或计算机可用程序代码的暂时存储,以减少在执行代码的期间从大容量存储器中可以检索代码的次数。
输入/输出或I/O设备可以直接地或通过中间的I/O控制器耦合到所述***。这些设备可以包括,例如但不局限于键盘、触屏显示器和指点设备。不同的通信适配器也可以被耦合到所述***,使所述数据处理***能够通过中间的私人或公共网络耦合到其他数据处理***或远程打印机或存储设备。调制解调器和网络适配器的非限制性示例只是一些当前可用类型的通信适配器。
为了说明和描述,已经提出了不同的说明性实施例的描述,而且不旨在详尽的或限制于以公开的形式的实施例。对于本领域技术人员来说,很多修改和变型将是明显的。进一步地,不同的说明性实施例与其他说明性实施例相比可以提供不同的特征。挑选和描述选择的一个或更多个实施例以便最好的解释所述实施例的原理、实际应用,而且以便使本领域其他技术人员能够理解适合所想到的特定的使用的具有各种修改的各种实施例的公开。
Claims (17)
1.一种X射线反向散射指示和检测***(100),其包括:
对象(1402),其关于作为X射线(1506)的目标的目标区域(1404)布置,以使从所述目标区域(1404)反向散射的反向散射X射线(1412)照射所述对象(1402)的表面(1910),其中所述对象(1402)的所述表面(1910)包括当被反向散射X射线(1412)接触到时发出具有可见光(1416)的荧光的X射线敏感指示剂物质(1912)。
2.根据权利要求1所述的X射线反向散射指示和检测***(100),其中发出荧光的所述X射线敏感指示剂物质(1912)是Q-dot溶液(1796)。
3.根据权利要求1或2所述的X射线反向散射指示和检测***(100),进一步包括额外的X射线敏感指示剂物质(1912)。
4.根据权利要求1或2所述的X射线反向散射指示和检测***(100),进一步包括:
关于所述对象(1402)操作性布置的图像采集设备(1916),用于检测来源于所述X射线敏感指示剂物质(1912)的荧光的所述可见光(1416)。
5.根据权利要求4所述的X射线反向散射指示和检测***(100),进一步包括:
与图像采集设备(1916)通信的计算机(1522),所述计算机(1522)存储所述可见光(1416)的图像(1512)且执行所述图像(1512)的分析。
6.根据权利要求1或2所述的X射线反向散射指示和检测***(100),进一步包括X射线发生器(1406)。
7.根据权利要求6所述的X射线反向散射检测器***,其中所述X射线发生器(1406)和与所述图像采集设备(1916)通信的计算机(1522)通信,其中所述计算机(1522)基于由所述图像采集设备(1916)获得的所述可见光(1416)的所述图像(1512)的所述分析修改所述X射线发生器(1406)的操作。
8.根据权利要求1所述的X射线反向散射指示和检测***,其中所述对象(1402)包括:
第一面板(1424),在所述X射线发生器(1406)的前面,但到所述X射线发生器(1406)的第一侧面;
第二面板(1426),在所述X射线发生器(1406)的前面,但到所述X射线发生器(1406)的第二侧面,所述第二侧面在所述第一侧面的对面;
第三面板(1428),相对于所述X射线发生器(1406),在所述第一面板(1424)的第一远端处、大约垂直于所述第一面板(1424);
第四面板(1430),相对于所述X射线发生器(1406),在所述第二面板(1426)的第二远端处、大约垂直于所述第二面板(1426);以及
第五面板(1432),相对于所述X射线发生器(1406)在所述目标区域(1404)的后面。
9.根据权利要求1或2所述的X射线反向散射指示和检测***,进一步包括:
屏蔽件(404),其被布置在所述X射线发生器(1406)的前面,所述屏蔽件(404)经配置用于阻止从所述目标区域(1404)反向散射的X射线(1510);以及
所述第一对象(1402),相对于所述目标区域(1404)被布置在所述屏蔽件(404)的后面。
10.根据权利要求9所述的X射线泄漏检测器(1500),进一步包括:
摄像机(1414),其关于所述第一对象(1402)操作性布置,以使所述摄像机(1414)能够检测来源于所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)的荧光的所述可见光(1416)。
11.根据权利要求9所述的X射线泄漏检测器(1500),进一步包括:
第二对象(1402),相对于所述目标区域(1404)被布置在所述屏蔽件(404)的后面,而且相对于所述X射线发生器(1406)进一步被布置在所述第一对象(1402)的对面;以及
第二X射线敏感Q-dot溶液(1528),其被布置在所述第二对象上,所述第二X射线敏感Q-dot溶液(1528)经配置用于当X射线(1518)照射所述第二X射线敏感Q-dot溶液(1528)时发出具有可见光(1416)的荧光;
其中所述第一对象(1402)被布置用于接收从所述X射线发生器(1406)的准直器泄漏的第一X射线(1506),而所述第二对象(1402)被布置用于接收从电缆(1538)从所述X射线发生器(1406)离开的位置(1536)泄漏的第二X射线(1506)。
12.一种检测X射线(1506)的方法,其包括:
检查具有X射线敏感物质的对象(1402)来检测荧光,当X射线(1518)照射被布置在所述对象(1402)的所述表面(1910)的至少一部分上的所述物质时,所述X射线敏感物质发出可见光(1416)的荧光。
13.根据权利要求12所述的方法,其中所述物质是Q-dot溶液。
14.一种用品,其包括:
对象(1402),其包括表面(1910);
X射线敏感Q-dot溶液(1812),其被布置在所述对象的所述表面(1910)上,所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)经配置当X射线(1518)照射所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)时发出具有可见光(1416)的荧光。
15.一种X射线监测器(500),其包括:
X射线测量工具(1802),其包括外壳(1804)、在所述外壳(1804)上且经配置成接收X射线通量(1808)的传感器目标区域(1404)、以及被布置在所述外壳(1804)内部且经配置成测量所述X射线通量(1808)的X射线检测器(1810);以及
被布置在所述传感器目标区域(1404)上的X射线敏感Q-dot溶液(1812),所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)经配置成当X射线(1518)照射所述X射线敏感Q-dot溶液(1812)时发出具有可见光(1416)的荧光。
16.根据权利要求15所述的X射线监测器(500),进一步包括:
摄像机(1414),其被布置成监测所述可见光(1416);以及
计算机(1418),其被连接到所述摄像机(1414),其中所述计算机(1418)经配置成基于所述可见光(1416)的特征确定是否预期量的X射线通量(1808)进入所述传感器目标区域(1404)。
17.根据权利要求16所述的X射线监测器(500),进一步包括:
机械装置(1820),其被连接到所述计算机(1818),所述机械装置(1820)经配置成调整所述X射线测量工具(1802)的方向,而且其中所述计算机(1818)进一步经配置成基于所述特征命令所述机械装置(1820)调整所述方向,以使所需量的X射线通量(1808)进入所述传感器目标区域(1404)。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105467421A (zh) * | 2014-09-29 | 2016-04-06 | 波音公司 | 被暴露的伽玛源的可视指示器 |
CN108333194A (zh) * | 2017-01-18 | 2018-07-27 | 波音公司 | 层压件的x射线侧向散射检查 |
CN112363200A (zh) * | 2019-07-26 | 2021-02-12 | 波音公司 | 便携式x射线反向散射*** |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9594033B2 (en) | 2014-07-22 | 2017-03-14 | The Boeing Company | Visible X-ray indication and detection system for X-ray backscatter applications |
FR3053476B1 (fr) * | 2016-07-01 | 2021-04-16 | Electricite De France | Dispositif de visualisation de niveau d'irradiation |
US20180228124A1 (en) * | 2017-02-16 | 2018-08-16 | The Clorox Company | Animal litter comprising cinnamic and/or rosmarinic compounds |
CN106680865B (zh) | 2017-03-08 | 2018-11-06 | 沈阳东软医疗***有限公司 | 一种射线源组件的漏射线测试方法及设备 |
US10937006B2 (en) | 2017-06-09 | 2021-03-02 | The Boeing Company | Method and system for evaluating corrosion loss |
CN108227027B (zh) * | 2017-12-29 | 2020-12-01 | 同方威视技术股份有限公司 | 车载背散射检查*** |
CN109270105B (zh) * | 2018-08-21 | 2020-10-27 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 快速识别并定位大视域中目标矿物颗粒的方法 |
USD929390S1 (en) | 2019-06-19 | 2021-08-31 | Google Llc | Display mount for a game controller |
USD997927S1 (en) | 2019-11-19 | 2023-09-05 | Google Llc | Display mount for a game controller |
US11176710B2 (en) * | 2019-12-11 | 2021-11-16 | Scientific Technology Electronics Products | Camera system for an X-ray counter system |
CN111694046B (zh) * | 2020-07-24 | 2022-06-07 | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 | 一种单能γ装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5696806A (en) * | 1996-03-11 | 1997-12-09 | Grodzins; Lee | Tomographic method of x-ray imaging |
US6175614B1 (en) * | 1999-05-07 | 2001-01-16 | Oec Medical Systems, Inc. | Method and apparatus for automatic sizing and positioning of ABS sampling window in an x-ray imaging system |
CN101509880A (zh) * | 2009-03-25 | 2009-08-19 | 公安部第一研究所 | 一种应用x射线的多效应探测融合技术的安全检查*** |
JP2011056131A (ja) * | 2009-09-11 | 2011-03-24 | Toshiba Corp | 医療用ドレープ |
WO2013184204A2 (en) * | 2012-03-22 | 2013-12-12 | Duke University | Linear-response nanocrystal scintillators and methods of using the same |
US8693627B2 (en) * | 2011-10-03 | 2014-04-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Intensifying screen for X-ray detector, X-ray detector, and X-ray inspection apparatus |
Family Cites Families (56)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5311970U (zh) * | 1976-07-13 | 1978-01-31 | ||
US5181234B1 (en) * | 1990-08-06 | 2000-01-04 | Rapiscan Security Products Inc | X-ray backscatter detection system |
US5940468A (en) * | 1996-11-08 | 1999-08-17 | American Science And Engineering, Inc. | Coded aperture X-ray imaging system |
JP3166638B2 (ja) * | 1996-11-29 | 2001-05-14 | 株式会社島津製作所 | 蛍光x線分析装置 |
US6151381A (en) * | 1998-01-28 | 2000-11-21 | American Science And Engineering, Inc. | Gated transmission and scatter detection for x-ray imaging |
US6621888B2 (en) * | 1998-06-18 | 2003-09-16 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray inspection by coherent-scattering from variably disposed scatterers identified as suspect objects |
JP2000111503A (ja) * | 1998-10-07 | 2000-04-21 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | X線分析装置 |
US6192104B1 (en) * | 1998-11-30 | 2001-02-20 | American Science And Engineering, Inc. | Fan and pencil beams from a common source for x-ray inspection |
US6249567B1 (en) * | 1998-12-01 | 2001-06-19 | American Science & Engineering, Inc. | X-ray back scatter imaging system for undercarriage inspection |
RU2180439C2 (ru) * | 2000-02-11 | 2002-03-10 | Кумахов Мурадин Абубекирович | Способ получения изображения внутренней структуры объекта с использованием рентгеновского излучения и устройство для его осуществления |
US8325871B2 (en) * | 2000-03-28 | 2012-12-04 | American Science And Engineering, Inc. | Radiation threat detection |
CA2348150C (en) * | 2000-05-25 | 2007-03-13 | Esam M.A. Hussein | Non-rotating x-ray system for three-dimensional, three-parameter imaging |
US6477227B1 (en) * | 2000-11-20 | 2002-11-05 | Keymaster Technologies, Inc. | Methods for identification and verification |
US6501825B2 (en) * | 2001-01-19 | 2002-12-31 | Keymaster Technologies, Inc. | Methods for identification and verification |
US6785360B1 (en) * | 2001-07-02 | 2004-08-31 | Martin Annis | Personnel inspection system with x-ray line source |
US6909770B2 (en) * | 2001-12-05 | 2005-06-21 | The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration | Methods for identification and verification using vacuum XRF system |
US7110493B1 (en) * | 2002-02-28 | 2006-09-19 | Rapiscan Security Products (Usa), Inc. | X-ray detector system having low Z material panel |
US6665373B1 (en) * | 2002-03-12 | 2003-12-16 | Rapiscan Security Products (Usa), Inc. | X-ray imaging system with active detector |
US6850592B2 (en) * | 2002-04-12 | 2005-02-01 | Keymaster Technologies, Inc. | Methods for identification and verification using digital equivalent data system |
JP2004138488A (ja) * | 2002-10-17 | 2004-05-13 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
WO2004089056A2 (en) * | 2003-04-01 | 2004-10-21 | Keymaster Technologies, Inc. | Exempt source for an x-ray fluorescence device |
DK1733213T3 (da) * | 2004-04-09 | 2010-05-03 | American Science & Eng Inc | Eliminering af cross-talk i en tilbagespredningsinspektionsportal der omfatter flere kilder, ved at sikre at kun en kilde afgiver stråling ad gangen |
US7809109B2 (en) * | 2004-04-09 | 2010-10-05 | American Science And Engineering, Inc. | Multiple image collection and synthesis for personnel screening |
DE102004019030A1 (de) * | 2004-04-17 | 2005-11-03 | Katz, Elisabeth | Vorrichtung für die Elementanalyse |
JP2006167449A (ja) * | 2004-12-01 | 2006-06-29 | Acushnet Co | 物体識別のための量子ドットを備えた性能測定システム |
JP2006184166A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Hitachi Metals Ltd | X線検出材およびx線発生装置収納室 |
US7020238B1 (en) * | 2005-01-31 | 2006-03-28 | Oxford Instruments Analytical Oy | Adapter and analyzer device for performing X-ray fluorescence analysis on hot surfaces |
US7446318B2 (en) * | 2005-12-22 | 2008-11-04 | Merlin Digital Technology Llc | Remote triggered X-ray image capture device |
JP4987321B2 (ja) * | 2006-02-28 | 2012-07-25 | 株式会社東芝 | X線検査装置およびx線検査方法 |
JP5045999B2 (ja) * | 2006-03-30 | 2012-10-10 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 蛍光x線分析装置 |
KR20090015929A (ko) * | 2006-04-21 | 2009-02-12 | 아메리칸 사이언스 앤 엔지니어링, 인크. | 다수의 시준된 빔과 개별 공급원의 배열체를 이용한 수화물및 사람에 대한 x-레이 이미지화 |
US7409037B2 (en) * | 2006-05-05 | 2008-08-05 | Oxford Instruments Analytical Oy | X-ray fluorescence analyzer having means for producing lowered pressure, and an X-ray fluorescence measurement method using lowered pressure |
US7796733B2 (en) * | 2007-02-01 | 2010-09-14 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel security screening system with enhanced privacy |
US7916834B2 (en) * | 2007-02-12 | 2011-03-29 | Thermo Niton Analyzers Llc | Small spot X-ray fluorescence (XRF) analyzer |
US20080233658A1 (en) * | 2007-03-22 | 2008-09-25 | Southwest Research Institute | Environmental Fluorescent Sensors |
US7623625B2 (en) * | 2007-04-11 | 2009-11-24 | Searete Llc | Compton scattered X-ray visualization, imaging, or information provider with scattering event locating |
US7925452B2 (en) | 2007-06-15 | 2011-04-12 | The Boeing Company | Method and apparatus for nondestructive corrosion detection using quantum dots |
GB2463830B (en) * | 2007-06-21 | 2012-10-17 | Rapiscan Systems Inc | Systems and methods for improving directed people screening |
WO2009082762A1 (en) * | 2007-12-25 | 2009-07-02 | Rapiscan Security Products, Inc. | Improved security system for screening people |
US8816287B2 (en) * | 2008-01-14 | 2014-08-26 | Weinberg Medical Physics Llc | Structures for radiation detection and energy conversion using quantum dots |
DE102008039337A1 (de) * | 2008-03-20 | 2009-09-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung zum Besprühen, Verfahren dazu sowie organisches elektronisches Bauelement |
US7902524B2 (en) | 2009-02-23 | 2011-03-08 | The Boeing Company | Portable corrosion detection apparatus |
US8503610B1 (en) * | 2010-11-23 | 2013-08-06 | The Boeing Company | X-ray inspection tool |
US9151668B1 (en) * | 2011-01-12 | 2015-10-06 | Radiation Monitoring Devices, Inc. | Quantum dot radiation detection, systems and methods |
BR112013019697A2 (pt) * | 2011-02-08 | 2018-07-17 | American Science And Engineering, Inc. | análise de energia de retrodispersão para classificação de materiais com base em não comutatividade posicional |
US8816291B2 (en) * | 2011-03-28 | 2014-08-26 | Carestream Health, Inc. | Indicia for backscatter detection in portable radiological detectors |
US9151721B2 (en) * | 2011-06-20 | 2015-10-06 | The Boeing Company | Integrated backscatter X-ray system |
US8761338B2 (en) * | 2011-06-20 | 2014-06-24 | The Boeing Company | Integrated backscatter X-ray system |
US8855268B1 (en) * | 2011-11-01 | 2014-10-07 | The Boeing Company | System for inspecting objects underwater |
US9057679B2 (en) * | 2012-02-03 | 2015-06-16 | Rapiscan Systems, Inc. | Combined scatter and transmission multi-view imaging system |
US9031188B2 (en) * | 2012-02-08 | 2015-05-12 | Georgetown Rail Equipment Company | Internal imaging system |
US9123450B2 (en) * | 2012-04-30 | 2015-09-01 | The Boeing Company | Single beam backscatter x-ray system |
US8879688B2 (en) * | 2012-05-22 | 2014-11-04 | The Boeing Company | Reconfigurable detector system |
US9036781B1 (en) * | 2012-10-12 | 2015-05-19 | The Boeing Company | Amplified backscatter x-ray inspection system |
US9594033B2 (en) | 2014-07-22 | 2017-03-14 | The Boeing Company | Visible X-ray indication and detection system for X-ray backscatter applications |
US9500606B2 (en) * | 2014-09-29 | 2016-11-22 | The Boeing Company | Visual indicator of an exposed gamma source |
-
2014
- 2014-07-22 US US14/338,322 patent/US9594033B2/en active Active
-
2015
- 2015-06-11 EP EP18161567.5A patent/EP3367134B1/en active Active
- 2015-06-11 EP EP15171621.4A patent/EP2977791B1/en active Active
- 2015-07-14 CN CN201510411764.4A patent/CN105277962B/zh active Active
- 2015-07-17 JP JP2015142904A patent/JP6545553B2/ja active Active
-
2017
- 2017-03-14 US US15/458,025 patent/US10605750B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5696806A (en) * | 1996-03-11 | 1997-12-09 | Grodzins; Lee | Tomographic method of x-ray imaging |
US6175614B1 (en) * | 1999-05-07 | 2001-01-16 | Oec Medical Systems, Inc. | Method and apparatus for automatic sizing and positioning of ABS sampling window in an x-ray imaging system |
CN101509880A (zh) * | 2009-03-25 | 2009-08-19 | 公安部第一研究所 | 一种应用x射线的多效应探测融合技术的安全检查*** |
JP2011056131A (ja) * | 2009-09-11 | 2011-03-24 | Toshiba Corp | 医療用ドレープ |
US8693627B2 (en) * | 2011-10-03 | 2014-04-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Intensifying screen for X-ray detector, X-ray detector, and X-ray inspection apparatus |
WO2013184204A2 (en) * | 2012-03-22 | 2013-12-12 | Duke University | Linear-response nanocrystal scintillators and methods of using the same |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
ZHITAO KANG ET.AL: "CdTe quantum dots and polymer nanocomposites for x-ray scintillation and imaging", 《APPLIED PHYSICS LETTTER98》 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105467421A (zh) * | 2014-09-29 | 2016-04-06 | 波音公司 | 被暴露的伽玛源的可视指示器 |
CN105467421B (zh) * | 2014-09-29 | 2019-05-28 | 波音公司 | 被暴露的伽玛源的可视指示器 |
CN108333194A (zh) * | 2017-01-18 | 2018-07-27 | 波音公司 | 层压件的x射线侧向散射检查 |
CN112363200A (zh) * | 2019-07-26 | 2021-02-12 | 波音公司 | 便携式x射线反向散射*** |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2977791A1 (en) | 2016-01-27 |
EP3367134A1 (en) | 2018-08-29 |
US10605750B2 (en) | 2020-03-31 |
US9594033B2 (en) | 2017-03-14 |
CN105277962B (zh) | 2019-12-27 |
JP6545553B2 (ja) | 2019-07-17 |
EP3367134B1 (en) | 2023-05-31 |
US20170184517A1 (en) | 2017-06-29 |
US20160025658A1 (en) | 2016-01-28 |
EP2977791B1 (en) | 2018-03-14 |
JP2016029371A (ja) | 2016-03-03 |
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---|---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |