CN105004956A - 一种集电器控制及温升测试设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种集电器控制及温升测试设备，包括测试路数选择开关、线圈零时刻测试动作开关、时间间隔设置单元、PLC控制器、继电器、被测试设备、交直流控制电源、电源变压器、电子测量仪；所述PLC控制器分别连接测试路数选择开关、线圈零时刻测试动作开关、时间间隔设置单元、继电器；所述继电器分别连接被测试设备、交直流控制电源；所述交直流控制电源分别连接电源变压器、PLC控制器；所述被测试设备连接电子测量仪。具有测量精度高、控制方便的特点，解决了测试过程人为操作所产生的误差。
Description
技术领域
本发明涉及一种电子电力检测试验技术领域，尤其是涉及一种集电器控制及温升测试设备。
背景技术
矿用防爆电器中交流接触器及断路器的失压线圈、分励线圈、变压器等需要用电阻法进行线圈温升测试，同样需要一种装置对线圈或变压器进行控制并在其冷态、热态情况下读取线圈的阻值或变化量来进行计算线圈、变压器的温升。
若采用热电偶或红外测温仪直接测量，红外测温仪无法准确找到线圈绕组的最高温度点，或热电偶直接贴敷在绕组上测量线圈的表面温升，均不符合相关国家的技术标准和要求。
现有技术主要为直接带电测量法，通过测量线圈的电阻而得到线圈的温升，但是目前的技术条件达不到测量的精度；或采用分离式测试设备对线圈、变压器的阻值进行测试，由于测试设备的不形成一整套的控制及测量，测试结果会产生偏差，测试结果不准确。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种集电器控制及温升测试设备，具有测量精度高、控制方便的特点，解决了测试过程人为操作所产生的误差。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种集电器控制及温升测试设备，包括测试路数选择开关、线圈零时刻测试动作开关、时间间隔设置单元、PLC控制器、继电器、被测试设备、交直流控制电源、电源变压器、电子测量仪；所述PLC控制器分别连接测试路数选择开关、线圈零时刻测试动作开关、时间间隔设置单元、继电器；所述继电器分别连接被测试设备、交直流控制电源；所述交直流控制电源分别连接电源变压器、PLC控制器；所述被测试设备连接电子测量仪；
其中，所述测试路数选择开关用于选择被测试设备的路数；
所述线圈零时刻测试动作开关，在被测试设备温升达到稳定后，用于断电零时刻开始测量的计时信号的输入；
所述PLC控制器用于采集所述测试路数选择开关、线圈零时刻测试动作开关的输入信号；对所述继电器进行动作控制；与所述时间间隔设置单元进行通讯；
所述继电器用于在温升测试过程中或温升稳定后为所述被测试设备、电子测量仪提供测量通路和隔离；
所述交直流控制电源用于为被测试设备提供所需容量和额定电压的电源，并为集电器控制及温升测试设备提供电源；
所述电子测量仪用于显示所述被测试设备的电阻阻值。
进一步的，所述被测试设备为线圈或控制电源变压器。
进一步的，所述时间间隔设置单元为工控屏或计时仪。
进一步的，所述电子测量仪为数字万用表或数据记录仪，所述数据记录仪用于显示被测试设备的阻值，且时间点和电阻值一一对应。
有益效果：本发明解决了背景技术中存在的缺陷，解决了电器设备的多回路线圈或变压器控制回路的吸合、线圈或控制电源变压器的线圈阻值的测量，具有测量精度高、控制方便的特点；解决了测试过程人为操作所产生的误差；并可通过工控屏设置多线圈电阻采集的时间间隔满足不同线圈阻值的需求。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
图1是本发明的优选实施例的结构示意图。
其中:1、测试路数选择开关；2、线圈零时刻测试动作开关；3、时间间隔设置单元；4、PLC控制器；5、继电器；6、被测试设备；7、交直流控制电源；8、电源变压器；9、电子测量仪。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易被本领域人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
如图1所示，本发明的实施例包括：一种集电器控制及温升测试设备，包括测试路数选择开关1、线圈零时刻测试动作开关2、时间间隔设置单元3、PLC控制器4、继电器5、被测试设备6、交直流控制电源7、电源变压器8、电子测量仪9；所述PLC控制器4分别连接测试路数选择开关1、线圈零时刻测试动作开关2、时间间隔设置单元3、继电器5；所述继电器5分别连接被测试设备6、交直流控制电源7；所述交直流控制电源7分别连接电源变压器8、PLC控制器4；所述被测试设备6连接电子测量仪9；
其中，所述测试路数选择开关1用于选择被测试设备6的路数；
所述线圈零时刻测试动作开关2，在被测试设备6温升达到稳定后，用于断电零时刻开始测量的计时信号的输入；
所述PLC控制器4用于采集所述测试路数选择开关1、线圈零时刻测试动作开关2的输入信号；对所述继电器5进行动作控制；与所述时间间隔设置单元3进行通讯；
所述继电器5用于在温升测试过程中或温升稳定后为所述被测试设备6、电子测量仪9提供测量通路和隔离；
所述交直流控制电源7用于为被测试设备6提供所需容量和额定电压的电源，并为集电器控制及温升测试设备提供电源；
所述电子测量仪9用于显示所述被测试设备6的电阻阻值。
所述被测试设备6为线圈或控制电源变压器。
所述时间间隔设置单元3为工控屏或计时仪。
所述电子测量仪9为数字万用表或数据记录仪，所述数据记录仪用于显示被测试设备的阻值，且时间点和电阻值一一对应。
应当理解，以上所描述的具体实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。由本发明的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。
Claims (4)
1.一种集电器控制及温升测试设备，其特征在于：包括测试路数选择开关、线圈零时刻测试动作开关、时间间隔设置单元、PLC控制器、继电器、被测试设备、交直流控制电源、电源变压器、电子测量仪；所述PLC控制器分别连接测试路数选择开关、线圈零时刻测试动作开关、时间间隔设置单元、继电器；所述继电器分别连接被测试设备、交直流控制电源；所述交直流控制电源分别连接电源变压器、PLC控制器；所述被测试设备连接电子测量仪；
其中，所述测试路数选择开关用于选择被测试设备的路数；
所述线圈零时刻测试动作开关，在被测试设备温升达到稳定后，用于断电零时刻开始测量的计时信号的输入；
所述PLC控制器用于采集所述测试路数选择开关、线圈零时刻测试动作开关的输入信号；对所述继电器进行动作控制；与所述时间间隔设置单元进行通讯；
所述继电器用于在温升测试过程中或温升稳定后为所述被测试设备、电子测量仪提供测量通路和隔离；
所述交直流控制电源用于为被测试设备提供所需容量和额定电压的电源，并为集电器控制及温升测试设备提供电源；
所述电子测量仪用于显示所述被测试设备的电阻阻值。
2.根据权利要求1所述的一种集电器控制及温升测试设备，其特征在于：所述被测试设备为线圈或控制电源变压器。
3.根据权利要求1所述的一种集电器控制及温升测试设备，其特征在于：所述时间间隔设置单元为工控屏或计时仪。
4.根据权利要求1所述的一种集电器控制及温升测试设备，其特征在于：所述电子测量仪为数字万用表或数据记录仪，所述数据记录仪用于显示被测试设备的阻值，且时间点和电阻值一一对应。
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