CN104773468A - 一种分选粒子用的摊平机构 - Google Patents

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傅海明
宋宝善
姚晓峰
孙孝明
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Abstract

本发明公开了一种分选粒子用的摊平机构，包括机架、平整机构和输送机构，所述平整机构和输送机构分别安装在机架上，所述平整机构具有水平的平整面，所述输送机构具有水平的工作面，所述平整面设在工作面的上方，所述平整面和工作面之间形成工作面供粒子穿过的通道。粒子堆放输送机构的工作面上，粒子在输送机构输送下先穿过通道再到检验员处进行检验，穿过通道时由于通道高度的限制，堆叠得过高的粒子受到平整机构的阻碍而摊开，摊得较为齐整，无需人工摊开粒子，提高了粒子表面缺陷检验的效率和精度。

Description

一种分选粒子用的摊平机构
技术领域
本发明涉及一种分选粒子用的摊平机构。
背景技术
通常情况下，粒子会堆放在检验台上进行检验，检验员通过观察粒子表面，挑拣出表面有缺陷的粒子，现有技术中，检验员需要动手将堆放的粒子摊开再进行一一检验，粒子数量庞大，摊开也杂乱无章，检验起来费力，检验效率和检验精度不能同时兼顾。
发明内容
本发明所要解决的问题是提供一种分选粒子用的摊平机构，提高粒子表面缺陷检验的效率和精度。
为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种分选粒子用的摊平机构，包括机架、平整机构和输送机构，所述平整机构和输送机构分别安装在机架上，所述平整机构具有水平的平整面，所述输送机构具有水平的工作面，所述平整面设在工作面的上方，所述平整面和工作面之间形成工作面供粒子穿过的通道。粒子堆放输送机构的工作面上，粒子在输送机构输送下先穿过通道再到检验员处进行检验，穿过通道时由于通道高度的限制，堆叠得过高的粒子受到平整机构的阻碍而摊开，摊得较为齐整，无需人工摊开粒子，提高了粒子表面缺陷检验的效率和精度。
改进的，所述通道的高度不小于粒子粒径且小于两倍的粒子粒径。供单层粒子穿过。
改进的，所述输送机构为同步带输送装置。
改进的，所述机架上安装有支撑板，所述支撑板位于工作面的下方，所述支撑板和平整面在竖直方向上位置对应。防止粒子穿过通道时同步带变形。
改进的，所述输送机构连接有下料板。合格的粒子由下料板输出。
有益效果：
采用上述技术方案后，该发明一种分选粒子用的摊平机构，粒子堆放输送机构的工作面上，粒子在输送机构输送下先穿过通道再到检验员处进行检验，穿过通道时由于通道高度的限制，堆叠得过高的粒子受到平整机构的阻碍而摊开，摊得较为齐整，无需人工摊开粒子，提高了粒子表面缺陷检验的效率和精度。
附图说明
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步说明：
图1为本发明一种分选粒子用的摊平机构的结构图。
具体实施方式
如图1所示，一种分选粒子用的摊平机构，包括机架1、平整机构2、输送机构3和下料板5，平整机构和输送机构分别安装在机架上。
输送机构具有水平的工作面31，在本实施例中，输送机构为同步带输送装置，同步带输送装置包括两个位于同一水平高度的同步带轮和传动连接在两个同步带轮之间的同步带，同步带的上表面即输送机构的工作面。当然，也可直接在机架上设置一个水平的支撑面，在支撑面上安装一个气缸，气缸的活塞杆的伸缩方向为水平方向。
平整机构上设有水平的平整面21，平整面设在工作面的上方，平整面和工作面之间形成通道，在本实施例中，通道的高度不小于粒子的粒径且小于粒子的两倍粒径，为了防止粒子穿过通道时同步带变形，同步带上和平整面对应的工作部位的下方设有支撑板4，支撑板贴近该工作部位设置。
下料板安装在同步带的输出端，下料板和同步带之间圆滑过渡。
除上述优选实施例外，本发明还有其他的实施方式，本领域技术人员可以根据本发明作出各种改变和变形，只要不脱离本发明的精神，均应属于本发明所附权利要求所定义的范围。

Claims (5)

1.一种分选粒子用的摊平机构，其特征在于：包括机架(1)、平整机构(2)和输送机构(3)，所述平整机构和输送机构分别安装在机架上，所述平整机构具有水平的平整面(21)，所述输送机构具有水平的工作面(31)，所述平整面设在工作面的上方，所述平整面和工作面之间形成工作面供粒子穿过的通道。
2.根据权利要求1所述的一种分选粒子用的摊平机构，其特征在于：所述通道的高度不小于粒子粒径且小于两倍的粒子粒径。
3.根据权利要求1或2所述的一种分选粒子用的摊平机构，其特征在于：所述输送机构为同步带输送装置。
4.根据权利要求3所述的一种分选粒子用的摊平机构，其特征在于：所述机架上安装有支撑板(4)，所述支撑板位于工作面的下方，所述支撑板和平整面在竖直方向上位置对应。
5.根据权利要求1或2所述的一种分选粒子用的摊平机构，其特征在于：所述输送机构连接有下料板(5)。
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