CN104751436A - 一种信息处理的方法及一种电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种信息处理的方法及一种电子设备，所述方法包括：当利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一投射面上形成第一图像时，获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，所述M条形态信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息；基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息。

Description

一种信息处理的方法及一种电子设备

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种信息处理的方法及一种电子设备。

背景技术

随着科学技术的不断发展，电子设备也得到了飞速的发展，电子产品的种类也越来越多，人们也享受到了科学发展带来的各种便利，现在人们可以通过各种类型的电子设备，享受随着科技发展带来的舒适生活。

基于结构光的深度摄像头已经有了广泛应用，而且，基于结构光的设计有多种方式，大体可以分为时域编码，空间编码，颜色编码等方式，其中，为了满足实时性的需求，并且考虑到实际应用场景，基于红外的空间编码方式更适合使用，而其中条纹的结构光由于设计简单，可以利用条纹的顺序来快速转换成深度计算得到广泛应用。

但本申请发明人在实现本申请实施例中发明技术方案的过程中，发现上述技术至少存在如下技术问题：

由于现有的条纹结构光的条纹都是等宽等亮度的条纹，只能通过相对顺序进行区分，但是由于单个条纹之间存在差异性小，在确定是其中哪条条纹发生改变时容易出错，因而在确定条纹变化的过程中存在工作量大的技术问题。

发明内容

本申请实施例通过提供一种信息处理的方法及一种电子设备，解决了现有技术中在确定条纹结构光的条纹变化的过程中容易出错，因此，存在工作量大的技术问题，实现了能够容易快速地确定出哪条条纹结构光发生了变化的技术效果。

本申请实施例提供了一种信息处理的方法，应用于电子设备中，该方法包括：

当利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一投射面上形成第一图像时，获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，所述M条形态信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；

基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息；

基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息。

进一步的，在利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一透射面上形成第一图像之前，所述方法还包括：

获取所述M条条纹光的M个标准位置信息。

进一步的，所述获得分布在所述待测物体上的多条条纹光的多条形态信息，具体为：

获取分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条条纹宽度信息或M条条纹的形状图案信息。

进一步的，所述M条条纹宽度信息具体包括：宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中K条条纹光的K条条纹宽度信息，与宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中J条条纹光的J条条纹宽度信息，其中，所述J条条纹光与所述K条条纹光间没有重叠。

进一步的，所述M条条纹的形状图案信息具体包括：在所述M条条纹中的任意一条条纹光上等间隔的设置具有中心对称的相同图案，所述图案用来标识所述条纹光，所述M条条纹中任意相邻两条条纹上的图案是不相同的。

进一步的，当所述M条形态信息具体为所述M条条纹宽度信息时，所述基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息，具体包括：

基于所述M条条纹宽度信息，判断与所述M条条纹宽度信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个第二位置信息是否与M个标准位置信息信息中相对应的M个标准位置信息相同；

在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

进一步的，当所述M条形态信息具体为所述M条条纹形状图案信息时，基于所述M条形状信息，确定与所述M条形状信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息，具体包括：

基于所述M条条纹形状图案信息，判断与所述M条条纹形状图案信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的第三位置信息是否与M个标准位置信息中相对应的M个标准位置信息相同；

在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

进一步的，所述基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息，具体包括：

基于所述M个位置信息，确定与所述标准位置信息之间的距离差；

根据所述距离差，确定所述待测物体的深度信息。

另一方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

第一获取单元，用于当利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一投射面上形成第一图像时，获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，所述M条形态信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；

第一确定单元，基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息；

第二确定单元，基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息。

进一步的，所述电子设备还包括：

第二获取单元，获取所述M条条纹光的M个标准位置信息。

进一步的，所述第一获取单元具体用于，获取分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条条纹宽度信息或M条条纹的形状图案信息。

进一步的，所述M条条纹宽度信息具体包括：宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中K条条纹光的K条条纹宽度信息，与宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中J条条纹光的J条条纹宽度信息，其中，所述J条条纹光与所述K条条纹光间没有重叠。

进一步的，所述M条条纹的形状图案信息具体包括：在所述M条条纹中的任意一条条纹光上等间隔的设置具有中心对称的相同图案，所述图案用来标识所述条纹光，所述M条条纹中任意相邻两条条纹上的图案是不相同的。

进一步的，所述第一确定单元具体包括：

第一判断单元，用于基于所述M条条纹宽度信息，判断与所述M条条纹宽度信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个第二位置信息是否与M个标准位置信息信息中相对应的M个标准位置信息相同；

第一确定子单元，用于在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

进一步的，所述第一确定单元具体包括：

第二判断单元，用于基于所述M条条纹形状图案信息，判断与所述M条条纹形状图案信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的第三位置信息是否与M个标准位置信息中相对应的M个标准位置信息相同；

第二确定子单元，用于在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

进一步的，所述第二确定单元具体包括：

第三确定子单元，用于基于所述M个位置信息，确定与所述标准位置信息之间的距离差；

第四确定子单元，用于根据所述距离差，确定所述待测物体的深度信息。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

由于采用了在利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上时，在经过该待测物体的反射，在一透射面上形成第一图像时，获得分布在该待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，该M条条纹信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；接着，基于获得的M条条纹信息，确定与该M条条纹信息对应的多条条纹中M条条纹光的M个位置信息；最后，能够基于该M个位置信息，确定该待测物体的深度信息的技术方案，所以，有效解决了现有技术中确定条纹结构光的条纹变化的过程中容易出错，因此，存在工作量大的技术问题，实现了能够容易快速地确定出哪条条纹结构光发生了变化的技术效果。

附图说明

图1为本申请实施例中一种信息处理的方法的流程图；

图2为本申请实施例中获得多条条纹形态信息为多条条纹宽度信息的示意图；

图3为本申请实施例中获得多条条纹形态信息为多条条纹的形状图案信息；

图4为本申请实施例中一种电子设备的模块图。

具体实施方式

本申请实施例通过提供一种信息处理的方法及一种电子设备，解决了现有技术中在确定条纹结构光的条纹变化的过程中容易出错，因此，存在工作量大的技术问题，实现了能够容易快速地确定出哪条条纹结构光发生了变化的技术效果。

本申请实施例中的技术方案为解决上述在确定条纹结构光的条纹变化的过程中容易出错，因此，存在工作量大的技术问题，总体思路如下：

当利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且在经过待测物体的反射，在一投射面上形成第一图像时，获得分布在该待测物体上的M条条纹光的M条条纹信息，其中，在该M条形态信息中有N条形态信息是不同的，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数。接着，基于该M条形态信息，确定与该M条形态信息对应的多条条纹光中的M条条纹光中的M个位置信息；最后，可以基于该M个位置信息，确定该带测物体的深度信息。

为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。

本申请实施例提供的一种信息处理的方法应用于一电子设备中，该电子设备具体可以是基于结构光的深度摄像头等，如图1所示，该方法具体包括：

S101，当利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一投射面上形成第一图像时，获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，所述M条形态信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；

S102，基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息；

S103，基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息。

具体的，在S101中获得分布在所述带测物体上的M条条纹光的M条形态信息具体可以有两种形态信息，第一种是获得M条条纹光的M条条纹宽度信息；第二种是获得M条条纹的形状图案信息。

下面，首先对第一种获得M条条纹光的M条条纹宽度信息的情况进行详细描述。

在利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上时，该条纹结构光源便形成多条条纹宽度不同的条纹光，其中，宽度各不相同的该多条条纹光中M条条纹光中K条条纹光的K条条纹宽度信息，而且，在宽度各不相同的多条条纹中M条条纹光中有J条条纹光的J条条纹宽度信息，其中，该J条条纹光与K条条纹光间没有重叠的。

如图2所示，由于获得的条纹结构光的信息各不相同，例如，在第一区域A，获得条纹宽度信息依次为（2，4，7，3，5）的条纹，那么，在确定条纹宽度为7的条纹时，就可以根据与该条条纹临近的前面的条纹宽度为2，4，后面的条纹宽度为3，5，从而确定该条纹，当然，为了能够确认更加准确的条纹，还可以向前后多增加几条条纹的信息，比如，在第二区域B，获得条纹宽度信息依次为（1，3，6，2，9，8，7），那么，就可以根据前后三组条纹宽度信息来确认宽度信息为2的条纹信息。

通过上述的例子，就可以克服现有技术中等宽度等亮度的条纹难以确认的技术问题。

在第二种获得的是M条条纹的形状图案信息的情况下进行详细的描述。

在利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上时，条纹结构光源便形成带有图案的的条纹光，具体的，在M条条纹中的任意一条条纹光上等间隔的设置具有中心对应的相同图案，该图案用来标识该条纹光，M条条纹光中任意相邻两条条纹上的图案是不相同的。

如图3所示，以其中一条条纹上的形状图案为例，比如，在这条条纹上的等间隔的设置等边三角型的图案，在相邻的两条条纹上分别可以设置正方形，五角星等中心对称的图案。

具体在设计间隔时，需要考虑两种因素，第一，以不超过场景中需要分辨的最小物体的宽度（或高度）为宜，以在同一物体对象内保证既有条纹又有图案能够被检测到。第二，图案之间的条纹长度不宜太小，因为条纹具有指明方向的作用，长度太短则方向判断容易出错。

上述在多条条纹上设置不同的形状图案可以是在每条条纹上都设置不同的图案，当然，为了减少所使用的图案数量，也可以将图案集合中的图案周期性的按顺序***相应的条纹中。也就是说，可以周期性的重复在条纹上设置图案。当然，还可以对多条条纹进行分级，每一级条纹都有一个参考条纹，可以只在参考条纹上设置图案，多级条纹的参考条纹上也都设置不同的形状图案。

具体的对于图案的设计，主要以简单，区分度稿为原则进行设计，这样便于条纹被容易的检测或识别到，而且，不同的图案也不易混淆。同时，对于图案的设计要求最优的是采用中心对称的图案，这样容易精确计算图案的中心亚像素位置，从而提高视差计算的精度。

通过上述在多条条纹上设置形状图案的方式，也解决了现有条纹结构光容易出错，造成工作量大的技术问题，而且，利用条纹上的图案对条纹进行编码的方式，保留了条纹的指向性特征，提高了图案解码的鲁棒性。

通过上述两种根据多条条纹的形状信息从而在确认条纹顺序时不容易出错，接着，根据条纹的宽度信息或者形状图案信息，可以确认条纹的位置信息。具体如下：

在上述获取M条条纹光的M条条纹宽度信息之前，该方法还包括：

获取M条条纹光的M个标准位置信息。具体的该M个标准位置信息具体为没有待测物体的情况下经过光滑平面反射之后所获得的。

接着，在S102中，基于该M条条纹宽度信息，判断与该M条条纹信息对应的多条条纹光中的M条条纹光的M个第二位置信息是否与M条条纹信息的M个标准位置信息相同，在不相同时，确定该M条条纹光的M个位置信息。

具体是判断获得的M条条纹的位置信息相对于M条条纹的标准位置信息是否有改变，在有改变时，根据变化的条纹的位置信息，来确定当前条纹的位置信息。

然后，基于该M个位置信息，确定与该标准位置之间的距离差；根据该距离差，确定与该待测物体的深度信息。

在具体的实施方式中，如果判断获得M条条纹信息对应的多条条纹光中的M条条纹光的M个第二位置信息是否与M条条纹信息的M个标准位置信息相同之后，若在获得相同的结果，那么说明该待测物体不存在深度信息，若获得不相同的结果，说明该待测物体存在深度信息，接着，根据具有不同条纹宽度信息的条纹的位置信息与标准位置信息之间的距离差值，通过一定的算法计算出待测物体的深度信息。

同理，基于该M条条纹形状图案信息，判断与该M条条纹图案信息对应的多条条纹光中的M条条纹光的第三位置信息是否与M条条纹信息的M条标准位置信息相同；在不同时，确定该M条条纹光的M个位置信息。从而基于该M个位置信息，确定与该标准位置信息之间的距离差，根据距离差，确定该待测物体的深度信息。

在本申请实施例中就不再赘述了。

基于相同的发明构思，本申请实施例还提供了一种电子设备，如图4所示，所述电子设备包括：

第一获取单元401，用于当利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一投射面上形成第一图像时，获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，所述M条形态信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；

第一确定单元402，基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息；

第二确定单元403，基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息。

进一步的，所述电子设备还包括：

第二获取单元，获取所述M条条纹光的M个标准位置信息。

进一步的，所述第一获取单元401具体用于，获取分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条条纹宽度信息或M条条纹的形状图案信息。

进一步的，所述M条条纹宽度信息具体包括：宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中K条条纹光的K条条纹宽度信息，与宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中J条条纹光的J条条纹宽度信息，其中，所述J条条纹光与所述K条条纹光间没有重叠。

进一步的，所述M条条纹的形状图案信息具体包括：在所述M条条纹中的任意一条条纹光上等间隔的设置具有中心对称的相同图案，所述图案用来标识所述条纹光，所述M条条纹中任意相邻两条条纹上的图案是不相同的。

进一步的，所述第一确定单元402具体包括：

第一判断单元，用于基于所述M条条纹宽度信息，判断与所述M条条纹宽度信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个第二位置信息是否与M个标准位置信息信息中相对应的M个标准位置信息相同；

第一确定子单元，用于在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

进一步的，所述第一确定单元402具体包括：

第二判断单元，用于基于所述M条条纹形状图案信息，判断与所述M条条纹形状图案信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的第三位置信息是否与M个标准位置信息中相对应的M个标准位置信息相同；

第二确定子单元，用于在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

进一步的，所述第二确定单元403具体包括：

第三确定子单元，用于基于所述M个位置信息，确定与所述标准位置信息之间的距离差；

第四确定子单元，用于根据所述距离差，确定所述待测物体的深度信息。

由于本实施例所介绍的电子设备为实施本申请实施例中信息处理方法所采用的电子设备，故而基于本申请实施例中信息处理方法，本领域所属技术人员能够了解本申请实施例中电子设备的具体实施方式以及其各种变化形式，所以在此对于该电子设备不再详细介绍。只要本领域所属技术人员实施本申请实施例中信息处理方法所采用的电子设备，都属于本申请所欲保护的范围。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

由于采用了在利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上时，在经过该待测物体的反射，在一透射面上形成第一图像时，获得分布在该待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，该M条条纹信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；接着，基于获得的M条条纹信息，确定与该M条条纹信息对应的多条条纹中M条条纹光的M个位置信息；最后，能够基于该M个位置信息，确定该待测物体的深度信息的技术方案，所以，有效解决了现有技术中确定条纹结构光的条纹变化的过程中容易出错，因此，存在工作量大的技术问题，实现了能够容易快速地确定出哪条条纹结构光发生了变化的技术效果。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备（***）、和计算机程序产品的流程图和／或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和／或方框图中的每一流程和／或方框、以及流程图和／或方框图中的流程和／或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

具体来讲，本申请实施例中的信息处理的方法对应的计算机程序指令可以被存储在光盘，硬盘，U盘等存储介质上，当存储介质中的与信息处理的方法对应的计算机程序指令被一电子设备读取或被执行时，包括如下步骤：

当利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一投射面上形成第一图像时，获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，所述M条形态信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；

基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息；

基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息。

可选的，所述存储介质中还存储有另外一些计算机指令，这些计算机指令在步骤利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一透射面上形成第一图像之前被执行，在被执行时包括如下步骤：

获取所述M条条纹光的M个标准位置信息。

可选的，所述存储介质中存储的与步骤在获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息中，对应的计算机指令在具体被执行过程中，具体为如下步骤：

获取分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条条纹宽度信息或M条条纹的形状图案信息。

可选的，所述存储介质中存储在与步骤获取M条条纹宽度信息对应的计算机指令在具体被执行过程中，具体为如下内容：

宽度各不相同的多条条纹光中M条条纹光中K条条纹光的K条条纹宽度信息，与宽度各不相同的多条条纹光中M条条纹光中J条条纹光的J条条纹宽度信息，其中，J条条纹光与K条条纹光间没有重叠。

可选的，所述存储介质中存储在与步骤获取M条条纹的形状图案信息对应的计算机指令具体被执行过程中，具体为如下内容：

所述M条条纹中的任意一条条纹光上等间隔的设置具有中心对称的相同图案，所述图案用来标识所述条纹光，所述M条条纹中任意相邻两条条纹上的图案是不相同的。

可选的，所述存储介质中存储与步骤在当所述M条形态信息具体为所述M条条纹宽度信息时，所述基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息中，对应的计算机指令在具体被执行过程中，具体包括如下步骤：

基于所述M条条纹宽度信息，判断与所述M条条纹宽度信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个第二位置信息是否与所述M条条纹光的M个标准位置信息相同；

在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

可选的，所述存储介质中存储与步骤在当所述M条形态信息具体为所述M条条纹形状图案信息时，基于所述M条形状信息，确定与所述M条形状信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息中，对应的计算机指令在具体被执行过程中，具体包括如下步骤：

基于所述M条条纹形状图案信息，判断与所述M条条纹形状图案信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的第三位置信息是否与所述M条条纹信息的M个标准位置信息相同；

在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

可选的，所述存储介质中存储与步骤在基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息中，对应的计算机指令在具体被执行过程中，具体包括如下步骤：

基于所述M个位置信息，确定与所述标准位置信息之间的距离差；

根据所述距离差，确定所述待测物体的深度信息。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (16)

1.一种信息处理的方法，应用于电子设备中，所述方法包括：

当利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一投射面上形成第一图像时，获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，所述M条形态信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；

基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息；

基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一透射面上形成第一图像之前，所述方法还包括：

获取所述M条条纹光的M个标准位置信息。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，具体为：

获取分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条条纹宽度信息或M条条纹的形状图案信息。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述M条条纹宽度信息具体包括：宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中K条条纹光的K条条纹宽度信息，与宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中J条条纹光的J条条纹宽度信息，其中，所述J条条纹光与所述K条条纹光间没有重叠。

5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述M条条纹的形状图案信息具体包括：在所述M条条纹中的任意一条条纹光上等间隔的设置具有中心对称的相同图案，所述图案用来标识所述条纹光，所述M条条纹中任意相邻两条条纹上的图案是不相同的。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，当所述M条形态信息具体为所述M条条纹宽度信息时，所述基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息，具体包括：

基于所述M条条纹宽度信息，判断与所述M条条纹宽度信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个第二位置信息是否与所述M条条纹光的M个标准位置信息相同；

在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述M条形态信息具体为所述M条条纹形状图案信息时，基于所述M条形状信息，确定与所述M条形状信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息，具体包括：

基于所述M条条纹形状图案信息，判断与所述M条条纹形状图案信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的第三位置信息是否与所述M条条纹信息的M个标准位置信息相同；

在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

8.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息，具体包括：

基于所述M个位置信息，确定与所述标准位置信息之间的距离差；

根据所述距离差，确定所述待测物体的深度信息。

9.一种电子设备，所述电子设备包括：

第一获取单元，用于当利用一条纹结构光源将条纹结构光透射到一待测物体上，且经过所述待测物体的反射，在一投射面上形成第一图像时，获得分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条形态信息，其中，所述M条形态信息中有N条形态信息不相同，其中，M为大于等于2的整数，N为小于等于M且大于等于2的整数；

第一确定单元，基于所述M条形态信息，确定与所述M条形态信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个位置信息；

第二确定单元，基于所述M个位置信息，确定所述待测物体的深度信息。

10.如权利要求9所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括：

第二获取单元，获取所述M条条纹光的M个标准位置信息。

11.如权利要求10所述的电子设备，其特征在于，所述第一获取单元具体用于，获取分布在所述待测物体上的M条条纹光的M条条纹宽度信息或M条条纹的形状图案信息。

12.如权利要求11所述的电子设备，其特征在于，所述M条条纹宽度信息具体包括：宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中K条条纹光的K条条纹宽度信息，与宽度各不相同的所述多条条纹光中M条条纹光中J条条纹光的J条条纹宽度信息，其中，所述J条条纹光与所述K条条纹光间没有重叠。

13.如权利要求11所述的电子设备，其特征在于，所述M条条纹的形状图案信息具体包括：在所述M条条纹中的任意一条条纹光上等间隔的设置具有中心对称的相同图案，所述图案用来标识所述条纹光，所述M条条纹中任意相邻两条条纹上的图案是不相同的。

14.如权利要求12所述的电子设备，其特征在于，所述第一确定单元具体包括：

第一判断单元，用于基于所述M条条纹宽度信息，判断与所述M条条纹宽度信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的M个第二位置信息是否与M个标准位置信息信息中相对应的M个标准位置信息相同；

第一确定子单元，用于在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

15.如权利要求13所述的电子设备，其特征在于，所述第一确定单元具体包括：

第二判断单元，用于基于所述M条条纹形状图案信息，判断与所述M条条纹形状图案信息对应的所述多条条纹光中的M条条纹光的第三位置信息是否与M个标准位置信息中相对应的M个标准位置信息相同；

第二确定子单元，用于在不同时，确定所述M条条纹光的M个位置信息。

16.如权利要求14或15所述的电子设备，其特征在于，所述第二确定单元具体包括：

第三确定子单元，用于基于所述M个位置信息，确定与所述标准位置信息之间的距离差；

第四确定子单元，用于根据所述距离差，确定所述待测物体的深度信息。