CN104681801B - 一种石墨烯/Cu/Ni复合电极及其制备方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种石墨烯/Cu/Ni复合电极及其制备方法。复合电极包括Cu/Ni合金层和覆盖在Cu/Ni合金层上的石墨烯薄膜;其中,Cu/Ni合金层由Ni膜和覆盖在Ni膜上Cu膜发生Ni原子与Cu原子的相互扩散形成,Ni膜与Cu膜的厚度比为1:(3~10)。本发明避免了石墨烯转移过程和图形化过程对石墨烯质量的破坏,减少了石墨烯缺陷的数目,通过调整Ni膜与Cu膜的厚度,采用分段升温的CVD工艺,获得高质量的石墨烯,增强了石墨烯对Cu/Ni合金的保护能力,得到的复合电极具有优异的抗腐蚀性能。

Description

一种石墨烯/Cu/Ni复合电极及其制备方法
技术领域
本发明属于金属电极保护技术领域,更具体地,涉及一种石墨烯/Cu/Ni复合电极及其制备方法。
背景技术
Cu/Ni复合金属易于塑型、加工和焊接,在金属互连、飞行器部件、植入装置等器件中作为电极被广泛使用。石墨烯是一种二维单原子层材料,因其优秀的机械、光学、电学、化学稳定性等而应用广泛,尤其是其良好的化学稳定性,可以用作防腐蚀材料以保护Cu/Ni复合金属电极。
然而,研究表明在石墨烯的缺陷处会发生严重的腐蚀下层金属的现象,高质量、无缺陷的单层石墨烯能有效地减少腐蚀现象的发生。目前,经常采用CVD技术来制备大面积、高质量的石墨烯。以单一过渡金属(Cu、Ni等)为催化剂,以烃类化合物为碳源,淀积生长石墨烯;然后将生长的石墨烯薄膜转移至目标基底上,经过图形化处理等步骤,进行器件的应用。但复杂、破坏性的石墨烯转移及图形化过程会严重损害石墨烯的质量,导致多余的缺陷,影响石墨烯在金属电极防腐方面的应用。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种石墨烯/Cu/Ni复合电极及其制备方法,避免了石墨烯转移过程和图形化过程对石墨烯质量的破坏,减少了石墨烯缺陷的数目,通过调整Ni膜与Cu膜的厚度,采用分段升温的CVD工艺,获得高质量的石墨烯,增强了石墨烯对Cu/Ni合金的保护能力,得到的复合电极具有优异的抗腐蚀性能。
为实现上述目的,按照本发明的一个方面,提供了一种石墨烯/Cu/Ni复合电极,其特征在于,包括Cu/Ni合金层和覆盖在所述Cu/Ni合金层上的石墨烯薄膜;其中,所述Cu/Ni合金层由Ni膜和覆盖在所述Ni膜上Cu膜发生Ni原子与Cu原子的相互扩散形成,所述Ni膜与所述Cu膜的厚度比为1:(3~10)。
优选地,所述Cu/Ni合金层和所述石墨烯薄膜均为图形化结构。
按照本发明的另一方面,提供了一种石墨烯/Cu/Ni复合电极的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)在基底上淀积一层Ni膜,再在Ni膜上淀积一层Cu膜,得到Cu/Ni复合金属基底;其中,Ni膜与Cu膜的厚度比为1:(3~10);
(2)利用CVD方法,在Cu/Ni复合金属基底上生长石墨烯薄膜;
所述步骤(2)进一步包括如下步骤:
(A1)在Ar和H2的混合气氛中,升温至400℃~800℃,并保温3h~5h;
(A2)继续升温至1000℃~1050℃;
(A3)通入碳氢化合物作为碳源,保温15min~30min;
(A4)在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温。
按照本发明的又一方面,提供了一种石墨烯/Cu/Ni复合电极的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)在基底上制备图形化的光刻胶;
(2)淀积一层Ni膜,再在Ni膜上淀积一层Cu膜;其中,Ni膜与Cu膜的厚度比为1:(3~10);
(3)去除光刻胶,得到图形化的Cu膜和Ni膜;
(4)利用CVD方法,在图形化的Cu膜上生长石墨烯薄膜;
所述步骤(4)进一步包括如下步骤:
(A1)在Ar和H2的混合气氛中,升温至400℃~800℃,并保温3h~5h;
(A2)继续升温至1000℃~1050℃;
(A3)通入碳氢化合物作为碳源,保温15min~30min;
(A4)在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,具有以下有益效果:
1、直接在金属上生长石墨烯,实现了单层石墨烯的原位生长和应用,避免了石墨烯转移过程对石墨烯质量的破坏,减少了石墨烯缺陷的数目,增强了对Cu/Ni合金的保护能力。
2、复合金属中的Ni原子在高温下与Cu原子相互扩散,起到了平滑金属基底表面,增大晶粒尺寸的作用,有利于单层、无缺陷石墨烯的生长,通过调整Ni膜与Cu膜的厚度,能获得高质量的石墨烯,对下层金属具有更好的保护效果。
3、图形化生长单层石墨烯,避免了在器件应用中的石墨烯图形化过程对石墨烯质量的破坏,减少了石墨烯缺陷的数目,增强了对Cu/Ni合金的保护能力。
4、利用分段升温的CVD工艺生长石墨烯,减少了高温对Cu/Ni合金的破坏,并进一步提高了石墨烯的生长质量。
附图说明
图1是本发明一个实施例的石墨烯/Cu/Ni复合电极的制备工艺流程示意图;
图2是本发明另一个实施例的石墨烯/Cu/Ni复合电极的制备工艺流程示意图;
图3是实施例6生长的石墨烯的Raman光谱图;
图4是实施例6生长的石墨烯的SEM图。
在所有附图中,相同的附图标记用来表示相同的元件或结构,其中:1-基底,2-光刻胶,3-Ni膜,4-Cu膜,5-石墨烯薄膜。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
本发明实施例的石墨烯/Cu/Ni复合电极包括Cu/Ni合金层和覆盖在Cu/Ni合金层上的石墨烯薄膜;其中,Cu/Ni合金层由Ni膜和覆盖在Ni膜上Cu膜发生Ni原子与Cu原子的相互扩散形成,Ni膜与Cu膜的厚度比为1:(3~10)。优选地,Cu/Ni合金层和石墨烯薄膜均为图形化结构。
如图1所示,本发明一个实施例的石墨烯/Cu/Ni复合电极的制备方法包括如下步骤:
(1)在基底1上淀积一层Ni膜3,再在Ni膜3上淀积一层Cu膜4,得到Cu/Ni复合金属基底。
其中,基底通常可以为Si、玻璃等。
优选地,Ni膜与Cu膜的厚度比为1:(3~10)。
(2)利用CVD方法,在Cu/Ni复合金属基底上生长石墨烯薄膜5。
步骤(2)进一步包括如下步骤:
(A1)在Ar和H2的混合气氛中,升温至400℃~800℃,并保温3h~5h。
(A2)继续升温至1000℃~1050℃。
(A3)通入碳氢化合物作为碳源,保温15min~30min。
其中,碳氢化合物通常可以为CH4、C2H4等。
(A4)在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温。
如图2所示,本发明另一个实施例的石墨烯/Cu/Ni复合电极的制备方法包括如下步骤:
(1)在基底1上制备图形化的光刻胶2。
(2)淀积一层Ni膜3,再在Ni膜3上淀积一层Cu膜4。
其中,基底通常可以为Si、玻璃等。
优选地,Ni膜与Cu膜的厚度比为1:(3~10)。
(3)去除光刻胶,得到图形化的Cu膜和Ni膜。
(4)利用CVD方法,在图形化的Cu膜上生长石墨烯薄膜5。
步骤(4)进一步包括如下步骤:
(A1)在Ar和H2的混合气氛中,升温至400℃~800℃,并保温3h~5h。
(A2)继续升温至1000℃~1050℃。
(A3)通入碳氢化合物作为碳源,保温15min~30min。
其中,碳氢化合物通常可以为CH4、C2H4等。
(A4)在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温。
为使本领域技术人员更好地理解本发明,下面结合具体实施例,对本发明的石墨烯/Cu/Ni复合电极的制备方法进行详细说明。
实施例1
在Si基底上溅射淀积一层300nm厚的Ni膜,再在Ni膜上溅射一层900nm厚的Cu膜(Ni膜与Cu膜的厚度比为1:3),得到Cu/Ni复合金属基底;将Cu/Ni复合金属基底在Ar和H2的混合气氛中,升温至400℃并保温5h,继续升温至1000℃,通入CH4作为碳源,保温30min,最后在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温,从而在Cu/Ni复合金属基底上生长石墨烯薄膜。
实施例2
在Si基底上溅射淀积一层100nm厚的Ni膜,再在Ni膜上溅射一层1μm厚的Cu膜(Ni膜与Cu膜的厚度比为1:10),得到Cu/Ni复合金属基底;将Cu/Ni复合金属基底在Ar和H2的混合气氛中,升温至800℃并保温3h,继续升温至1050℃,通入CH4作为碳源,保温15min,最后在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温,从而在Cu/Ni复合金属基底上生长石墨烯薄膜。
实施例3
在Si基底上溅射淀积一层200nm厚的Ni膜,再在Ni膜上溅射一层900nm厚的Cu膜(Ni膜与Cu膜的厚度比为1:4.5),得到Cu/Ni复合金属基底;将Cu/Ni复合金属基底在Ar和H2的混合气氛中,升温至600℃并保温4h,继续升温至1020℃,通入CH4作为碳源,保温25min,最后在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温,从而在Cu/Ni复合金属基底上生长石墨烯薄膜。
实施例4
在Si基底上制备图形化的光刻胶,接着溅射一层300nm厚的Ni膜,再在Ni膜上溅射一层900nm厚的Cu膜(Ni膜与Cu膜的厚度比为1:3);去除光刻胶,得到图形化的Cu膜和Ni膜;将基底在Ar和H2的混合气氛中,升温至400℃并保温5h,继续升温至1000℃,通入CH4作为碳源,保温30min,最后在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温,从而在图形化的Cu膜上生长石墨烯薄膜。
实施例5
在Si基底上制备图形化的光刻胶,接着溅射一层100nm厚的Ni膜,再在Ni膜上溅射一层1μm厚的Cu膜(Ni膜与Cu膜的厚度比为1:10);去除光刻胶,得到图形化的Cu膜和Ni膜;将基底在Ar和H2的混合气氛中,升温至800℃并保温3h,继续升温至1050℃,通入CH4作为碳源,保温15min,最后在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温,从而在图形化的Cu膜上生长石墨烯薄膜。
实施例6
在Si基底上制备图形化的光刻胶,接着溅射一层200nm厚的Ni膜,再在Ni膜上溅射一层900nm厚的Cu膜(Ni膜与Cu膜的厚度比为1:4.5);去除光刻胶,得到图形化的Cu膜和Ni膜;将基底在Ar和H2的混合气氛中,升温至600℃并保温4h,继续升温至1020℃,通入CH4作为碳源,保温25min,最后在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温,从而在图形化的Cu膜上生长石墨烯薄膜。
分别测试上述实施例生长的石墨烯的Raman光谱图和SEM图,结果显示,本发明的方法能生长出单层、无缺陷的石墨烯薄膜,因而对下层的Cu/Ni合金层具有更好的保护效果,得到的石墨烯/Cu/Ni复合电极具有优异的抗腐蚀性能。以实施例6为例,图3是实施例6生长的石墨烯的Raman光谱图,其中,2D峰和G峰的强度的比值I2D/IG>1,说明石墨烯为单层;且表示石墨烯缺陷数目的D峰的强度为零,说明石墨烯的缺陷极少。图4是实施例6生长的石墨烯的SEM图,可以看出单层连续的石墨烯在Cu膜上生长。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种石墨烯/Cu/Ni复合电极的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)在基底上淀积一层Ni膜,再在Ni膜上淀积一层Cu膜,得到Cu/Ni复合金属基底;其中,Ni膜与Cu膜的厚度比为1:(3~10);
(2)利用CVD方法,在Cu/Ni复合金属基底上生长石墨烯薄膜;
所述步骤(2)进一步包括如下步骤:
(A1)在Ar和H2的混合气氛中,升温至400℃~800℃,并保温3h~5h;
(A2)继续升温至1000℃~1050℃;
(A3)向Ar和H2的混合气氛中通入碳氢化合物作为碳源,保温15min~30min;
(A4)在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温。
2.一种石墨烯/Cu/Ni复合电极的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)在基底上制备图形化的光刻胶;
(2)淀积一层Ni膜,再在Ni膜上淀积一层Cu膜;其中,Ni膜与Cu膜的厚度比为1:(3~10);
(3)去除光刻胶,得到图形化的Cu膜和Ni膜;
(4)利用CVD方法,在图形化的Cu膜上生长石墨烯薄膜;
所述步骤(4)进一步包括如下步骤:
(A1)在Ar和H2的混合气氛中,升温至400℃~800℃,并保温3h~5h;
(A2)继续升温至1000℃~1050℃;
(A3)向Ar和H2的混合气氛中通入碳氢化合物作为碳源,保温15min~30min;
(A4)在Ar和H2的混合气氛中,降温至室温。
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