CN104639234A - 评估红外光干扰强度的方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种评估红外光干扰强度的方法,包括如下步骤:S1,红外传感装置采集其所在环境中的所有红外光信号,根据红外遥控***的参数将红外光信号转换成电脉冲信号,并将电脉冲信号发送至MCU处理器;S2,MCU处理器判断红外传感装置发送过来的电脉冲信号的电平高度,将电脉冲信号的电平高度与预设电平高度进行比较,若电脉冲信号的电平高度低于预设电平高度,则判断为干扰脉冲,进入步骤S3,否则,作为正常信号不作处理;S3,计算干扰脉冲的长度,根据干扰脉冲的长度计算出干扰次数,并显示干扰次数。还涉及一种装置。本发明的评估红外光干扰强度的方法及装置,对红外光干扰的强度进行量化测试,其适用范围广,为解决红外遥控通讯中出现的各种问题提供依据。
Description
技术领域
本发明涉及红外线检测领域,尤其涉及一种评估红外光干扰强度的方法及装置。
背景技术
目前红外光通讯应用非常广泛,在空调、电视等家电上均有使用红外遥控***,其原理就是遥控器发出几个ms到数百ms长度红外光,空调、电视内部的接收装置收到红外光之后对信号进行滤波、解码、分析、执行,这样实现了对空调、电视的远距离控制。在实际使用中这些红外遥控***往往会受到其他红外信号源的干扰,如太阳光、电子节能灯、红外监控报警器等,一旦红外遥控***受到干扰,家电产品将完全无法操作。售后服务人员在维修时往往采用更换对应零部件的方法,无法从根本上解决干扰问题。
发明内容
鉴于现有技术的现状,本发明的目的在于提供一种评估红外光干扰强度的方法及装置,对红外光干扰的强度进行量化测试。为实现上述目的,本发明的技术方案如下:
一种评估红外光干扰强度的方法,包括如下步骤:
S1,红外传感装置采集其所在环境中的所有红外光信号,根据红外遥控***的参数将所述红外光信号转换成电脉冲信号,并将所述电脉冲信号发送至MCU处理器;
S2,MCU处理器判断红外传感装置发送过来的电脉冲信号的电平高度,将电脉冲信号的电平高度与预设电平高度进行比较,若电脉冲信号的电平高度低于预设电平高度,则判断为干扰脉冲,进入步骤S3,否则,作为正常信号不作处理;
S3,计算所述干扰脉冲的长度,根据所述干扰脉冲的长度计算出干扰次数,并显示所述干扰次数。
较优地,在步骤S3中:
干扰次数N=干扰脉冲长度/10ms,其中,干扰脉冲长度的单位为ms,N取整数,不足整数的小数部分按整数计算。
较优地,步骤S3中:
显示所述干扰次数采用两位数字表示,数值从00到99,数值越低,干扰强度越低,反之干扰越强。
较优地,显示所述数值为00时表示无干扰,红外遥控***可正常工作;
显示所述数值的范围在01-05时,表示有轻微干扰,红外遥控***偶尔会失灵,接收装置偶尔没反应;
显示所述数值的范围在06-50时,表示干扰较大,红外遥控***经常会失灵,接收装置很难接收到正确的信号;
显示所述数值的范围在51-99时,表示干扰非常大,红外遥控***完全失灵,接收装置完全没反应。
较优地,所述参数包括红外遥控***使用的频率和/或脉冲。
较优地,所述预设电平的高度为4.5V。
还涉及一种评估红外光干扰强度的装置,所述装置采用上述任一技术方案的评估红外光干扰强度的方法,所述装置包括红外传感装置、MCU处理器和显示装置;
所述MCU处理器分别与所述红外传感装置和所述显示装置电连接,所述MCU处理器根据所述红外传感装置采集的红外光信号计算干扰次数并传送至所述显示装置显示所述干扰次数。
较优地,所述MCU处理器包括主芯片、晶振电路、复位电路、显示驱动电路和红外传感接收电路,所述主芯片分别与所述晶振电路、复位电路、显示驱动电路和红外传感接收电路电连接。
较优地,所述主芯片的型号为Atemga16L-8PU。
较优地,所述显示装置为数码管。
较优地,所述MCU处理器还包括用于向所述主芯片供电的电源整流滤波电路。
本发明的有益效果是:
本发明的评估红外光干扰强度的方法及装置,对红外光干扰的强度进行量化测试,其适用范围广,为解决红外遥控通讯中出现的各种问题提供依据。
附图说明
图1为本发明的评估红外光干扰强度的装置一实施例的框图;
图2为图1所示主芯片的引脚示意图;
图3为图1所示红外传感接收电路的示意图;
图4为图1所示电源整流滤波电路的示意图;
图5为图1所示晶振电路的示意图;
图6为图1所示复位电路的示意图;
图7为图1所示显示驱动电路的示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例对本发明的评估红外光干扰强度的方法及装置进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明,并不用于限定本发明。
参照图1至图7,本发明的评估红外光干扰强度的装置一实施例包括红外传感装置、MCU处理器和显示装置;MCU处理器分别与红外传感装置和显示装置电连接,MCU处理器根据红外传感装置采集的红外光信号计算干扰次数并传送至显示装置显示所述干扰次数。MCU处理器为单片机,(Micro Controller Unit简称MCU,中文名称为多点控制单元),显示装置优选数码管。
MCU处理器包括主芯片100、晶振电路103、复位电路104、显示驱动电路105和红外传感接收电路101,主芯片100分别与晶振电路103、复位电路104、显示驱动电路105和红外传感接收电路101电连接。主芯片100的型号为Atemga16L-8PU,主芯片100的第1至第3引脚分别连接显示驱动电路105的TD65783芯片的D1、D2和D3引脚,TD65783芯片用于驱动数码管DS1和数码管DS2的阴极,数码管DS1和数码管DS2的阳极由芯片ULN2003驱动,芯片ULN2003的输出端连接数码管DS1和数码管DS2的阳极,芯片ULN2003的输入端连接主芯片100的第34至第40引脚。
主芯片100的第10引脚、第30引脚和第32引脚作为电源引脚,第10引脚、第30引脚和第32引脚串联电源整流滤波电路102连接至外设电源。其中,电源整流滤波电路102的输出电压为直流5V。
主芯片100的第11引脚和第31引脚接地,主芯片100的第12引脚和第13引脚连接晶振电路103,晶振电路103包括晶振Y1、电容CX1和电容CX2。
主芯片100的第9引脚连接复位电路104,复位电路104包括电阻R4和二极管IN4148。
主芯片100的第14引脚和第16引脚连接红外传感接收电路101,红外传感接收电路101用于传送红外传感装置接收的红外光信号,红外传感装置为红外传感器,图3中的红外传感装置为红外接收头。
上述评估红外光干扰强度的装置工作过程包括如下步骤:
S1,红外传感装置采集其所在环境中的所有红外光信号,根据红外遥控***的参数将所述红外光信号转换成电脉冲信号,并将所述电脉冲信号发送至MCU处理器,即红外传感装置通过红外传感接收电路101将电脉冲信号传送至主芯片100;其中,所述参数包括红外遥控***使用的频率和/或脉冲;
S2,MCU处理器判断红外传感装置发送过来的电脉冲信号的电平高度,将电脉冲信号的电平高度与预设电平高度进行比较,若电脉冲信号的电平高度低于预设电平高度,则判断为干扰脉冲,进入步骤S3,否则,作为正常信号不作处理;其中,所述预设电平的高度为4.5V;
S3,计算所述干扰脉冲的长度,根据所述干扰脉冲的长度计算出干扰次数,并显示所述干扰次数。
在步骤S3中,干扰次数N=干扰脉冲长度/10ms,其中,干扰脉冲长度的单位为ms,N取整数,不足整数的小数部分按整数计算。比如一个脉冲长度为34ms,虽然只是一个脉冲,会根据长度计算成4次干扰。根据以上分析处理方法可以计算得到红外光干扰的强度,单位是次/秒。比如一秒钟内有一个脉冲信号且长度小于10ms,则干扰强度为1;若一次干扰长度为500ms,则干扰强度为被计算为50(非常强),完全有可能干扰了正常的红外遥控信号。
步骤S3中,显示装置106显示所述干扰次数采用两位数字表示,数值从00到99,数值越低,干扰强度越低,反之干扰越强。显示装置106可采用两个数码管显示,数码管DS2显示个位上的数值,数码管DS1显示十位上的数值。
显示装置106显示所述数值为00时表示无干扰,红外遥控***可正常工作;显示所述数值的范围在01-05时,表示有轻微干扰,红外遥控***偶尔会失灵,接收装置偶尔没反应;显示所述数值的范围在06-50时,表示干扰较大,红外遥控***经常会失灵,接收装置很难接收到正确的信号;显示所述数值的范围在51-99时,表示干扰非常大,红外遥控***完全失灵,接收装置完全没反应。
以上实施的评估红外光干扰强度的方法及装置,装置上电后,红外传感器自动采集当前所在环境中的所有红外光信号,根据红外遥控通讯的特性将红外光信号转换成电脉冲信号,装置使用的MCU主芯片是Atemga16L-8PU,该芯片根据上述算法对传感器送过来的脉冲信号进行分析统计,并将分析结果输出到数码管上直观显示,分析结果由两位数字表示当前红外光干扰的次数。显示数据为环境实时检测结果,使用人员根据数值显示可知当前装置所在位置的红外光干扰强度。其适用范围广,为解决红外遥控通讯中出现的各种问题提供依据。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (11)
1.一种评估红外光干扰强度的方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1,红外传感装置采集其所在环境中的所有红外光信号,根据红外遥控***的参数将所述红外光信号转换成电脉冲信号,并将所述电脉冲信号发送至MCU处理器;
S2,MCU处理器判断红外传感装置发送过来的电脉冲信号的电平高度,将电脉冲信号的电平高度与预设电平高度进行比较,若电脉冲信号的电平高度低于预设电平高度,则判断为干扰脉冲,进入步骤S3,否则,作为正常信号不作处理;
S3,计算所述干扰脉冲的长度,根据所述干扰脉冲的长度计算出干扰次数,并显示所述干扰次数。
2.根据权利要求1所述的评估红外光干扰强度的方法,其特征在于,在步骤S3中:
干扰次数N=干扰脉冲长度/10ms,其中,干扰脉冲长度的单位为ms,N取整数,不足整数的小数部分按整数计算。
3.根据权利要求1所述的评估红外光干扰强度的方法,其特征在于,步骤S3中:
显示所述干扰次数采用两位数字表示,数值从00到99,数值越低,干扰强度越低,反之干扰越强。
4.根据权利要求3所述的评估红外光干扰强度的方法,其特征在于:
显示所述数值为00时表示无干扰,红外遥控***可正常工作;
显示所述数值的范围在01-05时,表示有轻微干扰,红外遥控***偶尔会失灵,接收装置偶尔没反应;
显示所述数值的范围在06-50时,表示干扰较大,红外遥控***经常会失灵,接收装置很难接收到正确的信号;
显示所述数值的范围在51-99时,表示干扰非常大,红外遥控***完全失灵,接收装置完全没反应。
5.根据权利要求1-4任一项所述的评估红外光干扰强度的方法,其特征在于:
所述参数包括红外遥控***使用的频率和/或脉冲。
6.根据权利要求1-4任一项所述的评估红外光干扰强度的方法,其特征在于,
所述预设电平的高度为4.5V。
7.一种评估红外光干扰强度的装置,所述装置采用权利要求1-6任一项所述的评估红外光干扰强度的方法,其特征在于:
包括红外传感装置、MCU处理器和显示装置;
所述MCU处理器分别与所述红外传感装置和所述显示装置电连接,所述MCU处理器根据所述红外传感装置采集的红外光信号计算干扰次数并传送至所述显示装置显示所述干扰次数。
8.根据权利要求7所述的评估红外光干扰强度的装置,其特征在于:
所述MCU处理器包括主芯片、晶振电路、复位电路、显示驱动电路和红外传感接收电路,所述主芯片分别与所述晶振电路、复位电路、显示驱动电路和红外传感接收电路电连接。
9.根据权利要求8所述的评估红外光干扰强度的装置,其特征在于:
所述主芯片的型号为Atemga16L-8PU。
10.根据权利要求7所述的评估红外光干扰强度的装置,其特征在于:
所述显示装置为数码管。
11.根据权利要求7所述的评估红外光干扰强度的装置,其特征在于:
所述MCU处理器还包括用于向所述主芯片供电的电源整流滤波电路。
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