CN104620098B - X射线检查装置 - Google Patents
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Abstract
提供能够抑制来自X射线发生源的热所致的影响，将易于受到热的影响的电路构成部配置于与X射线发热源相同的收纳空间的X射线检查装置。在箱体(10)中，设置有上部收纳空间(11)，在其内部设置有收纳于冷却容器(30)的X射线发生源(32)。冷却溶媒通过泵(36)的压力在冷却容器(30)与散热器33之间循环，抑制冷却容器(30)的温度上升。在上部收纳空间(11)中设置有冷却容器(30)，所以上部收纳空间(11)自身成为冷却空间，温度不易上升。因此，能够在上部收纳空间(11)中，配置易于受到热的影响的电路构成部件、发热性的电路构成部件。
Description
技术领域
本发明涉及向包装体等工件辐射X射线来进行包装状态等的检查的X射线检查装置，特别涉及能够使X射线发生源高效地冷却，并且抑制电路构成部件的温度上升的X射线检查装置。
背景技术
专利文献1所示的X射线检查装置在装置本体的上部设置有X射线发生器。X射线发生器在金属制的箱体的内部收纳有绝缘油，在其中浸渍而收纳有X射线管。在X射线发生器的下方，设置有检测X射线的X射线检测器。
在被检查物通过X射线发生器与X射线检测器之间时，从X射线发生器发出了的X射线被辐射到被检查物。用X射线检测器检测透射了被检查物的X射线，用浓淡影像掌握作为包装体的被检查物的内容物，进行是否混入异物等的检查。
在专利文献2记载的异物检查装置中，在箱体的上部开闭自如地设置有覆盖具备X射线管的X射线照射部的隐蔽箱体，在该隐蔽箱体中设置导入用开口部和导出用开口部，在各个开口部中设置有风扇。在隐蔽箱体的内部，设置间隔体，而划分有从导入用开口部到X射线照射部的导入侧流通部、和从X射线照射部到导出用开口部的导出侧流通部。
进而，构成为在隐蔽箱体的内部中，在隐蔽箱体的天花板部、底面部或者侧面部，配置控制用基板，所述导入侧流通部和导出侧流通部内的空气流不会被控制基板的存在而阻碍。
专利文献1：日本特开2005-91015号公报
专利文献2：日本特开2009-270876号公报
发明内容
在所述X射线发生器中所设置的X射线管是发热源，所以从收纳有X射线管的箱体发出非常多的热，配置有X射线发生器的装置本体的内部空间的温度非常高。如果在X射线发生器的附近配置有电路基板，则在该电路基板上安装的电路构成部件易于受到热的影响。例如，在电路构成部件是CPU的情况下，担心热所致的误动作，在AC/DC转换器的情况下，易于发生变换了的DC输出电力降低等不合适。因此，电路基板的配置场所被限制。
在专利文献1记载的X射线发生装置中，在X射线发生部的附近设置有显示器，但如果考虑从X射线发生部发出的热的影响，则必须远离显示器而配置使显示器动作的显示驱动电路，难以使显示器的显示动作稳定。
另一方面，在专利文献2中，想要向隐蔽箱体的内部导入来自外部的空气，而通过隐蔽箱体的内部的空气流使X射线照射部冷却。
但是，由于向隐蔽箱体导入来自外部的空气，所以向隐蔽箱体的内部与外气一起侵入的尘埃易于附着到控制基板，易于产生控制电路的短路等问题。另外，异物检查装置有时设置于高温、高湿的作业场、使用氯气等药品的作业场所，在这样的情况下，无法使隐蔽箱体的内部温度充分地降低，进而湿气、药品成分被导入到隐蔽箱体的内部而易于附着到控制基板，易于引起控制电路的故障。
另外，在不妨碍隐蔽箱体的内部的导入侧流通部和导出侧流通部的空气流的位置配置有控制基板，控制基板的配置位置被限定，例如，也难以在显示装置的附近配置显示装置用的驱动电路。
本发明解决上述以往的课题，其目的在于提供一种能够使作为X射线发生源的X射线管高效地冷却，进而能够高效地抑制在X射线发生源的附近配置了的电路构成部件的温度上升的X射线检查装置。
本发明提供一种X射线检查装置，设置有工件通过部、夹着所述工件通过部在一方侧所设置的X射线发生源、以及在另一方侧所设置而探测X射线的传感器，其特征在于：设置有收纳所述X射线发生源的冷却容器、散热器、将所述冷却容器的内部和所述散热器连结的管路、以及经由所述管路使冷却介质在所述冷却容器的内部与所述散热器之间循环的泵，在作为箱体的内部空间的上部收纳空间中设置有所述冷却容器，所述散热器设置于所述上部收纳空间的外部，构成电气电路的电路构成部件与所述冷却容器一起配置于所述上部收纳空间。
在本发明的X射线检查装置中，收纳X射线发生源的冷却容器通过循环的冷却介质被冷却，从X射线发生源发出的热从处于上部收纳空间外的散热器向外气放出。因此，能够使收纳了X射线发生源的冷却容器高效地冷却，能够抑制配置了冷却容器的上部收纳空间的内部空间的温度上升。
能够抑制上部收纳空间的内部空间的温度上升，所以即使将各种电路构成部件与冷却容器一起配置于上部收纳空间的相同的空间内，也能够抑制各种电路构成部件的温度上升。进而，在使用了如电源电路等那样伴随发热的电路中使用的电路构成部件的情况下，能够期待通过将该电路构成部件配置于上部收纳空间的内部，利用相同的空间内的冷却容器而使从该电路构成部件发出的热冷却的效果。
在本发明中，所述上部收纳空间形成于箱体的上部开闭部的内部，在所述上部开闭部被关闭时，从外部空间切断而密闭所述上部收纳空间。
在关闭了箱体的上部开闭部的状态下，上部收纳空间被密闭，所以能够高效地抑制收纳了冷却容器的上部收纳空间的温度上升。
另外，在本发明中，在所述上部收纳空间的下侧，设置有与所述上部收纳空间连通的下部收纳空间，在该下部收纳空间中收纳有其他电路构成部件。
在该情况下，能够在所述上部收纳空间和所述下部收纳空间的至少一方中配置发热性的电路构成部件。
如果其他电路构成部件且特别是发热性的电路构成部件配置于上部收纳空间、与其连通的下部收纳空间的内部，则从发热性的电路构成部件发出的热被提供给上部收纳空间。但是，在上部收纳空间中存在作为冷却装置而发挥功能的冷却容器，所以热易于通过冷却介质被搬运到外部，不仅是上部收纳空间，而且还能够抑制下部收纳空间的温度上升。因此，能够从热保护在上部收纳空间、下部收纳空间的内部配置了的抗热性弱的电路构成部件。
另外，在本发明中，由仅在从外部进行了固定解除操作时能够开放的固定机构固定所述上部开闭部。
在本发明中，在所述上部开闭部中安装有显示装置，在所述上部开闭部被关闭时，所述显示装置与所述冷却容器接近而相向。
另外，在所述上部收纳空间中，配置有构成驱动所述显示装置的驱动电路的电路构成部件。
在本发明中，即使将显示装置配置于X射线发生源的附近，也能够通过在冷却容器的内部循环的冷却介质，防止显示装置的附近的温度异常地变高。进而，显示装置用的驱动电路的温度上升也被抑制，所以能够将驱动电路配置于显示装置的附近，能够防止利用显示装置的信息显示质量的劣化。
在本发明中，所述传感器收纳于传感器收纳空间，所述传感器收纳空间与所述上部收纳空间连通。
如果传感器收纳于与上部收纳空间连通的传感器收纳空间，则从从传感器发出的热易于传递到上部收纳空间。但是，在上部收纳空间中存在作为冷却装置发挥功能的冷却容器，所以从传感器发出的热易于通过冷却介质搬送到外部。
在本发明中，收纳了X射线发生源的冷却容器通过冷却介质被冷却，所以能够抑制设置了该冷却容器的上部收纳空间的温度上升。因此，即使在上部收纳空间中配置了电路构成部件，也易于防止电路构成部件受到热所致的影响。另外，来自电路构成部件的发热也能够通过配置于相同的空间中的冷却容器来冷却，来自电路构成部件的发热所致的温度上升也能够抑制。
附图说明
图1是示出本发明的实施方式的X射线检查装置的正面图。
图2是X射线检查装置的右侧面图。
图3是示出在箱体的内部所形成的上部收纳空间与下部收纳空间以及传感器收纳空间的位置关系的图，是从后方观察了X射线检查装置的立体图。
图4是示出上部收纳空间的内部温度的测定结果的线图。
(符号说明)
1：X射线检查装置；10：箱体；10a：上部开闭部；10b：下部固定部；10c：伸出部；11：上部收纳空间；12：下部收纳空间；13：传感器收纳空间；20：工件通过部；30：冷却容器；30b：冷却容器的上表面；31：支撑台；32：X射线发生源；33：散热器；35a、35b：循环用管路；36：泵；41、42、43、44：电路；45：X射线传感器。
具体实施方式
如图1和图2所示，本发明的实施方式的X射线检查装置1在下部架台2中安装脚部3而被设置于作业基台上。在下部架台2上设置有支撑架台4，在支撑架台4上固定并支撑有箱体10。下部架台2和支撑架台4以及箱体10由金属板形成。
如图2和图3所示，箱体10具有上部开闭部10a和下部固定部10b以及从下部固定部10b向前方延伸的伸出部10c。上部开闭部10a的内部是上部收纳空间11，下部固定部10b的内部是下部收纳空间12，伸出部10c的内部是传感器收纳空间13。上部收纳空间11和下部收纳空间12经由连通部14连通，下部收纳空间12和传感器收纳空间13经由连通部15连通。
在上部开闭部10a与下部固定部10b之间设置有铰链部17，上部开闭部10a以铰链部17为转动支点，在图2中实线所示的关闭姿势、和在图2中虚线所示的开放姿势之间转动自如。另外，在所述铰链部17中，在构成上部开闭部10a的金属板与构成下部固定部10b的金属板之间设置有铰链机构，但铰链机构的图示省略。
如图2所示，在下部固定部10b的上端部与上部开闭部10a之间设置有停止器机构18，能够使上部开闭部10a以图2所示的开放姿势稳定。
在如在图2中实线所示使上部开闭部10a成为关闭姿势的状态下，通过仅由从外部进行了固定解除操作时成为可开放的固定机构来固定所述上部开闭部10a。该固定机构是止动螺钉等。在保养等中仅在必要时解除所述固定机构，上部开闭部10a成为开放姿势，进行在上部收纳空间11中配置了的各部件的更换、修理等。
在上部开闭部10a是关闭姿势时，除了与下部收纳空间12的连通部14以外，上部收纳空间11与外部切断而被密闭。除了与上部收纳空间11的连通部14和与传感器收纳空间13的连通部15以外下部收纳空间12被密闭，除了与下部收纳空间12的连通部15以外传感器收纳空间13也被密闭。
在本说明书中，意味着在上部收纳空间11的内部空间和下部收纳空间12以及传感器收纳空间13被密闭时，通过构成箱体10的金属板将其与外气切断，在与外气之间未形成积极地促进空气的流出和流入的通气路等的构造。因此，也可以在金属板的缘部彼此的重叠部中形成细小的间隙、或者在开闭动作的上部开闭部10a与下部固定部10b之间形成细小的间隙、或者存在用于向箱体的外部引出布线的最小限度的孔等。
在连通部14中，形成有用于使上部收纳空间11和下部收纳空间12连通的开口部，在连通部15中，形成有用于使下部收纳空间12和传感器收纳空间13连通的开口部。
在箱体10的上部开闭部10a与伸出部10c之间，形成有工件通过部20。如图2所示，在工件通过部20中，在后方设置有固定罩21，在前方设置有开闭罩22。在箱体10的下部固定部10b的前方，固定设置有固定罩21。
开闭罩22的下缘部经由图1所示的铰链部23与箱体10的伸出部10c的前部转动自如地连结。开闭罩22在图2中实线所示的关闭姿势、与如虚线所示向前方转动的开闭姿势之间转动自如。
如图2所示，在开闭罩22成为关闭姿势时，在固定罩21与开闭罩22之间，形成导入口24a。如图1所示，在与导入口24a对向的一侧，形成搬出口24b。如图2所示，在导入口24a中，设置有含铅的X射线遮蔽片25，在搬出口24b中也同样地设置有X射线遮蔽片25。在X射线遮蔽片25中，上下延伸的切断线形成一定的间隔，而能够使工件通过。
如图1所示，在工件通过部20中，在导入口24a的下侧设置有辊26a，在搬出口24b的下侧设置有辊26b。辊26a、26b的一方是驱动辊，且另一方是从动辊。在辊26a和26b上挂上搬送带27。如图1和图2所示，箱体10的伸出部10c位于上下隔开间隔而延伸的2个搬送带27之间。
在上部开闭部10a的内部的上部收纳空间11中，收纳有冷却容器30，在冷却容器30的内部中，收纳有X射线发生源32。X射线发生源是X射线管，在玻璃管的内部收纳有发生X射线的标靶、和使电子碰撞到该标靶的电极。冷却容器30由具有X射线的遮蔽功能并且能够传递热的金属材料形成且内部被密封，固定于在上部开闭部10a的底部中所设置的支撑台31上。
如图1和图2所示，在支撑架台4上支撑有散热器33。散热器33是冷却器。如图3所示，冷却容器30的内部与散热器33的内部之间通过循环用管路35a、35b连结，在循环用管路35a的途中设置有泵36。通过泵36的移送力，经由循环用管路35a、35b，冷却介质在冷却容器30与散热器33之间循环。作为冷却介质，使用电气绝缘性高且热传导性优良的绝缘油剂。
如图3所示，冷却容器30配置于上部收纳空间11的内部，在上部收纳空间11的外部、即箱体10的外部，在支撑架台4上固定有散热器33。另外，在支撑架台4上，设置有用于促进散热器33的周围的空气循环的冷却风扇37。
在上部收纳空间11与其下的工件通过部20之间，设置有金属板和在该金属板的窗部中所配置的过滤器，上部收纳空间11和工件通过部20的空间被遮蔽。在图2和图3中，示出有从X射线发生源32发出的X射线的照射区域L。从X射线发生源32向下发出的X射线通过支撑台31的内部空间，透射在上部收纳空间11的底部11a中所设置的所述过滤器，提供给其下的工件通过部20。
如图1至图3所示，倾斜地形成有箱体10的上部开闭部10a的前表面部10d，在该前表面部10d中安装有显示装置38。如图1所示，能够从前方目视显示装置38的显示画面38a。显示画面38a由彩色液晶面板等构成。
如图2和图3所示，在上部收纳空间11的内部中，显示装置38与冷却容器30对向，显示装置38和冷却容器30相互接近地配置。
如图3所示，在上部收纳空间11中，设置有第1电路41和第2电路42。第1电路41具有主基板，安装有用于使CPU、显示装置38动作的驱动电路等电路构成部件。第2电路42在电路基板中安装有构成开关电源即AC/DC转换器的电路构成部件。在图3中，第1电路41和第2电路42配置于支撑冷却容器30的支撑台31的背后，但这些电路既可以比支撑台31配置于前方(夹着支撑台31与图3相逆的一侧)，也可以配置于支撑台31的左右两侧方(图2的纸面前后方向)。
如图3所示，在箱体10内的下部收纳空间12中，配置有第3电路43和第4电路44。这些电路43、44在电路基板中安装有构成逆变器的电路构成部件。
在箱体10的伸出部13的内部的传感器收纳空间13中设置有X射线传感器45。X射线传感器45是线传感器，夹着工件通过部20，与X射线发生源32的下方对向。
在X射线检查装置1进行检查动作时，辊26a、26b旋转，搬送带27在图1中绕逆时针方向(T方向)旋转。在袋内收纳了食品的包装体等工件被交接到搬送带27上，通过搬送带27的移送力从导入口24a移送到工件通过部20，进而从搬出口24b搬出。
在工件通过部20中，向工件辐射从X射线发生源32所发出的X射线，通过X射线传感器45探测透射了工件的X射线，取得包装体等工件的影像，根据该影像，进行是否混入了异物等的检查。
在进行检查的期间，X射线发生源32继续发热。其发热量是100～500Wh(瓦特时)程度。在冷却容器30的内部中冷却介质循环，在X射线发生源32中所发出的热通过冷却介质搬运，经由循环用管路35a、35b被传递给散热器33，从散热器33放出到箱体10的外部。
通过冷却介质的循环，抑制冷却容器30的温度上升，所以设置有冷却容器30的上部收纳空间11的内部的温度的上升也被抑制。因此，即使在上部收纳空间11中，配置有构成具有抗热性比较弱的特性的CPU、AC/DC转换器等的电路构成部件，也能够防止这些电路构成部件被置于高温的环境下。因此，能够防止CPU的误动作、AC/DC转换器的变换效率降低。
在与冷却容器30对向的位置，接近冷却装置30地配置有显示装置38，但由于通过冷却介质的循环以使温度不上升的方式控制冷却容器30，所以能够抑制由于X射线发生源32的发热而对显示装置38进行加热。进而，还能够通过在冷却容器30的内部循环的冷却介质，将从显示装置38发出的热从散热器33排出到外气。
另外，在上部收纳空间11中设置冷却容器30而抑制了内部的温度上升，所以能够在冷却容器30的附近，接近显示装置38地配置显示装置用的驱动电路。能够使驱动电路和显示装置38的距离接近，所以能够使显示装置38的显示质量稳定。
在上部收纳空间11中所配置的第1电路41、第2电路42具有发热性的电路构成部件的情况下，从这些电路构成部件所发出的热向上部收纳空间11的内部发散。但是，由于在上部收纳空间11中，存在通过循环的冷却介质而冷却的冷却容器30，所以即使有电路构成部件的发热，也能够抑制上部收纳空间11的温度上升。
即，在上部收纳空间11中，冷却容器30作为一种冷却装置而发挥功能，上部收纳空间11成为冷却空间。因此，即使在上部收纳空间11的内部中配置有发热性的电路构成部件，也抑制上部收纳空间11的温度过剩地上升。
如图3所示，在下部收纳空间12中配置有第3电路43和第4电路44。如果这些电路具有发热性的电路构成部件，则发出了的热在箱体10的内部上升而转移到上部收纳空间11。另外，来自X射线传感器45及其周边电路的热也通过下部收纳空间12到达上部收纳空间11。关于该热，由于上部收纳空间11作为冷却空间而发挥功能，所以也抑制上部收纳空间11的温度过剩地上升。
关于上部收纳空间11的内部，通过冷却容器30的存在，抑制温度上升，但即便如此，也无法避免在上部收纳空间11的内部中发生温度梯度，上部收纳空间11的上方的温度比较高，下方的温度比较低。因此，优选将在第1电路41和第2电路42的最上部所安装的电路构成部件配置于与对上部收纳空间11进行冷却的冷却容器30的上表面30b相同的高度位置、或者比其下侧。另外，更优选将电路构成部件设置于比冷却容器30的底部30a下侧的空间。
即，通过将在上部收纳空间11的内部设置了多组的电路构成部件中的至少易于受到热所致的影响的电路构成部件、即至少一部分的电路构成部件配置于作为冷却装置而发挥功能的冷却容器30的上表面30b的下方、优选配置于底部30a的下方，易于防止抗热性弱的电路构成部件成为高温。
图4示出在X射线发生源32动作时在上部收纳空间11的内部的多个部位测定了的温度的变化。
关于测定了的X射线检查装置1的上部收纳空间11，图3所示的高度H是320mm、前后的长度L是550mm、宽度W是458mm。将温度测定点，如图3所示，设为比冷却容器30上侧的(i)部、接近冷却容器30的底部30a的(ii)部、上部收纳空间11的底部后方的(iii)部、上部收纳空间11的底部前方的(iv)部。
在图4中，纵轴为温度(℃)且横轴为X射线检查装置1的运转时间(分)，在图形内示出有在(i)(ii)(iii)(iv)的各部中所测定的温度的变化。
如图4所示，在上部收纳空间11中配置有冷却容器30，所以能够抑制上部收纳空间11的内部的温度上升，能够最高设定为45℃程度。特别，在比冷却容器30的底部30a下侧，能够将温度设定为35℃以下，成为适合于配置易于受到热所致的影响的电路构成部件的场所。
Claims (7)
1.一种X射线检查装置，设置了工件通过部、夹着所述工件通过部在一方侧所设置的X射线发生源、以及在另一方侧所设置而探测X射线的传感器，其特征在于：
设置有收纳所述X射线发生源的冷却容器、散热器、将所述冷却容器的内部和所述散热器连结的管路、以及经由所述管路使冷却介质在所述冷却容器的内部与所述散热器之间循环的泵，
在作为箱体的内部空间的上部收纳空间中设置有所述冷却容器，所述上部收纳空间与收纳所述传感器的、位于该上部收纳空间的下方的空间连通，所述散热器设置于所述箱体的外部，构成电气电路的电路构成部件与所述冷却容器一起配置于所述上部收纳空间，
所述冷却介质通过在收纳所述X射线发生源的所述冷却容器中循环，冷却所述X射线发生源，同时冷却所述冷却容器自身，
通过供给到所述冷却容器的冷却介质，抑制收纳了所述X射线发生源的所述冷却容器的温度上升，并且所述冷却容器作为抑制所述上部收纳空间的温度上升且抑制所述电路构成部件的温度上升的冷却装置而发挥功能。
2.根据权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于：所述上部收纳空间形成于箱体的上部开闭部的内部，在所述上部开闭部被关闭时，从外部空间切断而密闭所述上部收纳空间。
3.根据权利要求2所述的X射线检查装置，其特征在于：在所述上部收纳空间的下侧，设置有与所述上部收纳空间连通的下部收纳空间，在该下部收纳空间中收纳有其他电路构成部件。
4.根据权利要求2或者3所述的X射线检查装置，其特征在于：在所述上部收纳空间和所述下部收纳空间的至少一方中配置有发热性的电路构成部件。
5.根据权利要求2所述的X射线检查装置，其特征在于：由仅在从外部进行了固定解除操作时能够开放的固定机构固定所述上部开闭部。
6.根据权利要求2所述的X射线检查装置，其特征在于：在所述上部开闭部中安装有显示装置，在所述上部开闭部被关闭时，所述显示装置与所述冷却容器接近而相向。
7.根据权利要求6所述的X射线检查装置，其特征在于：在所述上部收纳空间中，配置有构成驱动所述显示装置的驱动电路的电路构成部件。
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| JP2019164088A (ja) * | 2018-03-20 | 2019-09-26 | 株式会社イシダ | Ｘ線検査装置 |
| EP3801933A4 (en) | 2018-06-11 | 2022-09-07 | Monsanto Technology LLC | SEED CLASSIFICATION |
| CN108760786B (zh) * | 2018-07-18 | 2023-10-03 | 国家地质实验测试中心 | 冷却循环*** |
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| JP7338844B2 (ja) * | 2019-01-31 | 2023-09-05 | 株式会社イシダ | Ｘ線検査装置 |
| AU2020383497A1 (en) * | 2019-11-13 | 2022-05-26 | Monsanto Technology Llc | X-ray seed imaging system, cabinet x-ray device, and methods of evaluating seeds |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN2426273Y (zh) * | 2000-06-05 | 2001-04-11 | 李文钜 | 珍珠贝珠核检测装置 |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2980800A (en) * | 1958-07-24 | 1961-04-18 | Machlett Lab Inc | X-ray units |
| DE58905402D1 (de) * | 1989-11-09 | 1993-09-30 | Siemens Ag | Röntgenstrahler. |
| JPH07327973A (ja) * | 1994-06-02 | 1995-12-19 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPH11354288A (ja) * | 1998-06-04 | 1999-12-24 | Yosuke Omichi | 照射用軟ｘ線発生装置 |
| JP3777539B2 (ja) * | 2000-12-07 | 2006-05-24 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線発生装置 |
| JP3961262B2 (ja) * | 2001-10-31 | 2007-08-22 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｘ線発生装置 |
| JP3860154B2 (ja) | 2003-09-12 | 2006-12-20 | アンリツ産機システム株式会社 | Ｘ線検査装置 |
| JP4664025B2 (ja) * | 2004-09-02 | 2011-04-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | Ｘ線源 |
| US7543987B2 (en) * | 2004-12-29 | 2009-06-09 | Varian Medical Systems, Inc. | Modular cooling unit for x-ray device |
| US7280638B1 (en) * | 2006-05-09 | 2007-10-09 | General Electric | Systems, methods and apparatus for X-ray tube housing |
| JP5288874B2 (ja) * | 2008-05-02 | 2013-09-11 | 株式会社 システムスクエア | 異物検査装置 |
| JP5364302B2 (ja) * | 2008-06-17 | 2013-12-11 | アンリツ産機システム株式会社 | Ｘ線異物検出装置 |
| JP5455880B2 (ja) * | 2010-12-10 | 2014-03-26 | キヤノン株式会社 | 放射線発生管、放射線発生装置ならびに放射線撮影装置 |
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-
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Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN2426273Y (zh) * | 2000-06-05 | 2001-04-11 | 李文钜 | 珍珠贝珠核检测装置 |
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