CN104374312B - 一种电力变压器绕组变形的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电力变压器绕组变形的检测方法，包括以下步骤：获取短路阻抗相对变化率，幅频曲线的整体相关系数，低、中、高频段的幅频曲线，各个频段幅频曲线的局部相关系数，电压比偏差，电容相对变化率。根据短路阻抗相对变化率与幅频曲线的整体相关系数获取发生形变的绕组及相别结果；根据低频段幅频曲线相关系数与电压比偏差，获取匝间或饼间短路检测结果；根据中频段幅频曲线相关系数与绕组间电容相对变化率，获取局部变形结果；根据高频段幅频曲线相关系数与绕组对地电容相对变化率，获取绕组线圈整***移或引线位移变形检测结果；将以上结果进行逻辑处理获取综合检测结果。本发明极大的提高了电力变压器绕组变形检测结果的可靠性。

Description

一种电力变压器绕组变形的检测方法

技术领域

本发明属于变压器技术领域，更具体地，涉及电力变压器绕组变形的分析方法。

背景技术

随着电力***装机容量日益增长，***内的短路容量和短路电流也随之增大，***中运行的电力变压器难免发生近距离出口的各类短路事故。电力变压器遭受短路冲击时，绕组内短路电流产生的强大动力将使绕组绝缘和机械性能受到不同程度的损坏，严重时可损毁变压器。变压器近距离出口短路会引发绕组变形、绝缘损坏、绕组烧毁。短路事故一般会造成变压器掉闸，退出运行，给电网造成较大的损失。近年来，变压器近区或出口短路故障的发生，严重影响了电力***的安全稳定运行。

目前，国内外比较成熟的检测绕组变形的方法有频响分析法、短路阻抗法、绕组电容法等。频响分析法目前已在国内外变压器运行和生产部门广泛应用，并取得成效。频率响应法判断绕组变形灵敏度高，能反映出整体电感影响不大的变形。但其测试结果往往会受到各种干扰因素的影响，在现场使用时对环境因素的要求较高。该方法目前尚未形成明确的判据，容易造成误判断，需要配合常规电气实验或吊罩检查。

单一绕组电容法的特点在于操作方便，但绕组电容法的灵敏度不高，且不能有效反映绕组局部轻微变形，只有当绕组发生严重变形时，才能较为准确的判断，单一采用绕组电容法，误判率较高，有时候能达到60％以上，测试结果只能提供参考意见。

单一短路阻抗法的特点在于实验结果主要反映绕组的连通及匝间饼间短路情况，但不能直接确定绕组变形情况，需要与其他方法配合才能比较准确的确定绕组的变形情况，因此，单一使用短路阻抗法进行绕组形变的判断，准确性较低，在现场试验中较少使用，具有很大的局限性。

电压比测试作为一种新的变压器绕组形变测试辅助方法，国内部分地区已经开始使用，其方法简单快捷，但是灵敏度很低。单一采用电压比测试来判断绕组形变的精确度很差，判断成功率只有30％～45％左右。因此，单一采用电压比测试法判断绕组变形并未得到大面积推广。

目前，国内多采用单一的试验方法作为绕组形变的判断依据，试验过程受主客观因素影响较大，灵敏度较低，误判率较高，并不能有效的反映出绕组发生形变的具体情况。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种电力变压器绕组变形的检测方法，解决了现有检测方法准确性较低的问题，提高了变压器绕组变形分析诊断的准确性。

为实现上述目的，本发明提供了一种电力变压器绕组变形的检测方法，在现有技术的基础上，综合短路阻抗法、频率响应法、电压比测试法、绕组电容法等电气检测方法，将绕组形变分为形变位置和形变类型两大部分进行分析，具体包括以下步骤：

步骤1：采用低电压短路阻抗法获取绕阻的短路阻抗，根据短路阻抗获取短路阻抗相对变化率；采用频率响应法获取绕阻幅频响应曲线的整体相关系数；采用频率响应法获取绕阻低、中、高频率段的幅频响应曲线波峰波谷变化，根据幅频响应曲线波峰波谷变化获取低、中、高频段幅频响应曲线的局部相关系数；采用电压比测试法获取绕阻变压比，获取电压比偏差；采用绕组电容法，分别获取绕组间、绕组对地的电容值，对比初始值，分别获取相对变化率；

步骤2：根据短路阻抗相对变化率和幅频响应曲线的整体相关系数，获取绕组形变程度检测结果；

步骤3：根据低频段幅频曲线的相关系数和电压比偏差，获取匝间或饼间短路检测结果；

步骤4：根据中频段幅频曲线的相关系数和绕组间电容相对变化率，获取绕组扭曲或鼓包局部变形检测结果；

步骤5：根据高频段幅频曲线的相关系数和绕组对地电容相对变化率，获取绕组线圈整***移或引线位移检测结果；

步骤6：将所述绕组形变程度检测结果、匝间或饼间短路检测结果、局部变形检测结果和绕组线圈整***移或引线位移形变检测结果进行逻辑或操作，获取变压器绕组形变综合检测结果，指示形变发生部位，形变的类型，形变的程度。

其中，低电压短路阻抗法是指：对电力变压器进行低电压短路阻抗测试,将测试结果与铭牌值或出厂值进行比较，以判断严重故障短路电流或者是因运输和安装所造成的绕组有无位移的检测分析方法。

频率响应法是指：检测变压器各个绕组的幅频响应特性，并对检测结果进行纵向或横向比较，根据幅频响应特性的差异，以判断变压器可能发生的绕组变形的试验检测分析方法。

电压比测试法是指：测试变压器各个绕组之间的电压，并与出厂值进行比较，以判断变压器绕组是否发生相间或匝间短路，进而引发绕组变形的检测分析方法。

绕组电容法是指：测量变压器各个绕组之间的电容及绕组对地电容，并与铭牌值进行比较，以判断变压器绕组是否发生位移等形变的检测分析方法。

更进一步地，步骤1中所述获取短路阻抗变化率的具体步骤如下：

测出高压绕组与中压绕组间的短路阻抗Z_H-M、高压绕组与低压绕组间的短路阻抗Z_H-L、中压绕组与低压绕组间的短路阻抗Z_M-L；根据公式获取短路阻抗相对变化率A₀；其中，Z₀表示短路阻抗初始值；Z₁为Z_H-M或Z_H-L或Z_M-L。

更进一步地，步骤1所述的整体相关系数获取过程为：根据标准DLT911-2004《电力变压器绕组变形的频率响应分析法》横向比较法，测得低压、中压、高压绕组的幅频响应曲线，然后分别计算同一绕组不同曲线的相关系数，用B₁表示。

更进一步地，步骤1所述的低、中、高频段幅频曲线的局部相关系数，根据标准DLT911-2004《电力变压器绕组变形的频率响应分析法》横向比较法，测得低压、中压、高压绕组的幅频响应曲线，获取幅频响应曲线波峰波谷位置变化信息，按照1kHz～100kHz属于低频段，100kHz～600kHz属于中频段，>600kHz属于高频段划分区间，并分别求出各个区间的曲线相关系数，用B₂₁、B₂₂、B₂₃表示。

更进一步地，步骤1中所述的电压比偏差的获取步骤具体如下：根据不同的分接位置，分别测量高压对中压、中压对低压和高压对低压的电压，用m_i表示；分接位置处的起始电压用m₀表示；电压比偏差用C₀表示，根据公式获取C₀；

其中，m₀为m_H-M或m_M-L或m_H-L；m_H-M为分接位置处高压对中压初始电压，m_H-L为分接位置处中压对低压初始电压，m_H-L为分接位置处高压对低压的初始电压；

m_i为m_iH-M或m_iM-L或m_iH-L；m_iH-M为分接位置处高压对中压的电压，m_iM-L为分接位置处中压对低压的电压，m_iH-L为分接位置处高压对低压的电压。

更进一步地，步骤1中所述获取相对变化率的具体步骤如下：获取高压绕组与中压绕组间的电容C″_H-M、中压绕组与低压绕组间的电容C″_M-L、高压绕组与低压绕组间的电容C″_H-L；获取高压绕组对地电容C'_H、中压绕组对地电容C'_M、低压绕组对地电容C'_L；

根据公式获取绕组间电容相对变化率D₁：

根据公式获取绕组对地电容相对变化率D₂：

其中：C″₀为绕组间电容初始值、C'₀为对地电容初始值；C″为C″_H-M或C″_M-L或C″_H-L；C'为C'_H或C'_M或C'_L。

更进一步地，步骤2所述获取绕组形变程度检测结果的步骤具体如下：

将相对变化率A₀分为四个等级，根据下表获取第一初级评测结果E₁；

将整体相关系数B₁分为四个等级，根据下表获取第二初级评测结果E₂；

将初级评测结果与相对影响因子相乘，得到次级评测结果，求和得到结果AB，表示如下：

AB＝F₁+F₂＝E₁×p₁+E₂×q₁

其中：p₁为短路阻抗法检测结果相对影响因子，q₁为频率响应整体相关系数法检测结果相对影响因子；F₁、F₂为次级评测结果；

将每一相每个绕组的结果AB按照下表进行判断，获取绕组形变程度检测结果；

更进一步地，步骤3所述的匝间或饼间短路评测结果BC的获取步骤具体如下：将低频段幅频曲线相关系数B₂₁分为四个等级，按照下表确定第三初级评测结果E₃；

将电压比偏差C₀按照下式进行整理，得到反应各个绕组电压比偏差相对量

其中，为或或C_0H-M为高压与中压间绕组电压比偏差，C_0H-L为高压与低压间绕组电压比偏差，C_0M-L为中压与低压间绕组电压比偏差；

第四初级评测结果E₄按照下表取值：

将初级评测结果与相对影响因子相乘，得到次级评测结果，求和得到结果BC，表示如下：

BC＝F₃+F₄＝E₃×p₂+E₄×q₂

其中，p₂为频率响应低频段相关系数法检测结果相对影响因子，q₂为电压比测试法检测结果相对影响因子；F₃、F₄为次级评测结果；

将每一相每个绕组的结果BC按照下表进行判断，得出匝间或饼间短路等形变检测结果；

更进一步地，步骤4所述的绕组扭曲或鼓包等局部变形评测结果BD₁获取步骤具体如下：

将中频段幅频曲线相关系数B₂₂分为三个等级，按照下表确定第五初级评测结果E₅；

将绕组间电容相对变化率D₁按照下表确定第六初级评测结果E₆；

将初级评测结果与相对影响因子相乘，得到次级评测结果，求和得到结果BD₁，表示如下：

BD₁＝F₅+F₆＝E₅×p₃+E₆×q₃

其中，p₃为频率响应中频段相关系数检测结果相对影响因子，q₃为绕阻间电容法检测结果相对影响因子；F₅、F₆为次级评测结果；

将每一相每个绕组的结果BD₁按照下表进行判断，得出绕组扭曲或鼓包等局部变形的绕组形变类型与程度检测结果；

更进一步地，步骤5所述的绕组线圈整***移或引线位移变形评测结果BD₂获取步骤具体如下：

将高频段幅频曲线相关系数B₂₃分为三个等级，按照下表确定第七初级评测结果E₇；

将绕组对地电容相对变化率D₂按照下表确定第八初级评测结果E₈；

将初级评测结果与相对影响因子相乘，得到次级评测结果，求和得到结果BD₂，表示如下：

BD₂＝F₇+F₈＝E₇×p₄+E₈×q₄

其中，p₄为频率响应高频段相关系数法检测结果相对影响因子，q₄为绕组电容对地电容法检测结果相对影响因子；F₇、F₈为次级评测结果；

将每一相每个绕组的结果BD₂按照下表进行判断，得出绕组线圈整***移或引线位移等形变类型与程度检测结果；

步骤2、3、4、5所述的相对影响因子p_n、q_n具体表示如下：

其中，x_n、y_n表示检测方法的可信度；

n可取1、2、3、4，且0≤x_n≤1,0≤y_n≤1,0≤p_n≤1,0≤q_n≤1。

总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，由于将现有的频率响应法、短路阻抗法、绕组电容法、电压比测试法等4种方法有机的结合在一起，首先采用单一方法获取初步测试结果，然后根据本发明提出的判断标准，对各测试结果进行分析，得到初级检测结果，再结合各种测试方法的相对影响因子，得到不同的形变相别、绕组、类型及严重程度等次级检测结果，最后通过逻辑或操作，获取较准确的变压器绕组变形检测检测结果。因此，能够取得以下有益效果：有效的减少主观因素对试验及检测结果的影响，充分发挥各种试验方法在检测绕组形变时的优势，避免了单一方法在判断绕组形变时的局限，提高了绕组变形检测分析的准确性和可靠性，减少由于误判断带来的人力和物力的浪费，及断电检修造成的经济损失。

附图说明

图1为本发明的综合分析方法的处理示意图；

图2为本发明判断发生形变的绕组及相别结果示意图；

图3为本发明判断绕组匝间或者饼间短路示意图；

图4为本发明判断绕组扭曲或鼓包等局部变形结果示意图；

图5为本发明判断绕组线圈整***移或引线位移变形分析流程示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提供了一种电力变压器绕组变形的检测方法，在现有技术的基础上，综合利用短路阻抗法、电压比测试、绕组电容法、电压比测试，融入工程人员的长期工作经验处理测试结果，对4种检测结果进行分析，对所有检测结果进行逻辑处理，得到综合检测结果。集中各种方法的优点，突出各种方法在检测某一种绕组形变的优势，实现优势最大化，通过多种检测方法获取结果的综合分析，提高了变压器绕组变形分析诊断的准确性和可靠性。

如图1所示为本发明提供的分析方法的处理示意图，包括以下步骤：

步骤1：获取短路阻抗变化率，具体步骤如下：测出高压绕组与中压绕组间的短路阻抗Z_H-M、高压绕组与低压绕组间的短路阻抗Z_H-L、中压绕组与低压绕组间的短路阻抗Z_M-L；

根据公式获取短路阻抗相对变化率A₀；其中，Z₀表示短路阻抗初始值；Z₁为Z_H-M或Z_H-L或Z_M-L。

根据标准DLT911-2004《电力变压器绕组变形的频率响应分析法》横向比较法，测得低压、中压、高压绕组的幅频响应曲线，然后分别计算同一绕组不同曲线的相关系数B₁；

根据标准DLT911-2004《电力变压器绕组变形的频率响应分析法》横向比较法，测得低压、中压、高压绕组的幅频响应曲线，获取幅频响应曲线波峰波谷位置变化信息，按照1kHz～100kHz属于低频段，100kHz～600kHz属于中频段，>600kHz属于高频段划分区间，并分别求出各个区间的曲线相关系数B₂₁、B₂₂、B₂₃；

根据不同的分接位置，分别测量高压对中压、中压对低压和高压对低压的电压m_i；根据公式获取电压比偏差C₀；

其中，m₀表示分接位置处高压对中压、中压对低压和高压对低压的起始电压。

获取相对变化率，具体步骤如下：测量高压绕组与中压绕组间的电容C″_H-M、中压绕组与低压绕组间的电容C″_M-L、高压绕组与低压绕组间的电容C″_H-L；测量高压绕组对地电容C'_H、中压绕组对地电容C'_M、低压绕组对地电容C'_L；

根据公式获取绕组间电容相对变化率D₁；

根据公式获取绕组对地电容相对变化率D₂；

其中：C″₀为绕组间电容初始值、C'₀为对地电容初始值；C″为C″_H-M或C″_M-L或C″_H-L；C'为C'_H或C'_M或C'_L。

步骤2：求取发生形变的绕组及相别评测结果AB，获取发生形变的绕组及相别等形变检测结论G₁；基本过程如图2所示，具体如下：根据短路阻抗相对变化率A₀和幅频曲线的整体相关系数B₁，分别获取初级评测结果E₁、E₂，具体如下：

将相对变化率A₀分为四个等级，根据下表获取第一初级评测结果E₁：

将整体相关系数B₁分为四个等级，根据下表获取第二初级评测结果E₂；

将初级评测结果与相对影响因子p₁、q₁相乘，得到次级评测结果F₁、F₂，求和得到结果AB，表示如下：

AB＝F₁+F₂＝E₁×p₁+E₂×q₁

将每一相每个绕组的结果AB按照下表进行判断，得出发生形变的绕组及相别等形变检测结论G₁：

步骤3：求取匝间或饼间短路评测结果BC，获取匝间或饼间短路检测结论G₂；基本过程如图3所示，具体如下：

根据低频段幅频曲线的相关系数B₂₁和电压比偏差C₀，分别获取初级评测结果E₃、E₄，具体如下：

将低频段幅频曲线相关系数B₂₁分为四个等级，按照下表确定第三初级评测结果E₃；

将电压比偏差C₀按照下式进行整理，得到反应各个绕组电压比偏差相对量

其中，为或或C_0H-M为高压与中压间绕组电压比偏差、C_0H-L为高压与低压间绕组电压比偏差、C_0M-L为中压与低压间绕组电压比偏差；

第四初级检测结果E₄按照下表取值：

将初级评测结果与相对影响因子p₂、q₂相乘，得到次级评测结果F₃、F₄，求和得到评测结果BC，表示如下：

BC＝F₃+F₄＝E₃×p₂+E₄×q₂

将每一相每个绕组的结果BC按照下表进行判断，得出匝间或饼间短路等形变检测结论G₂：

步骤4：求取绕组扭曲或鼓包等局部变形结果BD₁，获取绕组扭曲或鼓包等局部变形等形变检测结论G₃；基本过程如图4所示，具体如下：根据中频段幅频曲线的相关系数B₂₂和绕组间电容相对变化率D₁，分别获取初级评测结果E₅、E₆，具体如下：

将中频段幅频曲线相关系数B₂₂分为三个等级，按照下表确定第五初级评测结果E₅；

将绕组间电容相对变化率D₁按照下表确定第六初级评测结果E₆；

将初级评测结果与相对影响因子p₃、q₃相乘，得到次级评测结果F₅、F₆，求和得到结果BD₁，表示如下：

BD₁＝F₅+F₆＝E₅×p₃+E₆×q₃

将每一相每个绕组的结果BD₁按照下表进行判断，得出绕组扭曲或鼓包等局部变形检测结论G₃：

步骤5：求取绕组线圈整***移或引线位移变形检测结果BD₂，获取整***移或引线位移分析结论G₄；基本过程如图5所示，具体如下：根据高频段幅频曲线的相关系数B₂₃和绕组对地电容相对变化率D₂，分别获取初级评测结果E₇、E₈，具体如下：

将高频段幅频曲线相关系数B₂₃分为三个等级，按照下表确定第七初级评测结果E₇；

将绕组对地电容相对变化率D₂按照下表确定第八初级评测结果E₈；

将初级评测结果与相对影响因子p₄、q₄相乘，得到次级评测结果F₇、F₈，求和得到结果BD₂，表示如下：

BD₂＝F₇+F₈＝E₇×p₄+E₈×q₄

将每一相每个绕组的结果BD₂按照下表进行判断，得出整***移或引线位移等形变检测结论G₄：

步骤6：将检测结果G₁、G₂、G₃、G₄进行逻辑或操作，得到综合检测结果G。

本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种电力变压器绕组变形的检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

步骤1：采用低电压短路阻抗法获取绕阻的短路阻抗，根据短路阻抗获取短路阻抗相对变化率；

采用频率响应法获取绕阻幅频响应曲线的整体相关系数；

采用频率响应法获取绕阻低、中、高频率段的幅频响应曲线波峰波谷变化，根据幅频响应曲线波峰波谷变化获取低、中、高频段幅频响应曲线的局部相关系数；

采用电压比测试法获取绕阻变压比，以及电压比偏差；

采用绕组电容法，获取绕组间的电容值、绕组对地的电容值以及绕组间电容相对变化率、绕组对地电容相对变化率；

步骤2：根据短路阻抗相对变化率和幅频响应曲线的整体相关系数，获取绕组形变程度检测结果；

步骤3：根据低频段幅频曲线的相关系数和电压比偏差，获取匝间或饼间短路检测结果；

步骤4：根据中频段幅频曲线的相关系数和绕组间电容相对变化率，获取绕组扭曲或鼓包局部变形检测结果；

步骤5：根据高频段幅频曲线的相关系数和绕组对地电容相对变化率，获取绕组线圈整***移或引线位移形变检测结果；

步骤6：将所述绕组形变程度检测结果、匝间或饼间短路检测结果、局部变形检测结果和绕组线圈整***移或引线位移形变检测结果进行逻辑或操作，获得用于指示形变发生部位，形变类型和形变程度的变压器绕组形变综合检测结果；

步骤2所述获取绕组形变程度检测结果的具体步骤如下：

将短路阻抗相对变化率范围预设为4个等级，根据短路阻抗相对变化率的值所在等级获取第一初级评测结果E₁；将整体相关系数分为3个等级，根据整体相关系数值所在等级获取第二初级评测结果E₂；

根据第一初级评测结果E₁、第二初级评测结果E₂和公式AB＝E₁×p₁+E₂×q₁，获取发生形变的绕组及相别评测结果AB；

将绕组及相别评测结果预设为与形变程度对应的4个等级，根据每一相每个绕组AB值所在等级进行形变判断，获取绕组形变程度检测结果；

其中，p₁为短路阻抗法检测结果相对影响因子，q₁为频率响应整体相关系数法检测结果相对影响因子；

步骤3中所述获取匝间或饼间短路检测结果的具体步骤如下：

将低频段幅频曲线相关系数分为4个等级，根据低频段幅频曲线相关系数值所在等级确定第三初级评测结果E₃；

根据以下公式获取各个绕组电压比偏差相对量为或或

将划分为3个等级，根据值所在的区间范围区间确定第四初级检测结果E₄；

根据第三初级评测结果E₃、第四初级评测结果E₄和公式BC＝E₃×p₂+E₄×q₂，获得匝间或饼间短路评测结果BC；

将匝间或饼间短路评测结果预设为与绕组形变类型及形变程度对应的4个等级，根据每一相每个绕组BC值所在等级进行判断，得到匝间或饼间短路检测结果；

其中，C_0H-M为高压与中压间绕组电压比偏差，C_0H-L为高压与低压间绕组电压比偏差，C_0M-L为中压与低压间绕组电压比偏差；p₂为频率响应低频段相关系数法检测结果相对影响因子，q₂为电压比测试法检测结果相对影响因子；

步骤4中所述获取绕组扭曲或鼓包等局部变形检测结果的具体步骤如下：

将中频段幅频曲线相关系数分为3个等级，根据中频段幅频曲线相关系数值所在等级确定第五初级评测结果E₅；将绕组间电容相对变化率D₁分为4个等级，根据D₁值所在等级获取第六初级评测结果E₆；

根据第五初级评测结果E₅、第六初级评测结果E₆和公式BD₁＝E₅×p₃+E₆×q₃，获取局部形变评测结果BD₁；

将局部形变评测结果预设为与绕组形变类型及形变程度对应的4个等级，根据每一相每个绕组BD₁值所在等级进行判断，得到局部变形检测结果；

其中，p₃为频率响应中频段相关系数检测结果相对影响因子，q₃为绕阻间电容法检测结果相对影响因子；

步骤5中所述的获取绕组线圈整***移或引线位移形变类型及程度检测结果具体步骤如下：

将高频段幅频曲线相关系数分为3个等级，根据高频段幅频曲线相关系数值所在等级确定第七初级评测结果E₇；将绕组对地电容相对变化率D₂分为4个等级，根据D₂值对应的等级确定第八初级评测结果E₈；

根据第七初级评测结果E₇、第八初级评测结果E₈和公式BD₂＝E₇×p₄+E₈×q₄，获取绕组线圈整***移或引线位移形变评测结果BD₂；

将绕组线圈整***移或引线位移形变评测结果预设为与绕组形变类型及程度对应的4个等级，根据每一相每个绕组BD₂值所在等级进行判断，得到绕组线圈整***移或引线位移形变检测结果；

其中，p₄为频率响应高频段相关系数法检测结果相对影响因子，q₄为绕组电容对地电容法检测结果相对影响因子。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，步骤1中，根据公式获得所述短路阻抗相对变化率A₀；

其中Z₀为短路阻抗初始值；Z₁为Z_H-M或Z_H-L或Z_M-L；Z_H-M为高压绕组与中压绕组间的短路阻抗，Z_H-L为高压绕组与低压绕组间的短路阻抗，Z_M-L为中压绕组与低压绕组间的短路阻抗。

3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，步骤1中，根据公式获得电压比偏差C₀；

其中，m₀为m_H-M或m_M-L或m_H-L；m_H-M为分接位置处高压对中压初始电压，m_H-L为分接位置处中压对低压初始电压，m_H-L为分接位置处高压对低压的初始电压；

m_i为m_iH-M或m_iM-L或m_iH-L；m_iH-M为分接位置处高压对中压的电压，m_iM-L为分接位置处中压对低压的电压，m_iH-L为分接位置处高压对低压的电压。

4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，步骤1中，根据公式获取绕组间电容相对变化率D₁，并根据公式获取绕组对地电容相对变化率D₂；

其中，C″₀为绕组间电容初始值、C′₀为对地电容初始值；C″为C″_H-M或C″_M-L或C″_H-L；C″_H-M为高压绕组与中压绕组间的电容，C″_M-L为中压绕组与低压绕组间的电容，C″_H-L为高压绕组与低压绕组间的电容；

C′为C′_H或C′_M或C′_L；C′_H为高压绕组对地电容，C′_M为中压绕组对地电容，C′_L为低压绕组对地电容。