CN104346207A - 仿真器 - Google Patents

仿真器 Download PDF

Info

Publication number
CN104346207A
CN104346207A CN201310330029.1A CN201310330029A CN104346207A CN 104346207 A CN104346207 A CN 104346207A CN 201310330029 A CN201310330029 A CN 201310330029A CN 104346207 A CN104346207 A CN 104346207A
Authority
CN
China
Prior art keywords
user program
administration module
address bus
normal data
sram
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201310330029.1A
Other languages
English (en)
Inventor
许国泰
金雁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Huahong Integrated Circuit Co Ltd
Original Assignee
Shanghai Huahong Integrated Circuit Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Huahong Integrated Circuit Co Ltd filed Critical Shanghai Huahong Integrated Circuit Co Ltd
Priority to CN201310330029.1A priority Critical patent/CN104346207A/zh
Publication of CN104346207A publication Critical patent/CN104346207A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本发明公开了一种仿真器,包括:一仿真芯片,一管理模块,一非易失性存储器,一SRAM存储器;所述仿真器上电后,管理模块通过通信接口与集成开发环境软件建立通信连接,并能判断是否建立了通信连接;所述管理模块通过通信接口从集成开发环境软件接收用户程序,并下载到非易失性存储器和SRAM存储器中;所述管理模块从非易失性存储器中读取其中存放的用户程序,并下载到SRAM存储器中;所述仿真芯片从管理模块读取用户程序并执行;管理模块从SRAM存储器读取用户程序并送给仿真芯片。本发明即可用于联机的用户程序下载和调试,也可用于脱机的***测试或演示,拓宽了仿真器的应用范围,方便了测试、演示工作的开展,有助于提高工作效率。

Description

仿真器
技术领域
本发明涉及一种处理器芯片仿真器。
背景技术
处理器芯片内有用户开发的用户程序,在用户程序的编写和调试中,所使用的工具一般是处理器芯片仿真器。仿真器内使用包含产品处理器芯片各项功能的仿真芯片,用于模拟产品处理器芯片的工作行为,仿真芯片与仿真器其他部件(存放用户程序的存储器、用户电脑上的集成开发环境软件,接收用户代码并下载到仿真器存储器的下载模块等)配合实现用户程序的仿真运行和各项调试功能。
由于芯片厂商的同一系列芯片产品的存储器特性和大小可能有所不同,同时考虑使用仿真器调试用户程序时主要关注功能调试,不关注存放用户程序的存储器的性能,现有的针对同一系列芯片的仿真器通常是同一种仿真器***,采用SRAM(Static Random Access Memory,静态随机存取存储器)来等效替代产品芯片中各种特性的存储器[包括EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,电可擦可编程只读存储器)、FLASH(闪速存储器)等非易失性存储器],在读取、执行用户程序时,功能上是等效的。由于SRAM的读写寿命一般都远大于非易失性存储器,鉴于仿真器经常要下载和读取用户程序的特点,在仿真器中使用SRAM等效替代产品芯片的非易失性存储器可以延长仿真器的使用寿命,同时SRAM读写速度一般要高于非易失性存储器,也有助于提高调试效率(程序下载速度、执行速度等),因此,现有仿真器中以SRAM等效替代产品芯片的非易失性存储器的做法是合理的。
但是,SRAM作为易失性存储器具有掉电后数据丢失的特点,每次仿真器上电后要执行用户程序前,由于上次仿真器下电后SRAM中存放的用户程序已丢失,必须通过用户电脑的集成开发环境软件重新下载用户程序到仿真器的SRAM中。这样,上述结构的现有仿真器就无法支持脱机工作,用于脱机的***测试或演示,特别是在用户程序已经调试基本完成开始测试的阶段。即使用户程序没有更改,如果上述结构的现有仿真器下过电,如需使用同样的用户程序重新开始工作仍需上电后再次连接用户电脑的集成开发环境软件下载用户程序,十分的不方便。虽然,在仿真器上为SRAM增加电池的方案,在仿真器下电后由电池为SRAM供电以保持其中存放的用户程序也是一种解决上述问题的方法,但是,电池寿命有限、体积大、不环保,也存在种种弊端。
发明内容
本发明要解决的技术问题提供一种仿真器,既支持联机工作,也支持脱机工作。
为解决上述技术问题,本发明的仿真器,包括:
一仿真芯片;
一管理模块,通过第一标准数据/地址总线与所述仿真芯片相连接;
一非易失性存储器,通过第二标准数据/地址总线与所述管理模块相连接;
一SRAM存储器,通过第三标准数据/地址总线与所述管理模块相连接;
所述管理模块通过通信通道与用户电脑上的集成开发环境软件建立通信连接;
所述仿真器上电后,管理模块主动通过通信接口与用户电脑上的集成开发环境软件建立通信连接,并能判断是否建立了与集成开发环境软件的通信连接;所述管理模块通过通信接口从集成开发环境软件接收用户程序,并通过与非易失性存储器连接的第二标准数据/地址总线下载到非易失性存储器中,通过与SRAM存储器连接的第三标准数据/地址总线下载到SRAM存储器中;所述管理模块通过与非易失性存储器连接的第二标准数据/地址总线从非易失性存储器中读取其中存放的用户程序,并通过与SRAM存储器连接的第二标准数据/地址总线下载到SRAM存储器中;
所述仿真芯片通过与管理模块连接的第三标准数据/地址总线从管理模块读取用户程序并执行;管理模块通过与SRAM存储器连接的第三标准数据/地址总线从SRAM存储器读取用户程序并通过与仿真芯片连接的第一标准数据/地址总线送给仿真芯片(供仿真芯片读取)。
采用本发明的仿真器能保持现有仿真器特点,支持联机工作,可配合用户电脑上的集成开发环境软件下载和调试用户程序,且仍具有通用性和长寿命的特点;同时也支持脱机工作(即可单机工作),仿真器下电后重新上电,继续自动使用之前的用户程序重新开始工作。本发明的仿真器既可用于联机的用户程序下载和调试,也可用于脱机的***测试或演示,拓宽了仿真器的应用范围,方便了测试、演示工作的开展,有助于提高工作效率。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
附图是所述仿真器的结构示意图。
具体实施方式
如图所示,所述仿真器1包括仿真芯片2,SRAM存储器5,非易失性存储器4和管理模块3。管理模块3有三条标准数据/地址总线7、9和10,第一标准数据/地址总线7与仿真芯片2连接,第二标准数据/地址总线9与非易失性存储器4连接,第三标准数据/地址总线10与SRAM存储器5连接。所述管理模块3通过通信接口8与安装在用户电脑中的集成开发环境软件6建立通信连接。管理模块3可以使用FPGA(Field Programmable GateArray,现场可编程门阵列)实现,非易失性存储器4可采用EEPROM、FLASH等非易失性存储器实现,其非易失性特性决定了其中存放的用户程序在仿真器1下电后仍能长期保存,通信接口可以采用USB接口等接口。
仿真器1上电后,管理模块3通过通信接口8与用户电脑中的集成开发环境软件6建立通信连接。管理模块3判断是否建立了与集成开发环境软件6的通信连接。如果建立了通信连接,管理模块3通过通信接口8从集成开发环境软件6接收用户程序,并通过与非易失性存储器4连接的第二标准数据/地址总线9下载到非易失性存储器4中,通过与SRAM存储器5连接的第三标准数据/地址总线10下载到SRAM存储器5中。如果没有建立通信连接,所述管理模块3通过与非易失性存储器4连接的第二标准数据/地址总线9从非易失性存储器4中读取其中存放的用户程序,并通过与SRAM存储器5连接的第三标准数据/地址总线10下载到SRAM存储器5中。这样,如果联机状态,用户程序就会被下载到SRAM存储器5中,同时也被下载和保存在非易失性存储器4中;如果是单机状态,非易失性存储器4中保存的上一次联机时下载的用户程序会自动下载到SRAM存储器5中。
仿真器1工作时,仿真芯片2通过与管理模块3连接的第一标准数据/地址总线7从管理模块3读取用户程序并执行,管理模块3通过与SRAM存储器5连接的第三标准数据/地址总线10从SRAM存储器5读取用户程序,并通过与仿真芯片2连接的第一标准数据/地址总线7送给仿真芯片2(供仿真芯片2读取)。此时,管理模块3相当于仿真芯片2与SRAM存储器5之间的透明通道,仿真芯片2读取并执行用户程序(联机时从集成开发环境软件6下载的用户程序,或单机时从非易失性存储器4加载的此前仿真器1下电前的用户程序)的状态与产品处理器芯片在功能上是一致的,保证了仿真器可以正常模拟产品芯片执行用户程序的功能。
如上所述,本发明的仿真器1既支持联机工作,可配合用户电脑的集成开发环境软件6下载和调试用户程序(SRAM存储器5中),仿真器1由于在模拟产品处理器芯片工作时仍使用的是具有通用性和长使用寿命的SRAM存储器5,保证了仿真器1整体仍具有通用性和长寿命;又同时支持了脱机工作,仿真器1下电后重新上电,在没有连接集成开发环境6的情况下,自动使用之前仿真器1下电前的用户程序重新开始工作,可以方便地用于脱机的***测试或演示。
以上通过具体实施方式对本发明进行了详细的说明,但这些并非构成对本发明的限制。在不脱离本发明原理的情况下,本领域的技术人员还可做出许多变形和改进,这些也应视为本发明的保护范围。

Claims (1)

1.一种仿真器,其特征在于,包括:
一仿真芯片;
一管理模块,通过第一标准数据/地址总线与所述仿真芯片相连接;
一非易失性存储器,通过第二标准数据/地址总线与所述管理模块相连接;
一SRAM存储器,通过第三标准数据/地址总线与所述管理模块相连接;
所述管理模块通过通信通道与用户电脑上的集成开发环境软件建立通信连接;
所述仿真器上电后,管理模块主动通过通信接口与用户电脑上的集成开发环境软件建立通信连接,并能判断是否建立了与集成开发环境软件的通信连接;所述管理模块通过通信接口从集成开发环境软件接收用户程序,并通过与非易失性存储器连接的第二标准数据/地址总线下载到非易失性存储器中,通过与SRAM存储器连接的第三标准数据/地址总线下载到SRAM存储器中;所述管理模块通过与非易失性存储器连接的第二标准数据/地址总线从非易失性存储器中读取其中存放的用户程序,并通过与SRAM存储器连接的第二标准数据/地址总线下载到SRAM存储器中;
所述仿真芯片通过与管理模块连接的第三标准数据/地址总线从管理模块读取用户程序并执行;管理模块通过与SRAM存储器连接的第三标准数据/地址总线从SRAM存储器读取用户程序并通过与仿真芯片连接的第一标准数据/地址总线送给仿真芯片。
CN201310330029.1A 2013-07-31 2013-07-31 仿真器 Pending CN104346207A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310330029.1A CN104346207A (zh) 2013-07-31 2013-07-31 仿真器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310330029.1A CN104346207A (zh) 2013-07-31 2013-07-31 仿真器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN104346207A true CN104346207A (zh) 2015-02-11

Family

ID=52501893

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310330029.1A Pending CN104346207A (zh) 2013-07-31 2013-07-31 仿真器

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104346207A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106055382A (zh) * 2016-05-26 2016-10-26 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种支持nvm掉电保护功能测试的仿真器
CN106485020A (zh) * 2016-10-31 2017-03-08 上海华虹集成电路有限责任公司 带有非易失性存储器的处理器芯片仿真器
CN107807879A (zh) * 2017-09-26 2018-03-16 上海市信息网络有限公司 显示代码执行覆盖率的处理器芯片仿真器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1632759A (zh) * 2003-12-24 2005-06-29 上海华虹集成电路有限责任公司 可灵活实现片内eeprom仿真功能的方法
CN101211308A (zh) * 2006-12-27 2008-07-02 无锡华润矽科微电子有限公司 一种微控制器仿真***
CN101329647A (zh) * 2007-06-20 2008-12-24 上海华虹集成电路有限责任公司 一种仿真片内flash的仿真器
CN102096725A (zh) * 2009-12-11 2011-06-15 无锡华润矽科微电子有限公司 一种基于fpga的仿真器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1632759A (zh) * 2003-12-24 2005-06-29 上海华虹集成电路有限责任公司 可灵活实现片内eeprom仿真功能的方法
CN101211308A (zh) * 2006-12-27 2008-07-02 无锡华润矽科微电子有限公司 一种微控制器仿真***
CN101329647A (zh) * 2007-06-20 2008-12-24 上海华虹集成电路有限责任公司 一种仿真片内flash的仿真器
CN102096725A (zh) * 2009-12-11 2011-06-15 无锡华润矽科微电子有限公司 一种基于fpga的仿真器

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106055382A (zh) * 2016-05-26 2016-10-26 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种支持nvm掉电保护功能测试的仿真器
CN106055382B (zh) * 2016-05-26 2019-03-08 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种支持nvm掉电保护功能测试的仿真器
CN106485020A (zh) * 2016-10-31 2017-03-08 上海华虹集成电路有限责任公司 带有非易失性存储器的处理器芯片仿真器
CN106485020B (zh) * 2016-10-31 2019-10-01 上海华虹集成电路有限责任公司 带有非易失性存储器的处理器芯片仿真器
CN107807879A (zh) * 2017-09-26 2018-03-16 上海市信息网络有限公司 显示代码执行覆盖率的处理器芯片仿真器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN202956753U (zh) 一种嵌入式***中闪存芯片的编程装置及***
CN104461859A (zh) 一种支持nvm软断点调试的仿真器和方法
CN102231128A (zh) 在线调试方法及调试主机
CN104346207A (zh) 仿真器
CN102866948A (zh) 一种嵌入式基础软件测试平台及其测试方法
CN109918254A (zh) 一种AEP内存Error Detection功能测试方法、***、终端及存储介质
CN106485020B (zh) 带有非易失性存储器的处理器芯片仿真器
CN113886153A (zh) 一种基于容器的网卡压力测试方法及装置
CN205983448U (zh) 用于固态硬盘的控制芯片及固态硬盘
CN108109670A (zh) 一种基于Matlab的Nand Flash测试***及方法
CN106610862B (zh) 支持eeprom掉电测试的仿真器
CN107220153A (zh) 一种基于uefi的计算机内存转接卡测试方法和装置
CN105573924B (zh) 仿真***
CN112885403B (zh) 一种Flash控制器的功能测试方法、装置及设备
CN103678751B (zh) 处理器芯片仿真调试***
CN206058176U (zh) 一种车用BootLoader调试设备及试验用汽车
CN102750167B (zh) 应用程序启动方法、装置和计算机***
CN109086214A (zh) 一种数据库写性能测试方法、装置、终端及存储介质
CN103678073A (zh) 仿真***
US10585615B1 (en) Virtual flash system
CN102761653A (zh) 手持终端设备软件在线升级的方法
CN104346208B (zh) 仿真器***及仿真芯片
CN207281743U (zh) 带有非易失性存储器的处理器芯片仿真器
CN108664399A (zh) 处理器芯片仿真器及掉电测试方法
CN107577520B (zh) 带有非易失性存储器的处理器芯片仿真器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20150211