CN104316191B - 色度测试方法和色度测试设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种色度测试方法和色度测试设备。所述色度测试方法包括:S1、测量待测试产品的像素的尺寸;S2、根据步骤S1中测量得到的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径;S3、根据步骤S2中确定的孔径选择相应的透光孔对所述待测试产品进行色度测试。本发明在进行色度测试之前首先对待测试产品的像素的尺寸进行实时测量,然后根据实测信息选择合适的透光孔进行测试,减少了因透光孔选择不恰当而导致的时间的浪费,在保证测试准确性的同时提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种色度测试方法和色度测试设备。
背景技术
显示产品在制造过程中,通常需要对彩膜的色坐标进行测试。现有色坐标测试技术重点关注的是如何收集到准确的光线,以及如何减小测试光斑的直径,以满足窄线宽像素的测试,然而测试光斑越小,测试时间越长,如果用直径2μm的光斑去测试线宽50μm的像素的色度,会造成时间的浪费。
色度测试设备中配备有透光孔,光束通过透光孔形成上述光斑。对于同一束光,通过改变透光孔的大小来改变测试光斑的大小。在现有技术中,往往根据产品包装上描述的相关信息来准备相应的测试用透光孔,然而在实际测试过程中,可能会出现选择不恰当,甚至错误的情况,既不能保证测试数据的准确性,又浪费了时间。
发明内容
本发明的目的在于提供一种色度测试方法和色度测试设备,在保证测试准确性的同时,提高测试效率。
为解决上述技术问题,作为本发明的第一个方面,提供一种利用色度测试设备进行色度测试的色度测试方法,所述色度测试设备包括色谱分析装置和测试头,所述测试头包括透光孔,所述方法包括以下步骤:
S1、测量待测试产品的像素的尺寸;
S2、根据步骤S1中测量得到的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径;
S3、根据步骤S2中确定的孔径选择相应的透光孔对所述待测试产品进行色度测试。
优选地,步骤S3包括:
S31、判断当前使用的透光孔的孔径是否满足测试要求;
S32、如果当前使用的透光孔的孔径满足测试要求,则对所述待测试产品进行测试;
S33、如果当前使用的透光孔的孔径不满足测试要求,则根据步骤S2中确定的孔径更换相应的透光孔进行测试;
其中,步骤S31包括:
判断当前使用的透光孔的孔径与步骤S2中确定的孔径是否一致。
优选地,步骤S1包括:
S11、获取待测试产品的像素的图片;
S12、根据步骤S11中获取的像素的图片计算出该像素的灰度值;
S13、根据步骤S12中计算出的灰度值计算出该像素的尺寸。
优选地,所述像素包括多个亚像素,所述尺寸包括所述像素的每个亚像素的宽度。
优选地,步骤S2还包括:
S21a、将待测试产品的像素的尺寸与预存的样本像素的尺寸进行对比;
S22a、根据对比结果确定用于进行测试的透光孔的孔径。
优选地,在步骤S22a中,当所述亚像素的宽度大于25μm时,选择孔径为20μm的透光孔;当所述亚像素的宽度小于25μm时,选择孔径为10μm的透光孔。
作为本发明的第二个方面,还提供一种色度测试设备,包括色谱分析装置和测试头,所述色谱分析装置包括:
测量模块,用于测量待测试产品的像素的尺寸;
控制模块,与所述测量模块相连,用于根据测量得到的所述待测试产品的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径;
所述测试头包括:
透光孔切换器,所述透光孔切换器上设置有多个具有不同孔径的透光孔,所述透光孔切换器与所述控制模块相连,用于根据所述控制模块确定的孔径选取相应的透光孔进行测试。
优选地,所述控制模块能够判断当前使用的透光孔的孔径是否满足测试要求,如果当前使用的透光孔的孔径不满足测试要求,所述控制模块控制所述透光孔切换器切换至相应的透光孔进行测试。
优选地,所述测量模块包括图像采集子模块,用于获取待测试产品的像素的图片。
优选地,所述图像采集子模块包括电荷耦合元件。
优选地,所述测量模块还包括图像处理子模块,所述图像处理子模块能够根据所述待测试产品的像素的图片计算出该像素的灰度值,并根据该像素的灰度值计算出该像素的尺寸。
优选地,所述色谱分析装置还包括对比模块,所述对比模块内预存有样本像素的尺寸,所述对比模块与所述测量模块相连,用于将所述待测试产品的像素的尺寸与样本像素的尺寸进行对比,并将对比结果反馈给所述控制模块,所述控制模块根据对比结果来确定用于测试的透光孔的孔径。
本发明在进行色度测试之前首先对待测试产品的像素的尺寸进行实时测量,然后根据实测信息选择合适的透光孔进行测试,减少了因透光孔选择不恰当而导致的时间的浪费,在保证测试准确性的同时提高了测试效率。
附图说明
附图是用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本发明,但并不构成对本发明的限制。
图1是本发明实施例提供的色度测试方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的色度测试设备的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明,并不用于限制本发明。
本发明首先提供一种利用色度测试设备进行色度测试的色度测试方法,该方法尤其适合于测试显示产品的色坐标。
图1是所述方法的流程图,包括以下步骤:
S1、测量待测试产品的像素的尺寸;
S2、根据步骤S1中测量得到的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径;
S3、根据步骤S2中确定的孔径选择相应的透光孔对所述待测试产品进行色度测试。
在色度测试过程中,通常需要使测试光斑的大小与待测试产品的像素的尺寸相匹配,以保证测试的准确性,并节约测试时间。对于同一束光来说,通过改变色度测试设备中的透光孔的大小就可以改变测试光斑的大小。
本发明在进行色度测试之前首先对待测试产品的像素的尺寸进行实时测量,获得待测试产品的像素的实际尺寸信息,然后根据实测信息选择合适的透光孔进行准确的色度测试。因此,本发明方法减少了因透光孔选择不恰当而导致的时间的浪费,在保证测试准确性的同时提高了测试效率。
进一步地,步骤S3包括:
S31、判断当前使用的透光孔的孔径是否满足测试要求;
S32、如果当前使用的透光孔的孔径满足测试要求,则对所述待测试产品进行测试;
S33、如果当前使用的透光孔的孔径不满足测试要求,则根据步骤S2中确定的孔径更换相应的透光孔进行测试;
其中,步骤S31包括:
判断当前使用的透光孔的孔径与步骤S2中确定的孔径是否一致。
本发明方法根据像素的实测信息来选择具有合适孔径的透光孔进行测试,使透光孔的测试范围与像素的尺寸相匹配,能够提高相应的测试设备的稼动率,进而提高产能,节约成本。
本发明中,可以采用多种方法来获取待测试产品的像素的尺寸。例如,步骤S1可以包括以下步骤:
S11、获取待测试产品的像素的图片;
S12、根据步骤S11中获取的像素的图片计算出该像素的灰度值;
S13、根据步骤S12中计算出的灰度值计算出该像素的尺寸。
使用图像处理软件对获取的像素的图片进行分析计算,得到所述像素的灰度值。然后,通过分析上述灰度值所表示的“黑”、“白”区域的边界,计算出所述像素的尺寸。所述像素包括多个亚像素,这里的尺寸主要指亚像素的线宽,具体地,指红、绿、蓝亚像素中较短的边的宽度。
在本发明中,可以通过获取的像素的尺寸直接进行透光孔的选择,也可以将获取的像素的尺寸与样本像素的尺寸进行比较,通过判断后选择相应的透光孔进行色度测试。
例如,步骤S2可以包括以下步骤:
S21a、将待测试产品的像素的尺寸与预存的样本像素的尺寸进行对比;
S22a、根据对比结果确定用于进行测试的透光孔的孔径。
例如,有两种待选择的透光孔,分别是孔径为10μm的透光孔和孔径为20μm的透光孔。其中,孔径为10μm的透光孔适用于测试线宽小于25μm的像素,孔径为20μm的透光孔适用于测试线宽大于25μm的像素。
那么,可以设定当测量出的待测试产品的像素的线宽大于25μm时,反馈选择孔径为20μm的透光孔,当测量出的待测试产品的像素的线宽小于25μm时,反馈选择孔径为10μm的透光孔。
此外,还可以将待测试产品的图片与预存的样本像素的图片进行对比。进行图片对比的本质其实也是进行尺寸对比,在此不再赘述。
本发明的重点在于提前获取待测试产品的像素的实际尺寸信息,根据像素的尺寸信息选择孔径相匹配的透光孔进行色度测试,不仅保证了色度测试的准确性,而且减少了因透光孔不合适频繁调试而导致的时间浪费,提高了测试效率。
本发明还提供了一种色度测试设备,如图2中所示。所述色度测试设备1包括色谱分析装置11和测试头12,色谱分析装置11包括:
测量模块101,用于测量待测试产品2的像素的尺寸;
控制模块102,与测量模块101相连,用于根据测量得到的待测试产品2的像素的尺寸来确定用于进行测试的透光孔的孔径;
测试头12包括:
透光孔切换器201,透光孔切换器201上设置有多个具有不同孔径的透光孔,透光孔切换器201与控制模块102相连,用于根据控制模块102确定的孔径选取相应的透光孔进行测试。
控制模块102还能够判断当前使用的透光孔的孔径是否满足测试要求,如果当前使用的透光孔的孔径不满足测试要求,控制模块102控制透光孔切换器201切换至相应的透光孔进行测试。
与现有色度测试设备相比,本发明所提供的色度测试设备能够实时测量出待测试产品的像素的实际尺寸信息,然后再根据实测信息选择孔径合适的透光孔进行色度测试。因此,本发明所提供的色度测试设备不仅提高了测试的准确性,还避免了因透光孔选择不恰当而导致的时间的浪费,提高了测试效率。
具体地,测量模块101包括图像采集子模块,用于获取待测试产品2的像素的图片。所述图像采集子模块包括电荷耦合元件(Charge-Coupled Device,CCD)或者其它形式的图像传感器。
此外,测量模块101还包括图像处理子模块,所述图像处理子模块能够根据所述图像采集子模块获取的待测试产品2的像素的图片计算出该像素的灰度值,并根据该像素的灰度值计算出该像素的尺寸,具体计算方法如上文所述。
在本发明所提供的色度测试设备中,可以将测量模块101获得的待测试产品2的像素的尺寸直接反馈给控制模块102,由控制模块102控制透光孔切换器201转换到相应地透光孔进行测试。或者,色谱分析装置11中还包括对比模块103,对比模块103内预存有样本像素的尺寸,对比模块103与测量模块101相连,用于将待测试产品2的像素的尺寸与样本像素的尺寸进行对比,并将对比结果反馈给控制模块102,控制模块102根据对比结果来确定用于测试的透光孔的孔径。
此外,还可以在对比模块103内预存样本像素的图片,然后将待测试产品2的像素的图片与样本像素的图片进行对比,根据对比结果进行透光孔的选择。
本发明提供的色度测试设备根据待测试产品像素的实测信息来选择具有合适孔径的透光孔进行测试,使透光孔的测试范围与像素的尺寸相匹配,提高了测试设备的稼动率,减少了因频繁调试更换透光孔而导致的时间浪费,有利于提高生产效率,节约成本。
可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式,然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本发明的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种利用色度测试设备进行色度测试的色度测试方法,所述色度测试设备包括色谱分析装置和测试头,所述测试头包括透光孔,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S1、测量待测试产品的像素的尺寸,包括:
S11、获取待测试产品的像素的图片;
S12、根据步骤S11中获取的像素的图片计算出该像素的灰度值;
S13、根据步骤S12中计算出的灰度值计算出该像素的尺寸;
S2、根据步骤S1中测量得到的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径;
S3、根据步骤S2中确定的孔径选择相应的透光孔对所述待测试产品进行色度测试,其中,
所述待测试产品为彩膜。
2.根据权利要求1所述的色度测试方法,其特征在于,步骤S3包括:
S31、判断当前使用的透光孔的孔径是否满足测试要求;
S32、如果当前使用的透光孔的孔径满足测试要求,则对所述待测试产品进行测试;
S33、如果当前使用的透光孔的孔径不满足测试要求,则根据步骤S2中确定的孔径更换相应的透光孔进行测试;
其中,步骤S31包括:
判断当前使用的透光孔的孔径与步骤S2中确定的孔径是否一致。
3.根据权利要求1或2所述的色度测试方法,其特征在于,所述像素包括多个亚像素,所述尺寸包括所述像素的每个亚像素的宽度。
4.根据权利要求3所述的色度测试方法,其特征在于,步骤S2还包括:
S21a、将待测试产品的像素的尺寸与预存的样本像素的尺寸进行对比;
S22a、根据对比结果确定用于进行测试的透光孔的孔径。
5.根据权利要求4所述的色度测试方法,其特征在于,在步骤S22a中,当所述亚像素的宽度大于25μm时,选择孔径为20μm的透光孔;当所述亚像素的宽度小于25μm时,选择孔径为10μm的透光孔。
6.一种色度测试设备,包括色谱分析装置和测试头,其特征在于,所述色谱分析装置包括:
测量模块,用于测量待测试产品的像素的尺寸,所述测量模块还包括图像处理子模块,所述图像处理子模块能够根据所述待测试产品的像素的图片计算出该像素的灰度值,并根据该像素的灰度值计算出该像素的尺寸,所述待测试产品为彩膜;
控制模块,与所述测量模块相连,用于根据测量得到的所述待测试产品的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径;
所述测试头包括:
透光孔切换器,所述透光孔切换器上设置有多个具有不同孔径的透光孔,所述透光孔切换器与所述控制模块相连,用于根据所述控制模块确定的孔径选取相应的透光孔进行测试。
7.根据权利要求6所述的色度测试设备,其特征在于,所述控制模块能够判断当前使用的透光孔的孔径是否满足测试要求,如果当前使用的透光孔的孔径不满足测试要求,所述控制模块控制所述透光孔切换器切换至相应的透光孔进行测试。
8.根据权利要求7所述的色度测试设备,其特征在于,所述测量模块包括图像采集子模块,用于获取待测试产品的像素的图片。
9.根据权利要求8所述的色度测试设备,其特征在于,所述图像采集子模块包括电荷耦合元件。
10.根据权利要求6至9中任意一项所述的色度测试设备,其特征在于,所述色谱分析装置还包括对比模块,所述对比模块内预存有样本像素的尺寸,所述对比模块与所述测量模块相连,用于将所述待测试产品的像素的尺寸与样本像素的尺寸进行对比,并将对比结果反馈给所述控制模块,所述控制模块根据对比结果来确定用于测试的透光孔的孔径。
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