CN104237661A - 可自动切换检测电压的检测***及其电压校准检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明揭露一种可自动切换检测电压的检测***及其电压校准检测方法。此检测***包含一测试装置及一图形计算装置。测试装置可选择性地输出第一电压及第二电压。图形计算装置在执行一模拟数字转换校准程序时,传输一第一测试指令至测试装置,以接收测试装置依据第一测试指令所输出的第一电压并执行一第一阶段校准程序,且图形计算装置传输一第二测试指令至测试装置,以接收测试装置依据第二测试指令所输出的第二电压并执行一第一阶段校准程序。其中模拟数字转换校准程序系包含了第一阶段校准程序及第二阶段校准程序。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测***及方法,特别是涉及一种可自动切换检测电压的检测***及其电压校准检测方法。
背景技术
图形计算器(Nspire)的机种在生产中,模拟数字转换校准(ADCCalibration)需要通过3.0伏特(v)和4.0伏特(v)两个电压来采样ADC,并以软件通过公式将ADC计算转化成电压,然后判定结果的检测信息(通过或是失败)。最后再以3.0v与4.0v测试判定结果的检测信息的综合才能够最终判断ADC Calibration是通过还是失败。
以目前现有的测试方法,都是通过手动切换电源供应器(powersupply)的两个通道(channel)所分别提供的3.0v和4.0v来实现ADCCalibration的检测。然而,此手动方式进行检测具有下列缺点:
1、必须由power supply的两个channel来分别提供电压3.0v和4.0v。
2、需要由人工手动来切换3.0v和4.0v,如此将消耗人力。
3、由于手动切换3.0v和4.0v进行2次的ADC Calibration,在进行3.0v的测试完成后需立即手动切换到4.0v进行测试,如果作业员没有及时切换的话,会耗费测试时间。
4、作业员需要确认两次电压的测试皆为通过才能够确认ADCCalibration通过,但是这样两次的人工确认,容易出现漏看或者少看一个而导致出现不良品。
发明内容
有鉴于上述现有技术的问题,本发明的目的就是在提供一种可自动切换检测电压的检测***及其电压校准检测方法,以解决现有的图形计算装置进行ADC Calibration时,需利用电源供应器以人工切换的方式输入图形计算装置所需的测试电压的问题。
根据本发明的目的,提出一种可自动切换检测电压的检测***,其包含一测试装置及一图形计算装置。测试装置可选择性地输出第一电压及第二电压。图形计算装置在执行一模拟数字转换校准程序时,传输一第一测试指令至测试装置,以接收测试装置依据第一测试指令所输出的第一电压并执行一第一阶段校准程序,且图形计算装置传输一第二测试指令至测试装置,以接收测试装置依据第二测试指令所输出的第二电压并执行一第一阶段校准程序。其中模拟数字转换校准程序包含了第一阶段校准程序及第二阶段校准程序。
较佳地,测试装置检测所输出的第一电压及第二电压是否呈稳定状态,若是,则传输一稳定信息至图形计算装置,使图形计算装置接收到第一电压时依据稳定信息执行第一阶段校准程序,接收第二电压时依据稳定信息执行第二阶段校准程序。
较佳地,图形计算装置在执行完第一阶段校准程序后产生一第一校准信息,并依据第一校准信息选择性地产生第二测试指令;若第二测试指令未产生,则图形计算装置结束模拟数字转换校准程序,并显示及储存第一校准信息;若第二测试指令产生,图形计算装置储存第一校准信息,且在执行完第二阶段校准程序后产生及储存一第二校准信息,并显示第二校准信息或同时显示第一校准信息及第二校准信息,且结束模拟数字转换校准程序。
较佳地,图形计算装置在执行第一阶段校准程序及第二阶段校准程序时分别产生一第一校准电压值及一第二校准电压值,并判断第一校准电压值及第二校准电压值是否分别符合一第一校准范围及一第二校准范围,若是,分别产生校准通过的第一校准信息及第二校准信息,若否,则分别产生校准失败的第一校准信息及第二校准信息。
根据本发明的目的,又提出一种一种电压校准检测方法,适用于一检测***,检测***包含一测试装置及一图形计算装置,此电压校准检测方法包含下列步骤:利用图形计算装置传输一第一测试指令至测试装置;经由测试装置依据第一测试指令输出一第一电压至图形计算装置;利用图形计算装置依据第一电压执行一模拟数字转换校准程序的一第一阶段校准程序,并在第一阶段校准程序完成后产生一第一校准信息;利用图形计算装置传输一第二测试指令至测试装置;经由测试装置依据第二测试下令输出一第二电压至图形计算装置;以及利用图形计算装置依据第二电压执行模拟数字转换校准程序的一第二阶段校准程序,并在第二阶段校准程序完成后产生一第二校准信息。
较佳地,本发明所述的电压校准检测方法,其更包含下列步骤:当图形计算装置产生为校准失败的第一校准信息时,经由图形计算装置立即结束模拟数字转换校准程序,并显示及储存第一校准信息。
较佳地,本发明所述的电压校准检测方法,其更包含下列步骤:当图形计算装置产生为校准通过的第一校准信息时,经由图形计算装置储存第一校准信息,并传输第二测试指令至测试装置,且在执行完第二阶段校准程序后显示并储存为校准通过或失败的第二校准信息,并结束模拟数字转换校准程序。
较佳地,本发明所述的电压校准检测方法,其更包含下列步骤:当图形计算装置产生为校准失败的第一校准信息时,经由图形计算装置储存第一校准信息,并传输第二测试指令至测试装置,且在执行完第二阶段校准程序后,经由图形计算装置储存第二校准信息并显示第一校准信息及第二校准信息,而后结束模拟数字转换校准程序。
较佳地,本发明所述的电压校准检测方法,其更包含下列步骤:经由测试装置检测所输出的第一电压及第二电压是否呈稳定状态,若是,则传输一稳定信息至图形计算装置,使图形计算装置接收到第一电压时依据稳定信息执行第一阶段校准程序,接收第二电压时依据稳定信息执行第二阶段校准程序。
较佳地,本发明所述的电压校准检测方法中,图形计算装置在执行第一阶段校准程序及第二阶段校准程序时分别产生一第一校准电压值及一第二校准电压值,并判断第一校准电压值及第二校准电压值是否分别符合一第一校准范围及一第二校准范围,若是,分别产生校准通过的第一校准信息及第二校准信息,若否,则分别产生校准失败的第一校准信息及第二校准信息。
承上所述,本发明的可自动切换检测电压的检测***及其电压校准检测方法,可利用测试装置自动供给测试电力的方式,可实现电压供给的自动化切换、减少人力与测试时间及降低人为错误判断率等功效。
附图说明
图1为本发明的可自动切换检测电压的检测***的模块图。
图2为本发明的电压校准检测方法的流程图。
符号说明
1测试装置
11第一电压
12第二电压
2图形计算装置
21模拟数字转换校准程序
211第一阶段校准程序
212第二阶段校准程序
具体实施方式
为便于贵审查员了解本发明的技术特征、内容与优点及其所能达成的功效,兹将本发明配合附图,并以实施例的表达形式详细说明如下,而其中所使用的附图,其主旨仅为示意及辅助说明书之用,未必为本发明实施后的真实比例与精准配置,故不应就所附的附图的比例与配置关系解读、局限本发明在实际实施上的权利范围。
请参阅图1,其为本发明的可自动切换检测电压的检测***的模块图。图中,此可自动切换检测电压的检测***包含有测试装置1及图形计算装置2,图形计算装置2连接于测试装置1。此发明最主要在于图形计算装置2执行ADC Calibration时,可自动地切换提供其所需的不同电压,因而设计出该测试装置1。一般来说,图形计算装置2在ADCCalibration时需要通过3.0伏特(v)和4.0伏特(v)两个电压来采样ADC,此测试装置1便可依指令自动地切换为3.0v的第一电压11或4.0v之第二电压12以提供给图形计算装置2。其中,当图形计算装置2执行模拟数字转换校准程序21(ADC Calibration)时,将传输第一测试指令至测试装置1。测试装置1便会依据此第一测试指令输出第一电压11至图形计算装置2,且测试装置1将检测所输出的第一电压11是否已呈现稳定状态,若是,则传输一稳定信息至图形计算装置2,让图形计算装置2依据此稳定信息并通过第一电压11来执行模拟数字转换校准程序21中的第一阶段校准程序211,也就是3.0v的电压采样校准。然后,图形计算装置2将传输第二测试指令至测试装置1,使测试装置1依据第二测试指令输出第二电压12至图形计算装置2,并检测输出的第二电压12是否呈稳定装态。在第二电压12呈稳定之后测试装置1传送稳定信息至图形计算装置2,图形计算装置2便将依据稳定信息并通过第二电压12来执行模拟数字转换校准程序21中的第二阶段校准程序212,也就是4.0v的电压采样校准。
上述中,图形计算装置2在分别执行第一阶段校准程序211及第二阶段校准程序212时,将会分别产生第一校准电压值及第二校准电压值,并进一步判断第一校准电压值及第二校准电压值是否分别符合第一校准范围及第二校准范围。若是,图形计算装置2将分别产生校准通过的第一校准信息及第二校准信息;若否,则分别产生校准失败的第一校准信息及第二校准信息。其中,图形计算装置2在执行完第一阶段校准程序211后会依据第一校准信息来选择性地产生第二测试指令,以进而决定是否还继续执行后续的第二阶段校准程序212。可能的情况为:若产生为校准失败的第一校准信息时,图形计算装置2则不产生第二测试指令,此时将立即的结束模拟数字转换校准程序21,并将第一校准信息予以显示并储存。或者,不论第一校准信息为校准失败或通过,图形计算装置2皆产生第二测试指令;此时图形计算装置2将会把第一校准信息先行储存起来,然后在执行完第二阶段校准程序212后,再一并显示第一校准信息及第二校准信息(第一校准信息为校准失败),或是仅显示第二校准信息(第一校准信息为校准通过,再将第二校准信息予以储存,并结束模拟数字转换校准程序21。
在此,以一举例来简要说明以上所述的检测校准方式,可分为两个检测方案,其一:图形计算装置2发出测试3v电压的第一指令给测试装置1。测试装置1接受指令,并提供3v的第一电压11给被测试电路板,当测试装置1检测到被输出的3v电压稳定后,回馈一个稳定信息给图形计算装置2,使图形计算装置2检测被测试电路板,采样ADC并通过运算以产生第一校准电压值,并判定此第一校准电压值是否符合一第一校准范围,例如大于2.94v且小于3.07v,进而产生为通过(pass)或是失败(fail)的第一校准信息并储存此信息。如果得到的是fail情形则结束检测并错报,而得到的是pass的情形,图形计算装置2发出测试4V电压的第二指令给测试装置1,测试装置1接受指令,提供4v第二电压12给被测试电路板。当测试装置1检测到输出的4V电压稳定后,再回馈一个稳定信息给图形计算装置2,使图形计算装置2检测被测试电路板,采样ADC并通过运算以产生第二校准电压,并判定此第二校准电压值是否符合一第二校准范围,例如大于3.92v且小于4.09v,进而产生为电压校准是pass or fail的第二校准信息并储存此信息,同时显示此第二校准信息并结束检测。
另外,以上检测方案的其二为:如果图形计算装置2在测试3v电压出现fail信息时,则储存此fail的第一校准信息,并继续检测4v。待4v检测测试完毕后,再一并显示第一校准信息及第二校准信息,那么,检测作业员只要在4v测试结束后在图形计算装置2中查看是3v还是4v测试阶段中出现错误,进而可快速地对电路板进行错误判别及修复。
请参阅图2,其为本发明的电压校准检测方法的流程图,此电压校准检测方法可适用于如上所述包含有测试装置及图形计算装置的检测***。此方法流程步骤为:
步骤S11:利用图形计算装置传输第一测试指令至测试装置。
步骤S12:经由测试装置依据第一测试指令输出第一电压至图形计算装置。
步骤S13:利用图形计算装置依据第一电压执行模拟数字转换校准程序的第一阶段校准程序,并在第一阶段校准程序完成后产生第一校准信息。
步骤S14:利用图形计算装置传输第二测试指令至测试装置。
步骤S15:经由测试装置依据第二测试下令输出第二电压至图形计算装置。
步骤S16:利用图形计算装置依据第二电压执行模拟数字转换校准程序的第二阶段校准程序,并在第二阶段校准程序完成后产生第二校准信息。
此方法步骤为包含:当图形计算装置产生为校准失败的第一校准信息时,经由图形计算装置立即结束模拟数字转换校准程序,并显示及储存第一校准信息;而当图形计算装置产生为校准通过的第一校准信息时,经由图形计算装置储存第一校准信息,并传输第二测试指令至测试装置,且在执行完第二阶段校准程序后显示并储存为校准通过或失败的第二校准信息,并结束模拟数字转换校准程序。又或者为,当图形计算装置产生为校准失败的第一校准信息时,经由图形计算装置储存第一校准信息,并传输第二测试指令至测试装置,且在执行完第二阶段校准程序后,经由图形计算装置储存第二校准信息并显示第一校准信息及第二校准信息,而后结束模拟数字转换校准程序。
另外,在此方法中还包含:经由测试装置检测所输出的第一电压及该第二电压是否呈稳定状态,若是,则传输一稳定信息至图形计算装置,使图形计算装置接收到第一电压时依据稳定信息执行第一阶段校准程序,接收第二电压时依据稳定信息执行第二阶段校准程序。
综合上述,本发明的可自动切换检测电压的检测***及其电压校准检测方法,可利用自动切换所需校准检测电压的方式,来减少人力与测试时间,并可有效降低人为错误判断率等。
以上所述仅为举例,而非作为限制。任何未脱离本发明的精神与范畴,而对其进行的等效修改或变更,均应包含于后附的权利要求中。
Claims (10)
1.一种可自动切换检测电压的检测***,其特征在于,其包含:
一测试装置,可选择性地输出一第一电压及一第二电压;以及
一图形计算装置,电性连接该测试装置,该图形计算装置在执行一模拟数字转换校准程序时,传输一第一测试指令至该测试装置,以接收该测试装置依据该第一测试指令所输出的该第一电压并执行一第一阶段校准程序,且该图形计算装置传输一第二测试指令至该测试装置,以接收该测试装置依据该第二测试指令所输出的该第二电压并执行一第一阶段校准程序,其中该模拟数字转换校准程序包含了该第一阶段校准程序及该第二阶段校准程序。
2.如权利要求1所述的可自动切换检测电压的检测***,其特征在于,其中该测试装置检测所输出的该第一电压及该第二电压是否呈稳定状态,若是,则传输一稳定信息至该图形计算装置,使该图形计算装置接收到该第一电压时依据该稳定信息执行该第一阶段校准程序,接收该第二电压时依据该稳定信息执行该第二阶段校准程序。
3.如权利要求2所述的可自动切换检测电压的检测***,其特征在于,其中该图形计算装置在执行完该第一阶段校准程序后产生一第一校准信息,并依据该第一校准信息选择性地产生该第二测试指令;若该第二测试指令未产生,则该图形计算装置结束该模拟数字转换校准程序,并显示及储存该第一校准信息;若该第二测试指令产生,该图形计算装置储存该第一校准信息,且在执行完该第二阶段校准程序后产生及储存一第二校准信息,并显示该第二校准信息或同时显示该第一校准信息及该第二校准信息,且结束该模拟数字转换校准程序。
4.如权利要求3所述的可自动切换检测电压的检测***,其特征在于,其中该图形计算装置在执行该第一阶段校准程序及该第二阶段校准程序时分别产生一第一校准电压值及一第二校准电压值,并判断该第一校准电压值及该第二校准电压值是否分别符合一第一校准范围及一第二校准范围,若是,分别产生校准通过的该第一校准信息及该第二校准信息,若否,则分别产生校准失败的该第一校准信息及该第二校准信息。
5.一种电压校准检测方法,适用于一检测***,该检测***包含一测试装置及一图形计算装置,该电压校准检测方法包含下列步骤,其特征在于:
利用该图形计算装置传输一第一测试指令至该测试装置;
经由该测试装置依据该第一测试指令输出一第一电压至该图形计算装置;
利用该图形计算装置依据该第一电压执行一模拟数字转换校准程序的一第一阶段校准程序,并在该第一阶段校准程序完成后产生一第一校准信息;
利用该图形计算装置传输一第二测试指令至该测试装置;
经由该测试装置依据该第二测试下令输出一第二电压至该图形计算装置;以及
利用该图形计算装置依据该第二电压执行该模拟数字转换校准程序的一第二阶段校准程序,并在该第二阶段校准程序完成后产生一第二校准信息。
6.如权利要求5,所述的电压校准检测方法,其特征在于,其还包含下列步骤:
当该图形计算装置产生为校准失败的该第一校准信息时,经由该图形计算装置立即结束该模拟数字转换校准程序,并显示及储存该第一校准信息。
7.如权利要求6所述的电压校准检测方法,其特征在于,其还包含下列步骤:
当该图形计算装置产生为校准通过的该第一校准信息时,经由该图形计算装置储存该第一校准信息,并传输该第二测试指令至该测试装置,且在执行完该第二阶段校准程序后显示并储存为校准通过或失败的该第二校准信息,并结束该模拟数字转换校准程序。
8.如权利要求5所述的电压校准检测方法,其特征在于,其还包含下列步骤:
当该图形计算装置产生为校准失败的该第一校准信息时,经由该图形计算装置储存该第一校准信息,并传输该第二测试指令至该测试装置,且在执行完该第二阶段校准程序后,经由该图形计算装置储存该第二校准信息并显示该第一校准信息及该第二校准信息,而后结束该模拟数字转换校准程序。
9.如权利要求7或8所述的电压校准检测方法,其特征在于,其还包含下列步骤:
经由该测试装置检测所输出的该第一电压及该第二电压是否呈稳定状态,若是,则传输一稳定信息至该图形计算装置,使该图形计算装置接收到该第一电压时依据该稳定信息执行该第一阶段校准程序,接收该第二电压时依据该稳定信息执行该第二阶段校准程序。
10.如权利要求9所述的电压校准检测方法,其特征在于,其中该图形计算装置在执行该第一阶段校准程序及该第二阶段校准程序时分别产生一第一校准电压值及一第二校准电压值,并判断该第一校准电压值及该第二校准电压值是否分别符合一第一校准范围及一第二校准范围,若是,分别产生校准通过的该第一校准信息及该第二校准信息,若否,则分别产生校准失败的该第一校准信息及该第二校准信息。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9715905B2 (en) | 2015-08-12 | 2017-07-25 | International Business Machines Corporation | Detecting maximum voltage between multiple power supplies for memory testing |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4580126A (en) * | 1981-01-19 | 1986-04-01 | Hitachi, Ltd. | Method of testing analog/digital converter and structure of analog/digital converter suited for the test |
US5185607A (en) * | 1992-01-31 | 1993-02-09 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for testing an analog to digital converter |
TW267278B (en) * | 1995-08-04 | 1996-01-01 | United Microelectronics Corp | Testing system for analog/digital converter |
CN1628417A (zh) * | 2002-04-08 | 2005-06-15 | 罗伯特-博希股份公司 | 用于对模数转换器进行功能检验的方法和装置以及模数转换器 |
CN101729067A (zh) * | 2008-10-22 | 2010-06-09 | 财团法人工业技术研究院 | 管线式模拟数字转换器的校准装置及其方法 |
US20100283644A1 (en) * | 2009-05-11 | 2010-11-11 | Nec Electronics Corporation | A/D conversion circute and test method |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5956280A (en) * | 1998-03-02 | 1999-09-21 | Tanisys Technology, Inc. | Contact test method and system for memory testers |
TWI233495B (en) * | 2004-02-11 | 2005-06-01 | Ind Tech Res Inst | IC with built-in self-test function and design method thereof |
TWI375806B (en) * | 2007-08-07 | 2012-11-01 | Himax Tech Ltd | Apparatus for testing driving circuit in display |
-
2013
- 2013-06-14 CN CN201310234546.9A patent/CN104237661B/zh active Active
- 2013-08-13 TW TW102129059A patent/TWI504156B/zh active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4580126A (en) * | 1981-01-19 | 1986-04-01 | Hitachi, Ltd. | Method of testing analog/digital converter and structure of analog/digital converter suited for the test |
US5185607A (en) * | 1992-01-31 | 1993-02-09 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for testing an analog to digital converter |
TW267278B (en) * | 1995-08-04 | 1996-01-01 | United Microelectronics Corp | Testing system for analog/digital converter |
CN1628417A (zh) * | 2002-04-08 | 2005-06-15 | 罗伯特-博希股份公司 | 用于对模数转换器进行功能检验的方法和装置以及模数转换器 |
CN101729067A (zh) * | 2008-10-22 | 2010-06-09 | 财团法人工业技术研究院 | 管线式模拟数字转换器的校准装置及其方法 |
US20100283644A1 (en) * | 2009-05-11 | 2010-11-11 | Nec Electronics Corporation | A/D conversion circute and test method |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
陈勇钢 等: "16位∑-△模数转换器AD7705及其校准", 《现代电子技术》 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9715905B2 (en) | 2015-08-12 | 2017-07-25 | International Business Machines Corporation | Detecting maximum voltage between multiple power supplies for memory testing |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201448480A (zh) | 2014-12-16 |
TWI504156B (zh) | 2015-10-11 |
CN104237661B (zh) | 2017-06-09 |
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