CN104123212B - Usb芯片的***测试方法 - Google Patents

Usb芯片的***测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN104123212B
CN104123212B CN201410347403.3A CN201410347403A CN104123212B CN 104123212 B CN104123212 B CN 104123212B CN 201410347403 A CN201410347403 A CN 201410347403A CN 104123212 B CN104123212 B CN 104123212B
Authority
CN
China
Prior art keywords
chips
chip
detection method
code value
coding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201410347403.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104123212A (zh
Inventor
曾月珑
王刚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IPGoal Microelectronics Sichuan Co Ltd
Original Assignee
IPGoal Microelectronics Sichuan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IPGoal Microelectronics Sichuan Co Ltd filed Critical IPGoal Microelectronics Sichuan Co Ltd
Priority to CN201410347403.3A priority Critical patent/CN104123212B/zh
Publication of CN104123212A publication Critical patent/CN104123212A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104123212B publication Critical patent/CN104123212B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种USB芯片的***测试方法，用于对USB3.0芯片进行***测试，其包括如下步骤：a检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，产生对应的标记函数；b检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，将标准编码值记录到标准文件库中；c在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将获得的编码值记录到临时文件中，将编码值内容与标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容。本发明的USB芯片的***测试方法，投资成本低，在测试过程与逻辑仿真同步进行，因而能够快速的对USB3.0芯片内部逻辑状态进行实时监控和错误定位。

Description

USB芯片的***测试方法
技术领域
本发明涉及芯片***测试领域，更具体地涉及一种USB芯片的***测试方法。
背景技术
现有的USB3.0芯片的***测试技术主要是通过FPGA板、USB3.0逻辑分析仪尔后利用相关的USB3.0标准测试函数对USB3.0芯片进行***测试，其主要采取设计完成后的硬件成品测试，用USB3.0逻辑分析仪对连接USB3.0主机和从机设备的***进行相关协议的测试，无法做到在逻辑设计的同时就对协议处理的逻辑状态实时纠错和定位。
且现有技术USB3.0芯片的***测试方式的缺点是投资成本高，因为逻辑分析仪与相关测试板(如FPGA板)成本较高，并且无法对USB3.0芯片内部逻辑状态做到实时监控和错误定位，只能对外部数据进行检查，因此错误定位速度慢，定位时间晚。
因此，有必要提供一种改进的USB芯片的***测试方法克服上述缺陷。
发明内容
本发明的目的是提供一种USB芯片的***测试方法，用于对USB3.0芯片进行***测试，本发明的USB芯片的***测试方法投资成本低，在测试过程与逻辑仿真同步进行，因而能够快速的对USB3.0芯片内部逻辑状态进行实时监控和错误定位。
为实现上述目的，本发明提供一种USB芯片的***测试方法，用于对USB3.0芯片进行***测试，其包括如下步骤：a.检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，且产生对应的标记函数；b.检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，并将标准编码值记录到标准文件库中；c.在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将编码后获得的编码值记录到临时文件中，且将临时文件中的编码值内容与标准文件库中的标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容。
较佳地，所述步骤c中的编码规则与所述步骤b中的编码规则相同。
较佳地，在所述步骤c中，通过测试逻辑代码对待测USB3.0芯片进行***测试。
较佳地，在所述步骤c中，当临时文件中的编码值内容与标准文件库中记录的标准编码值内容对比的结果不一致时，中止对比，根据所述标记函数定位不一致的编码值内容，查找出错误所在待测USB3.0芯片中的位置。
较佳地，所述标记函数存储于测试平台一固定数据库内。
与现有技术相比，本发明的USB芯片的***测试方法，通过将临时文件中的编码值内容与标准文件库中记录的标准编码值内容依次进行对比，实现对被测USB3.0芯片的实时监控，当对比结果不一致时，即可判断被测USB3.0芯片出错，从而通过对比结果即可判断被测USB3.0芯片是否有出错，且通过对比结果不一致的位置可准确地定位USB3.0芯片出错的位置，可快速地对错误进行定位。
通过以下的描述并结合附图，本发明将变得更加清晰，这些附图用于解释本发明。
附图说明
图1为本发明USB芯片的***测试方法的流程图。
具体实施方式
现在参考附图描述本发明的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。如上所述，本发明提供了一种USB芯片的***测试方法，用于对USB3.0芯片进行***测试，本发明的USB芯片的***测试方法投资成本低，在测试过程与逻辑仿真同步进行，因而能够快速的对USB3.0芯片内部逻辑状态进行实时监控和错误定位。
请参考图1，图1为本发明USB芯片的测试方法的流程图。如图1所示，所述USB芯片的测试方法，在本发明中具体为USB3.0芯片的测试方法，包括如下步骤：
步骤S101，检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，且产生对应的标记函数；在本步骤中，检测平台的检测编码模块将标准USB3.0芯片的所有逻辑状态按照顺序依次进行标记，并产生对应的标记函数；例如将逻辑状态LTSSM、SS.Disabled、SS.Inactive、Rx.Detect、Polling、compliance、Recovery、U0、U1、U2、U3、loopback、HotReset依次标记成0x1001、0x1002、0x1003、0x1004、0x1005、0x1006、0x1007、0x1008、0x1009、0x100a、0x100b、0x100c，且其他逻辑状态编码类似；另外，在本发明的优选实施方式中采用perl、C等编写的测试函数库对待测芯片内部的各个逻辑状态自动添加相关监控点。
步骤S102，检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，并将标准编码值记录到标准文件库中；在本步骤中，所述检测编码模块在USB3.0协议的规定下，对通过标记产生的标记函数进行编码，从而形成标准编码值，并将标准编码值记录到测试平台的标准文件库中；其中所述编码规定为USB3.0协议下的常用编码规则，在此不再细述。例如在USB3.0芯片正常的枚举数据传输过程中，LTSSM相关协议中的逻辑状态为：SS.Disabled--Rx.Detect--Polling--U0，将各个逻辑状态首先标记成0x1001、0x1003、0x1004、0x1007，然后再将各个逻辑状态进行编码，存储到标准文件库中；另外，在本发明的优选实施方式中，所述标记函数存储于测试平台一固定数据库内，从而使得所述标准文件库中的标记函数可在多次测试中使用。
步骤S103，在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将编码后获得的编码值记录到临时文件中，且将临时文件中的编码值内容与标准文件库中的标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容；在本步骤中，利用测试逻辑代码对待测USB3.0芯片进行***测试，在测试进行中通过测试检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照与步骤S102相同的编码规则进行编码，将编码后的编码值记录到测试平台的临时文件中，并将临时文件中的编码值内容与标记文件记录的标准编码值内容依次进行对比，其中编码值内容具体包括USB3.0芯片中各个逻辑值、所在模块位置、不应该出现的错误数值等信息。在本发明的优选实施方式中，当临时文件中的编码值内容与标准文件库中记录的标准编码值内容对比的结果不一致时，说明当前待测USB3.0芯片存在错误，从而中止对比，且根据所述标记函数定位不一致的编码值内容，查找出错误所在待测USB3.0芯片中的位置，即对当前待测USB3.0芯片的错误定位；当临时文件中的编码值内容与标准文件库中记录的标准编码值内容对比的结果一致时，则说明当前待测USB3.0芯片通过测试，不存在问题。
本发明的USB芯片的测试方法，具体为USB3.0芯片的测试方法通过在测试平台上调用预先准备好的测试函数库对待测USB3.0芯片进行***测试，且在测试过程中不需要使用FPGA板和USB3.0逻辑分析仪，因而投资成本低；另外，本发明的USB芯片的***测试方法的测试过程与逻辑仿真几乎是同步的，因而能够快速的对芯片内部的逻辑状态进行实时监控并进行错误定位。
以上结合最佳实施例对本发明进行了描述，但本发明并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本发明的本质进行的修改、等效组合。

Claims (4)

1.一种USB芯片的***测试方法，用于对USB3.0芯片进行***测试，其特征在于，包括如下步骤：
a.检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，且产生对应的标记函数；
b.检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，并将标准编码值记录到标准文件库中；
c.在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将编码后获得的编码值记录到临时文件中，且将临时文件中的编码值内容与标准文件库中的标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容。
2.如权利要求1所述的USB芯片的***测试方法，其特征在于，在所述步骤c中，通过测试逻辑代码对待测USB3.0芯片进行***测试。
3.如权利要求1所述的USB芯片的***测试方法，其特征在于，在所述步骤c中，当临时文件中的编码值内容与标准文件库中记录的标准编码值内容对比的结果不一致时，中止对比，根据所述标记函数定位不一致的编码值内容，查找出错误所在待测USB3.0芯片中的位置。
4.如权利要求1所述的USB芯片的***测试方法，其特征在于，所述标记函数存储于测试平台一固定数据库内。
CN201410347403.3A 2014-07-21 2014-07-21 Usb芯片的***测试方法 Active CN104123212B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410347403.3A CN104123212B (zh) 2014-07-21 2014-07-21 Usb芯片的***测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410347403.3A CN104123212B (zh) 2014-07-21 2014-07-21 Usb芯片的***测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104123212A CN104123212A (zh) 2014-10-29
CN104123212B true CN104123212B (zh) 2017-03-15

Family

ID=51768632

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410347403.3A Active CN104123212B (zh) 2014-07-21 2014-07-21 Usb芯片的***测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104123212B (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104965166A (zh) * 2015-07-16 2015-10-07 四川和芯微电子股份有限公司 Usb芯片的测试方法及***
CN109444716B (zh) * 2018-11-27 2021-08-10 中科曙光信息产业成都有限公司 一种具有定位功能的扫描测试结构及方法
CN112597444B (zh) * 2020-12-29 2024-01-09 芯启源(上海)半导体科技有限公司 基于usb协议的usb设备ip侵权识别方法及其终端
CN114325333A (zh) * 2021-12-30 2022-04-12 江苏集萃智能集成电路设计技术研究所有限公司 一种高效率规范化的soc***级验证方法及装置
CN114384400A (zh) * 2022-01-13 2022-04-22 集睿致远(厦门)科技有限公司 一种芯片异常信号的定位***及定位方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102214154A (zh) * 2011-05-31 2011-10-12 上海交通大学 基于usb的交流伺服驱动器通信模块及通信方法
CN102262205A (zh) * 2010-05-31 2011-11-30 无锡中星微电子有限公司 一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102262205A (zh) * 2010-05-31 2011-11-30 无锡中星微电子有限公司 一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置
CN102214154A (zh) * 2011-05-31 2011-10-12 上海交通大学 基于usb的交流伺服驱动器通信模块及通信方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN104123212A (zh) 2014-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104123212B (zh) Usb芯片的***测试方法
CN107808831B (zh) 全程可溯源半导体测试数据记录方法
CN106951364B (zh) 测试方法及装置
CN102169846B (zh) 一种在集成电路晶圆测试过程中实现多维变量密码并行写入的方法
CN103179608B (zh) 2/3g无线模块诊断测试方法及装置
US8996928B2 (en) Devices for indicating a physical layer error
CN105022694B (zh) 用于移动终端测试的测试用例生成方法及***
WO2018195795A1 (zh) 测试方法、测试服务器及***
CN105956410B (zh) 一种iec61850全模型的快速通用检测方法
CN105223889A (zh) 一种适用于产线的自动监控pmc raid卡日志的方法
CN103049379B (zh) 一种***测试的方法
CN103308846A (zh) 一种基于模型识别的集成芯片功能性能检测方法和装置
CN107577591A (zh) 一种自动化测试异常保护的方法、装置及***
CN110082666A (zh) 芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质
CN105893251A (zh) 一种智能终端app启动所需时间的测试方法及***
CN106557419B (zh) 程序的测试方法及装置
CN109408379A (zh) 一种基于提升jmeter接口自动化测试数据匹配方法
CN105372545A (zh) 一种基于编码识别的电缆防差错方法
CN103368786B (zh) 控制器局域网络总线数据的测试方法及装置
CN115470125B (zh) 基于日志文件的调试方法、设备以及存储介质
CN104239170A (zh) Pci设备测试方法及***
CN103165405A (zh) 一种通过gpib接口实时生成多维变量密码方法
CN104361012A (zh) 一种城市轨道交通工程线路数据的测试方法及装置
CN106257257A (zh) 一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪
CN113535578B (zh) 一种cts测试方法、装置及测试设备

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant