CN103998893A - 规准制品以及用于检查坐标定位机器的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种规准制品(100)，包括基部(102)和平台(108)，所述基部(102)用于安装在坐标定位机器的工作台上，所述平台(108)包括至少两个具有名义相同几何性质的部分。所述平台(108)可在至少两个位置相对于基部(102)定位，使得具有名义相同几何性质的所述至少两个部分的每一个可出现在相对于所述基部(102)的共同位置。所述平台(108)可被布置成使得具有名义相同几何性质的所述部分的位置可以通过平台(108)在至少两个不同位置之间的运动而互换。所述位置可以通过平台(108)的旋转互换。本发明还涉及检查坐标测量机器的方法。

Description

规准制品以及用于检查坐标定位机器的方法

技术领域

本发明涉及规准制品(gauge artefact)以及检查坐标定位机器的方法。本发明对于规准制品以及检查非笛卡尔坐标定位机器的方法具有特定的但非排他性的应用，例如如WO2011/107729和WO2011/107746所描述的，它们通过参考的方式被结合在本文中。

背景技术

WO2011/107729和WO2011/107746描述了一种操作坐标定位机器的方法，包括将一系列名义相同零件中的主零件映射到坐标定位机器上，然后将所述映射用作测量所述系列的其余零件的基础(通常叫做规准)。

该方法示意性地显示在图1中。首先，主零件M在校准的坐标定位机器中被测量，诸如坐标测量机器2，它已经被校准以便确保在所需测量范围(例如至少由主零件M占据的容积)内位置测量值是线性的，从而确定主零件的参考值。然后通过待校准的坐标测量机器3测量主零件M。基于应用坐标测量机器2所测量的参考值，产生通过坐标定位机器3所测量的主零件M上的点的数值的映射。然后在坐标定位机器3上测量所述系列的其他零件N，并且将这些测量值与主零件M的测量值进行比较。然后对于点1、2、3…..等每个点可确定零件N与主零件M的偏离，如表4所示。这个方法的优点是：坐标定位机器不需要在整个机器容积上是线性的，而是仅仅在以下空间中是线性的，在该空间中零件M上所测量的点与主零件M上等同的点偏离。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供了一种规准制品，包括基部和平台，所述基部用于安装在坐标定位机器的工作台上，所述平台包括具有名义相同几何性质的至少两个部分，所述平台可以相对于所述基部定位在至少两个位置上，使得具有名义相同几何性质的所述至少两个部分的每一个可出现在相对于基部的共同位置处。

将要理解，术语“名义相同几何性质”指的是类似的但不相同的几何性质。而且，在以下情况下使用术语“名义”：当几何性质与另一部分的几何性质类似的程度是：它们的区别是与由坐标定位机器所测量的零件的可接受偏差(加工变差)相当的尺寸。各部分的名义相同几何性质的差别是小的，诸如当处于共同位置时相同尺寸的形状(诸如球体或孔)的相对定位的小差别，或形状的尺寸方面的小差别。通常，如果偏差不在数百或数十微米或更小的数量级，则偏差将小于1毫米。

可以利用本发明的规准制品，通过将平台定位在基部上以便至少在共同位置定位一系列名义相同的零件，并将每个零件几何性质的测量偏差与已知偏差比较，以及针对所测量偏差与已知偏差之间的任何差别进行校正，从而检查坐标定位机器的测量。规准制品是已校准的规准制品，其中两个部分的几何性质方面的差别是已知的。例如，已知偏差已经通过在已校准坐标定位机器上测量规准制品而获得。特别地，各部分的名义相同几何性质的偏差可以是与一组待测量零件N的期望偏差相当的尺寸，并且可以应用规准制品来检查并且(可能的话)校正坐标定位机器，用于测量该量值的偏差。

这里使用的术语“规准制品”并不限于可用来测量尺寸的装置，而是意味着包括设定尺寸的装置，相对于所述设定尺寸进行所述检查。

当安装到基座上的共同位置上时，各部分的名义相同几何性质可以在形状、尺寸、特征的相对定位和/或位置方面不同。在一个实施例中，所述几何性质的尺寸不同，而形状保持相同(即，尺寸(诸如限定形状的长度、宽度、高度、半径)的比率保持相同，而是仅仅在大小上改变)。例如，具有名义相同几何性质的各部分可以均包括具有不同半径的球体。在这种布置下，基部和平台可以布置成使得每个球体的中心可以定位在相对于基部的共同点上。替换地或者附加地，当位于相对于基部的共同位置上时，具有名义相同几何性质的各部分可以包括具有相同尺寸的共同形状的特征，但是这些特征的位置(稍微地)不同。在另外的布置中，每个部分可以包括两个特征，每个特征在尺寸和形状方面是相同的，但是在它们的相对定位方面不同。这个布置的例子是其中一个部分包括同心孔，而另一部分包括偏心孔，或者替换地，每个具有偏心孔的部分使中心偏离不同的量。在另一个布置中，各部分可以包括相当的但是不同的形状。例如，每个部分的表面可以限定具有不同长轴和短轴比率的椭圆形(圆是椭圆的特例)。在另一个实施例中，几何性质的尺寸、形状和位置在各部分之间是不同的。

优选地，平台布置成使得具有名义相同几何性质的至少两个部分相对于基部的位置可以通过平台在至少两个位置之间的运动而互换。以这种方式，规准制品提供两个或多个位置，在所述位置可以针对基部在坐标定位机器中的单个位置检查坐标定位机器。

根据本发明的第二方面，提供了一种规准制品，其包括基部和能够在两个或多个不同位置定位于所述基部上的平台，所述平台包括具有名义相同几何性质的至少两个部分，所述部分相对于基部的位置可以通过平台在所述两个或多个不同位置之间的运动而互换。

术语“互换”并不限于在平台的单次再定位后两个部分的交换。例如，当平台包括奇数个具有名义相同几何性质的部分(例如各部分围绕旋转中心三角形地间隔开)时，不可能通过单次再定位而交换任何两个部分。

优选地，平台可以安装在基部上的位置被布置成使得平台必须旋转以便在这两个位置之间移动平台。平台可以至少部分地呈现名义旋转对称性，使得平台可以相对于基部旋转以便互换平台的所述名义对称部分的位置。

根据本发明的第三方面，提供了一种规准制品，其包括基部和平台，所述基部用于安装在坐标定位机器的工作台上，所述平台可定位在基部上，其中平台至少部分地呈现名义旋转对称性，使得平台能够相对于基部旋转以便互换所述平台的名义对称部分的位置。

由平台展示的旋转对称性提供了简单的机械布置，用于互换具有名义相同几何性质的平台的各部分。将要理解，术语“名义旋转对称”意味着在平台的旋转平移下，平台提供至少一个类似的但不相同的几何性质。术语“名义”在以下情况下使用：旋转时所呈现的几何性质与旋转前几何性质的类似程度是：平台在每个位置能被认为是一系列名义相同部分，即使平台故意被制造成在每个位置所述性质是不相同的。在平台旋转后所呈现的微小差别可以是与待由坐标定位机器测量的一系列零件的可能偏差相当的尺寸。通常，偏差将小于1毫米，如果不是数百或数十微米或更小数量级的话。而且，术语“至少部分”意味着平台的仅仅部分需要呈现名义旋转对称性，而其他部分可以不呈现旋转对称性。

规准制品可以包括位于基部和平台上的限定定位的构造，使得平台不得不旋转以便在各位置之间运动。平台可以至少部分地呈现名义镜像对称性并且所述位置包括一对位置，这需要平台相对于基部旋转180度，以便平台在所述一对位置之间运动。

替换地或者附加地，平台在所述至少两个位置之间的运动可要求平台相对于基部的线性运动。

规准制品可以包括位于基部和平台上的相配合的安装构造，当它们接合时限定平台可以定位在基部上的两个或多个位置。基部和平台的其中一个可以包括一组三个构造，其布置成与平台和基部的另一个上的两组或多组三个相应构造相配合，以提供所述两个或多个限定位置。在一个实施例中，每个构造可以在基部和平台的其中一个上包括狭槽或者球体(或可能是半球)，其布置成分别与平台和基部的另一个上的球体或狭槽相配合。

安装构造可以限定一个或多个运动学位置。将要理解，这里所使用的术语“运动学位置”指的是本体(例如基部)上的位置，另一个本体(例如平台)可以定位在所述位置中，使得以六个自由度限定本体的相对位置。

规准制品可以包括对准元件，用于将平台在基部上的定位限制为由所述构造所提供的所有可能限定位置数目的子集。例如，如果没有对准元件，所述构造可以提供六个可能的限定位置，而对准元件可以将平台的定位约束为这些位置中的两个。

规准制品可以包括偏压件，用于将平台和基部推动到一起。例如，偏压件可以包括用于将所述构造推动到一起的磁体。

根据本发明的第四方面，提供了一种规准制品，其包括基部以及可相对于基部在两个或多个构造之间再构造的一个或多个元件，其中在每个构造中，所述一个或多个元件提供类似的但不相同的部分，以便在相对于基部的相同位置上通过坐标定位机器进行测量。

根据本发明的第五方面，提供了规准制品的平台，所述平台包括具有名义相同几何性质的至少两个部分以及安装构造，所述安装构造布置成与规准制品的基部的安装构造相配合，从而所述平台可以相对于基部定位在至少两个位置上，藉此具有名义相同几何性质的所述至少两个部分的每一个可以位于相对于基部的共同位置上。

根据本发明的第六方面，提供了第一本体和第二本体的组合，所述第一本体和第二本体包括相配合的构造，所述构造形成支座，用于在所述构造接合时，将第一和第二本体的相对定位约束为多个运动学位置。

当所述构造接合时，所述支座可以将第一和第二本体的相对定位约束在两个运动学位置。

所述第一和第二本体可以包括相配合的对准元件，用于将所述本体的定位约束为由所述构造提供的多个运动学位置的子集(例如两个)。

根据本发明的第七方面，提供了一种检查坐标定位机器的方法，包括：当规准制品处于第一和第二构造时用坐标定位机器测量可再构造规准制品的几何性质，将当规准制品处于第一和第二构造时获得的几何性质的测量值的差别与已知偏差比较，以及基于所述比较确定坐标定位机器是否令人满意地工作。

通过该方法，坐标定位机器可以被检查以确定是否机器能够以所需要的精度测量一系列零件的几何性质的小偏差。在一个实施例中，所述方法可以进一步包括基于所述比较对于由机器获得的测量值确定校正因子。所述方法可以包括当规准制品处于其他构造时用坐标定位机器测量可再构造规准制品的几何性质。附加的构造可提供与在第一和第二构造之间提供的偏差不同的几何性质的另外偏差。测量几何性质的多个偏差可以允许确定更精确的校正因子，例如，如果偏差的测量值的误差不随着偏差的大小线性地改变的话。

所述方法可以包括测量每个构造中规准制品的多于一个的几何性质。所述多于一个几何性质的测量可以是在规准制品的间隔开的位置。可以对于要测量几何性质的每个位置确定单独的校正因子。再构造规准制品可以包括相应于待由坐标定位机器测量的几何性质互换具有名义相同几何性质的两个或多个部分。

该方法可以在整个坐标定位机器的多个位置执行。所述位置可以相应于将要在一组零件上测量的点的位置。

该方法可以包括使用根据本发明的第一、第二、第三或第四方面的规准制品。

已知偏差可以通过在已校准的坐标定位机器上测量规准制品而确定。

附图说明

下面将仅仅借助例子并参考附图描述本发明的实施例，其中：

图1显示了应用坐标定位机器测量一组名义相同零件的方法；

图2是根据本发明一个实施例的规准制品的透视图；

图3是图2所示规准制品的分解透视图；

图4是图2所示规准制品的分解侧视图；

图5是图1所示规准制品的侧视图；

图6是图1所示规准制品的平面图；

图7是沿着图6所示A-A线的规准制品的横截面视图；

图8是图1所示规准制品的平台的透视图；以及

图9是显示根据本发明一个实施例的方法的流程图。

具体实施方式

参照图2-7，显示了一个规准制品101，其包括基部102和平台108，基部102用于安装在坐标定位机器上，平台108可以在由支座105规定的限定位置安装在基部102上，每个位置限定规准制品的一个构造。

平台108具有能用于检查坐标定位机器的测量的表面特征。在该实施例中，平台108的表面具有围绕图6所示两条虚线190、191的名义反射对称性，这两条虚线在平台的角部之间延伸(因此也是180°名义旋转对称)。因此，平台108具有至少两个具有名义相同几何性质的部分，并且平台108可以相对于基部102定位在限定位置上，使得具有名义相同几何性质的所述至少两个部分的每一个可相对于基部102出现在共同位置。在该实施例中，具有许多作为检查基础的表面几何性质，这些几何性质延伸穿过不同尺寸的容积，以便允许针对一系列零件的特定期望偏差(工艺变差)检查坐标定位机器。将检查约束为仅仅期望的工艺变差可以加速处理或者允许在期望的工艺变差内更精细地检查所述测量。

在该实施例中，平台108的表面包括两个球体103、104和两个复杂形状的突起106、107。球体103和104具有稍微不同的半径，球体104的半径为25.4毫米，而球体103的半径为25毫米。突起106和107包括多个类似的孔以及球面和平面，并且相对于另一个突起107，突起106的平面的相对位置和孔的中心稍微偏离，如以下更详细描述的。

在该实施例中，模制或加工突起106和107以形成平台108的整体部分，而球体103和104均包括用于将球体103、104可移除地连接至平台108的紧固装置。该实施例中的紧固装置由支撑球体103、104的柱和平台108上的相配合的螺纹(未示出)提供。孔103a、104a被设置在每个球体103、104的柱中，用于接纳将球体紧固在平台108上合适位置的工具。螺纹不规定球体103、104在平台108上的运动学位置。因此，在球体103、104的一个或两个被拧松和/或移除的情况下，在重新拧紧/重新附接时，平台108应当在已校准坐标定位机器上被重新测量。球体103、104与平台108的可移除紧固允许球体103、104在需要时能被替换或更换。

突起106和107在许多方面是不同的。每个突起106、107的下部包括两个阶梯段，它们彼此成直角。以这种方式，每个突起106、107提供一对平面，用于在x、y、z方向测量(或者在沿z向测量的情况下，位于孔外部的四个平面)。相应的平面之间的相对距离对于每个突起106、107是不同的。安装在阶梯状平面段的顶部上的是椭圆形圆柱段，在其中形成一系列圆形孔。两个突起106、107的孔具有相同的尺寸，但是突起106的孔是同心的，而突起107的孔是偏心的。孔既包括竖直(z向)壁，也包括相对于竖向倾斜的壁(如图7清楚地示出)。突起106、107的椭圆段的外表面可以包括不同的长轴和短轴比率。

平台108具有许多几何性质，它们在平台108的不同部分中具有名义相同的对应物，平台108可相对于基部102旋转以便互换这些几何性质。例如，作为检查基础的一个或多个相当的几何性质可以是球体103、104或突起106、107的几何性质或者球体和突起组合的几何性质的比较，诸如球体103、104的中心以及突起106、107的孔的中心之间的距离。

现在参考图3和图8，支座105包括位于基部102上的一组三个构造110，其布置成与平台108上的两组三个相应构造111相配合。

基部102上的每个构造110包括狭槽，这三个狭槽沿着不同方向延伸，在该实施例中，每个狭槽垂直于相同的圆。每个狭槽通过将一对圆柱杆平行地固定在基部102上而形成。在该实施例中，每对杆通过合适的树脂固定在基部102的H型腔室中。

平台108上的每个构造111包括一球体，该球体固定在平台108的圆形腔室中，使得球体的半球暴露。在该实施例中，球体111a形成一组用于与构造110配合的构造以提供一个运动学位置，并且球体111b形成第二组用于与构造110配合的构造以提供第二个运动学位置。一组球体111a、111b间隔开，使得它们能够一起与形成在基部102中的狭槽接合，一组球体111a与另一组球体111b间隔开以便限定一对运动学位置，其要求平台108旋转180°以便在运动学位置之间移动平台108。为了实现这个目的，一组中的每个球体111a在另一组中具有相应球体111b，该相应球体111b与预计旋转中心径向相对并且等距。在该实施例中，借助狭槽110彼此等距，每组球体111a或111b也彼此等距，并且两组中的总共六个球体111a或111b围绕中心为旋转中心的圆等距地间隔开。制造期间球体111的轻微无意错放可导致这两个运动学位置不是完全180°间隔开。然而，与用于检查坐标定位机器的测量的平台108的几何性质的小差别相比，球体111安装在平台108上的公差是小的。当然，在另一个实施例中，可能期望的是运动学位置不是精确地180度间隔开，以便在平台旋转后几何性质相对于基部102的定位存在预计偏差，这能被用于检查坐标定位机器。

支座105进一步包括对准元件112、113，它们共同协作以便将平台108在基部102上的定位限制为由构造110、111提供的运动学位置的所有可能数目的子集。在该实施例中，如果没有对准元件112、113，构造110、111提供六个可能的运动学位置，而对准元件112、113将平台的定位约束为这些运动学位置中的两个。该实施例中，对准元件包括一对突起112，它们从基部102突出并且被接纳在平台108的凹槽113中以便限制平台108在基部102上的定位。在另一个实施例中，可以提供单个突起112。

在基部102和平台108上设置磁体114、115，用于将运动学支座的构造110、111推动到一起。

基部102进一步包括套管116，用于将基部102固定至坐标定位机器的工作台上。在该实施例中，通过规准制品支架117将基部102固定至坐标定位机器的工作台。规准制品支架117包括一对可拆卸连接件119、120。套管116包括中央槽118，它能被连接件119中的锁定装置(未示出)接合，用于将套管116固定至连接件119，同时允许套管116相对于连接件119旋转。应用插到孔121中的合适的锁定工具操作锁定装置。拧入孔122中的锁定螺钉(未示出)能被拧紧以便将套管116(因此将基部102)锁定在合适位置。连接件120包括另外的锁定装置(未示出)，用于将规准制品支架117锁定在坐标定位机器的工作台上。利用插到孔123中的合适的锁定工具操作所述另外的锁定装置。不同坐标定位机器的工作台具有不同的用于将零件附接至工作台的结构。因此，通过具有可从连接件119拆卸的连接件120，能够基于规准制品所附接的工作台来选择合适的连接件120。

现在参照图9，显示了一种应用规准制品检查坐标定位机器的方法。所述方法包括：通过在已校准坐标定位机器上测量这些几何性质201而确定平台108的相关名义相同几何性质之间的偏差。坐标定位机器可以是以下类型：其测量平台的实际尺寸而不是简单地名义相同零件与主元件的相对偏差。在平台108在基部102上的两个运动学位置中执行对平台108的测量，以便考虑当平台108在两个位置之间转换时可能发生的位置改变。然后由这些测量确定名义相同几何性质之间的偏差的参考值202。作为在已校准坐标定位机器上测量规准制品的替换，可以应用设计数据来确定所述参考值。

然后在待检查坐标定位机器上测量平台108的相同的几何性质。这涉及在坐标定位机器的共同位置测量包括名义相同几何性质的平台108的各部分。对于规准制品101，这包括在基部102上的第一和第二运动学位置测量平台108。因此，对于每个位置，确定具有名义相同几何性质的各部分之间的偏差205，并且相对于应用已校准坐标定位机器确定的参考值而检查偏差206。如果在已测量偏差与参考值之间有区别，则可以确定诸如校正因子等坐标定位机器的调节。

该方法可以在整个坐标定位机器的多个位置中执行，所述多个位置与一系列零件上的待测量点的位置相对应。可以确定映射，将校正因子与位置关联起来。

根据所述实施例的规准制品的优点是：可以利用平台108的仅仅一个运动而检查两个(或者可能是四个)区域。这是因为平台在运动学位置之间的旋转将具有名义相同几何性质的一个部分定位到之前由另一部分占据的空间中的平台108的那个部分，反之亦然。为了检查坐标定位机器的新的区域，可以释放锁定螺钉并且将基部102旋转到不同的方位，或者可以操作连接件120以便从工作台释放规准制品，用于将规准制品定位在工作台的不同位置中。

可以在不同类型的坐标定位机器上实施本发明的方法。坐标定位机器可以包括专门用于测量的坐标测量机器，或者包括用于测量和机加工操作的机床。优选地，坐标定位设备包括非笛卡尔坐标定位机器。非笛卡尔坐标定位机器可以包括通过多个可伸展支柱连接至可移动平台的基础平台。支柱平行地伸展产生可移动平台的所需运动(例如沿x、y、z方向)。这些应与传统系列或桥式坐标测量机器形成对比，在所述传统系列或桥式坐标测量机器中，通过连续地安装线性滑块而实现沿着多个(例如三个)彼此正交的线性轴线的线性运动。当应用于非笛卡尔坐标定位机器中时该方法尤其有利，原因是在这些机器上的测量是可重复的并且对于小的距离是线性的，但是对于较大的差别难以实现这种直线性。

应当理解，可以对上述实施例进行改型和改变，而不会脱离这里所描述的以及由权利要求所限定的本发明的范围。

例如，支座105可以提供平台108在基部102上的多于两个的限定位置。

Claims (24)

1.一种规准制品，包括基部和平台，所述基部用于安装在坐标定位机器的工作台上，所述平台包括至少两个具有名义相同几何性质的部分，所述平台能够相对于基部在至少两个位置定位，使得具有名义相同几何性质的所述至少两个部分的每一个能出现在相对于基部的共同位置处。

2.根据权利要求2所述的规准制品，其中，当位于所述共同位置时，所述至少两个部分的名义相同几何性质在其形状、尺寸和/或特征的相对位置方面区别已知的量。

3.根据前面任意一项权利要求所述的规准制品，其中，所述平台布置成：具有名义相同几何性质的所述至少两个部分相对于所述基部的位置能够通过所述平台在所述至少两个位置之间的运动而互换。

4.一种规准制品，包括基部以及可在两个或多个不同位置定位于所述基部上的平台，所述平台包括至少两个具有名义相同几何性质的部分，所述部分相对于基部的位置能够通过所述平台在所述两个或多个不同位置之间的运动而互换。

5.根据前面任意一项权利要求所述的规准制品，其中，所述位置被布置成：所述平台必须旋转以便在所述两个位置之间移动所述平台。

6.根据权利要求5所述的规准制品，其中，所述平台至少部分地呈现名义旋转对称性。

7.一种规准制品，包括基部和平台，所述基部用于安装在坐标定位机器的工作台上，所述平台可位于所述基部上，其中所述平台至少部分地呈现名义旋转对称性，使得所述平台能相对于所述基部旋转以便互换所述平台的所述名义对称部分的位置。

8.根据前面任意一项权利要求所述的规准制品，包括位于所述基部和所述平台上的相配合的安装构造，当它们接合时限定用于所述平台在基部上的的两个或多个位置。

9.根据权利要求8所述的规准制品，其中，所述安装构造限定用于所述平台在基部上的两个或多个运动学位置。

10.根据权利要求8或9所述的规准制品，包括位于所述基部和平台的其中一个上的一组三个构造，其布置成与位于平台和基部的另一个上的两组或多组三个相应构造相配合以便提供所述至少两个位置。

11.根据权利要求8至10中任意一项所述的规准制品，其中，每个构造包括位于所述基部和平台的其中一个上的狭槽或球体，其布置成分别与位于所述平台和基部的另一个上的球体或狭槽相配合。

12.根据权利要求8至11中任意一项所述的规准制品，包括对准元件，用于将所述平台在基部上的定位限制为由所述构造提供的限定位置的全部可能数目的子集。

13.根据前面任意一项权利要求所述的规准制品，包括用于将所述平台推动到所述基部上的偏压。

14.一种规准制品，包括基部和一个或多个元件，所述元件可相对于所述基部在两个或多个构造之间再构造，其中在每个构造中，所述一个或多个元件提供类似的但不相同的零件以便在相对于基部的相同位置由坐标定位机器测量。

15.一种规准制品的平台，所述平台包括至少两个部分，所述两个部分具有名义相同的几何性质和安装构造，所述安装构造布置成与规准制品的基部的安装构造相配合，使得所述平台能相对于所述基部定位在至少两个位置，藉此具有名义相同几何性质的所述至少两个部分的每一个能相对于所述基部出现在共同位置处。

16.第一本体和第二本体的组合，所述第一本体和第二本体包括相配合的构造，当所述构造接合时形成支座，用于将第一和第二本体的相对定位约束为多个运动学位置，其中所述第一和第二本体包括相配合的对准元件，用于将所述本体的定位约束为由所述构造提供的多个运动学位置的子集。

17.根据权利要求16所述的组合，其中，所述对准元件将所述第一和第二本体的相对定位约束为两个运动学位置。

18.一种检查坐标定位机器的方法，包括当规准制品处于第一和第二构造时利用坐标定位机器测量可再构造规准制品的几何性质，将当规准制品处于第一和第二构造时所获得的几何性质的测量值差与已知偏差进行比较，以及基于所述比较确定坐标定位机器是否在令人满意地操作。

19.根据权利要求18所述的方法，包括当规准制品处于一个或多个另外的构造时利用坐标定位机器测量可再构造规准制品的几何性质。

20.根据权利要求18或19所述的方法，包括在每个构造下测量规准制品的多于一个的几何性质。

21.根据权利要求20所述的方法，其中，所述多于一个的几何性质的测量是在规准制品上的间隔位置，并且对于在其中要测量几何性质的每个位置确定单独的校准因子。

22.根据权利要求18至21中任意一项所述的方法，其中，再构造所述规准制品包括相应于将要由坐标定位机器测量的几何性质互换具有名义相同几何性质的两个或多个部分。

23.根据权利要求18至22中任意一项所述的方法，其中，在整个坐标定位机器上对于规准制品的多个位置执行所述方法。

24.根据权利要求23所述的方法，其中，所述位置与将要在一系列零件上测量的点的位置相对应。