CN103869130A - 用于测试与测量仪器的滚动测量显示贴标 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及用于测试与测量仪器的滚动测量显示贴标。公开了一种被配置成接收至少一个输入信号的测试与测量仪器。该测试与测量仪器包括被配置成对输入信号进行采样并且生成多个测量的处理器。该处理器被配置成生成具有被配置用于以连续、滚动的方式在显示器上呈现的多个标贴元素的测量标贴。每个标贴元素具有与输入信号关联的测量值。该处理器可以被配置成对多个输入信号进行采样,并且每个标贴元素可以包括与所述多个输入信号的至少一个关联的测量值。每个标贴元素可以进一步包括源ID和测量类型。
Description
技术领域
本发明涉及测试与测量仪器的领域,并且特别是用于此类设备的改进的测量显示器。
背景技术
现代的数字示波器通常提供了生成给定输入信号的波形的能力。此类测试与测量仪器装配有可配置成捕获期望事件的触发硬件和软件。许多示波器具有显示所采集波形的波形测量的能力。然而,因为添加了许多测量,它们开始占据显著的屏幕空间并且会阻碍用户对重要波形信息的查看。因此,存在对于提供改进的测量显示能力的需要,所述测量显示能力为此类测试与测量仪器提供增强的测量查看能力。
发明内容
公开了一种被配置成接收至少一个输入信号的测试与测量仪器。该测试与测量仪器包括被配置成对输入信号进行采样并且生成多个测量的处理器。该处理器被配置成生成具有被配置用于以连续、滚动的方式在显示器上呈现的多个贴标(ticker)元素的测量贴标。每个贴标元素具有与输入信号关联的测量值。
处理器可以被配置成对多个输入信号进行采样并且每个贴标元素可以包括与所述多个输入信号的至少一个关联的测量值。每个贴标元素可以进一步包括源ID和测量类型。每个贴标元素可以进一步包括测量ID。源ID可以识别与输入信号关联的通道号。测量类型可以包括以下的至少一个:频率、峰峰幅度、周期和均方根(RMS)量值(magnitude)。测量ID可以包括关于测量的描述信息,所述描述信息包括以下的至少一个:最小、最大、平均和标准差。测量值可以包括单位信息。
测试与测量仪器还可以包括被配置成接收用户输入以及调整与测量标贴关联的格式的用户接口。用户接口可以被配置成添加标贴元素、删除标贴元素、编辑标贴元素以及开始和停止测量标贴。
还公开了一种在被配置成接收至少一个输入信号的测试与测量仪器上提供测量显示的方法。该方法包括对输入信号进行采样并且生成多个测量。利用被配置用于以连续、滚动的方式在显示器上呈现的多个标贴元素来生成测量标贴。每个标贴元素具有与输入信号关联的测量值。
方法可以包括对多个输入信号进行采样,其中每个标贴元素包括与所述多个输入信号的至少一个关联的测量值。每个标贴元素可以进一步包括源ID和测量类型。每个标贴元素可以进一步包括测量ID。源ID可以识别与输入信号关联的通道号。测量类型可以包括以下的至少一个:频率、峰峰幅度、周期和均方根(RMS)量值。测量ID可以包括关于测量的描述信息,所述描述信息包括以下的至少一个:最小、最大、平均和标准差。测量值可以包括单位信息。
方法还可以包括接收用户输入以及调整与测量标贴关联的格式。方法还可以包括基于用户输入来执行以下的至少一个:添加标贴元素、删除标贴元素、编辑标贴元素以及开始和停止测量标贴。
还公开了在其上存储了供处理器运行的计算机程序的计算机可读介质,所述处理器被配置成执行在被配置成接收至少一个输入信号的测试与测量仪器上提供测量显示的方法。该方法包括对输入信号进行采样并且生成多个测量。利用被配置用于以连续、滚动的方式在显示器上呈现的多个标贴元素来生成测量标贴。每个标贴元素具有与输入信号关联的测量值。
附图说明
图1a是具有典型显示器的示波器的示图;
图1b是具有堆叠测量显示的示波器的示图;
图2是可以被配置成以连续、滚动的方式来生成和显示测量标贴的测试与测量仪器的框图;
图3是测量标贴的框图;
图4是示出从测量模块到显示器的测量信息流的框图;
图5是其中沿着显示器的下沿来安置测量标贴的显示器的示图;
图6是具有设置窗口的显示器的示图;以及
图7是大体地示出基本用户接口功能的流程图。
具体实施方式
许多示波器具有显示所采集的波形的波形测量的能力。然而,因为添加了许多测量,它们开始占据显著的屏幕空间并且会阻碍用户对重要波形信息的查看。为了解决该问题,滚动测量显示(标贴)被使用来代替堆叠测量输出(图1b)。
图1a是具有可以被划分成多个显示区域14、16的显示器12的测试与测量仪器(示波器)10的示图。显示器12被配置成图形地显示至少一个波形24、26以及例如包括测量信息的字母数字文本之类的其他图形标记34、36。示波器10还具有多个被配置用于用户输入的用户控制装置(control)18和多个被配置成接收测试信号等等的电输入20。
在该示例中,示波器10被实现为具有采集***21、处理器22和被配置用于存储程序信息和数据的存储器23的独立单元。应该理解的是处理器22可以被耦合到例如I/O、图形生成硬件等之类的附加的电路。处理器22被配置成从经由用户控制装置18所选择的至少部分输入接收数据。模拟到数字(A/D)转换器25被配置成对从电输入20接收到的信号进行数字化。如下面讨论的,触发电路(触发***)27提供用于控制采集过程的计时信号。在其全部内容并入本文的美国专利第7,191,079号中公开了多种触发模式。
处理器22还被配置成生成由显示器12呈现的至少部分信息。应该理解的是示波器可以使用各种硬件和软件来实现,包括使用例如台式机、膝上型计算机、平板、智能电话或其他计算设备之类的计算设备来实现的实施例,并且这些***中的一些可以或可以不提供或要求显示设备。数字化器是不具有关联的显示器的***的示例。
图2是可以被配置成以连续、滚动的方式来生成并且显示测量标贴的测试与测量仪器30的框图。这是相对于诸如在图1b中示出的示例显示器11上示出的堆叠测量输出29之类的传统测量显示格式的改进。使用此类显示格式通常导致测量显示使显示波形的至少部分变得模糊。在此类情况之下,用户可以被要求关闭堆叠测量显示以便看到所有的波形信息。
回到图2,如由虚线51、53和55通常示出的,测试与测量仪器30包括被耦合到采集电路31、存储器33和显示器34的主处理器32。主处理器32还被耦合到测量模块35和用户接口模块37。应该理解的是测量模块35和用户接口模块37可以包括被耦合到主处理器32的硬件和可以被配置成在主处理器32上运行的软件这二者。线41和43通常图示从采集电路31到存储器33并且最终到显示器43的数据流。该路径通常意在图示例如在图1a中示出的波形24和26的波形信息的采集和显示。
在图2中,线45、47和49通常图示从采集电路31通过主处理器32并且最终到显示器43的数据流。该路径通常意在图示测量信息和例如在图1a中示出的图形标记34、36的其他标记的采集、生成以及显示。测量模块35通常地被配置成基于所采集的数据来生成测量。用户接口模块37通常地被配置成允许用户控制显示操作,包括对用于随后显示的测量信息进行选择和通常格式化。
图3是被分解成部分61a、61b、61c和61d的测量标贴61的框图。部分61a、61b、61c和61d可以通常地被理解为测量标贴在不同时间点处的快照。应该理解的是测量标贴61可以位于与测试与测量仪器关联的显示器上的任何地方。
测量标贴61包括例如63a-63c的以连续、滚动的方式被显示的多个标贴元素。还应该理解的是一旦所有的标贴元素已经被显示并滚动离开显示器,它们就可以以重复的循环方式被重新显示。每个标贴元素可以包括源ID 62、测量ID 64、测量类型66和至少一个测量值68。源ID 62可以识别测量被采得的测试与测量仪器的特定通道。测量类型66可以通常地描述如本文所公开的各种附图中示出的例如频率、峰峰幅度、周期、均方根(RMS)量值的测量类型。应该理解的是可以使用多种测量类型而不背离本公开的范围,包括但不限于:频率、周期、上升时间、下降时间、延迟、相位、正脉宽、负脉宽、正占空比、负占空比、突发宽度、峰峰值(电压)、幅度、最大、最小、高、低、正过冲、负过冲、上升沿计数、下降沿、计数、区域和循环区域。测量ID 64可以通常地提供例如最小、最大、标准差或其他标签信息之类的关于测量的进一步描述信息。测量值68可以通常地提供测量结果、典型数值信息,并且还可以包括单位信息。例如在标贴元素63a中包括了两个测量值:100.0MHz的当前值和101MHz的最大值(历史信息)。在标贴元素63c中包括了两个测量值:20mv的当前值和22mv的最大值(历史信息)。在标贴元素63b中也包括了两个测量值:15mv的当前值和16mv的最大值(历史信息)。
图4是示出从测量模块75经由存储器73到测量标贴74的测量信息流的框图。测量模块75(也见图2中的附图标记35)通常地被配置成基于所采集的数据来生成测量。用户接口模块37(图2)通常地被配置成允许用户控制显示操作,包括对用于随后显示的测量信息进行选择和通常格式化。在该示例中,用户选择了用于随后显示的通常在存储单元71a-71i中存储的所示出的9个不同的标贴元素。箭头77通常意在示出一旦显示了所有的9个标贴元素,就可以重复该显示过程。应该理解的是可以依赖于由用户选择的标贴元素的数目而分配更少的或附加的存储单元。在该示例中,如由箭头79表示的,测量标贴74通常示出以连续、滚动的方式呈现的标贴元素71e、71b、和71c。存储器73的一部分被示出,其中标贴元素71f准备用于显示。
图5是其中沿着显示器的下沿来安置测量标贴84a的显示器80的示图。在该示例中,如由附图标记84b和84c所图示的,测量标贴从左向右滚动。应该理解的是可以在某些时间间隔之后或在特定事件之后更新标贴元素值。在该示例中每秒3次对标贴元素值进行更新。
图5还示出了用户接口的一部分,也就是设置窗口86a。设置窗口包括可以被选择以便配置测量标贴的标贴设置按钮88。应该理解的是,为了允许用户配置测量标贴,用户接口可以使用如本领域技术人员所熟知的的各种显示技术和输入方法。
图6是配置有设置窗口86b的显示器81的示图。在该示例中,设置窗口86b包括被配置成对滚动速度90和标贴元素(测量)92的数目进行选择的按钮/输入部分。设置窗口86b还包括可以通常被配置成控制是否显示测量标贴的开始/停止按钮96。设置窗口86b还包括可以被用来保存当前的测量标贴配置的保存按钮98。编辑按钮94可以被用来获得对例如90和92的各种按钮/输入部分的访问。应该理解的是可以提供例如触摸屏、图形指针、选择和滚动按钮之类的多种选择机制,以使得用户可以选择所期望的标贴元素并且通常地配置测量标贴,如在本领域中所熟知的。
图7是通常示出了执行基本用户接口功能的通用处理步骤的流程图100。应该理解的是本文所包含的任何流程图仅是说明性的,并且其他程序入口和出口点、超时函数、检错程序等等(未示出)将一般地被实现在典型的***软件中。还应该理解的是***软件在被启动后可以连续地运行。因此,例如附图标记90和97a-97d的任何开始和结束点意在指示能够根据需要而被运行的部分代码的逻辑开始和结束点。任何块的运行次序也可以变化而不背离本公开的范围。基于本文的公开,这些方面的实现是显而易见的并且很好地在本领域技术人员的把握之中。
如由块91a-91d通常示出的,处理通常在用户选择以下功能之一时开始:添加标贴元素、删除标贴元素、编辑标贴元素以及开始/停止标贴。如由块93a示出的,添加标贴元素功能通常包括接收例如选择测量类型、通道等之类的标贴元素信息。应该理解的是如图4中通常示出的可以分配一个或多个合适的存储单元。如由块95a通常示出的,可以重复该过程直到添加了所有期望的标贴元素。如由块93b示出的,删除标贴元素功能通常包括接收标贴元素删除信息。应该理解的是例如如图4中示出的可以解除分配一个或多个关联的存储单元。如由块95b通常示出的,可以重复该过程直到删除了所有期望的标贴元素。
如由块93c示出的,编辑标贴元素功能通常包括接收例如改变测量类型、通道等之类的标贴编辑信息。应该理解的是例如如图4中示出的可以重新分配或根据需要以其他方式调整一个或多个关联的存储单元。如由块95c通常示出的,可以重复该过程直到编辑了所有期望的标贴元素。如由块93d示出的,开始/停止标贴功能通常包括接收标贴开始/停止输入信息。应该理解的是除了开始/停止信息之外,用户可以执行诸如保存当前配置和清除所有当前标贴元素之类的其他功能。因此,例如如图4中示出的,可以分配、解除分配、更新或根据需要以其他方式调整一个或多个存储单元。如由块95d示出的,可以重复该过程直到接收了所有开始/停止信息。
应该理解的是基于本文的公开,许多变形是可能的。尽管上面以特定组合来描述特征和元素,但是每个特征或元素能够在没有其他特征和元素的情况下单独地被使用,或者在具有或不具有其他特征和元素的各种组合中使用。本文所公开的装置或方法可以以在计算机可读(非临时的)存储介质中包含的供通用计算机或处理器运行的计算机程序、软件、或固件来实现。计算机可读存储介质的示例包括只读存储器(ROM)、随机访问存储器(RAM)、寄存器、高速缓冲存储器、半导体存储设备、诸如内置硬盘、可移除硬盘、磁光介质之类的磁性介质、以及诸如CD-ROM盘和数字通用光盘(DVD)之类的光学介质。
合适的处理器通过示例的方式包括通用处理器、专用处理器、常规处理器、数字信号处理器(DSP)、多个微处理器、与DSP核联合的一个或多个微处理器、控制器、微控制器、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)电路、任何其他类型的集成电路(IC)、和/或状态机。
Claims (21)
1.一种被配置成接收至少一个输入信号的测试与测量仪器,所述测试与测量仪器包括:
被配置成对输入信号进行采样并且生成多个测量的处理器,所述处理器被配置成生成具有被配置用于以连续、滚动的方式在显示器上呈现的多个标贴元素的测量标贴,每个标贴元素具有与输入信号关联的测量值。
2.权利要求1的测试与测量仪器,其中所述处理器被配置成对多个输入信号进行采样并且每个标贴元素包括与所述多个输入信号的至少一个关联的测量值。
3.权利要求1的测试与测量仪器,其中每个标贴元素进一步包括源ID和测量类型。
4.权利要求3的测试与测量仪器,其中每个标贴元素进一步包括测量ID。
5.权利要求3的测试与测量仪器,其中源ID识别与输入信号关联的通道号。
6.权利要求3的测试与测量仪器,其中测量类型包括以下的至少一个:频率、峰峰幅度、周期和均方根(RMS)量值。
7.权利要求4的测试与测量仪器,其中测量ID包括关于测量的描述信息,所述描述信息包括以下的至少一个:最小、最大、平均和标准差。
8.权利要求1的测试与测量仪器,其中测量值包括单位信息。
9.权利要求1的测试与测量仪器,进一步包括被配置成接收用户输入并且调整与测量标贴关联的格式的用户接口。
10.权利要求9的测试与测量仪器,其中用户接口被配置成添加标贴元素、删除标贴元素、编辑标贴元素以及开始和停止测量标贴。
11.一种在被配置成接收至少一个输入信号的测试与测量仪器上提供测量显示的方法,所述方法包括:
对输入信号进行采样并且生成多个测量;
生成具有被配置用于以连续、滚动的方式在显示器上呈现的多个标贴元素的测量标贴,每个标贴元素具有与输入信号关联的测量值。
12.权利要求11的方法,进一步包括对多个输入信号进行采样,其中每个标贴元素包括与所述多个输入信号的至少一个关联的测量值。
13.权利要求11的方法,其中每个标贴元素进一步包括源ID和测量类型。
14.权利要求13的方法,其中每个标贴元素进一步包括测量ID。
15.权利要求13的方法,其中源ID识别与输入信号关联的通道号。
16.权利要求13的方法,其中测量类型包括以下的至少一个:频率、峰峰幅度、周期和RMS量值。
17.权利要求14的方法,其中测量ID包括关于测量的描述信息,所述描述信息包括以下的至少一个:最小、最大、平均和标准差。
18.权利要求11的方法,其中测量值包括单位信息。
19.权利要求11的方法,进一步包括接收用户输入以及调整与测量标贴关联的格式。
20.权利要求19的方法,进一步包括基于用户输入来执行以下的至少一个:添加标贴元素、删除标贴元素、编辑标贴元素以及开始和停止测量标贴。
21.一种在其上存储了供处理器运行的计算机程序的计算机可读介质,所述处理器被配置成执行一种在被配置成接收至少一个输入信号的测试与测量仪器上提供测量显示的方法,所述方法包括:
对输入信号进行采样并且生成多个测量;
生成具有被配置用于以连续、滚动的方式在显示器上呈现的多个标贴元素的测量标贴,每个标贴元素具有与输入信号关联的测量值。
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C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20140618 |