CN103797536B

CN103797536B - 多层结构片材的制造方法以及光学信息记录介质

Info

Publication number: CN103797536B
Application number: CN201280044116.4A
Authority: CN
Inventors: 见上龙雄; 望月英宏; 边见晃子
Original assignee: Fujifilm Corp
Current assignee: Fujifilm Corp
Priority date: 2011-09-13
Filing date: 2012-06-25
Publication date: 2017-02-15
Anticipated expiration: 2032-06-25
Also published as: JP5726689B2; JP2013062003A; WO2013038771A1; US9514779B2; CN103797536A; US20140193601A1

Abstract

本发明涉及用于制造具有包括多个记录层的多层结构的光学信息记录介质的多层片材制造方法，该方法包括：粘合剂层形成步骤，其中在第一剥离片（S1）上形成粘合剂层（中间层（15）、第一中间层（15A）），以获得第一片材（110）；记录层形成步骤，其中在第二剥离片（S2）上、或者在形成于第二剥离片上的辅助剥离层（第二中间层（15B））上形成含有聚合物分子的记录层（14），以获得第二片材（120）；贴合步骤，其中将第二片材（120）的记录层（14）贴合在第一片材（110）的粘合剂层（15、15A）上，以获得第二片材（120）层叠于第一片材（110）上的第三片材；以及加热第二片材（120）的加热步骤。

Description

多层结构片材的制造方法以及光学信息记录介质

技术领域

本发明涉及用于制造具有包括多个记录层的多层结构的光学信息记录介质的多层结构片材的制造方法，以及具有包括多个记录层的多层结构的光学信息记录介质。

背景技术

通常，作为用于制造具有包括多个记录层的多层结构的光学信息记录介质的方法，在本领域（例如，专利文献1）中已知使用具有记录层和压敏粘合剂层的层叠体的多层结构片材的方法。更具体而言，专利文献1中描述的多层结构片材具有剥离膜，该剥离膜附着在记录层和压敏粘合剂层的层叠体的各个外表面上。通过将此剥离膜从多层结构片材上剥离下来，并将片材重复叠加以使片材堆叠并粘附在基板上，则能够获得具有多层结构的光学信息记录介质。在使用多层结构片材的这类制造方法中，可通过制备大尺寸的多层结构片材来批量制造多个光学信息记录介质。

然而，如专利文献1所述的多层结构片材被构造为具有附着于记录层上的剥离膜，因此当将该剥离膜剥离时，存在记录层中会产生裂纹的风险。鉴于此，提出了这样的多层结构片材，该多层结构片材被构造为具有不直接附着于任何记录层的剥离膜（例如，专利文献2）。更具体而言，专利文献2中所述的多层结构片材具有这样的多层结构，该多层结构包括依次布置的压敏粘合剂层、记录层以及辅助剥离层，并且剥离膜附着在各个最外层（最外层为压敏粘合剂层和辅助剥离层）上。借助于如上所述的构造（其中如上所述使记录层夹在压敏粘合剂层和辅助剥离层中间，从而剥离膜不直接附着于任何记录层），可以降低在将该剥离膜剥离时记录层中会发生开裂的可能性。

引用列表

专利文献

专利文献1：JP2005-209328A

专利文献2：JP2011-81860A

发明内容

然而，即使采用了如专利文献2所描述的多层结构片材，当将剥离膜剥离时，取决于用于记录层的材料，记录层中也可能会出现裂纹。

鉴于该问题，本申请的发明人在研究提供用于制造多层结构片材和其中不易于产生裂纹的光学信息记录层的方法的过程中完成了本发明。

在本发明的一个方面中，提供了用于制造具有包括多个记录层的多层结构的光学信息记录介质的多层结构片材的制造方法。该方法包括：粘合剂层形成步骤，其中在第一剥离片上形成粘合剂层以获得第一片材；记录层形成步骤，其中在第二剥离片上、或者在形成于第二剥离片上的辅助剥离层上形成含有聚合物的记录层，以获得第二片材；以及层压步骤，其中将第二片材的记录层层压在第一片材的粘合剂层上，以获得其中第二片材置于第一片材上的第三片材。此外，该方法还包括加热该第二片材的加热步骤。该加热步骤可在层压步骤之前进行。

在本发明的另一个方面中，上述用于制造多层结构片材的方法可包括：对在层压步骤中获得的第三片材进行加热的加热步骤，以代替在层压步骤前对记录层形成步骤中所获得的第二片材进行加热的加热步骤。

通过这些构成，当将第一剥离片或第二剥离片从第三片材上除去时，记录层中不易于产生裂纹。

上述用于制造多层结构片材的方法（其包括加热第三片材的加热步骤）还可优选包括在加热步骤的过程中除去第二剥离片的除去步骤。

用于制造多层结构片材的上述方法（其包括加热第二片材的加热步骤）还可优选包括：在加热步骤之后对经过加热的第二片材进行冷却的冷却步骤。更优选地，该冷却步骤可包括将该第二片材置于低于环境温度的温度下。

通过这些构成，当将第二剥离片从第二片材中除去时，记录层中更不易于产生裂纹。

用于制造多层结构片材的上述方法（其包括加热第三片材的加热步骤）还可优选包括在加热之后、除去第二剥离片之前，对经过加热的第三片材进行冷却的冷却步骤，更优选地，该冷却步骤可包括将该第三片材置于低于环境温度的温度下。

通过这些构成，当将第一剥离片或第二剥离片从第三片材上除去时，记录层中更不易于产生裂纹。

在本发明的又另一个方面中，提供了一种光学信息记录介质，其通过利用由上述多层结构片材制造方法而制造的多层结构片材制得。

根据本发明的一个或更多个实施方案，其中包括的加热记录层的加热步骤有助于使记录层在除去第一剥离片或第二剥离片时不易于发生破裂。

通过参照附图，对下述的本发明的说明性而非限定性的实施方案进行详细说明，本发明的上述方面和有益效果、以及其他有益效果和更多特征将变得更显而易见。

附图简要说明

图1为根据第一实施方案的光学信息记录介质的截面图。

图2为示出在记录信息时形成的记录点的图。

图3为说明读取信息时的状态的图。

图4为说明在本领域已知的光学信息记录介质中形成凹状的过程的图。

图5为根据第一实施方案的多层结构片材的截面图。

图6为说明根据第一实施方案的多层结构片材和光学信息记录介质的制造方法的图。

图7为根据第二实施方案的光学信息记录介质的截面图。

图8为根据第二实施方案的多层结构片材的截面图。

图9为说明根据第二实施方案的多层结构片材的制造方法的图。

图10为说明根据第二实施方案的光学信息记录介质的制造方法的图。

图11为汇集了实验1、2和3的结果的表格。

图12为通过原子力显微镜观察到的记录点的图像。

具体实施方式

[第一实施方案]

下面将参照附图对本发明的第一实施方案进行以下描述。

如图1所示，根据本发明第一实施方案的光学信息记录介质10包括基板11、多个记录层14、多个中间层15和覆盖层16。

基板11包括支持板12和伺服信号层13。

所述支持板12是用于支持记录层14和其他层的支持部件，并且（例如）由聚碳酸酯圆盘制成。对于支持板12的材料和厚度没有特别的限制。

伺服信号层13是由粘性或粘合性的树脂材料制成的层，以将记录层14和中间层15保持在支持板12上，并且伺服信号层13的支持板12侧的表面具有预先记录为形状不规则或折射率存在变化的伺服信号。此处，伺服信号为预设信号，使得在记录和读取过程中，记录和读取装置能够将其识别为焦点控制的基准面。为了聚焦于特定的记录层14，通过考虑从基准面测得的距离和/或从基准面算起的界面数目从而进行聚焦控制。另外，可优选提供磁道跟踪伺服信号或槽，以使得在记录和读取的过程中能够利用激光束精确地照射以圆周方式布置的记录点轨迹。可以理解的是，伺服信号层13的有无是可任选的。

记录层14是由其中能够进行信息的光学记录的感光材料制成的层；在该实施方案中，记录层14含有聚合物粘结剂以及分散在该聚合物粘结剂中的染料。当用记录光束照射记录层14时，染料吸收记录光束并产生热，这导致聚合物粘结剂发生变形从而形成向位于记录层14和中间层15之间的界面18处的中间层15凸出的凸起形状（protrusive shape），从而记录信息。更具体而言，如将在后面所描述的，其中央变成从记录层14向中间层15凸出的凸起形状部，并且围绕该凸起形状部的部分形成为凹陷形状部，该凹陷形状部从中间层15向记录层14内凹陷（参见记录层14）。

为此，记录层14比含有聚合物粘结剂和染料的常规记录层更厚；单层记录层14的厚度在50nm至20μm的范围内，优选在100nm至15μm的范围内，更优选在200nm至10μm的范围内。如果厚度小于50μm，则如常规技术那样，记录层14与中间层15之间的界面18发生变形，使得以记录层14为基准在界面18中形成凹陷形状；然而，如果此处提供不小于50μm的厚度，则界面18发生变形，使得记录点的中央变成凸起。

所设置的记录层14的数量可在大约2层至100层的范围内。为了增加光学信息记录介质10的存储容量，记录层14的数量越多越好；例如优选设置十层或更多层。此外，记录层14的折射率在记录前后可以改变，但不是必须的。

记录层14的记录光束吸收率（单光子吸收率）优选等于或小于5%（单层）。此外，该吸收率更优选等于或小于2%，并且还更优选等于或小于1%。这是因为，（例如）如果达到最深记录层14的记录光束的强度必须为照射的记录光束强度的50%以上，那么为了获得30层记录层，则需要每一层记录层的吸收率为2%以下，而为了获得50层记录层，则需要每一层记录层的吸收率为1%以下。另一个原因是，如果吸收率较高，则记录层14易于过热，从而界面18中凸起形状的形成变得困难。

记录层14可以通过任意方法形成而没有限制；例如，其可通过使用将染料材料和聚合物粘结剂溶解于溶剂中所获得的液体进行旋涂或刮刀涂布而形成。可用于该目的的溶剂的例子可包括二氯甲烷、氯仿、甲乙酮（MEK）、丙酮、甲基异丁基酮（MIBK）、甲苯、己烷等。

用于记录层14的聚合物粘结剂的例子可包括聚醋酸乙烯酯（PVAc）、聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）、聚甲基丙烯酸乙酯、聚甲基丙烯酸丁酯、聚甲基丙烯酸苄酯、聚甲基丙烯酸异丁酯、聚甲基丙烯酸环己酯、聚碳酸酯（PC）、聚苯乙烯（PS）、聚氯乙烯（PVC）、聚乙烯醇（PVA）、聚苯甲酸乙烯酯、聚新戊酸乙烯酯、聚丙烯酸乙酯、聚丙烯酸丁酯等。

用于记录层14的记录光束吸收染料的例子可以包括常规被用作热模式型(heatmode type)记录材料的染料（单光子吸收染料）。例如，可使用酞菁类化合物、偶氮化合物、偶氮金属络合物和次甲基染料（例如菁类化合物、类菁（oxonol）类化合物、苯乙烯基染料和份菁染料）。另外，对于具有多个记录层的记录介质中的记录光束吸收染料，为了在记录/读取过程中将对相邻记录层的不利影响降至最低，优选的是含有多光子吸收染料的那些染料。作为多光子吸收染料的例子，优选的是在读取光束的波长范围内没有线性吸收的双光子吸收化合物。

可以无限制地使用任何已知的双光子吸收化合物，只要该双光子吸收化合物在读取光束的波长范围内没有线性吸收即可；例如，可使用具有由如下通式（1）表示的结构的化合物。

[化学式1]

通式（1）

在通式（1）中，X和Y各自表示Hammett对位取代基常数值（Hammett's sigma-paravalue）（σp值）为0以上的取代基，X和Y可彼此相同或不同；n表示1至4的整数；R表示取代基，并且多个R可彼此相同或不同；并且m表示0至4的整数。

在通式（1）中，X和Y各自表示哈米特方程（Hammett equation）中的σp值取正值的基团，即，所谓的吸电子基团，优选包括（例如）三氟甲基、杂环基、卤原子、氰基、硝基、烷基磺酰基、芳基磺酰基、氨磺酰基、氨基甲酰基、酰基、酰氧基、烷氧羰基等，更优选为三氟甲基、氰基、酰基、酰氧基和烷氧羰基，并且最优选为氰基和苯甲酰基。在这些取代基中，为了各种目的（包括赋予在溶剂中的溶解性），烷基磺酰基、芳基磺酰基、氨磺酰基、氨基甲酰基、酰基、酰氧基和烷氧羰基可以进一步含有取代基。这些取代基的例子优选包括烷基、烷氧基、烷氧基烷基、芳氧基等。

n优选为2或3，并且最优选为2。如果n为5以上，则n越大，那么出现在长波长侧的线性吸收越多，从而使得无法利用波长范围小于700nm的记录光束来完成非共振双光子吸收记录。

R表示取代基。对于该取代基没有特别的限制，作为具体例子，可以列举烷基、烷氧基、烷氧基烷基和芳氧基。

具有由通式（1）表示的结构的化合物不限定于具体的例子；可使用由以下化学结构式D-1至D-21所表示的化合物。

[化学式2]

中间层15设置在记录层14之间。换言之，中间层15被设置为与各记录层14的顶侧和底侧相邻。为了防止多个记录层14之间的层间串扰（即，来自于一个记录层14的信号与来自于相邻记录层14的另一个信号混合的现象），设置各中间层15以在记录层14之间形成预定量的空间。为此，中间层15的厚度等于或大于3μm，并且在作为实施例的本实施方案中为10μm。

中间层15由对记录和读取操作过程中施加的激光光束的照射无反应的材料制成。另外，为了将记录光束、读取光束和读回光束（read-back beam）（其中嵌入了通过读取光束的照射而产生的读回信号的光束）的损失降至最低，优选的是中间层15由对记录光束、读取光束和读回光束透明的材料制成。这里，术语“透明”表示其吸收率等于或小于1%。

中间层15为粘合剂层，具有能够粘附于另一物体表面的粘合性，并且比记录层14软。例如，中间层15的玻璃化转变温度低于记录层14的玻璃化转变温度。可通过适当选择可用作记录层14的材料的聚合物粘结剂（树脂）以及可用作中间层15的材料的树脂来获得这些构造。

这种中间层15比记录层14软的构造有利于中间层15的变形，该变形由通过记录光束加热记录层14使之膨胀而引起，因此可以容易地在位于中间层15和记录层14之间的界面18处产生变形。

中间层15的折射率与记录层14的折射率不同。这使得能够通过介于记录层14和中间层15之间的界面18处的折射率的急剧变化而发生读取光束的反射。中间层15优选被构造成与记录层14在折射率方面适度不同。更具体而言，优选地满足下面的不等式。

0.001<((n2-n1)/(n2+n1))²<0.04

其中n1表示记录层14的折射率，n2表示中间层15的折射率。

因为((n2-n1)/(n2+n1))²，即，反射率大于0.001，所以界面18处的反射光的量很大，使得在读取信息的过程中实现了高信噪比。另一方面，因为反射率小于0.04，所以界面18处的反射光的量被限制为适度的量，使得记录/读回光束能够到达更深的记录层14，而不会在记录和读取过程中发生较大的衰减。这样使得能够通过设置大量的记录层14来增加存储容量。

例如，中间层15的折射率n2可以为1.460。当记录层14的折射率n1为1.565时，((n2-n1)/(n2+n1))²为0.001205，这满足上面的不等式。

为了调节记录层14和中间层15的折射率，可以调节用于记录层14和用于中间层15的材料的组成。更具体而言，由于用于记录层14的材料是通过将诸如双光子吸收化合物之类的染料混合在聚合物粘结剂中而制备的，因此可以根据需要适当地选择具有适当折射率的染料或聚合物粘结剂并改变它们各自的组成比例来调节其折射率。即使聚合物粘结剂具有相似的基本构造，它们的折射率也会根据聚合的程度而改变。因此，还可以通过使用不同聚合度的聚合物粘结剂、或者通过调节聚合物粘结剂的聚合度来调节其折射率。另外，可以通过混合不同种类的聚合物粘结剂进行调节。此外，可以添加折射率匹配材料（refractiveindex matching material）（无机颗粒等）来调节折射率。

为了调节中间层15的折射率，可以对聚合物材料（如可用作中间层15的材料的树脂）的聚合度进行调节。或者，还可以任选地添加可用于中间层15的材料来调节折射率，或者还可以通过添加折射率匹配材料（无机颗粒等）来进行调节。

覆盖层16是为了保护记录层14和中间层15而设置的层，并且由允许读取/读回光束穿过覆盖层16的材料制成。覆盖层16具有数十微米至数毫米范围内的适当厚度。

以下将对在上述光学信息记录介质10上记录和读取信息的方法予以说明。

为了在所期望的记录层14中记录信息，如图2所示，用激光束（记录光束RB）照射记录层14，其中已根据待记录的信息对该激光束的输出进行了调制。如果记录层14含有多光子吸收化合物作为记录染料，则优选的是，用于该记录的激光束可以为峰值功率能够增大的脉冲激光束。记录光束RB的焦点位置可以（例如）设置于（但不限于）界面18附近。

如图2所示，当施加记录光束RB时，施加记录光束RB的区域的中央呈凸起形状并形成记录点M（凹坑），其中该凸起形状由记录层14向中间层15凸出。更具体而言，该记录点M包括形成为凸部M1的中心部分、以及围绕该凸部M1并向记录层14凹陷的环形凹部M2。从界面18（发生变形之前的界面18）至凹部M2的最深部分的距离小于从界面18（发生变形之前的界面18）到凸部M1的顶点的距离。换言之，可以认为记录点M整体上呈大致凸起的形状。虽然具有呈凸起形状的中心部分的记录点M的形成原理并不完全清楚，然而从至今已知的记录方法中的凹部形成原理（其中，在记录光束施加区域的中央呈凹陷状，该原理的解释也基于设想）进行类推，可以做出如下所述的假设。

首先，参照1987年8月1日的J.Appl.Phys.62（3）概括的常规记录方法的综述：当向记录材料施加记录光束时，会引起记录材料的温度升高并且该记录材料（记录层14）会发生如图4(a)（斜线区域表示加热区域）所示的膨胀；然后，如图4(b)所示，已经膨胀的部分在表面张力下流出至周围区域；然后，如图4(c)所示，随着温度降低，已经膨胀的记录材料收缩，并且已经流出至围绕照射区域的周围区域的部分留在了高于基准面（记录层14的上表面）的位置从而形成了凸起形状，而因为该材料的流出使得中心部分降低至低于基准面的位置从而形成了凹陷形状。

相反，如图4(a)所示，在根据本实施方案而构造的光学信息记录介质中，当施加记录光束RB时，与常规记录方法中的现象类似，其记录层14发生热膨胀，并且该记录层14凸出。然而，在本实施方案中，因为记录层14相对较厚，靠近记录层14表面的部分的粘度不会降低至诸如常规方法中的水平，因此没有发生如图4(b)所示的流出。因此，当已经膨胀的部分随着温度的降低而收缩时，该部分从图4(a)显示的形状变形为图2中显示的形状，使得凸部M1留在中心处，而在该凸部M1周围形成凹部M2。

如图3所示，可通过连续波激光器产生的读取光束OB的照射来检测如上所述形成的记录点M，这是因为观察到在前侧界面18的记录点M周围部分的反射光与记录点M处的反射光之间的光强度差异（这种光强度差异是由于记录层14的折射率与第一中间层15A的折射率之间的差异所致），由此所观察到的光强度的调制使记录点M能够被检测到。为了能够实现这种光学检测，认为优选的是，凸部M1由变形前的界面18的位置凸出至凸出范围为1nm至300nm左右。

在本实施方案中，记录点M具有围绕凸部M1形成的凹部M2，因此当将用于检测记录点M的读取光束OB施加于该记录点M时，可预期到从记录点M反射的光的强度分布会根据距离该凸部M1中心的距离而急剧变化（比仅存在凸部M1的构造更加急剧），其结果是可以获得更高调制度的读回信号。

应该理解的是，符合本发明的光学信息记录介质可以是这样的：通过使记录层14变形为凸起形状从而记录信息；也可以是这样的：通过使记录层变形为凹陷形状从而记录信息。

为了清除记录于记录层14中的信息，将记录层14加热至聚合物粘结剂的玻璃化转变温度附近的温度，优选加热至高于玻璃化转变温度的温度，以增加聚合物粘结剂的流动性，并且由于表面张力使得界面18中的变形消失，从而恢复其初始平面形状；因此，可以清除记录于信息层14中的信息。因为信息可以以这种方式清除，所以可在记录层14中进行再记录（重复记录）。当为此目的加热记录层14时，可以采用连续波激光束照射记录层14并同时使该激光束聚焦于记录层14的方法。通过用连续波激光器加热，可完全清除记录于记录层14内的连续区域中的信息而没有遗漏。所使用的连续波激光器可以是用于读回信息的激光器，或者可以使用其他激光器。在这两种情况中，优选使用以下构造的激光器，该激光器可发射具有能够发生单光子吸收的波长的光。

另外，当将要通过加热记录层14来清除信息时，可将整个光学信息记录介质10加热至高于聚合物粘结剂的玻璃化转变温度的温度，从而能够一次清除记录于所有记录层14中的信息。用这种方法，不论记录层14中所含染料的种类如何，记录于光学信息记录介质中的所有信息均易于被清除以进行初始化。另外，当丢弃光学信息记录介质时，也易于清除信息。

如上所述，在根据该实施方案的光学信息记录介质10中，可以通过形成记录点M来记录信息，该记录点M具有从记录层14向界面18处的中间层15凸出的凸起形状。因为不需要在记录层14中具有高流动性以形成该记录点M（在通过形成凹陷形状而进行记录的常规情况中则需要这种高流动性），所以能够实现高灵敏度记录。

虽然上文已经描述了根据本实施方案的光学信息记录介质10，但是可以通过适当变型的形式实施本发明，而非限定于上述的实施方案。

在上述实施方案中，将记录层14构造为包含聚合物粘结剂以及分散在该聚合物粘结剂中的染料，但本发明并不限定于这种构造；可将记录层构造为包含结合有染料的聚合物。

更具体而言，该记录层14可包含具有由下面通式（2）表示的结构的聚合物。

[化学式3]

通式（2）

在通式（2）中，Y表示Hammett对位取代基常数值（σp值）为0以上的取代基，X也表示相同种类的取代基。X和Y可彼此相同或不同。n表示1至4的整数；R₁、R₂、R₃表示取代基，并且可以彼此相同或不同；l表示不小于1的整数；并且m表示0至4的整数。

可利用图5中所示的多层结构片材100来制造上述构造的光学信息记录介质10。

多层结构片材100包括第一剥离片S1、中间层15、记录层14和第二剥离片S2。更具体而言，多层结构片材100具有这样的结构，其中中间层15和记录层14的双层结构夹在第一剥离片S1和第二剥离片S2之间。第一剥离片S1和第二剥离片S2的朝向中间层15侧和记录层14侧的表面上涂布有防粘剂。

如上所述构造的多层结构片材100可以通过下面的方法制造。

首先，如图6（a）所示，在第一剥离片S1的涂布有防粘剂的表面上形成中间层15，以获得第一片材110（粘合剂层形成步骤）。

另一方面，如图6（b）所示，在第二剥离片S2的涂布有防粘剂的表面上形成记录层14，以获得第二片材120（记录层形成步骤）。此处使用的涂布于第一剥离片S1的防粘剂的剥离性能等级更高，因此剥离第一剥离片S1所需的力弱于剥离第二剥离片S2所需的力。应该理解的是，粘合剂层形成步骤和记录层形成步骤可以以任意顺序进行。

对形成各层的方法的选择没有限制；例如，可采用刮刀涂布、辊涂、棒涂、刮板涂布、口模涂布（die coating）、凹版涂布以及任何其他涂布方法。

下面，将第二片材120放入烘箱等中并加热（加热步骤）。该加热步骤中的加热是在通过初步试验确定的适当条件（在适当的温度下加热适当的加热时间）下进行的。考虑到制造效率，加热时间可以是能够获得本发明的有益效果所需的最短时间。该加热方法可不限于使用烘箱的方法；任意方法都是可行的，只要该方法不会引起对各层和各剥离片的不良后果即可。

之后，使在加热步骤中被加热的第二片材120在环境温度下冷却。然后，如图6（c）所示，将该加热后冷却的第二片材120的记录层14层压在第一片材110的中间层15上，以获得如图5所示的多层结构片材（第三片材）100，其中第二片材置于第一片材110上（层压步骤）。

将如上所述获得的多层结构片材100卷成辊并储存，当使用时仅从中取出所需的长度。

利用如上所述的制造根据本实施方案的多层结构片材100的方法，由于在制造过程中记录层14被加热，因此当除去第一剥离片S1或第二剥离片S2时，记录层14中产生裂纹的风险降低了。据推测，其原因是由于加热使该记录层14***。推测的另一个原因可能是，在加热之后、除去第一剥离片S1或第二剥离片S2之前进行的冷却步骤使记录层14的之前软化的材料发生收缩，从而产生了压缩残余应力。

在上述实施方案中，在加热步骤之后，使第二片材120在环境温度下冷却；然而，也可以将经过加热的第二片材120放入冷冻冷藏库等中，从而使其在低于环境温度的温度下冷却（冷却步骤）。通过如上所述将经过加热的第二片材120在低于环境温度的温度下冷却，可进一步降低除去第二片材120中的第二剥离片S2时记录层14中发生裂纹的风险。

下面，将描述利用多层结构片材100制造光学信息记录介质10的方法的一个例子。

首先，将卷成辊的图5中所示的多层结构片材100取出，并冲压成基板11的形状。然后，如图6（d）所示，将冲压后的多层结构片材100中的第一剥离片S1除去，从而露出其中间层15，并获得第四片材130。

接下来，如图6（e）所示，将第四片材130的露出的中间层15粘附至基板11。然后，如图6（f）所示，除去第二剥离片S2。以这种方式，在基板11上形成了一个中间层15和一个记录层14。

此外，重复进行将另外的第四片材130堆叠在设置于基板11上的最上层记录层14上的步骤。

最后，在最上层记录层14上形成覆盖层16，从而可制造如图1所示的具有包括多个记录层14的多层结构的光学信息记录介质10。

根据该制造方法，在制造过程中，当将第一剥离片S1和第二剥离片S2从多层结构片材100中除去时，记录层14中不易产生裂纹。[第二实施方案]

下面，将参照附图对本发明的第二实施方案进行描述。该第二实施方案提供了将第一中间层15A和第二中间层15B设置为中间层的构造。在描述本实施方案时，将与上述第一实施方案中相同的元件指定为相同的参考符号，并将省略重复的说明。

如图7所示，光学信息记录介质10’包括基板11、多个记录层14、多个中间层15’（第一中间层15A和第二中间层15Ｂ）和覆盖层16。

一层（单层）中间层15’包括第一中间层15A和第二中间层15B，其中第二中间层15B设置为与第一中间层15A在图7中的下侧相邻。第一中间层15A与记录层14的上游侧相邻，并且第二中间层15B与记录层14的下游侧相邻，其中上游侧和下游侧是相对于入射到记录层14上的记录光束的方向而定义的。

第一中间层15A是类似于第一实施方案的中间层15的粘合剂层。

第二中间层15B为辅助剥离层，设置该辅助剥离层以降低当利用多层结构片材200（后面将对其进行描述，第四片材230）制造光学信息记录介质10’时在记录层14中发生裂纹的风险。

作为用于第二中间层15B的材料，可优选的是比第一中间层15A更硬（即，玻璃化转变温度更高）的热塑性树脂或能量固化型树脂。如果使用能量固化型树脂，则易于将该材料涂布至适当的厚度，并且可使该材料快速固化，从而可更加容易地进行后面将描述的多层结构片材200（第四片材230）的制造。对于所使用的能量固化型树脂，可以优选采用紫外线固化型树脂。使用紫外线固化型树脂来形成第二中间层15B使得可以利用易于操作的紫外线（施加紫外线仅会引起第二中间层15B的固化），因此，在大面积的多层结构片材的制造中是有利的。

在本实施方案中，可将第二中间层15B构造为具有与记录层14相当或更高的硬度。更具体而言，例如可以将第二中间层15B构造为具有比记录层14的玻璃化转变温度更高的玻璃化转变温度。该构造可以通过适当选择可用作记录层14的材料的树脂以及可用作中间层15B的材料的树脂来实现。

第二中间层15B的折射率与记录层14的折射率基本相同。这里优选的是，介于记录层14和第二中间层15B之间的界面18B的反射率充分地低于介于记录层14和第一中间层15A之间的界面18A的反射率。

可利用图8所示的多层结构片材200（如图10（a）所示的第四片材230）来制造如上所述的光学信息记录介质10’。

多层结构片材200包括第一剥离片S1、第二剥离片S2、记录层14、第一中间层15A和第二中间层15B。更具体而言，多层结构片材200具有这样的结构：在第一剥离片S1和第二剥离片S2之间还夹有这样的三层结构，其中在该三层结构中，记录层14夹在第一中间层15A和第二中间层15B之间。第一剥离片S1的涂布有防粘剂的表面朝向第一中间层15A，同时第二剥离片S2的涂布有防粘剂的表面朝向第二中间层15B。

下面，将描述制造多层结构片材200（第四片材230）的方法、以及使用多层结构片材200（230）来制造光学信息记录介质10’的方法。

首先，如图9（a）所示，在第一剥离片S1的涂布有防粘剂的表面上形成第一中间层15A，以获得第一片材210（粘合剂层形成步骤）。

另一方面，如图9（b）所示，在第二剥离片S2的涂布有防粘剂的表面上形成第二中间层15B。此外，如图9（c）所示，在形成于第二剥离片S2上的第二中间层15B上形成记录层14，以获得第二片材220（记录层形成步骤）。

然后，将第二片材220的记录层14层压在第一片材210的第一中间层15A上，以获得图8所示的多层结构片材（第三片材）200，其中第二片材220置于第一片材210上（层压步骤）。

接下来，将多层结构片材200放入烘箱等中并加热（加热步骤）。在该加热步骤中，如图10（a）所示，将第二剥离片S2除去（除去步骤），以获得露出了第二中间层15B的第四片材230（多层结构片材）。

然后，将第四片材230在环境温度下冷却，然后将其冲压成基板11的形状。接下来，如图10（b）所示，将冲压后的第四片材230以第一剥离片S1侧朝上的方式置于第一载物台（first stage）T1上，并进行减压从而使其吸附于该第一载物台T1上。如图10（c）所示，在该状态下，将第一剥离片S1从第四片材230上除去。

接下来，如图10（d）所示，将通过减压而吸附于第二载物台T2上的基板11和位于第一载物台T1上的第四片材230层压在一起；然后，使设置在第一载物台T1下方的辊R在其上进行辊压，从而通过加压将第一中间层15A和基板11接合。

然后，将第一载物台T1侧的减压解除，从而使第二中间层15B与第一载物台T1分离。然后，在该第二中间层15B上，按照与上述相同的方法交替层压第四片材230。最后，在最上层第二中间层15B上形成覆盖层16，以获得光学信息记录介质10’。

如同第一实施方案一样，根据该多层结构片材制造方法，也降低了在将第二剥离片S2从多层结构片材200上除去时发生裂纹的风险。据推测，这是因为第二剥离片S2是在记录层被加热并软化的条件下除去的。

另外，同第一实施方案一样，当将第一剥离片S1从多层结构片材200上除去时，不易产生裂纹。

利用根据本实施方案的制造方法，由于将第二中间层15B设置在第二剥离片S2和记录层14之间，从而当除去第二剥离片S2时更不易于产生裂纹。

在本实施方案中，虽然在加热步骤过程中将第二剥离片S2从多层结构片材200上除去，但是在该加热步骤之后、将第二剥离片S2从多层结构片材200除去之前，可将该多层结构片材200在环境温度下或者在低于环境温度的温度下冷却。

在本实施方案中，已经示出了示意性的构造，其中，虽然多层结构片材的制造和使用该多层结构片材的光学信息记录介质制造是连续进行的，但是在除去第二剥离片S2和冷却步骤之后，可将多层结构片材（第四片材230）如同第一实施方案中那样卷起并以辊状的形式储存，从而当制造光学信息记录介质时，可仅仅取出所需的长度并将其冲压成基板11的形状来进行使用。

实施例

下面，将对实验进行描述，在实验中对各种不同制造方法的记录层中是否产生了裂纹进行了确认。

<实验1>

1.材料

（1）记录层材料

这里用到的记录层材料包含聚合物粘结剂和分散于其中的染料。

染料以下所示的化合物A

聚合物粘结剂聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)

（由SIGMA-ALDRICH Japan公司制造）

[化学式4]

化合物A

（2）粘合剂层材料

将DA-3010（由Hitachi Chemical株式会社制造）用作粘合剂层材料。

（3）剥离片

将Clean Separator HY-US20（由Higashiyama Film株式会社制造）用作剥离片。

2.制造多层结构片材的方法

制造用于各实施例的多层结构片材的方法如下。

（1）制备记录层溶液

将记录层材料与溶剂（2-丁酮(由Wako Pure Chemical Industries株式会社制造)）混合，搅拌1小时使其溶解于其中，从而制备记录层溶液。

（2）制造多层结构片材

将厚度为1mm、直径为12cm的玻璃基板设置在旋转涂布机（由Mikasa公司制造）上，将冲压成直径为12cm的片材的剥离片以涂有防粘剂的表面朝上的方式放置并固定在玻璃基板上。然后，将1mL记录层溶液涂布至剥离片上，并使旋转涂布机以600rpm旋转一分钟。然后将记录层干燥并最终形成于其上。

将由此获得的片材在烘箱中加热三十分钟，其中该烘箱的温度保持为预定温度（参见图11示出的加热温度），然后将其从该烘箱中取出并在环境温度（25℃）下冷却三十分钟。在图11中，标记为“未加热”的样品没有进行加热，标记为“未冷却”的样品没有进行冷却。

将粘合剂层材料涂布至新制备的剥离片的表面（该表面上涂布有防粘剂）上，并在该剥离片上形成粘合剂层。将由此获得的片材冲压成直径为12cm的片材。

将如上所述制备的两块片材层压在一起，从而使记录层和粘合剂层交替叠加。

3.评价方法

[测定记录层材料的玻璃化转变温度]

测定记录层材料的玻璃化转变温度(Tg)，以确定多层结构片材的加热温度的基准。

使用DSC6200R（由Seiko Instruments公司制造）将该记录层材料密封在由SUS制成的密封池内，并以10℃/分钟的速率在-100℃至100℃的范围内升温，从而测定第一玻璃化转变温度。另外，以50℃/分钟的速率将温度从100℃降至-100℃，随后以10℃/分钟的速率在-100℃至100℃的范围内升温，从而测定第二玻璃化转变温度。将此时的温度确定为玻璃化转变温度。

[观察记录层中的裂纹]

在环境温度下，将附着于各记录层的剥离片除去，并使用共聚焦激光显微镜OLS-3000（由Shimadzu株式会社制造）观察记录层的裸露表面。通过将剥离片与记录层分离的边折叠至大约180度的角度并沿着多层结构片材的表面拉扯该边，从而将剥离片除去。

4.结果

[记录层材料的玻璃化转变温度]

实验1中使用的记录层材料的玻璃化转变温度为62℃。

[记录层中的裂纹]

如图11所示，在不同温度下加热记录层，并证实了如果加热温度为50℃以下（比较例1-1至1-3），则在记录层中产生裂纹，而如果加热温度为60℃以上（实施例1-1至1-4），则在记录层中不产生裂纹。因此，已经表明，通过在不低于预定温度的温度下进行加热可以抑制除去剥离片时记录层中裂纹的产生。

<实验2>

在实验2中，使用了不同于实验1中所用的记录层材料来制造多层结构片材，以研究即使将结合有染料的聚合物用作记录层材料时，是否也可以通过加热该记录层来抑制记录层中裂纹的产生。

1.材料

（1）记录层材料

作为记录层材料，使用了以下表示的化合物B。

[化学式5]

化合物B

（2）粘合剂层材料、剥离片

这里使用的粘合剂层材料和剥离片与实验1中所用的那些相同。

2.制造多层结构片材的方法

制造用于各实施例的多层结构片材的方法如下。

（1）制备记录层溶液

将记录层材料与溶剂（2-丁酮(由Wako Pure Chemical Industries株式会社制造)）混合，搅拌1小时并使其溶解于其中，从而制备记录层溶液。

（2）制造多层结构片材

通过与实验1中多层结构片材的制造方法相同的方法来制造各实施例的多层结构片材。

3.评价方法

[测定记录层材料的玻璃化转变温度]

通过与实验1的评价方法中所描述的相同的方法来进行记录层材料的玻璃化转变温度的测定。

[观察记录层中的裂纹]

通过与实验1的评价方法中所描述的相同的方法来观察各实施例和各比较例的记录层中的裂纹。在实施例2-2中，当记录层在进行加热之后仍然在烘箱中时，除去该记录层上的剥离片。

4.结果

[记录层材料的玻璃化转变温度]

实验2中使用的记录层材料的玻璃化转变温度为42℃.

[记录层中的裂纹]

如图11所示，在不同温度下加热记录层，并证实了如果加热温度为60℃以下（比较例2-1至2-4），则在记录层中产生裂纹，而如果加热温度为70℃以上（实施例2-1至2-4），则在记录层中不产生裂纹。因此，已经表明，即使将结合有染料的聚合物用作记录层材料，通过在不低于预定温度的温度下进行加热，也可以抑制除去剥离片时记录层中裂纹的产生。

在实施例2-2中，在进行加热之后，该记录层没有冷却，并且将仍位于烘箱中的记录层上的剥离片除去，然而即使在该条件下，记录层中也没有产生裂纹。由此表明，虽然记录层在进行加热之后不需要冷却，而是可以将剥离片从处于加热状态的记录层上除去。

<实验3>

在实施例3中，将加热温度保持恒定，通过在加热后设定不同的冷却温度、并且在多层结构片材中设置辅助剥离层从而进行实验，由此研究当除去剥离片时使得记录层中更不易于产生裂纹的条件。

（1）记录层材料

作为记录层材料，使用了以下表示的化合物C。

[化学式6]

化合物C

（2）粘合剂层材料、剥离片

这里使用的粘合剂层材料和剥离片与实验1中所用的那些相同。（3）辅助剥离层材料

作为辅助剥离层材料，使用了紫外线固化型树脂SD-640（由DIC公司制造）。

2.制造多层结构片材的方法

制造各实施例中的多层结构片材的方法如下。

（1）制备记录层溶液

（2）制造多层结构片材

（2-1）实施例3-1

通过与实验1中制造多层结构片材的方法相同的方法来制造实施例3-1中所用的多层结构片材。

（2-2）实施例3-2

将由此获得的片材在保持为100℃的烘箱中加热三十分钟，然后将其从该烘箱中取出，将其置于冷冻冷藏库（-20℃、CT-3213(由Nihon Freezer公司制造)）中并冷却三十分钟。

将粘合剂层材料涂布至新制备剥离片的施加有防粘剂的表面上，并在该剥离片上形成粘合剂层。将由此获得的片材冲压成直径为12cm的片材。

将两片如上所述制备的片材层压在一起，从而使记录层和粘合剂层交替叠加。

（2-3）实施例3-3

将厚度为1mm、直径为12cm的玻璃基板设置在旋转涂布机（由Mikasa公司制造）上，将冲压成直径为12cm的片材的剥离片以涂有防粘剂的表面朝上的方式放置并固定在玻璃基板上。然后，将3mL辅助剥离层材料滴至剥离片上，并使旋转涂布机以2000rpm旋转30秒。随后，使用4.2英寸SPIRAL LAMP（由Xenon公司制造）进行紫外线照射，每轮的持续时间为0.5秒，将照射重复十次，从而使辅助剥离层固化。将1mL记录层溶液施加至如此固化的辅助剥离层上，并使旋转涂布机以600rpm旋转一分钟。然后将记录层干燥并最终形成于其上。

将由此获得的片材置于保持为100℃的烘箱中加热三十分钟，然后将其从该烘箱中取出并在环境温度（25℃）下冷却三十分钟。

将两片如上所述制备的片材层压在一起从而使记录层和粘合剂层交替叠加。

（2-4）比较例3-1

3.评价方法

[测定记录层材料的玻璃化转变温度]

[观察记录层中的裂纹]

通过与实验1的评价方法中所描述的相同的方法来观察各实施例和各比较例的记录层中的裂纹。在实施例3-3和比较例3-1中，在除去附着于辅助剥离层的剥离片之后，对记录层的裂纹进行观察。

4.结果

[记录层材料的玻璃化转变温度]

实验3中使用的记录层材料的玻璃化转变温度为54℃.

[记录层中的裂纹]

如图11所示，在实施例3-1中，在除去附着于记录层的剥离片之后，在记录层中观察到了轻微的裂纹，但该裂纹为若干微米的数量级，应该认为其大致在误差可校正的范围内（不大于100微米）；因此，鉴于其可用于光学信息记录介质，该裂纹是可以忽略的。

由于在实施例3-1中的记录层中出现了一些裂纹，因此将加热后的冷却温度设定为不高于环境温度（-20℃）的温度。因此，在实施例3-2中，即使在除去附着于记录层的剥离片时，记录层中也没有产生裂纹。

在实施例3-3中，这样构造多层结构片材，使得记录层夹在辅助剥离层和粘合剂层之间，并在与实施例3-1中所采用的相同的条件下进行加热和冷却；然后，即使当将附着于辅助剥离层的剥离片除去时，记录层中也没有产生裂纹。另一方面，在比较例3-1中，虽然使用的多层结构片材的构造与实施例3-3中所采用的构造相同，但是当在没有上述加热和冷却步骤的情况下将附着于辅助剥离层的剥离片除去时，记录层中产生了裂纹。

<记录测试>

下面将给出以下实验的描述，该实验用以验证记录层中可以形成凸起形状的变形，从而光学信息记录介质是可进行记录的。

1.记录材料

（1）聚合物粘结剂

使用聚甲基丙烯酸甲酯19376（由SIGMA-ALDRICH公司制造）作为聚合物粘结剂。

（2）染料

使用上述化合物A作为染料。

2.制备记录介质

将2-丁酮（由Wako Pure Chemical Industries株式会社生产）用作溶剂，向其中混合上述的聚合物粘结剂和染料，并搅拌1小时使其溶解于其中，以制备记录层溶液。

将剥离膜（Clean Separator HY-US20，由Higashiyama Film株式会社制造）切成大约10cm宽、20cm长的片，将其放置在光滑的玻璃板上，然后用刮刀涂布机手动地将记录层溶液涂布于其上并干燥，以形成记录层。

将尺寸大约为2×3cm的粘合剂层（DA-3010，由Hitachi Chemical株式会社制造）在玻璃载片（基板）上粘附两次，然后将在剥离片上形成的记录层与粘合剂层相对放置并粘附于其上。然后，移除剥离片，并将粘合剂层（DA-3010）继续在记录层上粘附两次。最后，在其上粘附作为覆盖层的聚碳酸酯膜（PURE-ACE C110，由Teijin Chemicals株式会社生产）。

通过MINICOM ELECTRONIC GAGE（TOKYO SEIMITSU）测量的各层的膜厚如下：

3.记录的测试、评价方法

将具有522nm波长的脉冲激光器用作记录激光器，并且在峰值功率为36.8W且脉冲宽度为10微秒的条件下，在介于记录层和粘合剂层之间的界面处进行记录。

下面，将覆盖层一侧的粘合剂层剥离，并用以下指定的原子力显微镜（AFM）进行表面轮廓测定（surface profiling）。

原子力显微镜

装置：

纳米搜索显微镜OLS-3500（由Olympus株式会社制造）

观察条件：

动态模式（dynamic mode），扫描范围为10μm、扫描速度为1Hz

使用了高纵横比的探针AR5-NCHR-20（由Nano World AG公司制造）。

4.结果

图12中以三维的方式示出了由原子力显微镜（AFM）得到的表面轮廓测定结果。如图12所示，发现可观察到在记录层和粘合剂层之间的界面处形成的向粘合剂层凸出的凸起。

尽管在该实验中，将剥离片剥离之前没有加热记录层，但不应该认为记录的可行性取决于是否进行了加热步骤。

Claims

1.一种制造多层结构片材的方法，该多层结构片材用于制造具有包括多个记录层的多层结构的光学信息记录介质，所述方法包括：

粘合剂层形成步骤，其中在第一剥离片上形成粘合剂层以获得第一片材；

记录层形成步骤，其中在第二剥离片上、或者在形成于第二剥离片上的辅助剥离层上形成含有聚合物的记录层，以获得第二片材；以及

层压步骤，其将所述第二片材的所述记录层层压在所述第一片材的所述粘合剂层上，以获得第三片材，其中所述第二片材置于所述第一片材上，

其中所述方法还包括：

在获得所述第二片材之后，在70℃以上的温度下加热所述第二片材的加热步骤。

2.根据权利要求1所述的制造多层结构片材的方法，其中所述加热步骤在所述层压步骤之前进行。

3.根据权利要求1所述的制造多层结构片材的方法，还包括在所述加热步骤之后对经过加热的所述第二片材进行冷却的冷却步骤。

4.根据权利要求3所述的制造多层结构片材的方法，其中所述冷却步骤包括将所述第二片材置于低于环境温度的温度下。

5.一种制造多层结构片材的方法，所述多层结构片材用于制造具有包括多个记录层的多层结构的光学信息记录介质，所述方法包括：

层压步骤，其中将所述第二片材的所述记录层层压在所述第一片材的所述粘合剂层上，以获得第三片材，其中所述第二片材置于所述第一片材上，

其中所述方法还包括：

在获得所述第三片材之后，在70℃以上的温度下加热所述第三片材的加热步骤。

6.根据权利要求5所述的制造多层结构片材的方法，还包括除去所述第二剥离片的除去步骤，该除去步骤在所述加热步骤的过程中进行。

7.根据权利要求5所述的制造多层结构片材的方法，还包括在所述加热步骤之后对经过加热的所述第三片材进行冷却的冷却步骤。

8.根据权利要求7所述的制造多层结构片材的方法，其中所述冷却步骤包括将所述第三片材置于低于环境温度的温度下。

9.一种光学信息记录介质，其利用由根据权利要求1至8中任一项所述的制造多层结构片材的方法制造的多层结构片材而制得。