CN103714365A - 射频sim卡中定时器校准的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种射频SIM卡中定时器校准的方法,包括:射频SIM卡接收来自接触式读卡器的定时器校准指令和ETU参数;查看闪存中时钟校准标志位,判断射频SIM卡是否已经校准;通过ETU参数计算出采样计数单元的初始值T1;将定时器模块清零,并将采样计数单元和定时器同时打开;判断采样计数单元是否达到初始值T1;当采样计数单元到达初始值T1后将采样计数单元和定时器同时停止,并读取定时器中寄存器的值N1;将N1写入闪存中作为定时器校准后的定时参数,同时修改时钟校准标志位成已经校准的状态。本发明不但保证了射频SIM卡定时器的时间准确、与外部设备时间相一致,而且校准方式简单,不增加成本。

Description

射频SIM卡中定时器校准的方法
技术领域
本发明涉及射频SIM卡,尤其涉及一种射频SIM卡中定时器校准的方法。
背景技术
射频SIM卡的MCU面积很小,均采用内部RC振荡器提供时钟源,精度很差(一般在±20%),因而导致定时器定时的时间不准;很难满足射频模块的需求。当射频SIM卡中的MCU无法提供准确定时的时候,射频的通信成功率将大大降低。
尤其当射频SIM卡越来越多的应用于电子钱包、网上购物、考勤等领域时,其通信的失败,会给用户造成极大的不良体验。
因此,通过调整定时器的精准度,以避免通信的失败,就显得非常有必要了。
发明内容
有鉴于此,我们提供一种射频SIM卡中定时器校准的方法,用于解决上述问题。
本发明的射频SIM卡中定时器校准的方法,包括如下步骤:(1)射频SIM卡上电复位后,接收来自接触式读卡器的定时器校准指令和ETU参数;(2)主控制单元查看闪存中时钟校准标志位,判断所述射频SIM卡是否已经校准;其中,若已校准,则从所述闪存中直接读取,若未校准,则执行步骤(3);(3)所述主控制单元通过ETU参数计算出采样计数单元的初始值T1,用于配置所述采样计数单元;(4)将定时器模块清零,并将所述采样计数单元和所述定时器同时打开;(5)判断所述采样计数单元是否达到所述初始值T1;(6)当所述采样计数单元到达所述初始值T1后将采样计数单元和定时器同时停止,并读取定时器中寄存器的值N1;(7)将N1写入到所述闪存中作为所述定时器校准后的定时参数,同时修改所述时钟校准标志位成已经校准的状态。
优选地,在步骤(4)中,关闭所述主控制单元的所有中断干扰源。
本发明通过上述方法,不但保证了射频SIM卡定时器的时间准确、与外部设备时间相一致,而且校准方式简单,不增加成本。
附图说明
图1是本发明中与射频SIM卡中定时器校准相关的模块的示意图。
图2是本发明中射频SIM卡中定时器校准的方法流程示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清晰,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例1
请参阅图1,所示为本发明中与射频SIM卡中定时器校准相关的模块的结构图。
一般情况下,由于接触式读卡器10(如acr38智能卡读卡器)所提供的时钟12是比较精准的,因此我们以接触式读卡器10所提供的时钟12为基准来进行校准。
在本实施方式中,当射频SIM卡20上电后,接触式读卡器10的CPU(中央处理器)11向射频SIM卡20发送定时器校准指令、及由时钟12提供的ETU(elementary time unit,基本时钟单元)参数。
射频SIM卡20中与定时器校准相关的模块包括主控制单元(MCU)21、闪存(FLASH)22、定时器23、及采样计数单元24。
射频SIM卡20通过7816接口接收定时器校准指令后,主控制单元21读取闪存22中的校准标志位,判断是否已校准。其中,如果已校准,则从闪存中进行读取;如果未校准,则接收ETU参数。
主控制单元21通过ETU参数计算出初始值T1,用于配制采样计数单元24。
定时器23用于在校准前清零,并与所述采样计数单元24同时开启,并记录在采样计数器单元24达到初始值T1时间内的值N1,然后将计数值N1写入闪存22中,作为校准后的定时参数。每次给射频SIM卡上电时,定时器的从闪存22中读出定时参数N1,从而确保射频SIM卡20的定时器23的准确性。
此外,对于闪存22,在其中开辟一段空间,该空间分为两部分,第一部分存储校准标志位,用于标识该射频SIM卡20是否已经校准;第二部分存储定时器校准后的定时参数,作为射频SIM卡20每次上电复位的加载参数。
实施例2
下面结合图2的射频SIM卡中定时器校准的方法流程图对本发明作进一步详细的说明。包括以下步骤:
S201中,接触式读卡器对其时钟的准确性进行测试,并记录ETU(elementary time unit,基本时钟单元)参数,在完成测试后,向射频SIM卡发送定时器校准指令与ETU参数。
S202中,射频SIM卡上电复位后,接收来自接触式读卡器的定时器校准指令和ETU参数;
S203中,射频SIM卡的主控制单元查看闪存中时钟校准标志位,判断该射频SIM卡是否已经校准;若已校准,则直接读取,若未校准,则执行步骤S204。
S204中,通过ETU参数计算出采样计数单元的初始值T1,用于配制所述采样计数单元。
S205中,关闭主控制单元的所有中断干扰源,将定时器模块清零;并将采样计数单元和定时器同时打开;
S206中,判断采样计数单元是否达到初始值T1,
S207中,当采样计数单元到达初始值T1,后将采样计数单元和定时器同时停止,并读取定时器中寄存器的值N1;将该值N1写入闪存中作为定时器校准后的定时参数,同时修改时钟校准标志位成已经校准的状态;
S208,将卡片重新上电复位后即可。
本发明利用移动终端的接触式读卡器提供的精准时钟,通过射频SIM卡的主控制单元可以采集外部时钟的特点,以外部时钟为基准,计算出射频SIM卡的定时器所需定时参数。然后将该定时参数写入闪存中,每次射频SIM卡上电的时候,将定时参数加载到定时器的配置中,不但保证了射频SIM卡中定时器的时间准确、与外部设备时间相一致,而且校准方式简单,不增加成本。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (2)

1.一种射频SIM卡中定时器校准的方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)射频SIM卡上电复位后,接收来自接触式读卡器的定时器校准指令和ETU参数;
(2)主控制单元查看闪存中时钟校准标志位,判断所述射频SIM卡是否已经校准;其中,若已校准,则从所述闪存中直接读取,若未校准,则执行步骤(3);
(3)所述主控制单元通过ETU参数计算出采样计数单元的初始值T1,用于配置所述采样计数单元;
(4)将定时器模块清零,并将所述采样计数单元和所述定时器同时打开;
(5)判断所述采样计数单元是否达到所述初始值T1;
(6)当所述采样计数单元到达所述初始值T1后将采样计数单元和定时器同时停止,并读取定时器中寄存器的值N1;
(7)将N1写入到所述闪存中作为所述定时器校准后的定时参数,同时修改所述时钟校准标志位成已经校准的状态。
2.如权利要求1所述的射频SIM卡中定时器校准的方法,其特征在于,在步骤(4)中,关闭所述主控制单元的所有中断干扰源。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105786662A (zh) * 2014-12-24 2016-07-20 北京兆易创新科技股份有限公司 一种mcu的校准方法和***
CN105785967A (zh) * 2014-12-24 2016-07-20 北京兆易创新科技股份有限公司 一种mcu的校准方法和***
CN105786661A (zh) * 2014-12-24 2016-07-20 北京兆易创新科技股份有限公司 一种mcu的校准方法和***

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010051776A1 (zh) * 2008-11-10 2010-05-14 北京铱钵隆芯科技有限责任公司 电子***起爆***中的起爆装置延期时间设定流程和电子***控制流程
CN102938220A (zh) * 2012-11-28 2013-02-20 天津七一二通信广播有限公司 一种船舶自动识别终端设备校准自身时钟的方法
CN103149970A (zh) * 2013-03-20 2013-06-12 珠海市杰理科技有限公司 时钟校准的方法和***

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010051776A1 (zh) * 2008-11-10 2010-05-14 北京铱钵隆芯科技有限责任公司 电子***起爆***中的起爆装置延期时间设定流程和电子***控制流程
CN102938220A (zh) * 2012-11-28 2013-02-20 天津七一二通信广播有限公司 一种船舶自动识别终端设备校准自身时钟的方法
CN103149970A (zh) * 2013-03-20 2013-06-12 珠海市杰理科技有限公司 时钟校准的方法和***

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105786662A (zh) * 2014-12-24 2016-07-20 北京兆易创新科技股份有限公司 一种mcu的校准方法和***
CN105785967A (zh) * 2014-12-24 2016-07-20 北京兆易创新科技股份有限公司 一种mcu的校准方法和***
CN105786661A (zh) * 2014-12-24 2016-07-20 北京兆易创新科技股份有限公司 一种mcu的校准方法和***
CN105785967B (zh) * 2014-12-24 2018-10-16 北京兆易创新科技股份有限公司 一种mcu的校准方法和***
CN105786661B (zh) * 2014-12-24 2019-09-17 北京兆易创新科技股份有限公司 一种mcu的校准方法和***
CN105786662B (zh) * 2014-12-24 2019-11-15 北京兆易创新科技股份有限公司 一种mcu的校准方法和***

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