CN103712635A - 光耦传感装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了光耦传感装置，包括反射式光耦传感器、吸收光信号的干扰屏蔽壳体，干扰屏蔽壳体正对光耦传感器感光检测点的一面为空，光耦传感器整***于干扰屏蔽壳体内。本发明提高了光耦检测器的抗干扰性及环境适应性。

Description

光耦传感装置

技术领域

本发明属于光检测领域，尤其涉及光耦传感装置。

背景技术

光耦传感器分为两种：

一种是反射式：是指光耦传感器的接收部件和发射部件在同一侧，即反射式光耦传感器为一体式光耦传感器；光耦传感器的光信号发射源发射出光信号，光信号经过的路径上可能会有反射光信号障碍物（即会反射光信号），使得光信号被反射回去，这时光耦检测的感光检测点就可以检测到光信号，当光信号经过的路径上没有障碍物时，则光耦传感器的感光检测点就检测不到光信号；这种方式可用于通过设置反射或不反射光信号来识别使用光耦传感器的设备当前的位置状态或光耦传感器前方是否有物体；在实际应用中，光耦传感器的工作环境中会存在这样那样的干扰光信号，且现有的光耦传感器本身的材料也会透光，干扰光信号可穿透光耦传感器感光检测点部分的材料，从侧面或后面到达感光检测点；干扰光信号的存在导致光耦传感器检测出错。如图1所示，1为反射式光耦传感器，竖线填充的圆圈为光耦传感器1的光信号发射源，横线填充的圆圈为光耦传感器1的感光检测点，箭头a表示光信号发射源发射的光信号，箭头b、c、d、e、f表示干扰光信号，A为反射光信号的障碍物，B为吸收光信号的障碍物（即该障碍物既不透光也不反射光），由图示可知，干扰光信号b和c均通过障碍物A反射到光耦检测器的感光检测点，造成检测状态错误；干扰光信号d由于照射到障碍物B后将被吸收，所以对检测无影响；干扰光信号e、f从感光检测点附近到达感光检测点，也会造成检测状态错误。

另一种是入射式：是指光耦传感器的光信号发射源在光耦传感器的感光检测点的对面，即入射式光耦传感器是一个分体式光耦传感器，当光信号发射源与感光检测点中间有不透光的障碍物时，光耦传感器就检测不到对面的光信号发射源发射的光信号，这种方式可用于根据是否检测到光信号来识别使用光耦传感器的设备当前的位置状态或光耦传感器与光信号发射源之间是否有物体；如图2所示，1a为入射式光耦传感器的接收部件，1b为入射式光耦传感器的发射部件；竖线填充的圆圈为光信号发射源，横线填充的圆圈为感光检测点，箭头a表示光信号发射源发射的光信号，箭头b、c、d表示干扰光信号，B为不透光障碍物，由图示可知，干扰光信号b、c、d都会到达感光检测点，造成状态检测错误。

为了解决干扰光信号造成的错误检测，现有技术一般通过将光耦检测器放置在没有干扰的密闭环境下使用或使用可以避开环境干扰光信号波段的光耦检测器进行检测，这使得光耦传感器的应用受到限制。

发明内容

本发明的目的是，提供光耦传感装置，以改善现有光耦传感器在有干扰环境中的检测准确率。

本发明公开了一种光耦传感装置，包括反射式光耦传感器，还包括一吸收光信号的干扰屏蔽壳体，上述干扰屏蔽壳体正对光耦传感器感光检测点的一面为空，上述光耦传感器整***于上述干扰屏蔽壳体内。

优选地，上述干扰屏蔽壳体的形状与上述光耦传感器的形状相适应，上述光耦传感器固定安装在上述干扰屏蔽壳体内。

优选地，上述干扰屏蔽壳体相对的两个内表面上设置有供上述光耦传感器前后平滑移动的轨道，上述光耦传感器卡装在上述轨道上。

优选地，上述干扰屏蔽壳体为一金属四方体。

本发明还公开了一种光耦传感装置，包括入射式光耦传感器，上述光耦传感装置还包括一吸收光信号的干扰屏蔽壳体，上述干扰屏蔽壳体正对光耦传感器感光检测点的一面为空；上述光耦传感器的接收部件位于上述干扰屏蔽壳体内。

优选地，上述干扰屏蔽壳体的形状与上述光耦传感器的接收部件的形状相适应，上述光耦传感器的接收部件固定安装在上述干扰屏蔽壳体内。

优选地，上述干扰屏蔽壳体相对的两个内表面上设置有供上述光耦传感器的接收部件前后平滑移动的轨道，上述光耦传感器的接收部件卡装在上述轨道上。

优选地，上述干扰屏蔽壳体为一金属四方体。

本发明通过为光耦检测器增加干扰屏蔽壳体的方式，有效阻挡了干扰光信号，从而解决了干扰光信号对光耦检测器检测的影响，提高了光耦检测器的抗干扰性及环境适应性。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是现有反射式光耦检测器工作时的示意图；

图2是现有入射式光耦检测器工作时的示意图；

图3是本发明光耦传感装置优选实施例的原理图；

图4是本发明光耦传感装置的光耦传感器为反射式光耦传感器时对干扰光信号的阻挡示意图；

图5是图4中的光耦传感器调整位置后对干扰光信号的阻挡示意图；

图6是本发明光耦传感装置的光耦传感器为入射式光耦传感器时对干扰光信号的阻挡示意图；

图7是图6中的光耦传感器的接收部件调整位置后对干扰光信号的阻挡示意图。

具体实施方式

为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

由于光是直线传播的，遇到可反射光信号的物体后会发生反射，所以本发明通过切断干扰光信号到达感光检测点的路径来解决由于干扰光信号造成的错误检测，具体如下：

如图3所示，是本发明光耦传感装置优选实施例的原理图，图a为光耦传感装置的光耦传感器为反射式光耦传感器的原理图，图中，1为光耦传感器，2为干扰屏蔽壳体；竖线填充的圆圈为光耦传感器1的光信号发射源，横线填充的圆圈为光耦传感器1的感光检测点，干扰屏蔽壳体2正对光耦传感器1的感光检测点的一面为空，形状与光耦传感器1的形状相适应，本实施例中，干扰屏蔽壳体2的形状为吸收光信号的一面为空的金属四方体，光耦传感器1安装在干扰屏蔽壳体2内。

在实际应用中，光耦传感器1可以固定安装在干扰屏蔽壳体2内，也可以在干扰屏蔽壳体2相对的两个内表面上设置供光耦传感器1前后平滑移动的轨道，光耦传感器1卡装在上述轨道上，这样，在光耦传感装置工作位置固定后，可根据实际工作环境中的干扰光信号情况，调节光耦传感器1的位置。

图b为光耦传感装置的光耦传感器为入射式光耦传感器的原理图；图中，1为光耦传感器的接收部件，2为干扰屏蔽壳体；横线填充的圆圈为光耦传感器的接收部件1的感光检测点，干扰屏蔽壳体2正对接收部件1感光检测点的一面为空，形状与接收部件1的形状相适应，本实施例中，干扰屏蔽壳体2的形状为吸收光信号的一面为空的金属四方体，接收部件1安装在干扰屏蔽壳体2内。

在实际应用中，接收部件1可以固定安装在干扰屏蔽壳体2内，也可以在干扰屏蔽壳体2相对的两个内表面上设置供接收部件1前后平滑移动的轨道，接收部件1卡装在上述轨道上，这样，在光耦传感装置工作位置固定后，可根据实际工作环境中的干扰光信号情况，调节接收部件1的位置，位置确定后，与光耦传感器的发射部件配合工作。

如图4所示，是本发明光耦传感装置的光耦传感器为反射式光耦传感器时对干扰光信号的阻挡示意图，竖线填充的圆圈为光信号发射源，横线填充的圆圈为感光检测点，1为光耦传感器，2为干扰屏蔽壳体；箭头a、b、c、d、e、f表示干扰光信号，A为反射光信号障碍物，B为吸收光信号障碍物，由图可知，干扰光信号a、d、e、f直接被阻挡；干扰光信号b经反射后距离感光检测点较远，干扰光信号c被反射到感光检测点，也就是说，干扰光信号c会造成光耦传感器1检测错误；此时，在光耦传感装置使用位置固定的情况下，可通过调节光耦传感器1的位置，使得干扰光信号c的反射光信号的路径不经过感光检测点；

如图5所示，是图4中的光耦传感器调整位置后对干扰光信号的阻挡示意图，由图可知，调节位置后，感光检测点不在干扰光信号c的反射路径上，此时，干扰光信号c也不会对光耦传感器1造成检测错误，也就是说，在当前工作环境中，干扰不会造成检测错误，此时可固定光耦传感器1在干扰屏蔽壳体2内的位置。

由于光信号发射源发射的光信号通过反射面反射后到达感光检测点时有干扰信号不会影响反射式工作时光耦传感器1的检测，故本发明对这种情况不做分析。

如图6所示，是本发明光耦传感装置的光耦传感器为入射式光耦传感器时对干扰光信号的阻挡示意图；1a为光耦传感器的接收部件，1b为光耦传感器的发射部件，2为干扰屏蔽壳体，竖线填充的圆圈为光信号发射源，横线填充的圆圈为感光检测点；箭头a、b、c、d表示干扰光信号，B为不透光障碍物；由图可知，干扰光信号b、c、d直接被阻挡；干扰光信号a直接到达感光检测点，被光耦传感器1检测到，会造成光耦传感器1检测错误；此时，在光耦传感装置使用位置固定的情况下，可通过调节光耦传感器1的位置，使得干扰光信号a不经过感光检测点；

如图7所示，是图6中的光耦传感器调整位置后对干扰光信号的阻挡示意图，由图可知，调节位置后，干扰光信号a不再经过感光检测点；干扰光信号a也不会对光耦传感器1造成检测错误，也就是说，在当前工作环境中，干扰不会造成检测错误，光耦传感器1的位置调整好后，即可固定安装在干扰屏蔽壳体2内。

由于没有阻挡物时，感光检测点可以检测到光信号发射源的状态，干扰光信号的存在不影响入射式工作时光耦传感器1的检测，故这里不做分析。

上述说明示出并描述了本发明的优选实施例，但如前所述，应当理解本发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本发明的精神和范围，则都应在本发明所附权利要求的保护范围内。

Claims (8)

1.一种光耦传感装置，包括反射式光耦传感器，其特征在于，所述光耦传感装置还包括一吸收光信号的干扰屏蔽壳体，所述干扰屏蔽壳体正对光耦传感器感光检测点的一面为空，所述光耦传感器整***于所述干扰屏蔽壳体内。

2.如权利要求1所述的光耦传感装置，其特征在于，所述干扰屏蔽壳体的形状与所述光耦传感器的形状相适应，所述光耦传感器固定安装在所述干扰屏蔽壳体内。

3.如权利要求1所述的光耦传感装置，其特征在于，所述干扰屏蔽壳体相对的两个内表面上设置有供所述光耦传感器前后平滑移动的轨道，所述光耦传感器卡装在所述轨道上。

4.如权利要求1、2或3所述的光耦传感装置，其特征在于，所述干扰屏蔽壳体为一金属四方体。

5.一种光耦传感装置，包括入射式光耦传感器，其特征在于，所述光耦传感装置还包括一吸收光信号的干扰屏蔽壳体，所述干扰屏蔽壳体正对光耦传感器感光检测点的一面为空；所述光耦传感器的接收部件位于所述干扰屏蔽壳体内。

6.如权利要求5所述的光耦传感装置，其特征在于，所述干扰屏蔽壳体的形状与所述光耦传感器的接收部件的形状相适应，所述光耦传感器的接收部件固定安装在所述干扰屏蔽壳体内。

7.如权利要求5所述的光耦传感装置，其特征在于，所述干扰屏蔽壳体相对的两个内表面上设置有供所述光耦传感器的接收部件前后平滑移动的轨道，所述光耦传感器的接收部件卡装在所述轨道上。

8.如权利要求5、6或7所述的光耦传感装置，其特征在于，所述干扰屏蔽壳体为一金属四方体。

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