CN103544911A - 电子装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子装置，包括驱动单元及面板单元。驱动单元具有多个通信接脚及多个驱动接脚，所述多个通信接脚耦接测试治具。所述面板单元通过多个走线耦接所述多个驱动接脚。当所述驱动单元处于测试模式时，所述驱动单元量测所述多个驱动接脚的电容值，并且依据所述多个驱动接脚的电容值判断所述多个走线是否有走线短路或走线断路现象。所述驱动单元通过所述多个通信接脚将所述多个走线的判断结果传送至所述测试治具。本发明电子装置可量测接脚的电容值，并且将接脚的电容值传送至测试治具，而测试治具则通过接脚的电容值判断走线是否有走线短路或走线断路的情况。

Description

电子装置

技术领域

本发明涉及一种电子装置，特别是涉及一种具有走线测试能力的电子装置。

背景技术

在现在，电子装置都朝着轻薄短小的设计理念发展，但电子装置所提供的功能却越来越多样化，亦即电子装置的走线趋于复杂，因此测试走线的工作变得复杂。若选择性的测试部分走线，则无法全面性的测试所有走线是否有走线短路或走线断路的情况，并且当有走线短路或走线断路的走线未被测出时，则电子装置的电路可能会因为走线短路或走线断路而失效或烧毁。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：为了弥补现有技术的不足，提供一种电子装置，可量测接脚的电容值，并且将接脚的电容值传送至测试治具，而测试治具则通过接脚的电容值判断走线是否有走线短路或走线断路的情况。

本发明提提供的电子装置包括驱动单元及面板单元。驱动单元具有多个通信接脚及多个驱动接脚，所述多个通信接脚耦接测试治具。面板单元通过多个走线耦接所述多个驱动接脚。当驱动单元处于测试模式时，驱动单元量测所述多个驱动接脚的电容值，并且依据所述多个驱动接脚的电容值判断所述多个走线是否有走线短路或走线断路现象。驱动单元通过所述多个通信接脚将所述多个走线的判断结果传送至测试治具。

基于上述，本发明实施例的电子装置，其驱动单元在测试模式时会对量测驱动接脚的电容值，并且依据驱动接脚的电容值判断耦接驱动接脚的走线是否有走线短路或走线断路的现象。藉此，可不需增加测试垫即可达到测试走线的功能，以降低电子装置的布线成本及测试成本。

附图说明

图1为依据本发明一实施例的电子装置的***示意图。

图2为依据本发明一实施例的图1的接脚A1~A10的电容值示意图。

图3为依据本发明还一实施例的图1的接脚A1~A10的电容值示意图。

图4为依据本发明再一实施例的图1的接脚A1~A10的电容值示意图。

其中，附图标记说明如下：

10             测试治具

100            电子装置

110            驱动单元

120            面板单元

A1~An          驱动接脚

C1~C3          通信接脚

CTR1,CTR2,CTR3 电容值范围

L1~Ln          走线

m1,m2,m3       中间值

具体实施方式

图1为依据本发明一实施例的电子装置的***示意图。请参照图1，在本实施例中，电子装置100包括驱动单元110及面板单元120。驱动单元110具有多个通信接脚（如C1~C3）及多个驱动接脚（如A1~An），通信接脚（如C1~C3）耦接测试治具10，以使驱动单元110可与测试治具10进行通信，其中n为一正整数。并且，上述通信接脚（如C1~C3）的数量可依据驱动单元110与测试治具10所使用的通信方式而变，本发明实施例不以此为限。面板单元120通过多个走线（如L1~Ln）耦接驱动接脚（如A1~An）。

当驱动单元110处于驱动模式时，驱动单元110通过驱动接脚（如A1~An）及走线（如L1~Ln）驱动面板单元120。若面板单元120包括液晶显示面板时，则驱动单元110可通过驱动接脚（如A1~An）及走线（如L1~Ln）提供对应的驱动信号（如扫描信号及/或像素电压）至面板单元120，亦即驱动单元110可包括闸极驱动器及/或源极驱动器，以驱动面板单元120进行显示。若面板单元120包括触控面板时，则驱动单元110可通过驱动接脚（如A1~An）及走线（如L1~Ln）提供对应的驱动信号及对面板单元120进行侦测，以驱动面板单元120进行触控侦测。

另一方面，当驱动单元110处于测试模式时，驱动单元110量测所述多个驱动接脚（如A1~An）的电容值，并且依据所述多个驱动接脚（如A1~An）的电容值判断走线（如L1~Ln）是否有走线短路或走线断路现象，其中电容值的量测可参照电容触控面板的侦测技术，但本发明实施例不以此为限。并且，驱动单元110通过通信接脚（如C1~C3）将走线（如L1~Ln）的判断结果传送至测试治具10。

进一步来说，若走线L1被判断出有走线短路或走线断路的现象，则驱动单元110可通过通信接脚（如C1~C3）告知测试治具10；若走线L1被判断出无走线短路或走线断路的现象，则驱动单元110同样可通过通信接脚（如C1~C3）告知测试治具10。

并且，若走线L1被判断出有走线短路的现象，表示驱动接脚A1（即耦接走线L1的驱动接脚）与相邻的驱动接脚A2短路、走线L1与相邻的走线L2短路、以及面板单元120中耦接走线L1的线路与其相邻的线路短路等状况至少其一发生。若走线L1被判断出有走线断路的现象，表示驱动接脚A1与走线L1未确实连接、走线L1断路、以及面板单元120中耦接走线L1的线路断路等状况至少其一发生。其余走线（如L2~Ln）的走线短路或走线断路的现象可依此类推，在此则不再赘述。

在本发明一实施例中，驱动单元110可于接收来自测试治具10的测试指令后切换至测试模式；或者，驱动单元可于电子装置100开机后切换至测试模式。并且，驱动单元110可于输出走线（如L1~Ln）的判断结果后回复至驱动模式。此外，在本发明一实施例中，驱动单元110可对通信接脚（如C1~C3）外的所有接脚（如A1~An）进行电容值量测；或者，驱动单元110可对被使用到的接脚（如A1~An）进行电容值量测。其中，所有被使用到的接脚（如A1~An）可记载于配置设定表中，而驱动单元110可依据配置设定表对接脚（如A1~An）进行电容值量测。

图2为依据本发明一实施例的图1的驱动接脚A1~A10的电容值示意图。请参照图1及图2，在本实施例中，是以驱动接脚A1~A10的电容值为例。驱动单元110在取得驱动接脚A1~A10的电容值后，会先决定电容值范围CTR1，以依据电容值范围CTR1判断走线L1~L10（即耦接驱动接脚A1~A10的走线）是否有走线短路或走线断路的现象。在此，驱动单元110会获取驱动接脚A1~A10的电容值中相近且数量较多的部分。在本实施例中，电容值是否相近可通过电容值之间的误差来判断，亦即可设定一参考值，若电容值之间误差高于参考值则判定为非相近的电容值，而电容值之间误差低于等于参考值判定为相近的电容值。并且，在此假设驱动接脚A1~A10的电容值之间的误差低于等于参考值，亦即驱动接脚A1~A10的电容值为相近的。

接着，将所获取的驱动接脚A1~A10的电容值的平均值作为电容值范围CTR1的中间值m1，并且中间值m1同时往上及往下延伸至电容值范围CTR1包括获取的驱动接脚A1~A10的电容值，其中由中间值m1往上及往下延伸的幅度可以为固定值，亦即电容值范围CTR1可依据本领域通常知者自行设定。在本实施例中，驱动接脚A1~A10的电容值皆位于电容值范围CTR1中，因此驱动单元110会判断走线L1~L10无走线短路或走线断路的现象。

此外，在本实施例中，驱动单元110为量测一次驱动接脚A1~A10的电容值，并以量测的驱动接脚A1~A10的电容值判断走线L1~L10是否有走线短路或走线断路的现象。但在其它实施例中，驱动单元110为量测多次驱动接脚A1~A10的电容值，并以量测的驱动接脚A1~A10的电容值判断走线L1~L10是否有走线短路或走线断路的现象，其中量测的次数可依据本领域通常知识者自行设定，本发明实施例不以此为限。

图3为依据本发明还一实施例的图1的接脚A1~A10的电容值示意图。请参照图1至图3，在本实施例中，同样以驱动接脚A1~A10的电容值为例，但驱动接脚A1~A10的电容值不同于图2所示。在此，驱动单元110会获取驱动接脚A1~A10的电容值中相近且数量较多的部分（即驱动接脚A1、A2、A4~A7、A9及A10的电容值），并且将所获取的驱动接脚A1、A2、A4~A7、A9及A10的电容值的平均值作为电容值范围CTR2的中间值m2，并且依据中间值m2定义包括驱动接脚A1、A2、A4~A6、A9及A10的电容值的电容值范围CTR2。在本实施例中，驱动接脚A1、A2、A4~A6、A9及A10的电容值位于电容值范围CTR2中，因此驱动单元110会判断走线L1、L2、L4~L6、L9及L10无走线短路或走线断路的现象。驱动接脚A3及A8的电容值位高于电容值范围CTR2，由于走线断路会造成电容值上升，因此驱动单元110会判断走线L3及L8有走线断路的现象。

图4为依据本发明再一实施例的图1的接脚A1~A10的电容值示意图。请参照图1、图2及图4，在本实施例中，同样以驱动接脚A1~A10的电容值为例，但驱动接脚A1~A10的电容值不同于图2所示。在此，驱动单元110会获取驱动接脚A1~A10的电容值中相近且数量较多的部分（即驱动接脚A1、A2及A6~A10的电容值），并且将所获取的驱动接脚A1、A2及A6~A10的电容值的平均值作为电容值范围CTR3的中间值m3，并且依据中间值m3定义包括驱动接脚A1、A2及A6~A10的电容值的电容值范围CTR3。在本实施例中，驱动接脚A1、A2及A6~A10的电容值位于电容值范围CTR2中，因此驱动单元110会判断走线L1、L2及L6~L10无走线短路或走线断路的现象。驱动接脚A3~A5的电容值位低于电容值范围CTR3，由于走线短路会造成电容值下降，因此驱动单元110会判断走线L3~L5有走线短路的现象。

综上所述，本发明实施例的电子装置，其驱动单元在测试模式时会对量测驱动接脚的电容值，并且依据驱动接脚的电容值判断耦接驱动接脚的走线是否有走线短路或走线断路的现象。藉此，可不需增加测试垫即可达到测试走线的功能，以降低电子装置的布线成本及测试成本。

虽然本发明已以实施例提供如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明之精神和范围内，当可作些许之更动与润饰，故本发明之保护范围当视后附之申请专利范围所界定者为准。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电子装置，包括：

一驱动单元，具有多个通信接脚及多个驱动接脚，所述多个通信接脚耦接一测试治具；以及

一面板单元，通过多个走线耦接所述多个驱动接脚；

其中，当所述驱动单元处于一测试模式时，所述驱动单元量测所述多个驱动接脚的电容值，并且依据所述多个驱动接脚的电容值判断所述多个走线是否有走线短路或走线断路现象，所述驱动单元通过所述多个通信接脚将所述多个走线的判断结果传送至所述测试治具。

2.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，当各所述多个驱动接脚的电容值高于一电容值范围时，所述驱动单元判断耦接所述驱动接脚的走线的至少其一有走线断路现象。

3.如权利要求2所述的电子装置，其特征在于，当各所述多个驱动接脚的电容值低于所述电容值范围时，所述驱动单元判断耦接所述驱动接脚的走线的至少其一有走线短路现象。

4.如权利要求2所述的电子装置，其特征在于，所述驱动单元获取所述多个驱动接脚的电容值中相近且数量较多的部分，并且将所获取的所述多个驱动接脚的电容值的平均值作为所述电容值范围的中间值，所述电容值范围包括所述驱动单元获取所获取的电容值。

5.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述驱动单元依据一配置设定表对所述多个驱动接脚进行电容值量测。

6.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述驱动单元于接收来自所述测试治具的一测试指令后切换至所述测试模式。

7.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述驱动单元于所述电子装置开机后切换至所述测试模式。

8.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述驱动单元于输出所述多个走线的判断结果后回复至一驱动模式。

9.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述面板单元包括一液晶显示面板或一触控面板的至少其一。

10.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，当所述面板单元包括一液晶显示面板时，所述驱动单元包括一闸极驱动器及一源极驱动器的至少其一。

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