CN103529247B - 一种用于测量贴片晶体电参数的治具 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及到治具领域,是一种用于测量贴片晶体电参数的治具。其特征是在测试治具底座上装有限位块;测试手柄的孔内上有导向轴,导向轴下有测试压紧弹簧,测试手柄的底座卡装在导向座上,测试手柄的下端有测试针。由于采用了本技术方案,测量贴片晶体电参数方法简单,节约了人力,提高了生产效率,降低了生产成本。
Description
技术领域
本发明涉及到治具领域,是一种用于测量贴片晶体电参数的治具。
背景技术
在贴片晶体生产领域,生产过程需要对封装完的产品进行抽查测试电参数,目前市场上没有一种测试夹具适用于这种微小贴片晶体。
发明内容
本发明的目的是要提供一种用于测量贴片晶体电参数的治具。
本发明的技术方案是:一种用于测量贴片晶体电参数的治具,其特征是在测试治具底座上装有限位块;测试手柄的孔内上有导向轴,导向轴下有测试压紧弹簧,测试手柄的底座卡装在导向座上,测试手柄的下端有测试针。
由于采用了上述技术方案,测量贴片晶体电参数方法简单,节约了人力,提高了生产效率,降低了生产成本。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
在图中:1、测试治具底座;2、限位块;3、测试手柄;4、导向座;5、测试压紧弹簧;6、导向轴;7、测试针。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明作进一步的说明。
在图1中,在测试治具底座1上装有限位块2;测试手柄3的孔内上有导向轴6,导向轴6下有测试压紧弹簧5,测试手柄3的底座卡装在导向座4上,测试手柄3的下端有测试针7。
实施例,先将测试手柄3向上提,顺时针旋转90度放至导向座4的上方,再用镊子将待测试产品测试电极朝上放入治具凹槽内,通过限位块2定位,再将测试手柄3逆时针旋转90度放至导向座4入口,由于测试压紧弹簧5的作用力,通过导向座4导入,正好将测试针7压在待测试产品黄色电极上沿,待测量完成将产品取出。
Claims (1)
1.一种用于测量贴片晶体电参数的治具,其主要特征是在测试治具底座(1)上装有限位块(2);测试手柄(3)的孔内上有导向轴(6),导向轴(6)下有测试压紧弹簧(5),测试手柄(3)的底座卡装在导向座(4)上,测试手柄(3)的下端有测试针(7),先将测试手柄(3)向上提,顺时针旋转90度放至导向座(4)的上方,再用镊子将待测试产品测试电极朝上放入治具凹槽内,通过限位块(2)定位,再将测试手柄(3)逆时针旋转90度放至导向座(4)入口,由于测试压紧弹簧(5)的作用力,通过导向座(4)导入,正好将测试针(7)压在待测试产品黄色电极上沿。
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