CN103490766A - 一种高速高精度源极跟随电路 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种高速高精度源极跟随电路,包括第一PMOS管和第二PMOS管,所述第一PMOS管的源极连接直流电源VAA,栅极连接输入电压VIN,漏极连接输出端;所述第二PMOS管2的源极与直流电源VAA连接,栅极与输入电压VIN连接,漏极连接输出端;所述第一PMOS源极上并联有输出电压VOUT。这种高速高精度源极跟随电路使PMOS管的输出阻抗对低频电压的影响变小,低频电压增益变大,线性度好。
Description
技术领域
本发明涉及一种源极跟随电路,尤其涉及一种高速高精度源极跟随电路。
背景技术
缓冲电路一般是指需要驱动大的负载的时候,往往用一个缓冲电路来驱动。该电路将输入信号的波形传递到输出上,并输出足够的电流来驱动输出点的电容和电阻负载。衡量缓冲的性能指标主要有带宽、线性度、低频电压增益,输出电压和输入电压越接近越好,期望增益为1。而源极跟随电路已被广泛的运用到缓冲中。
如附图1所示一种现有的源极跟随电路,其主要缺点是,低频增益为0.8-0.9左右,对高精度的缓冲不适用,输入到输出有直流电压降,线性度比较差,并且依赖于输入电压和电压空间。
为了解决直流压降的问题,可以使用两级源级跟随电路如附图2和附图3所示,但是这种情况下的低频增益为两级的低频增益的乘积,只有0.7左右。
当工艺提供两种不同的阈值电压的MOS管时,可以使用附图4所示电路提高增益。M1为阈值电压较高的MOS管,M2为阈值电压较低的MOS管。M1和M2的阈值电压差为M1的源漏级电压。由于M1,M2的阈值电压差为基本不随输入电压变化,M1的源漏级电压也基本不随输入电压变化,导致M1管的输出阻抗对低频电压的影响变小,低频电压增益变大。主要缺点是工艺需要两种不同的阈值电压,且这种工艺比较昂贵。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种能够使低频电压增益变大的高速高精度源极跟随电路。
为了解决上述技术问题,本发明是通过以下技术方案实现的:一种高速高精度源极跟随电路,包括第一PMOS管和第二PMOS管,所述第一PMOS管的源极连接直流电源VAA,栅极连接输入电压VIN,漏极连接输出端;所述第二PMOS管2的源极与直流电源VAA连接,栅极与输入电压VIN连接,漏极连接输出端。
优选的,所述第一PMOS源极上并联有输出电压VOUT。
与现有技术相比,本发明的有益之处是:这种高速高精度源极跟随电路使PMOS管的输出阻抗对低频电压的影响变小,低频电压增益变大,线性度好。
附图说明:
下面结合附图对本发明进一步说明。
图1是已有的源级跟随电路结构示意图;
图2、图3是已有的两级源级跟随电路结构示意图;
图4是采用两种阈值电压的源级跟随电路结构示意图;
图5是本发明一种高速高精度源极跟随电路结构示意图。
图中:1、第一PMOS管;2、第二PMOS管。
具体实施方式:
下面结合附图及具体实施方式对本发明进行详细描述:
图5所示一种高速高精度源极跟随电路,包括第一PMOS管1和第二PMOS管2,所述第一PMOS管1的源极连接直流电源VAA,且源极上还并联有输出电压VOUT,所述第一PMOS管1栅极连接输入电压VIN,漏极连接输出端;所述第二PMOS管2的源极与直流电源VAA连接,栅极与输入电压VIN连接,漏极连接输出端。
这种高速高精度源极跟随电路使第一PMOS管1的源漏级电压差约为第一PMOS管1的阈值电压加上第二PMOS管2的阈值电压,基本和输入电压无关,输出阻抗对低频电压的影响变小,低频电压增益变大,线性度好。
需要强调的是:以上仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (2)
1.一种高速高精度源极跟随电路,其特征在于:包括第一PMOS管(1)和第二PMOS管(2),所述第一PMOS管(1)的源极连接直流电源(VAA),栅极连接输入电压(VIN),漏极连接输出端;所述第二PMOS管(2)的源极与直流电源(VAA)连接,栅极与输入电压(VIN)连接,漏极连接输出端。
2.根据权利要求1所述的高速高精度源极跟随电路,其特征在于:所述第一PMOS管(1)源极上并联有输出电压(VOUT)。
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CN201310381522.6A CN103490766A (zh) | 2013-08-29 | 2013-08-29 | 一种高速高精度源极跟随电路 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Legal Events
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20140101 |