CN103454542A - 天线与传输线测试仪及实时自动校准方法 - Google Patents

天线与传输线测试仪及实时自动校准方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103454542A
CN103454542A CN2013104317675A CN201310431767A CN103454542A CN 103454542 A CN103454542 A CN 103454542A CN 2013104317675 A CN2013104317675 A CN 2013104317675A CN 201310431767 A CN201310431767 A CN 201310431767A CN 103454542 A CN103454542 A CN 103454542A
Authority
CN
China
Prior art keywords
error coefficient
temperature
frequency
tester
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2013104317675A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103454542B (zh
Inventor
韩晓东
朱伟
赵苏宇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CLP Kesiyi Technology Co Ltd
Original Assignee
CETC 41 Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CETC 41 Institute filed Critical CETC 41 Institute
Priority to CN201310431767.5A priority Critical patent/CN103454542B/zh
Publication of CN103454542A publication Critical patent/CN103454542A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103454542B publication Critical patent/CN103454542B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

本发明实现了一种能够实时自动校准的天线与传输线测试仪。分析仪内置温度传感器,测试仪开机时,驻机软件自动读取存储于内部FLASH的误差系数文件到内存,并根据当前设置的频率值和温度传感器检测到的当前温度进行误差系数的二维插值计算,得到合适的误差系数项并自动进行误差修正。当温度传感器检测到温度c发生变化或重新设置工作频率时,测试仪自动重复上述误差系数求解步骤得到新的误差系数项并重新进行误差修正。上述所有操作均在后台由软件自动进行,无需用户进行操作。用户在使用测试仪过程中不再需要进行任何的手动校准操作,可随时进行测试。

Description

天线与传输线测试仪及实时自动校准方法
技术领域
本发明涉及测试领域,特别涉及天线与传输线的自动校准测试方法及相应的测试仪。
背景技术
天线(Antenna)与传输线在无线通信中扮演着信号收发的角色,因此,包含有天线和传输线的产品在生产和实施的过程中,必须对天线和传输线的性能和参数进行测量。
目前,天线与传输线测试仪在使用之前必须进行校准来获得***误差,并在测试中使用矢量误差修正方法去除***误差。目前校准的方法有两种:机械校准方法和电子校准方法。不管是机械校准还是电子校准,都需要在测试前通过人工操作连接校准件来进行,校准时间长、效率低,随着环境温度的变化需要重新校准。
天线与传输线测试仪,由于其硬件***的不完善性,存在***误差,其***误差可用一个具有3项误差系数的误差模型来表示,如图1所示:三个误差系数项为Ed(方向性)、Es(源匹配)、Er(反射跟踪),a为入射波,b为反射波,гm为测量反射系数,г为实际反射系数。
由图1可以得出误差系数项、反射系数测量值、反射系数实际值的关系,如公式(1)所示:
гm=Ed-(EdEs-Er)г+Esгmг   (1)
现有的校准与误差修正方法是,使用机械校准件或电子校准件。机械校准过程为依次连接开路器、短路器、负载到测试端口,获得由3个公式(1)方程式组成的方程组,进行方程组求解得到误差系数项。电子校准过程为连接电子校准件到测试端口,电子校准件内部通过电子开关形成各种电子标准,获得由公式(1)组成的方程组,进行方程组求解得到误差系数项。在后面的测试中使用误差系数项对测量值同样使用公式(1)进行误差修正得到正确的测量值。
现有的天线与传输线测试仪校准方法的缺点是:测试之前必须使用校准件进行手动校准,校准过程速度慢,且容易由于连接不准确造成校准失败;每次校准操作只能确保一定温度范围内的准确度,环境温度发生较大变化时,需要重新进行校准;在搭建自动测试***时,天线与传输线测试仪的校准操作会降低自动测试***的自动化程度及测试效率。
本发明针对这些缺点,发明了一种能实时自动校准的天线与传输线测试仪,该测试仪内部有一个温度传感器实时进行温度检测,内部FLASH存储器中预存有出厂前测定的***误差系数文件,该误差数据文件包含该测试仪在若干温度下若干频率点上的误差系数项,在测试过程中,天线与传输线测试仪使用基于频率和温度的二维插值算法实时自动进行当前误差系数求解。该天线与传输线测试仪使用中不需要进行任何的手动校准操作,可随着环境温度的变化实时进行校准,使用该测试仪进行测试时,可大幅提高自动化程度及测试效率。
发明内容
本发明实现了一种能够实时自动校准的天线与传输线测试仪,用户在使用过程中不需要进行任何的手动校准操作,可随时进行测试。
根据本发明的一个方面,实现了一种能够实时自动校准的天线与传输线测试仪,所述天线与传输线测试仪包括:信号合成模块(1)、功分器(2)、定向耦合器(3)、幅相接收机模块(5)、FPGA数字中频处理模块(6)、CPU控制器(7)、FLASH存储器(9)、温度传感器(10);测试端口(4)与定向耦合器(3)相连;通信接口(8)与CPU控制器(7)相连。
根据本发明的一个方面,信号合成模块(1)由激励信号源(11)和本振信号源(12)组成。
根据本发明的一个方面,所述温度传感器(10)实时进行温度检测,所述FLASH存储器(9)内预存误差系数文件。
根据本发明的一个方面,幅相接收机模块包括两个混频器和两个模数(A/D)转换器,第一混频器用于对功分器(2)输出的一路作为参考信号的信号和本振信号源(12)输出的一路信号进行混频,混频输出信号经R通道被放大滤波和模数转换后输出到FPGA数字中频处理模块的第一输入端口;第二混频器用于对定向耦合器(3)输出的一路作为被测件反射信号的信号和本振信号源(12)输出的另一路信号进行混频,混频输出信号经A通道被放大滤波和模数转换后输出到FPGA数字中频处理模块的第二输入端口。
根据本发明的一个方面,FPGA数字中频处理模块(6)对数字中频信号进行I/Q分解和滤波,提取被测网络的幅度信息和相位信息,并发送给CPU控制器(7)。
根据本发明的另一个方面,实现了一种能够实时自动校准的天线与传输线测试方法,当测试仪开机时,首先将误差系数文件读取到内存;根据当前频率值和当前温度值进行误差系数的二维插值计算,得到合适的误差系数项;其特征在于,误差系数求解步骤包括:
A、判断当前频率f的范围:
当前频率f范围的判断过程,即判断f值位于误差系数文件哪两个频率点之间:
步骤①:设一计数变量i=0;
步骤②:判断freqStart+i×freqStep≤f≤freqStart+(i+1)×freqStep是否成立;
步骤③:若步骤②不成立,令i=i+1,重复步骤②~③;若步骤②成立,则进行步骤④;
步骤④:若步骤②成立,则频率f值位于误差系数文件中第i和第i+1个点之间,第i点的频率值为freqStart+i×freqStep记为f1;第i+1点的频率值为freqStart+(i+1)×freqStep记为f2,完成判断。
其中,freqStart为仪器中预存的误差系数文件中,误差系数对应的起始频率;
freqStep为仪器中预存的误差系数文件中,误差系数对应的步进频率;
N为仪器中预存的误差系数文件中,误差系数对应的频率点个数。
在以上判断过程中,i变量可由0增加到N-2,当i=N-2时即频率f位于误差系数文件中最后两个频率点之间f1=freqStart+(N-2)×freqStep,f2=freqStart+(N-1)×freqStep
若freqStart+i×freqStep≤f≤freqStart+(i+1)×freqStep  0≤i≤N-2
则令f1=freqStart+i×freqStep;
f2=freqStart+(i+1)×freqStep;
当前频率f位于[f1,f2]范围,频率插值计算将使用f1点和f2点数据;
B、判断当前温度C的范围:
从数据文件中读取三个温度值,使得当前温度处于这三个温度值中某两个之间,并对它们进行排序,设排序结果为C1≤C2≤C3,若c≤C2,则使用数据文件中温度C1和温度C2对应的数据进行插值计算,若c>C2,则使用数据文件中温度C2和温度C3对应的数据进行插值计算,此处设当前温度c≤C2;
C、根据频率进行插值:
温度C1、频率f处的方向性误差系数数据通过线段插值得出:
Ed ( C 1 , f ) = Ed ( C 1 , f 1 ) + Ed ( C 1 , f 2 ) - Ed ( C 1 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
温度C1、频率f处源匹配、反射跟踪误差系数为:
Es ( C 1 , f ) = Es ( C 1 , f 1 ) + Es ( C 1 , f 2 ) - Es ( C 1 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
Er ( C 1 , f ) = Er ( C 1 , f 1 ) + Er ( C 1 , f 2 ) - Er ( C 1 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
温度C2、频率f处的误差系数为:
Ed ( C 2 , f ) = Ed ( C 2 , f 1 ) + Ed ( C 2 , f 2 ) - Ed ( C 2 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
Es ( C 2 , f ) = Es ( C 2 , f 1 ) + Es ( C 2 , f 2 ) - Es ( C 2 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
Er ( C 2 , f ) = Er ( C 2 , f 1 ) + Er ( C 2 , f 2 ) - Er ( C 2 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
D、通过线段插值得到当前温度c处的方向性误差系数:
Ed ( c , f ) = Ed ( C 1 , f ) + Ed ( C 2 , f ) - Ed ( C 1 , f ) C 2 - C 1 ( c - C 1 )
温度c处的源匹配、反射跟踪误差系数为:
Es ( c , f ) = Es ( C 1 , f ) + Es ( C 2 , f ) - Es ( C 1 , f ) C 2 - C 1 ( c - C 1 )
Er ( c , f ) = Er ( C 1 , f ) + Er ( C 2 , f ) - Er ( C 1 , f ) C 2 - C 1 ( c - C 1 ) .
根据本发明的另一个方面,当温度c,频率f发生变化时,测试仪自动重复步骤A、B、C得到新的误差系数项。
本发明的测试仪在使用过程中不需要任何的校准操作,节省时间,提高测试效率;该测试仪的自动校准算法会根据温度及频率设置的变化实时进行误差系数计算。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1所示为按照本发明实施例的误差系数模型;
图2所示为按照本发明实施例的天线与传输线测试仪的框图;
图3所示为按照本发明实施例的误差系数文件格式图;
图4所示为按照本发明实施例的频率插值曲线;
图5所示为按照本发明实施例的温度插值曲线。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明的硬件设计方案原理框图如图2所示,主要包括:信号合成模块1、功分器2、定向耦合器3、幅相接收机模块5、FPGA数字中频处理模块6、CPU控制器7、FLASH存储器9、温度传感器10。
信号合成模块由激励信号源11和本振信号源12组成;幅相接收机模块包括两个混频器和两个模数(A/D)转换器,第一混频器用于对功分器2输出的一路作为参考信号的信号和本振信号源12输出的一路信号进行混频,混频输出信号经R通道被放大滤波和模数转换后输出到FPGA数字中频处理模块的第一输入端口;第二混频器用于对定向耦合器3输出的一路作为被测件反射信号的信号和本振信号源12输出的另一路信号进行混频,混频输出信号经A通道被放大滤波和模数转换后输出到FPGA数字中频处理模块的第二输入端口。
通信接口8接到CPU控制器;测试端口4连接到定向耦合器3。
激励信号源产生激励信号,经功分器分为两路,一路作为参考信号送入R通道表征入射波,另一路经定向耦合器加到被测件作为被测件的激励信号,定向耦合器将被测件的反射波分离出来送入A通道。本振信号源产生与激励信号源同步的频差固定的本振信号,进入R通道和A通道的信号与本振信号进行基波混频,输出中频信号。中频信号经过放大滤波和A/D数字化,转换为数字化中频,FPGA数字中频处理模块对数字中频进行I/Q分解和滤波,提取被测网络的幅度信息和相位信息,发送给CPU。CPU经过比值运算、误差修正求出被测网络的反射参数。
出厂前,天线与传输线测试仪进行温度试验:设置好频率范围、扫描点数等扫描参数,本实施例中设置频率范围为3MHz~88Mz,频率步进为1MHz,扫描点数为86。分别在不同的温度下,本实施例为0℃、25℃、30℃、35℃、40℃、45℃、50℃、55℃、60℃、65℃、70℃、75℃、80℃,对测试仪使用传统方法进行校准,得到不同温度下的误差系数并以文件形式存储在FLASH存储器中,文件格式如图3所示。误差系数文件包含内容为:起始频率、频率步进、点数,温度值C1及对应的误差系数项(源匹配、方向性、反射跟踪),温度值C2及对应的误差系数项(源匹配、方向性、反射跟踪),温度值C3及对应的误差系数项(源匹配、方向性、反射跟踪),依此类推。
天线与传输线测试仪实时自动校准方法是:当测试仪开机时,程序将读取误差系数文件到内存,并根据当前频率值和当前温度值进行误差系数的二维插值计算,得到合适的误差系数项。若当前温度值为c,测量频率点f,此时频率点f处的误差系数项表示如下:
方向性:Ed(c,f)
源匹配:Es(c,f)
反射跟踪:Er(c,f)
当前误差系数求解步骤如下:
①判断当前频率f的范围
若freqStart+i×freqStep≤f≤freqStart+(i+1)×freqStep  0≤i≤N-2
设f1=freqStart+i×freqStep
f2=freqStart+(i+1)×freqStep
则当前频率f位于[f1,f2]范围,频率插值计算将使用f1点和f2点数据。
②判断当前温度c的范围
从数据文件中读取出三个温度值,使得当前温度处于这三个温度值中某两个之间,并对它们进行排序,设排序结果为C1≤C2≤C3,若c≤C2,则使用数据文件中温度C1和温度C2对应的数据进行插值计算,若c>C2,则使用数据文件中温度C2和温度C3对应的数据进行插值计算。此处设当前温度c≤C2。
③根据频率插值
如图4所示为数据文件中温度C1对应的方向性误差系数,频率f处的方向性误差系数数据通过线段插值得出,如公式(2)所示。同样温度C1、频率f处源匹配、反射跟踪误差系数如公式(3)、(4)所示,温度C2、频率f处的误差系数如公式(5)、(6)、(7)所示。
Ed ( C 1 , f ) = Ed ( C 1 , f 1 ) + Ed ( C 1 , f 2 ) - Ed ( C 1 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 ) - - - ( 2 )
其中,Ed(C1,f1):误差系数文件中,温度C1,频率f1处的方向性误差系数;
Ed(C1,f2):误差系数文件中,温度C1,频率f2处的方向性误差系数;
Ed(C1,f):插值出的,温度C1,频率f处的方向性误差系数。
Es ( C 1 , f ) = Es ( C 1 , f 1 ) + Es ( C 1 , f 2 ) - Es ( C 1 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 ) - - - ( 3 )
其中,Es(C1,f1):误差系数文件中,温度C1,频率f1处的源匹配误差系数;
Es(C1,f2):误差系数文件中,温度C1,频率f2处的源匹配误差系数;
Es(C1,f):插值出的,温度C1,频率f处的源匹配误差系数。
Er ( C 1 , f ) = Er ( C 1 , f 1 ) + Er ( C 1 , f 2 ) - Er ( C 1 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 ) - - - ( 4 )
其中,Er(C1,f1):误差系数文件中,温度C1,频率f1处的反射跟踪误差系数;
Er(C1,f2):误差系数文件中,温度C1,频率f2处的反射跟踪误差系数;
Er(C1,f):插值出的,温度C1,频率f处的反射跟踪误差系数。
Ed ( C 2 , f ) = Ed ( C 2 , f 1 ) + Ed ( C 2 , f 2 ) - Ed ( C 2 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 ) - - - ( 5 )
其中,Ed(C2,f1):误差系数文件中,温度C2,频率f1处的方向性误差系数;
Ed(C2,f2):误差系数文件中,温度C2,频率f2处的方向性误差系数;
Ed(C2,f):插值出的,温度C2,频率f处的方向性误差系数。
Es ( C 2 , f ) = Es ( C 2 , f 1 ) + Es ( C 2 , f 2 ) - Es ( C 2 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 ) - - - ( 6 )
其中,Es(C2,f1):误差系数文件中,温度C2,频率f1处的源匹配误差系数;
Es(C2,f2):误差系数文件中,温度C2,频率f2处的源匹配误差系数;
Es(C2,f):插值出的,温度C2,频率f处的源匹配误差系数。
Er ( C 2 , f ) = Er ( C 2 , f 1 ) + Er ( C 2 , f 2 ) - Er ( C 2 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 ) - - - ( 7 )
其中,Er(C2,f1):误差系数文件中,温度C2,频率f1处的反射跟踪误差系数;
Er(C2,f2):误差系数文件中,温度C2,频率f2处的反射跟踪误差系数;
Er(C2,f):插值出的,温度C2,频率f处的反射跟踪误差系数。
④根据温度插值
图5所示为在温度C1,C2,C3下频率f处的方向性误差系数,通过线段插值可以得到当前温度c处的方向性误差系数,如公式(8),同理可以得到温度c处的源匹配、反射跟踪误差系数,如公示(9),(10)所示。
Ed ( c , f ) = Ed ( C 1 , f ) + Ed ( C 2 , f ) - Ed ( C 1 , f ) C 2 - C 1 ( c - C 1 ) - - - ( 8 )
其中,Ed(C1,f):公式(2)插值结果:温度C1,频率f处的方向性误差系数;
Ed(C2,f):公式(5)插值结果:温度C2,频率f处的方向性误差系数;
Ed(c,f):插值出的,温度c,频率f处的方向性误差系数。
Es ( c , f ) = Es ( C 1 , f ) + Es ( C 2 , f ) - Es ( C 1 , f ) C 2 - C 1 ( c - C 1 ) - - - ( 9 )
其中,Es(C1,f):公式(3)插值结果:温度C1,频率f处的源匹配误差系数;
Es(C2,f):公式(6)插值结果:温度C2,频率f处的源匹配误差系数;
Es(c,f):插值出的,温度c,频率f处的源匹配误差系数。
Er ( c , f ) = Er ( C 1 , f ) + Er ( C 2 , f ) - Er ( C 1 , f ) C 2 - C 1 ( c - C 1 ) - - - ( 10 )
其中,Er(C1,f):公式(4)插值结果:温度C1,频率f处的反射跟踪你误差系数;
Er(C2,f):公式(7)插值结果:温度C2,频率f处的反射跟踪误差系数;
Er(c,f):插值出的,温度c,频率f处的反射跟踪误差系数。
通过以上步骤最终确定在温度c下,频率f处的误差系数项。当温度c,频率f发生变化时,重复步骤①、②、③得到新的误差系数项。
相比现有技术,本发明的测试仪在使用过程中不需要任何的校准操作,节省时间,提高测试效率。该测试仪的自动校准算法会根据温度及频率设置的变化实时进行误差系数计算。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种能够实时自动校准的天线与传输线测试仪,其特征在于,包括:信号合成模块(1)、功分器(2)、定向耦合器(3)、幅相接收机模块(5)、FPGA数字中频处理模块(6)、CPU控制器(7)、FLASH存储器(9)、温度传感器(10);
测试端口(4)与定向耦合器(3)相连;
通信接口(8)与CPU控制器(7)相连。
2.根据权利要求1所述的天线与传输线测试仪,其特征在于,信号合成模块(1)由激励信号源(11)和本振信号源(12)组成。
3.根据权利要求1所述的天线与传输线测试仪,其特征在于,所述温度传感器(10)实时进行温度检测,所述FLASH存储器(9)内预存误差系数文件,该误差系数文件含该测试仪出厂测定的在若干温度下若干频率点上的误差系数项。
4.根据权利要求1所述的天线与传输线测试仪,其特征在于,幅相接收机模块包括两个混频器和两个模数(A/D)转换器,第一混频器用于对功分器(2)输出的一路作为参考信号的信号和本振信号源(12)输出的一路信号进行混频,混频输出信号经R通道被放大滤波和模数转换后输出到FPGA数字中频处理模块的第一输入端口;第二混频器用于对定向耦合器(3)输出的一路作为被测件反射信号的信号和本振信号源(12)输出的另一路信号进行混频,混频输出信号经A通道被放大滤波和模数转换后输出到FPGA数字中频处理模块的第二输入端口。
5.根据权利要求1-4任一项所述的天线与传输线测试仪,其特征在于,FPGA数字中频处理模块(6)对数字中频信号进行I/Q分解和滤波,提取被测网络的幅度信息和相位信息,并发送给CPU控制器(7)。
6.一种天线与传输线测试仪的实时自动校准方法,当测试仪开机时,首先将误差系数文件读取到内存;根据当前频率值和当前温度值进行误差系数的二维插值计算,得到合适的误差系数项;其特征在于,误差系数求解步骤包括:
A、判断当前频率f的范围:
若freqStart+i×freqStep≤f≤freqStart+(i+1)×freqStep  0≤i≤N-2
设f1=freqStart+i×freqStep
f2=freqStart+(i+1)×freqStep
则当前频率f位于[f1,f2]范围,频率插值计算将使用f1点和f2点数据;
B、判断当前温度C的范围:
对从数据文件中读取出的三个温度值排序,设排序结果为C1≤C2≤C3,若c≤C2,则使用数据文件中温度C1和温度C2对应的数据进行插值计算,若c>C2,则使用数据文件中温度C2和温度C3对应的数据进行插值计算,此处设当前温度c≤C2;
C、根据频率进行插值:
温度C1,频率f处的方向性误差系数数据通过线段插值得出:
Ed ( C 1 , f ) = Ed ( C 1 , f 1 ) + Ed ( C 1 , f 2 ) - Ed ( C 1 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
温度C1、频率f处源匹配、反射跟踪误差系数为:
Es ( C 1 , f ) = Es ( C 1 , f 1 ) + Es ( C 1 , f 2 ) - Es ( C 1 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
Er ( C 1 , f ) = Er ( C 1 , f 1 ) + Er ( C 1 , f 2 ) - Er ( C 1 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
温度C2、频率f处的误差系数为:
Ed ( C 2 , f ) = Ed ( C 2 , f 1 ) + Ed ( C 2 , f 2 ) - Ed ( C 2 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
Es ( C 2 , f ) = Es ( C 2 , f 1 ) + Es ( C 2 , f 2 ) - Es ( C 2 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
Er ( C 2 , f ) = Er ( C 2 , f 1 ) + Er ( C 2 , f 2 ) - Er ( C 2 , f 1 ) f 2 - f 1 × ( f - f 1 )
D、通过线段插值得到当前温度c处的方向性误差系数:
Ed ( c , f ) = Ed ( C 1 , f ) + Ed ( C 2 , f ) - Ed ( C 1 , f ) C 2 - C 1 × ( c - C 1 )
温度c处的源匹配、反射跟踪误差系数为:
Es ( c , f ) = Es ( C 1 , f ) + Es ( C 2 , f ) - Es ( C 1 , f ) C 2 - C 1 × ( c - C 1 )
Er ( c , f ) = Er ( C 1 , f ) + Er ( C 2 , f ) - Er ( C 1 , f ) C 2 - C 1 × ( c - C 1 ) .
7.根据权利要求6所述的天线与传输线测试仪的实时自动校准方法,其特征在于:当温度c,频率f发生变化时,测试仪自动重复步骤A、B、C得到新的误差系数项。
CN201310431767.5A 2013-09-11 2013-09-11 天线与传输线测试仪及实时自动校准方法 Active CN103454542B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310431767.5A CN103454542B (zh) 2013-09-11 2013-09-11 天线与传输线测试仪及实时自动校准方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310431767.5A CN103454542B (zh) 2013-09-11 2013-09-11 天线与传输线测试仪及实时自动校准方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103454542A true CN103454542A (zh) 2013-12-18
CN103454542B CN103454542B (zh) 2016-04-27

Family

ID=49737131

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310431767.5A Active CN103454542B (zh) 2013-09-11 2013-09-11 天线与传输线测试仪及实时自动校准方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103454542B (zh)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103884922A (zh) * 2014-03-26 2014-06-25 中国科学院紫金山天文台 单接收机太赫兹矢量场形测量装置及其测量方法
CN104316785A (zh) * 2014-10-08 2015-01-28 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种天馈线测试仪及延伸器件误差修正方法
CN105510766A (zh) * 2015-11-06 2016-04-20 中国电子科技集团公司第四十一研究所 射频电缆故障定位检测装置及检测方法
CN106199188A (zh) * 2016-07-20 2016-12-07 中国科学院紫金山天文台 一种利用环形器校准矢量场测量中移动电缆相位变化的装置及方法
CN106841840A (zh) * 2016-11-24 2017-06-13 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种低频段可变中频的数据处理方法
CN109470922A (zh) * 2018-11-09 2019-03-15 西安科技大学 一种高阻抗射频测量装置及方法
CN109541329A (zh) * 2018-09-29 2019-03-29 上海与德科技有限公司 一种天线测试方法及装置、天线测试设备和存储介质
WO2019210671A1 (zh) * 2018-05-02 2019-11-07 上海交通大学 微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数的测量方法
CN110806555A (zh) * 2019-11-14 2020-02-18 中电科仪器仪表有限公司 一种提升通过式功率计反射参数测量能力的方法
CN110827016A (zh) * 2019-10-12 2020-02-21 杭州海兴电力科技股份有限公司 一种STS的token充值误差解决方法及***
CN110967555A (zh) * 2019-11-26 2020-04-07 中电科仪器仪表有限公司 一种提高峰值功率测量触发精度的方法
CN117376076A (zh) * 2023-07-05 2024-01-09 ***通信有限公司研究院 同相正交iq校准方法、装置及电子设备

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5012181A (en) * 1987-01-29 1991-04-30 John Fluke Mfg. Co., Inc. Apparatus for and method of internally calibrating an electrical calibrator
US6735422B1 (en) * 2000-10-02 2004-05-11 Baldwin Keith R Calibrated DC compensation system for a wireless communication device configured in a zero intermediate frequency architecture
CN101141805A (zh) * 2007-02-27 2008-03-12 中兴通讯股份有限公司 射频信号产生及射频功率检测装置以及功率检测方法
CN101216526A (zh) * 2007-12-29 2008-07-09 福建三元达通讯股份有限公司 前馈环路同步检测装置
CN101702018A (zh) * 2009-11-12 2010-05-05 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种大调制带宽线性调频信号频响校准方法
CN101915909A (zh) * 2010-08-11 2010-12-15 四川九洲电器集团有限责任公司 一种对***接收通道的幅度及相位进行校准的实现方法
WO2011085629A1 (zh) * 2010-01-18 2011-07-21 Zhang Dengke 测向方法
CN202256192U (zh) * 2011-08-15 2012-05-30 航天科工武汉磁电有限责任公司 雷达吸波材料反射率现场测量仪
CN102497236A (zh) * 2011-11-16 2012-06-13 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种利用网络分析仪定位、跟踪动态信号的方法及***

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5012181A (en) * 1987-01-29 1991-04-30 John Fluke Mfg. Co., Inc. Apparatus for and method of internally calibrating an electrical calibrator
US6735422B1 (en) * 2000-10-02 2004-05-11 Baldwin Keith R Calibrated DC compensation system for a wireless communication device configured in a zero intermediate frequency architecture
CN101141805A (zh) * 2007-02-27 2008-03-12 中兴通讯股份有限公司 射频信号产生及射频功率检测装置以及功率检测方法
CN101216526A (zh) * 2007-12-29 2008-07-09 福建三元达通讯股份有限公司 前馈环路同步检测装置
CN101702018A (zh) * 2009-11-12 2010-05-05 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种大调制带宽线性调频信号频响校准方法
WO2011085629A1 (zh) * 2010-01-18 2011-07-21 Zhang Dengke 测向方法
CN101915909A (zh) * 2010-08-11 2010-12-15 四川九洲电器集团有限责任公司 一种对***接收通道的幅度及相位进行校准的实现方法
CN202256192U (zh) * 2011-08-15 2012-05-30 航天科工武汉磁电有限责任公司 雷达吸波材料反射率现场测量仪
CN102497236A (zh) * 2011-11-16 2012-06-13 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种利用网络分析仪定位、跟踪动态信号的方法及***

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103884922B (zh) * 2014-03-26 2017-01-11 中国科学院紫金山天文台 单接收机太赫兹矢量场形测量装置及其测量方法
CN103884922A (zh) * 2014-03-26 2014-06-25 中国科学院紫金山天文台 单接收机太赫兹矢量场形测量装置及其测量方法
CN104316785A (zh) * 2014-10-08 2015-01-28 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种天馈线测试仪及延伸器件误差修正方法
CN104316785B (zh) * 2014-10-08 2017-03-01 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种天馈线测试仪及延伸器件误差修正方法
CN105510766A (zh) * 2015-11-06 2016-04-20 中国电子科技集团公司第四十一研究所 射频电缆故障定位检测装置及检测方法
CN106199188A (zh) * 2016-07-20 2016-12-07 中国科学院紫金山天文台 一种利用环形器校准矢量场测量中移动电缆相位变化的装置及方法
CN106199188B (zh) * 2016-07-20 2019-01-18 中国科学院紫金山天文台 一种利用环形器校准矢量场测量中移动电缆相位变化的装置及方法
CN106841840A (zh) * 2016-11-24 2017-06-13 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种低频段可变中频的数据处理方法
US10797790B2 (en) 2018-05-02 2020-10-06 Shanghai Jiao Tong University Microwave photonic vector network analyzer and method for measuring scattering parameters of microwave device
WO2019210671A1 (zh) * 2018-05-02 2019-11-07 上海交通大学 微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数的测量方法
CN109541329A (zh) * 2018-09-29 2019-03-29 上海与德科技有限公司 一种天线测试方法及装置、天线测试设备和存储介质
CN109470922A (zh) * 2018-11-09 2019-03-15 西安科技大学 一种高阻抗射频测量装置及方法
CN110827016A (zh) * 2019-10-12 2020-02-21 杭州海兴电力科技股份有限公司 一种STS的token充值误差解决方法及***
CN110827016B (zh) * 2019-10-12 2022-08-12 杭州海兴电力科技股份有限公司 一种STS的token充值误差解决方法及***
CN110806555A (zh) * 2019-11-14 2020-02-18 中电科仪器仪表有限公司 一种提升通过式功率计反射参数测量能力的方法
CN110806555B (zh) * 2019-11-14 2021-10-15 中电科思仪科技股份有限公司 一种提升通过式功率计反射参数测量能力的方法
CN110967555A (zh) * 2019-11-26 2020-04-07 中电科仪器仪表有限公司 一种提高峰值功率测量触发精度的方法
CN110967555B (zh) * 2019-11-26 2021-09-03 中电科思仪科技股份有限公司 一种提高峰值功率测量触发精度的方法
CN117376076A (zh) * 2023-07-05 2024-01-09 ***通信有限公司研究院 同相正交iq校准方法、装置及电子设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN103454542B (zh) 2016-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103454542B (zh) 天线与传输线测试仪及实时自动校准方法
CN104316785B (zh) 一种天馈线测试仪及延伸器件误差修正方法
CN102680826B (zh) 一种利用矢量网络分析仪实现内嵌本振变频器测试的方法
CN106443548B (zh) 一种矢量网络分析仪利用电子校准件测量混频器变频损耗的校准方法
CN103595404B (zh) 一种混频器群时延测量电路及方法
CN105510766A (zh) 射频电缆故障定位检测装置及检测方法
CN103399286A (zh) 一种多特性阻抗网络的测量校准方法
CN109406884B (zh) 具有数字接口的矢量网络分析仪
CN103837767A (zh) 一种利用矢网对互易混频器进行特性表征的方法
CN106506101B (zh) 一种接收机幅频响应自动化校准方法及装置
CN104360234B (zh) 一种线性跳频非相干检测的无源互调异常点定位方法
CN102938904B (zh) 一种驻波比检测方法、装置和基站
US10534027B2 (en) Phase coherent main and remote units of a network analyzer
CN112255462B (zh) 用于网络分析仪的方向性提高装置、方法和网络分析仪
CN114441889B (zh) 一种网络分析仪及谐波测试方法、存储介质
CN113791285B (zh) 一种无参考接收机的矢量网络分析仪
RU2394371C1 (ru) Устройство для определения оптимальных рабочих частот ионосферного радиоканала
CN113791260A (zh) 一种正弦信号参数测量方法及***
CN103616566B (zh) 一种基于软件无线电的线性平均值检波器实现方法
CN102721863A (zh) 微波测量线多频率信号的测量方法
CN112798862A (zh) 网络分析仪测量装置及***
Verhaevert et al. A low-cost vector network analyzer: Design and realization
JP4000321B2 (ja) 距離測定方法及び距離測定方式
CN114089246A (zh) 针对天馈线分析仪端口实现输出功率自动检测的方法、***、装置、处理器及其存储介质
CN217741725U (zh) 一种小型化线缆及射频端口测量装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20190314

Address after: 266000 No. 98 Xiangjiang Road, Huangdao District, Qingdao City, Shandong Province

Patentee after: China Electronics Technology Instrument and Meter Co., Ltd.

Address before: 266000 No. 98 Xiangjiang Road, Qingdao economic and Technological Development Zone, Shandong

Patentee before: The 41st Institute of CETC

TR01 Transfer of patent right
CP03 Change of name, title or address

Address after: Huangdao Xiangjiang Road 266555 Shandong city of Qingdao Province, No. 98

Patentee after: CLP kesiyi Technology Co.,Ltd.

Address before: 266000 No. 98 Xiangjiang Road, Huangdao District, Shandong, Qingdao

Patentee before: CHINA ELECTRONIC TECHNOLOGY INSTRUMENTS Co.,Ltd.

CP03 Change of name, title or address