CN114942871A

CN114942871A - 一种nfc芯片的测试方法、装置、可读介质及电子设备

Info

Publication number: CN114942871A
Application number: CN202210847754.5A
Authority: CN
Inventors: 黄金煌
Original assignee: Beijing Unigroup Tsingteng Microsystems Co Ltd
Current assignee: Beijing Unigroup Tsingteng Microsystems Co Ltd
Priority date: 2022-07-19
Filing date: 2022-07-19
Publication date: 2022-08-26

Abstract

本发明公开了一种NFC芯片的测试方法、装置、可读介质及电子设备，包括：根据断电设置信息，确定断电设置参数；根据所述断电设置参数，确定相应的控制流程；当接收到断电触发指令，执行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供电状态；在所述控制流程执行完成后，确定所述NFC芯片的断电测试结果；本发明通过控制流程实现了对于断电保护测试的精确控制，可以精准的控制断电的时长、次数、频率等关键要素；而且对于断电的控制时间可以覆盖NFC芯片进行数据擦写的全部时间范围，使得对NFC芯片的断电保护功能的评估更为准确高效。

Description

一种NFC芯片的测试方法、装置、可读介质及电子设备

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种NFC芯片的测试方法、装置、可读介质及电子设备。

背景技术

NFC（Near Field Communication，即近场通信）是一种得到广泛应用的通信技术。而NFC芯片，是NFC通信技术中最为核心的硬件结构。NFC芯片的工作环境中面临着各种复杂的外部因素，所以在一些情况下可能会出现突然断电的情况。并且NFC芯片在工作时需要进行高频的数据擦写。一旦数据擦写过程中发生断电，则将面临较为严重的数据风险。

因此，NFC芯片需要具有较为可靠的断电保护功能，以确保数据安全。相应的在NFC芯片的设计和生产过程中，也需要对断电保护功能进行测试，以确保这一断电保护功能的可靠性。

在断电保护测试当中，需要按照规律对NFC芯片进行断电，从而判断其在断电状态下的可靠性和数据安全性。而现有的NFC芯片的断电保护测试，对于断电的控制并不精确，通常无法支持连续的多次断电，而且对于断电的控制时间无法覆盖NFC芯片进行数据擦写的全部时间范围。

发明内容

本发明提供一种NFC芯片的测试方法、装置、可读介质及电子设备，以实现更加精确的NFC芯片断电测试。

第一方面，本发明提供了一种NFC芯片的测试方法，包括：

根据断电设置信息，确定断电设置参数；

根据所述断电设置参数，确定相应的控制流程；

当接收到断电触发指令，执行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供电状态；

在所述控制流程执行完成后，确定所述NFC芯片的断电测试结果。

优选的，还包括：

当接收到所述断电触发指令，向所述NFC芯片发送任务执行指令，以使所述NFC芯片执行相应的通信任务；

并在所述控制流程执行完成后，确定所述通信任务的执行结果。

优选的，所述确定所述NFC芯片的断电测试结果包括：

根据所述通信任务的执行结果，确定所述断电测试结果。

优选的，所述根据所述断电设置参数，确定相应的控制流程包括：

根据所述断电设置参数，确定执行流程中至少一个依次排列的执行操作；并确定各所述执行操作对应执行条件。

优选的，所述执行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供电状态包括：

当满足所述控制流程中任一所述执行操作对应的执行条件，执行相应的执行操作，以控制所述NFC芯片的供电状态。

优选的，所述控制所述NFC芯片的供电状态包括：

控制所述NFC芯片断电，或控制所述NFC芯片上电。

优选的，所述方法应用于所述NFC芯片的测试开发板，所述测试开发板包括MCU单元。

第二方面，本发明提供了一种NFC芯片的测试装置，包括：

断电设置参数确定模块，用于根据断电设置信息，确定断电设置参数；

控制流程确定模块，用于根据所述断电设置参数，确定相应的控制流程；

控制流程执行模块，用于在接收到断电触发指令时，执行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供电状态；

测试结果确定模块，用于在所述控制流程执行完成后，确定所述NFC芯片的断电测试结果。

优选的，还包括：

通信任务执行模块，用于在接收到所述断电触发指令时，向所述NFC芯片发送任务执行指令，以使所述NFC芯片执行相应的通信任务；并在所述控制流程执行完成后，确定所述通信任务的执行结果。

优选的，所述控制流程确定模块包括：

执行操作确定单元，用于根据所述断电设置参数，确定执行流程中至少一个依次排列的执行操作；

执行条件确定单元，用于根据所述断电设置参数，确定各所述执行操作对应执行条件。

优选的，所述控制流程执行模块包括：

断电执行单元，用于在满足所述控制流程中所述执行操作对应的执行条件时，执行相应的执行操作，以控制所述NFC芯片断电；

上电执行单元，用于在满足所述控制流程中所述执行操作对应的执行条件时，执行相应的执行操作，以控制所述NFC芯片上电。

第三方面，本发明提供了一种可读介质，包括执行指令，当电子设备的处理器执行所述执行指令时，所述电子设备执行如第一方面中任一所述的方法。

第四方面，本发明提供了一种电子设备，包括处理器以及存储有执行指令的存储器，当所述处理器执行所述存储器存储的所述执行指令时，所述处理器执行如第一方面中任一所述的方法。

本发明提供了一种NFC芯片的测试方法、装置、可读介质及电子设备，通过控制流程实现了对于断电保护测试的精确控制，可以精准的控制断电的时长、次数、频率等关键要素；而且对于断电的控制时间可以覆盖NFC芯片进行数据擦写的全部时间范围，使得对NFC芯片的断电保护功能的评估更为准确高效。

上述的非惯用的优选方式所具有的进一步效果将在下文中结合具体实施方式加以说明。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一实施例提供的一种NFC芯片的测试方法的流程示意图；

图2为本发明一实施例提供的另一种NFC芯片的测试方法的流程示意图；

图3为本发明一实施例提供的另一种NFC芯片的测试方法中的指令图；

图4为本发明一实施例提供的一种NFC芯片的测试装置的结构示意图；

图5为本发明一实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合具体实施例及相应的附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

NFC芯片的工作环境中面临着各种复杂的外部因素，所以在一些情况下可能会出现突然断电的情况。并且NFC芯片在工作时需要进行高频的数据擦写。一旦数据擦写过程中发生断电，则将面临较数据错误、数据丢失等严重的数据风险。

在断电保护测试当中，需要按照规律对NFC芯片进行断电，从而判断其在断电状态下的可靠性和数据安全性。而现有的NFC芯片的断电保护测试，对于断电的控制并不精确，即无法足够精准的控制断电的时长、次数、频率等关键要素；而且对于断电的控制时间，无法覆盖NFC芯片进行数据擦写的全部时间范围，难以准确的对NFC芯片的断电保护功能进行评估。

有鉴于此，本发明提供一种NFC芯片的测试方法。参见图1所示，为本发明提供的NFC芯片的测试方法的具体实施例。

需要说明的是，本实施例中测试方法从硬件的角度将会涉及到上位机、NFC芯片的测试开发板以及NFC芯片三方。上位机具体可以是服务器、个人计算机等设备，用于针对该测试方法进行必要的设置和宏观控制。测试开发板是该测试方法实际的执行平台，也是NFC芯片在测试过程中的搭载平台。测试开发板中包括MCU单元（即Microcontroller Unit，微控制单元）。NFC芯片则是该测试方法所针对的测试对象。本实施例中所述的测试方法将应用于NFC芯片的测试开发板，即测试开发板将作为各方法步骤的执行主体。并且在所述方法流程中，测试开发板将与上位机和NFC芯片进行通信交互。

具体的，本实施例中所述方法包括以下步骤：

步骤101、根据断电设置信息，确定断电设置参数。

在本实施例中，断电设置信息由上位机生成。断电设置信息用于设定断电测试中具体的断电方式。例如断电的次数、断电的频率、各次断电的时刻、各次断电的时长等等。按照特定的断电方式进行断电测试，能够更加准确的测定出NFC芯片的断电保护功能。

测试开发板将从上位机接收该断电设置信息，并根据所述断电设置信息确定具体的断电设置参数。例如，断电设置参数可以是各次断电的具体时间节点，以及各次上电的具体时间节点。

步骤102、根据所述断电设置参数，确定相应的控制流程。

利用测试开发板的MCU，可以将该断电设置参数设置到控制流程中。MCU进一步的可以通过该控制流程控制测试开发板中的电源管理单元，从而利用电源管理单元改变NFC芯片的供电状态。由此实现在整个断电测试过程中，对于NFC芯片进行供电控制。

例如在本实施例中，断电设置参数是各次断电的具体时间节点，以及各次上电的具体时间节点。则执行该控制流程，即可以在断电测试的过程中，按照各具体的时间节点有序的控制NFC芯片断电或上电，由此满足断电设置信息对于断电的次数、断电的频率、各次断电的时刻、各次断电的时长等要素的设置。由此，本实施例中方法通过设置控制流程，实现了对于断电保护测试中断电方式的精确控制；且还可以通过控制流程实现测试过程中的多次断电，使得整体测试过程更加完善，有利于得到更为准确的测试结果。

至此，本实施例中完成了针对特定断电测试的前期设置，为实际的断电测试提供了前提条件。

步骤103、当接收到断电触发指令，执行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供电状态。

当实际的断电测试开始，测试开发板将会从上位机接收到断电触发指令。测试开发板响应于该断电触发指令，将执行上述完成设置的控制流程。即按照控制流程中的设置，在各具体的时间节点有序的控制NFC芯片的供电状态。所谓控制NFC芯片的供电状态，主要是控制所述NFC芯片断电，或控制所述NFC芯片上电。当然在另一些情况下，控制NFC芯片的供电状态也可以是，根据设置调整NFC芯片的供电电压、供电电路或者供电功率等等。

另外需要说明的是，在测试开发板从上位机接收到断电触发指令时，还可以向所述NFC芯片发送任务执行指令，以使所述NFC芯片执行相应的通信任务。例如，可以使NFC芯片进行寄存器擦写。

也就是说，测试开发板在控制所述NFC芯片供电状态的同一时间段，可以使NFC芯片进入工作状态。换言之，就是使NFC芯片在工作状态下发生断电。在此情况下，测试开发板可以在所述控制流程执行完成后，进一步确定所述通信任务的执行结果。即确定发生断电的情况下，NFC芯片对于通信任务的执行结果。从而获悉如果在工作状态当中发生断电，NFC芯片是否正常执行了通信任务。

步骤104、在所述控制流程执行完成后，确定所述NFC芯片的断电测试结果。

在控制流程执行完成后，本实施例中可以根据所述通信任务的执行结果，确定所述断电测试结果。上述执行结果是在发生断电的情况下，NFC芯片对于通信任务的执行结果。也就是说，通过该执行结果可以判断如果在工作状态当中发生断电，NFC芯片是否正常执行了通信任务。

即如果执行结果正常，说明NFC芯片在工作状态当中即使发生断电，也能够确保通信任务的顺利完成。也就说明NFC芯片的断电保护功能合格。反之如果执行结果异常，出现数据错误或者数据丢失的情况，则说明NFC芯片在工作状态当中一旦发生断电，则通信任务无法顺利完成。也就说明NFC芯片的断电保护功能不合格。

至此，本实施例中方法完成了对于NFC芯片的断电保护测试。

通过以上技术方案可知，本实施例存在的有益效果是：通过控制流程实现了对于断电保护测试的精确控制，可以精准的控制断电的时长、次数、频率等关键要素；而且对于断电的控制时间可以覆盖NFC芯片进行数据擦写的全部时间范围，使得对NFC芯片的断电保护功能的评估更为准确高效。

图1所示仅为本发明所述方法的基础实施例，在其基础上进行一定的优化和拓展，还能够得到所述方法的其他优选实施例。

如图2所示，为本发明所述NFC芯片的测试方法的另一个具体实施例。本实施例在前述实施例的基础上进行进一步的叙述。本实施例中，所述方法包括以下步骤：

步骤201、根据断电设置信息，确定断电设置参数。

在本实施例中，假设要通过断电设置信息设定在测试过程中断电2次，第1次断电在指令下达后30毫秒开始，每次断电的时长为20毫秒，2次断电的间隔为10毫秒。则断电设置参数可如下表所述：

时刻（毫秒）	0	30	50	60	80
							下达指令	断电	上电	断电	上电

步骤202、根据所述断电设置参数，确定执行流程中至少一个依次排列的执行操作；并确定各所述执行操作对应执行条件。

在本实施例中，执行流程中依次排列的执行操作共有4个，即断电-上电-断电-上电。每个执行操作对应的执行条件即其对应的时刻。例如，第1个执行操作为“断电”，相应的执行条件为（指令下达后）30毫秒。

步骤203、当满足所述控制流程中任一所述执行操作对应的执行条件，执行相应的执行操作，以控制所述NFC芯片的供电状态。

在接收到断电触发指令，即可开始计时。并判断是否达到了某一执行操作对应的执行条件。若达到执行条件，即可执行相应的执行操作。如图3所示。

在本实施例中，当接收到断电触发指令后的时间到达30毫秒时，达到第1个执行操作的执行条件，控制NFC芯片断电。此时第1次断电在设定的时间节点处开始。

当时间到达50毫秒时，达到第2个执行操作的执行条件，控制NFC芯片上电。第1次断电完成，断电时间为20毫秒。

当时间到达60毫秒时，达到第3个执行操作的执行条件，再次控制NFC芯片断电。此时第2次断电在设定的时间间10毫秒隔后开始。

当时间到达80毫秒时，达到第4个执行操作的执行条件，再次控制NFC芯片上电。此时第2次断电完成。

此时也就是整个执行流程均执行完成。可见执行过程中NFC芯片的供电状态符合断电设置信息的设置。

步骤204、在所述控制流程执行完成后，确定所述NFC芯片的断电测试结果。

本实施例中，步骤204中内容与图1所示实施例中相关步骤的内容一致。再次不重复叙述。

如图4所示，为本发明所述一种NFC芯片的测试装置的一个具体实施例。本实施例所述装置，即用于执行图1~3所述方法的实体装置。其技术方案本质上与上述实施例一致，上述实施例中的相应描述同样适用于本实施例中。本实施例中所述装置包括：

断电设置参数确定模块401，用于根据断电设置信息，确定断电设置参数。

控制流程确定模块402，用于根据所述断电设置参数，确定相应的控制流程。

控制流程执行模块403，用于在接收到断电触发指令时，执行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供电状态。

测试结果确定模块404，用于在所述控制流程执行完成后，确定所述NFC芯片的断电测试结果。

另外在图4所示实施例的基础上，优选的，还包括：

通信任务执行模块405，用于在接收到所述断电触发指令时，向所述NFC芯片发送任务执行指令，以使所述NFC芯片执行相应的通信任务；并在所述控制流程执行完成后，确定所述通信任务的执行结果。

控制流程确定模块402包括：

执行操作确定单元421，用于根据所述断电设置参数，确定执行流程中至少一个依次排列的执行操作。

执行条件确定单元422，用于根据所述断电设置参数，确定各所述执行操作对应执行条件。

控制流程执行模块403包括：

断电执行单元431，用于在满足所述控制流程中所述执行操作对应的执行条件时，执行相应的执行操作，以控制所述NFC芯片断电。

上电执行单元432，用于在满足所述控制流程中所述执行操作对应的执行条件时，执行相应的执行操作，以控制所述NFC芯片上电。

图5是本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。在硬件层面，该电子设备包括处理器，可选地还包括内部总线、网络接口、存储器。其中，存储器可能包含内存，例如高速随机存取存储器(Random-Access Memory，RAM)，也可能还包括非易失性存储器（non-volatile memory），例如至少1个磁盘存储器等。当然，该电子设备还可能包括其他业务所需要的硬件。

处理器、网络接口和存储器可以通过内部总线相互连接，该内部总线可以是ISA(Industry Standard Architecture，工业标准体系结构）总线、PCI(PeripheralComponent Interconnect，外设部件互连标准)总线或EISA(Extended Industry StandardArchitecture，扩展工业标准结构）总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图5中仅用一个双向箭头表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

存储器，用于存放执行指令。具体地，执行指令即可被执行的计算机程序。存储器可以包括内存和非易失性存储器，并向处理器提供执行指令和数据。

在一种可能实现的方式中，处理器从非易失性存储器中读取对应的执行指令到内存中然后运行，也可从其它设备上获取相应的执行指令，以在逻辑层面上形成NFC芯片的测试装置。处理器执行存储器所存放的执行指令，以通过执行的执行指令实现本发明任一实施例中提供的NFC芯片的测试方法。

上述如本发明图4所示实施例提供的NFC芯片的测试装置执行的方法可以应用于处理器中，或者由处理器实现。处理器可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器（Central Processing Unit，CPU）、网络处理器（Network Processor，NP）等；还可以是数字信号处理器（Digital SignalProcessor，DSP）、专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit，ASIC）、现场可编程门阵列（Field－Programmable Gate Array，FPGA）或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器，处理器读取存储器中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。

本发明实施例还提出了一种可读介质，该可读存储介质存储有执行指令，存储的执行指令被电子设备的处理器执行时，能够使该电子设备执行本发明任一实施例中提供的NFC芯片的测试方法，并具体用于执行如图1或图2所示的方法。

前述各个实施例中所述的电子设备可以为计算机。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例，或软件和硬件相结合的形式。

本发明中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。

Claims

1.一种NFC芯片的测试方法，其特征在于，包括：

根据断电设置信息，确定断电设置参数；

根据所述断电设置参数，确定相应的控制流程；

2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求2所述方法，其特征在于，所述确定所述NFC芯片的断电测试结果包括：

根据所述通信任务的执行结果，确定所述断电测试结果。

4.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述根据所述断电设置参数，确定相应的控制流程包括：

5.根据权利要求4所述方法，其特征在于，所述执行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供电状态包括：

6.根据权利要求1~5任意一项所述方法，其特征在于，所述控制所述NFC芯片的供电状态包括：

控制所述NFC芯片断电，或控制所述NFC芯片上电。

7.根据权利要求1~5任意一项所述方法，其特征在于，所述方法应用于所述NFC芯片的测试开发板，所述测试开发板包括MCU单元。

8.一种NFC芯片的测试装置，其特征在于，包括：

9.根据权利要求8所述装置，其特征在于，还包括：

10.根据权利要求8所述装置，其特征在于，所述控制流程确定模块包括：

11.根据权利要求10所述装置，其特征在于，所述控制流程执行模块包括：

12.一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序用于执行上述权利要求1-7任一所述的NFC芯片的测试方法。

13.一种电子设备，所述电子设备包括：

处理器；

用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

所述处理器，用于从所述存储器中读取所述可执行指令，并执行所述指令以实现上述权利要求1-7任一所述的NFC芯片的测试方法。