CN103308785A - 晶振检测电路及晶振检测装置 - Google Patents

Abstract

一种晶振检测电路，包括：振荡发生单元，具有晶振接入端，用于接入晶振产生振荡信号；检波单元，与所述振荡发生单元的输出端连接，拾取所述振荡信号并整流；指示单元，与所述检波单元的输出端连接，用于指示晶振是否起振。上述晶振检测电路，当晶振正常起振时，检波单元把振荡发生单元产生的振荡信号检测出来并把振荡信号整流成直流信号，检波单元把直流信号输出给指示单元，指示晶振正常；当晶振不能正常起振时，振荡发生单元不能发出振荡信号，因此检波单元无输出，指示单元无指示。此晶振检测电路仅仅使用低成本的检波单元即可控制指示晶振的正常与否，与使用示波器检测的方式相比成本低，同时检测效率高。

Description

晶振检测电路及晶振检测装置

【技术领域】

本发明涉及电子器件检测领域，特别是涉及一种晶振检测电路及晶振检测装置。

【背景技术】

通常，电子器件被焊接或进行实验之前，需要检测其好坏，而在检测晶振元器件好坏时，通常使用专用的示波器检测，但示波器价格昂贵且也不利于随身携带，所以就存在成本高和检测效率低的问题。

【发明内容】

基于此，针对使用万用表检测晶振元器件存在成本高和检测效率低的问题，有必要提供一种成本低、检测效率高的晶振检测电路。

一种晶振检测电路，包括：

振荡发生单元，具有晶振接入端，用于接入晶振产生振荡信号，包括开关管、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容以及电源，所述开关管的第一端连接所述电源的正极，所述开关管的第二端连接所述第二电阻的一端，所述第二电阻的另一端连接所述电源的负极，所述开关管的第一端和控制端之间连接第一电阻，所述开关管的控制端与所述电源的负极之间依次串联连接第一电容和第二电容，所述第一电容和第二电容的节点与所述开关管的第二端相连，所述开关管的控制端为与晶振一端连接的一个接入端、第二电容与第二电阻的节点为与晶振另一端连接的另一个接入端，开关管的第二端为所述振荡发生单元的输出端；

检波单元，与所述振荡发生单元的输出端连接，拾取所述振荡信号并整流；

指示单元，与所述检波单元的输出端连接，用于指示晶振是否起振。

进一步的，所述开关管为NPN三极管，所述三极管的集电极连接所述电源的正极，所述三极管的发射极连接所述第二电阻。

进一步的，所述检波单元包括滤波电容、整流二极管以及稳压二极管，所述滤波电容分别连接所述开关管的第二端和整流二极管的阳极，所述整流二极管的阴极为检波单元的输出端，所述稳压二极管的阴极连接所述整流二极管的阳极，所述稳压二极管的阳极连接所述电源的负极。

进一步的，所述指示单元为发光二极管，所述发光二极管的阳极连接所述整流二极管的阴极，所述发光二极管的阴极连接所述电源的负极。

进一步的，在所述开关管的第一端和所述电源的正极之间还串联连接开关。

另外，本发明还提供一种包括上述晶振检测电路的晶振检测装置，包括嵌入上述晶振检测电路的电路板，容置所述电路板的主体部，设置于所述主体部上可随意插拔待测晶振的卡持部，位于所述主体部内的电源盒，以及设置在主体部上串联于所述电路板上电源供电电路中的开关。

进一步的，所述卡持部包括多组可随意插拔多个待测晶振的夹持结构，所述电路板包括多个上述晶振检测电路。

进一步的，所述夹持结构为至少两个用于卡持待测晶振两端的金属弹片。

上述晶振检测电路，当晶振正常起振时，检波单元把振荡发生单元产生的振荡信号检测出来并把振荡信号整流成直流信号，检波单元把直流信号输出给指示单元，指示晶振正常；当晶振不能正常起振时，振荡发生单元不能发出振荡信号，因此检波单元无输出，指示单元无指示。此晶振检测电路仅仅使用低成本的检波单元即可控制指示晶振的正常与否，与使用示波器检测的方式相比成本低，同时检测效率高。

【附图说明】

图1为一实施例的晶振检测电路的模块结构图；

图2为一实施例的晶振检测电路晶振检测电路的电路原理图；

图3为一实施例的晶振检测装置。

【具体实施方式】

为了使本发明的目的、技术方案及优点更清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

晶振被广泛应用于电子领域中，晶振在电路中是否起振直接关系整个电路。因此有必要在晶振接入电路之前或在电路测试之前进行晶振检测，测试晶振是否能够起振。

如图1所示，本实施方式提供的晶振检测电路，包括振荡发生单元100、检波单元200以及指示单元300。

如图2所示，振荡发生单元100具有晶振U1接入端，用于接入晶振U1产生振荡信号。本实施例中，振荡发生单元100包括开关管Q1、第一电阻R1、第二电阻R2、第一电容C1、第二电容C2以及电源BT1。开关管Q1的第一端连接电源BT1的正极，开关管Q1的第二端连接第二电阻R2的一端，第二电阻R2的另一端连接电源BT1的负极，开关管Q1的第一端和控制端之间连接第一电阻R1，开关管Q1的控制端与电源BT1的负极之间依次串联连接第一电容C1和第二电容C2，第一电容C1和第二电容C2的节点与开关管Q1的第二端相连，开关管Q1的控制端为与晶振U1一端连接的一个接入端X1、第二电容C2与第二电阻R2的节点为与晶振U1另一端连接的另一个接入端X2，开关管Q1的第二端为振荡发生单元100的输出端。

晶振U1有一个重要的参数，那就是负载电容值，选择与负载电容值相等的并联电容，就可以得到晶振标称的谐振频率。所以，优选的，第一电容C1和第二电容C2为可调电容，使第一电容C1和第二电容C2串联后的等效电容等于负载电容值。可以理解，晶振U1的两端并联上合适的电容它就会组成并联谐振电路，再把并联谐振电路加到一个负反馈电路中就可以构成正弦波振荡电路。当然，振荡发生单元100也可由晶振和其他元件构成方波、正弦波、锯齿波等振荡信号的振荡发生单元。

本实施例中，开关管Q1为NPN三极管，所述三极管的集电极连接电源BT1的正极，三极管的发射极连接第二电阻R2，当然开关管Q1还可以采用其他类型的晶体管。

检波单元200与振荡发生单元100的输出端连接，用于拾取振荡信号并整流。本实施例中，检波单元200包括滤波电容C3和整流二极管D1。滤波电容C3分别连接开关管Q1的第二端和整流二极管D1的阳极，整流二极管D1的阴极为检波单元200的输出端。在优选实施例中，检波单元100还包括稳压二极管D2，稳压二极管D2的阴极连接整流二极管D1的阳极，稳压二极管D2的阳极连接振荡发生单元100中的电源BT1的负极。可以理解，稳压二极管D2的阴极可移动至整流二极管D1的阴极连接。稳压二极管的目的是为保证指示单元300两端的电压不超出安全电压，保护指示单元300。

指示单元300与检波单元200的输出端连接，用于指示晶振U1是否起振。本实施例中，指示单元300为发光二极管LED，发光二极管LED的阳极连接检波单元200的输出端，即整流二极管D1的阴极，发光二极管LED的阴极连接振荡发生单元100中电源BT1的负极。可以理解，指示单元300也可以为蜂鸣器等由直流信号的驱动的指示器件。

在优选实施方式中，开关管Q1的第一端和电源BT1的正极之间还串联连接开关S1。开关S1用以控制电源BT1对外供电，在需要检测晶振U1时，才开启开关S1。在不检测晶振U1的时候，开关S1断开，这样电源BT1就不对外供电，利于电源BT1的保养和防护。

振荡发生单元100在晶振正常起振后，输出振荡信号，例如正弦波、方波、锯齿波等交流信号，检波单元200拾取振荡信号并整流输出给指示单元300，指示单元指示晶振U1正常，例如LED灯亮指示晶振U1正常；当晶振U1没有起振，振荡发生单元100就不输出振荡信号，检波单元200无输出，指示单元300不工作，例如LED灯不亮指示晶振不正常。

另外，如图3所示，本发明还提供一种包括上述晶振检测电路的晶振检测装置1，包括嵌入上述晶振检测电路的电路板11，容置电路板的主体部12，设置于主体部12上可随意插拔待测晶振的卡持部13，位于主体部12内的电源盒14，以及设置在主体部12上串联于电路板上电源供电电路中的开关15。在优选实施方式中，卡持部13包括多组可随意插拔多个待测晶振的夹持结构，电路板11包含多个上述晶振检测电路，可以理解，这时，上述设置在主体部12的开关15对应为多个，每个开关15控制对应的晶振检测电路，当然，多个晶振检测电路也可以采用一个总开关。每一个待测晶振通过夹持结构接入晶振检测电路。这里的夹持结构可以为两个用于卡持待测晶振两端的金属弹片131，可以理解，为了达到更好的卡持效果，可以增加卡持待测晶振的金属弹片。这里的晶振检测装置1除了能对单独的晶振进行检测是否起振，还可以通过上述优选实施例，同时对多个晶振进行检测是否起振，方便操作人员识别元件的好坏，提高工作效率。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (8)

1.一种晶振检测电路，其特征在于，包括：

振荡发生单元，具有晶振接入端，用于接入晶振产生振荡信号，包括开关管、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容以及电源，所述开关管的第一端连接所述电源的正极，所述开关管的第二端连接所述第二电阻的一端，所述第二电阻的另一端连接所述电源的负极，所述开关管的第一端和控制端之间连接第一电阻，所述开关管的控制端与所述电源的负极之间依次串联连接第一电容和第二电容，所述第一电容和第二电容的节点与所述开关管的第二端相连，所述开关管的控制端为与晶振一端连接的一个接入端、第二电容与第二电阻的节点为与晶振另一端连接的另一个接入端，开关管的第二端为所述振荡发生单元的输出端；

检波单元，与所述振荡发生单元的输出端连接，拾取所述振荡信号并整流；

指示单元，与所述检波单元的输出端连接，用于指示晶振是否起振。

2.根据权利要求1所述的晶振检测电路，其特征在于，所述开关管为NPN三极管，所述三极管的集电极连接所述电源的正极，所述三极管的发射极连接所述第二电阻。

3.根据权利要求2所述的晶振检测电路，其特征在于，所述检波单元包括滤波电容、整流二极管以及稳压二极管，所述滤波电容分别连接所述开关管的第二端和整流二极管的阳极，所述整流二极管的阴极为检波单元的输出端，所述稳压二极管的阴极连接所述整流二极管的阳极，所述稳压二极管的阳极连接所述电源的负极。

4.根据权利要求1所述的晶振检测电路，其特征在于，所述指示单元为发光二极管，所述发光二极管的阳极连接所述整流二极管的阴极，所述发光二极管的阴极连接所述电源的负极。

5.根据权利要求1～4任意一项所述的晶振检测电路，其特征在于，在所述开关管的第一端和所述电源的正极之间还串联连接开关。

6.一种晶振检测装置，其特征在于，包括嵌入权利要求1～5任意一项所述的晶振检测电路的电路板，容置所述电路板的主体部，设置于所述主体部上可随意插拔待测晶振的卡持部，位于所述主体部内的电源盒，以及设置在主体部上串联于所述电路板上电源供电电路中的开关。

7.根据权利要求6所述的晶振检测装置，其特征在于，所述卡持部包括多组可随意插拔多个待测晶振的夹持结构，所述电路板包括多个所述晶振检测电路。

8.根据权利要求7所述的晶振检测装置，其特征在于，所述夹持结构为至少两个用于卡持待测晶振两端的金属弹片。

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