CN103295060A - 一种硅片计数器及计数方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种硅片计数器及计数方法。现有技术仅单纯依据传感器的计数脉冲来统计硅片数量,导致误差较大,效率较低且成本过高。本发明的硅片计数器及计数方法先侦测是否有硅片经过且在侦测到有时发送第一触发信号输出,并在所述硅片过去时发送第二触发信号输出;接着接收第一触发信号输出并开始计时,且接收第二触发信号输出并停止计时;之后依据所述传送机构传送硅片的速度和所计的时间计算出硅片的长度并判断该长度是否在预设长度范围内并在是时发送计数触发信号;最后接收计数触发信号并计数。本发明可提高硅片数量统计的精准度并提高效率降低成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种太阳电池制造领域,具体涉及一种硅片计数器及计数方法。
背景技术
在太阳电池制造过程中,诸多工序都会对太阳电池的产量进行统计,例如在丝网印刷、烧结和分类检测等工序中,硅片通过诸如履带传送模块或行走臂传送模块等硅片传送机构以固定的速度流往下道工序,硅片传送机构对应的设备上安装有传感器和计数器来测试其设备产能。传感器在侦测到有硅片经过时发送计数脉冲,目前通用计数器一般是对计数脉冲进行检测计数,分上升沿检测和下降沿检测,但对脉冲的长短不进行计算,只要感应到被测物就计数,无法判断被测物是否完整或是其他被感应物体。上述硅片计数技术存在着抗干扰性差,功能简单,误差较大,无法准确记录实际生产能力,当硅片不完整时,操作人员会将不完整的硅片捡拾出来,但计数器还是将该不完整的硅片计入产量里面,后续若想得到准确的产量信息,还需要人工点数不完整硅片的数量并依照计数器的值进行人工计算,从而导致效率较低且成本过高。
因此,如何提供一种硅片计数器以及计数方法以提高硅片数量统计的准确性并降低成本提高效率,已成为业界亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的是要提供一种硅片计数器及计数方法,该计数器可以提高硅片数量统计的精准度并提高效率降低成本。
为实现上述目的,本发明将提供一种硅片计数器,用于统计传送机构所传送的硅片数量,包括:硅片侦测单元,侦测是否有硅片经过且在侦测到有时发送第一触发信号输出,并在所述硅片过去时发送第二触发信号输出;计时单元,在接收到第一触发信号输出时开始计时且在接收到第二触发信号输出时停止计时;计算单元,依据所述传送机构传送硅片的速度和计时单元所计的时间计算出硅片的长度;判断单元,判断计算出的硅片长度是否在预设长度范围内并在是时发送计数触发信号;以及计数单元,在接收到计数触发信号时计数。
在上述硅片计数器中,所述硅片计数器还包括显示单元,用于显示计数单元的计数;所述显示单元为LED显示器。
在上述硅片计数器中,所述硅片侦测单元为光电开关。
在上述硅片计数器中,所述硅片计数器还包括速度侦测单元,用于侦测传送机构传送硅片的速度。
在上述硅片计数器中,所述传送机构为履带传送模块或行走臂传送模块。
本发明还提供一种硅片计数方法,用于统计传送机构所传送的硅片数量,包括以下步骤:a、侦测是否有硅片经过且在侦测到有时发送第一触发信号输出,并在所述硅片过去时发送第二触发信号输出;b、接收第一触发信号输出并开始计时,接收第二触发信号输出并停止计时;c、依据所述传送机构传送硅片的速度和所计的时间计算出硅片的长度;d、判断计算出的硅片长度是否在预设长度范围内并在是时发送计数触发信号;以及e、接收计数触发信号并计数。
在上述硅片计数方法中,所述硅片计数方法还包括步骤:f、显示步骤e所计的数。
在上述硅片计数方法中,所述硅片计数方法在步骤b之后还侦测传送机构传送硅片的速度。
与现有技术中仅单纯依据传感器的计数脉冲计数导致不完整的硅片也被计算在内相比,本发明的硅片计数器及其计数方法不仅侦测所传送的硅片的数量,还通过判断所传送的硅片是否完整,在完整时才触发计数,从而提高了硅片数量统计的准确度,有效提高了计数效率降低了计数成本。
附图说明
图1为本发明的硅片计数器的组成结构示意图。
图2为本发明的硅片计数器应用在传送机构上的示意图;
图3为本发明的硅片计数方法的流程图。
具体实施方案
下面结合具体实施例及附图来详细说明本发明的目的及功效。
参见图1和图2,本发明的硅片计数器1用于侦测传送机构4所传送的硅片3的数量,所述传送机构4为履带传送模块或行走臂传送模块等。硅片计数器1包括硅片侦测单元10、计时单元11、速度侦测单元12、计算单元13、判断单元14、计数单元15和显示单元单元16。以下将对本发明的构件进行详细说明。
硅片侦测单元10侦测是否有硅片3经过且在侦测到有时发送第一触发信号输出,并在所述硅片3过去时发送第二触发信号输出。所述硅片侦测单元10为光电开关,硅片侦测单元10的个数为一个或多个,在本实施例中,硅片侦测单元10的个数为3个。
计时单元11在接收到第一触发信号输出时开始计时且在接收到第二触发信号输出时停止计时。
所述速度侦测单元12用于侦测传送机构4传送硅片3的速度。
计算单元13依据速度侦测单元12侦测到的传送机构传送硅片的速度和计时单元11所计的时间计算出硅片的长度。
判断单元14判断计算出的硅片3的长度是否在预设长度范围内并在是时发送计数触发信号。
计数单元15在接收到计数触发信号时计数。
显示单元16用于显示计数单元15的计数。所述显示单元16为LED显示器或液晶显示器等。
为进一步说明本发明的硅片计数器1的结构及功效,以传送机构传送的硅片3为多晶125mm×125mm型号硅片且硅片完整,硅片3的预设长度范围为122mm至128mm为例进行说明,硅片侦测单元10在硅片3的最首端和尾端进入其侦测范围时分别发送第一和第二触发信号输出,计时单元11接收到第一触发信号输出时开始计时,并在接收到第二触发信号输出时停止计时,其所计时间为8S,所述速度侦测单元12侦测到硅片3被传送的速度为15.8mm/S,计算单元13依据速度侦测单元12侦测到硅片3的速度15.8mm/S和计时单元11所计的8S计算出被传送的硅片3的长度为126.4mm,判断单元14判断出计算出的硅片3的长度即126.4mm在122mm至128mm范围内,从而发送计数触发信号触发计数单元15计数,显示单元16将计数单元15所计的硅片数显示出来。
参见图3,结合参见图1和图2,本发明的硅片计数方法用于统计传送机构所传送的硅片数量,所述方法首先进行步骤S30,侦测是否有硅片经过且在侦测到有时发送第一触发信号输出,并在所述硅片过去时发送第二触发信号输出。
接着继续步骤S31,接收第一触发信号输出并开始计时,接收第二触发信号输出并停止计时。
接着继续步骤S32,侦测传送机构传送硅片的速度。
接着继续步骤S33,依据所述传送机构传送硅片的速度和所计的时间计算出硅片的长度。
接着继续步骤S34,判断计算出的硅片长度是否在预设长度范围内,若是则继续步骤S35,若否返回步骤S30。
在步骤S35中,计数。
接着继续步骤S36,显示所计的数。
综上所述,本发明的硅片计数器及计数方法先侦测是否有硅片经过且在侦测到有时发送第一触发信号输出,并在所述硅片过去时发送第二触发信号输出,并于接收到第一和第二触发信号输出时分别开始和停止计时,之后依据所述传送机构传送硅片的速度和所计的时间计算出硅片的长度并判断该长度是否在预设长度范围内并在是时发送计数触发信号,最后接收计数触发信号并计数。本发明不仅侦测所传送的硅片的数量,还通过判断所传送的硅片是否完整,在完整时才触发计数,从而提高了硅片数量统计的准确度,有效提高了计数效率降低了计数成本。
Claims (9)
1.一种硅片计数器,用于统计传送机构所传送的硅片数量,其特征在于,包括:
硅片侦测单元,侦测是否有硅片经过且在侦测到有时发送第一触发信号输出,并在所述硅片过去时发送第二触发信号输出;
计时单元,在接收到第一触发信号输出时开始计时且在接收到第二触发信号输出时停止计时;
计算单元,依据所述传送机构传送硅片的速度和计时单元所计的时间计算出硅片的长度;
判断单元,判断计算出的硅片长度是否在预设长度范围内并在是时发送计数触发信号;以及
计数单元,在接收到计数触发信号时计数。
2.按照权利要求1所述的硅片计数器,其特征在于,所述硅片计数器还包括显示单元,用于显示计数单元的计数。
3.按照权利要求2所述的硅片计数器,其特征在于,所述显示单元为LED显示器。
4.按照权利要求1所述的硅片计数器,其特征在于,所述硅片侦测单元为光电开关。
5.按照权利要求1所述的硅片计数器,其特征在于,所述硅片计数器还包括速度侦测单元,用于侦测传送机构传送硅片的速度。
6.按照权利要求1所述的硅片计数器,其特征在于,所述传送机构为履带传送模块或行走臂传送模块。
7.一种硅片计数方法,用于统计传送机构所传送的硅片数量,其特征在于,包括以下步骤:
a、侦测是否有硅片经过且在侦测到有时发送第一触发信号输出,并在所述硅片过去时发送第二触发信号输出;
b、接收第一触发信号输出并开始计时,接收第二触发信号输出并停止计时;
c、依据所述传送机构传送硅片的速度和所计的时间计算出硅片的长度;
d、判断计算出的硅片长度是否在预设长度范围内并在是时发送计数触发信号;以及
e、接收计数触发信号并计数。
8.按照权利要求1所述的硅片计数方法,其特征在于,所述硅片计数方法还包括步骤:f、显示步骤e所计的数。
9.按照权利要求1所述的硅片计数方法,其特征在于,所述硅片计数方法在步骤b之后还侦测传送机构传送硅片的速度。
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PB01 | Publication | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
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