CN103217086A - 一种用于轴类、套类零件的形位公差检测仪 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于轴类、套类零件的形位公差检测仪，包括基座以及通过轴承转动装配在基座内的芯轴，芯轴上固设有对待测件的基准段进行固定并使该基准段与芯轴同轴配合的固定结构；基座内孔具有朝左的与所述轴承限位配合的限位台阶面，芯轴的左端伸出基座且伸出部分间隙套设有与轴承外圈压紧配合的轴承压盖，轴承压盖与基座之间连接有沿芯轴周向均布的调节螺栓；芯轴的外周面上还具有供百分表在芯轴旋转过程中检测芯轴跳动度、并通过各调节螺栓的松紧程度来对芯轴跳动度进行调整的调整检测部。整个检测仪在依靠芯轴的旋转就能测出待测件检测段相对基准段的跳动度的同时，还能通过微调来减小检测仪自身装配的误差影响，提高检测的准确性。

Description

一种用于轴类、套类零件的形位公差检测仪

技术领域

本发明涉及一种用于检测轴类、套类零件形位公差的检测装置，具体涉及一种形位公差检测仪。

背景技术

对于一些轴类零件，如图1所示的螺栓，一般要求其螺纹段71与光杆段72之间或是螺纹段71与端面之间具有某些形位公差的要求，如同轴度、垂直度、跳动度等，而螺纹段71作为螺栓的基准段，光杆段72作为螺栓的检测段。传统的形位公差检测方法采用投影仪投影的方式，将零件放置在投影仪下绘制轮廓线后，在二维下比对轮廓线得出同轴度，但这种检测仅能得出螺纹段的大径或者小径与光杆段的同轴度，检测结果比较单一，而且一件产品需要进行多次旋转采点后取同轴度最大值，不管是在检测的准确性上还是简便性上都有较大的缺陷。

中国专利CN201177496Y公开了一种车轮轮辋同轴度专用检具，该检具包括一基座，基座内通过轴承转动装配有芯轴，芯轴的***围设有沿芯轴周向均布的模瓣，各模瓣围合形成一个内孔为锥台状的、可径向扩张或伸缩的涨紧套，涨紧套的作用在于将套设在其上的轮辋涨紧，而涨紧套的扩张或伸缩由间隙套设在芯轴上的锥台体实现，锥台体的一端固设有与芯轴的螺纹段配合的螺母，通过旋转螺母带动锥台体沿芯轴轴向移动并伸入到涨紧套内孔中，依靠锥面配合便可使涨紧套涨开以涨紧轮辋，涨紧后的轮辋能够随芯轴一起旋转，此时将百分表的触头径向压装在轮辋外周面上，通过百分表测出轮辋的跳动度即可得出轮辋的同轴度。该检具采用涨紧套涨紧的方式对工件进行固定，只适用于结构较大的筒状类工件的检测，但是对于小结构的轴类或套类零件显然不合适，尤其是以该类零件的其中一段作为基准段来检测另一段与该基准段之间的同轴度等形位公差，该检具显然无法满足工件的装配要求；更重要的是，由于检具装配过程中存在较大的误差，主要受工件与芯轴之间的同轴度误差影响，该误差又不能通过检具自身进行调整缩小，直接影响形位公差检测的准确性。

发明内容

本发明的目的是提供一种适用于轴类、套类零件形位公差检测、且检测误差小的形位公差检测仪。

本发明采用如下技术方案：一种用于轴类、套类零件的形位公差检测仪，包括基座以及通过轴承转动装配在基座内的、轴线沿左右方向延伸的芯轴，所述芯轴上固设有用于对待测件的基准段进行固定并使该基准段与芯轴同轴配合的固定结构；所述基座内孔具有朝左的与所述轴承限位配合的限位台阶面，芯轴的左端伸出基座且伸出部分间隙套设有与轴承外圈压紧配合的轴承压盖，轴承压盖与基座之间连接有沿芯轴周向均布的、用以将轴承压装在限位台阶面上的调节螺栓；所述芯轴的外周面上还具有用于供百分表在芯轴旋转过程中检测芯轴跳动度、并通过各调节螺栓的松紧程度来对芯轴跳动度进行调整的调整检测部。

所述固定结构包括设置在芯轴内的、用于供待测件轴向***的轴向贯穿孔，轴向贯穿孔内设有用于对待测件的基准段进行锁紧的锁紧结构。

所述锁紧结构为同轴可拆固设在轴向贯穿孔内的锁紧套，锁紧套的内壁面上具有用于与待测件的基准段螺纹配合的内螺纹。

所述锁紧结构为同轴可拆固设在轴向贯穿孔内的锁紧套，锁紧套的内壁面上设有沿其周向均布的用于与待测件的基准段夹紧配合的涨紧爪。

所述轴向贯穿孔的右段为扩口朝右的锥孔段，所述锁紧套为适配插装在锥孔段内的锥套，芯轴的右端部上螺纹装配有与锁紧套的右端顶压配合的锁紧盖。

所述芯轴的左端面上固设有旋转把手。

采用上述结构的形位公差检测仪，由于芯轴通过其固定结构可以将轴类或套类零件的基准段直接与芯轴同轴装配，在芯轴自身旋转的过程中，又实现待测件的同步旋转；更重要的是，由于基座的左端压装有与轴承外圈顶压配合的轴承压盖，而轴承压盖通过沿芯轴周向均布的调节螺钉与基座固连，各调节螺钉的松紧程度直接影响轴承压盖对轴承的压紧程度，即影响轴承的轴线与基准面的平行度，具体的，以基座的底面为基准面，不考虑待测件基准段与芯轴的同轴度误差以及百分表触头与基准面的垂直度误差影响，通过调节待测件基准段与基准面之间的平行度，即可保证百分表触头与待测件基准段轴线之间的垂直度。整个检测仪在依靠芯轴的旋转就能测出待测件检测段相对基准段的跳动度的同时，还能通过微调来减小检测仪自身装配的误差影响，提高了检测的准确性。

附图说明

图1为待测件的结构示意图；

图2为本发明的一种实施例的结构示意图；

图3为基座的内部结构示意图；

图4为图3的左视图。

具体实施方式

本发明形位公差检测仪的实施例：如图2-4所示，包括一基座3，基座3具有轴线沿左右方向延伸的内孔，基座内孔内同轴间隙插装有芯轴9，芯轴9与基座3之间装配有轴承8，这样芯轴9便可通过轴承8在基座3内绕自身轴线旋转。基座内孔具有朝左的限位台阶面，轴承8位于限位台阶面左侧的大孔段内，在基座3的左端压装有与轴承8的外圈顶压配合的轴承压盖2，轴承压盖2与基座3之间连接有四个沿基座内孔周向均布的调节螺钉1，这样便可将轴承8压装在轴承压盖2和限位台阶面之间。芯轴9的左端伸出轴承压盖2、且伸出部分与轴承压盖2间隙配合，同时芯轴9上还设有对待测件7进行固定的固定结构，本实施例中，待测件7的螺纹段为基准段、光杆段为检测段，固定结构对待测件7的基准段进行固定并确保基准段与芯轴9的同轴度。待测件7的检测段相对基准段的同轴度检测通过百分表6实现，如图2所示的状态，百分表6的触头竖直朝下压在待测件光杆段的外周面上，芯轴9带动待测件7一起旋转，通过百分表6的读数即可测出光杆段相对螺纹段的同轴度。

使用本检测仪对待测件7检测的过程中，为了保证检测的准确性，应以待测件螺纹段中径作为基准进行检测，即需要保证百分表触头与待测件螺纹段轴线之间的垂直度，而本实施例采取的措施为，以基座3的底面为基准面，不考虑待测件螺纹段与芯轴9的同轴度误差以及百分表触头与基准面的垂直度误差影响，通过微调调节待测件螺纹段与基准面之间的平行度，即可保证百分表触头与待测件螺纹段轴线之间的垂直度。具体微调过程为：先以芯轴9伸出轴承压盖2的左端部对应的一个外周面部分作为调整检测部，如图2所示，将百分表6的触头竖直朝上顶在调整检测部上，通过百分表6的读数观察芯轴9在旋转过程中的跳动度，然后调整四个调节螺钉的松紧程度，将跳动度调至0.005以内。微调过程中，四个调节螺钉1的松紧程度直接影响轴承压盖2对轴承8的压紧程度，即影响轴承8的轴线与基准面的平行度，而待测件螺纹段与芯轴9同轴装配，芯轴9又与轴承8同轴装配，对轴承8的调整即是对待测件螺纹段的调整。

所述固定结构包括开设在芯轴9上的、沿其轴向延伸的轴向贯穿孔，轴向贯穿孔用于供待测件7轴向***，且轴向贯穿孔为左大右小的阶梯孔，其中小孔段的右段为扩口朝右的锥台孔段，锥台孔段内设有锁紧结构，锁紧结构为适配插装在锥台孔段内的锥台状的锁紧套4，锁紧套4的内孔为与待测件7的螺纹段螺纹配合的螺纹孔；在芯轴9的右端部上螺纹装配有与锁紧套4的右端顶压配合的锁紧盖5，这样可以实现锁紧套4以及待测件7在芯轴9内的锁紧定位，同时锁紧盖5还具有供待测件7的光杆段伸出的通孔。

作为进一步优化，在芯轴9的左端面上固设有旋转把手10，以便于芯轴9的旋转操作。

上述实施例具体应用时，在检测之前，先将百分表6的触头竖直朝上压在芯轴9的调整检测部上，通过旋转把手10操作芯轴9旋转，并通过百分表6测出芯轴9的跳动度，调节四个调节螺钉1的松紧程度并观察百分表6，保证跳动度在0.005以内；调整完毕后，将百分表6移至使其触头竖直向下压在待测件7的光杆段上，通过旋转把手10操作芯轴9带动待测件7一起旋转，用百分表6直接检测待测件光杆段相对螺纹段的跳动度。

在其他实施例中，针对待测件基准段结构的不同，对基准段固定的固定结构也不同，若基准段为螺纹套结构，固定结构则为通州固设在芯轴右端的、与螺纹套螺纹配合的螺纹杆。

当然，在其他实施例中，锁紧套的内壁面上也可以布设沿其周向均布的涨紧爪，依靠涨紧爪与基准段的夹紧配合，不但能实现螺纹段的锁紧定位，还可以实现光杆段的锁紧定位，因此也能检测基准段为光杆段的待测件的形位公差，提高检测仪的使用范围。

当然，在其他实施例中，在阶梯孔小孔段也可以设置成螺纹孔，而锁紧套的外周面上设置与螺纹孔螺纹配合的外螺纹也能实现锁紧套与芯轴的同轴装配，这样就不需要设置成锥台孔，也可以不设置锁紧盖。 

Claims (6)

1.一种用于轴类、套类零件的形位公差检测仪，包括基座以及通过轴承转动装配在基座内的、轴线沿左右方向延伸的芯轴，其特征在于：所述芯轴上固设有用于对待测件的基准段进行固定并使该基准段与芯轴同轴配合的固定结构；所述基座内孔具有朝左的与所述轴承限位配合的限位台阶面，芯轴的左端伸出基座且伸出部分间隙套设有与轴承外圈压紧配合的轴承压盖，轴承压盖与基座之间连接有沿芯轴周向均布的、用以将轴承压装在限位台阶面上的调节螺栓；所述芯轴的外周面上还具有用于供百分表在芯轴旋转过程中检测芯轴跳动度、并通过各调节螺栓的松紧程度来对芯轴跳动度进行调整的调整检测部。

2.根据权利要求1所述的用于轴类、套类零件的形位公差检测仪，其特征在于：所述固定结构包括设置在芯轴内的、用于供待测件轴向***的轴向贯穿孔，轴向贯穿孔内设有用于对待测件的基准段进行锁紧的锁紧结构。

3.根据权利要求2所述的用于轴类、套类零件的形位公差检测仪，其特征在于：所述锁紧结构为同轴可拆固设在轴向贯穿孔内的锁紧套，锁紧套的内壁面上具有用于与待测件的基准段螺纹配合的内螺纹。

4.根据权利要求2所述的用于轴类、套类零件的形位公差检测仪，其特征在于：所述锁紧结构为同轴可拆固设在轴向贯穿孔内的锁紧套，锁紧套的内壁面上设有沿其周向均布的用于与待测件的基准段夹紧配合的涨紧爪。

5.根据权利要求3或4所述的用于轴类、套类零件的形位公差检测仪，其特征在于：所述轴向贯穿孔的右段为扩口朝右的锥孔段，所述锁紧套为适配插装在锥孔段内的锥套，芯轴的右端部上螺纹装配有与锁紧套的右端顶压配合的锁紧盖。

6.根据权利要求1所述的用于轴类、套类零件的形位公差检测仪，其特征在于：所述芯轴的左端面上固设有旋转把手。

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