CN103187099A - 具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法 - Google Patents

具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法，该电子装置包括有存储单元及处理单元，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有：读取模块，读取***电子装置接口的硬盘的容量；选项获取模块，根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；容量读取模块，根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及测试模块，测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。采用本发明的电子装置及方法，帮助用户缩短测试时间。

Description

具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法
技术领域
本发明涉及一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法。
背景技术
现有技术下，硬盘耐用性的测试是指验证硬盘反复擦写的能力，即P/E cycle的次数。但是硬盘耐用性的测试时间一般比较长，比如，容量为100G的硬盘，其耐用性的测试时间一般为一年之久，对于企业来讲，即使不考虑测试的费用，但是测试时间也是耗不起的。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法，其可以通过逻辑地址改变需测试的硬盘的实际所需容量来缩短硬盘耐用性的测试时间，以此解决上述的问题。
本发明提供一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置，该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元及一处理单元，该接口用于供硬盘***至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有：一读取模块，用于读取***电子装置接口的硬盘的容量；一选项获取模块，用于根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；一容量读取模块，用于根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及一测试模块，用于测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。
本发明还提供一种电子装置缩短硬盘耐用性测试时间的方法，该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元，该接口用于供硬盘***至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该方法包括以下步骤：读取***电子装置接口的硬盘的容量；根据所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量的默认逻辑地址选项；根据确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。
本发明的具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法，通过改变逻辑地址来改变测试时所读取的硬盘的实际测试容量，从而当实际测试的硬盘的容量减少了，那么对应的测试时间也就缩短了，为用户节省了一定的测试时间。
附图说明
图1为一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置的硬件结构图。
图2为一种缩短硬盘耐用性测试时间的方法流程图。
主要元件符号说明
电子装置 100
接口 10
硬盘 200
存储单元 20
显示单元 30
输入单元 40
读取模块 51
选项获取模块 52
显示模块 53
选择模块 54
容量读取模块 55
测试模块 56
识别模块 57
设置模块 58
存储模块 59
重设模块 60
处理单元 50
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
如图1所示，为一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置100的硬件结构图。该电子装置100包括一接口10、一存储单元20、一显示单元30、一输入单元40及一处理单元50。该接口10用于供硬盘200***至电子装置100。该存储单元20中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘200对应可选择的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项。在本实施方式中，该电子装置100为电脑。
该处理单元50包括一读取模块51、一选项获取模块52、一容量读取模块55及一测试模块56。
该读取模块51用于读取***电子装置100接口10的硬盘200的容量。该选项获取模块52用于根据读取模块51所读取硬盘200的容量及存储单元20中的配置表确定该硬盘200容量默认的逻辑地址选项。该容量读取模块55用于根据选择模块54确定的默认的逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量。该测试模块56用于测试该硬盘200实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。在本实施方式中，每种逻辑地址选项所对应的该硬盘200实际需要测试的容量必须满足电子装置100上的所有硬件或者软件都可以正常运行。根据不同的逻辑地址读取硬盘20实际需要测试的容量为现有的，因此在此不必详述。
进一步地，该处理单元还包括一显示模块53及一选择模块54。该选项获取模块52还用于根据读取模块51所读取硬盘200的容量及存储单元20中的配置表确定该硬盘200容量对应的多个逻辑地址选项。该显示模块53用于显示选项获取模块52所确定的多个逻辑地址选项于显示单元30。该选择模块54用于根据输入单元40接收到的操作，从显示单元30上显示的多个逻辑地址选项中选择其中一个逻辑地址选项。
例如，当前所读取的硬盘200的容量为100G时，该配置表中针对该100G的硬盘配置有第一逻辑地址选项、第二逻辑地址选项及第三逻辑地址选项。当用户选择第一逻辑地址选项时，该容量读取模块55读取该第一逻辑地址选项下第一逻辑地址对应的该硬盘200实际需要测试的容量为30G；而当用户选择第二逻辑地址选项时，该容量读取模块55读取该硬盘200实际需要测试的容量为50G；而当用户选择第三逻辑地址选项时，该容量读取模块55读取该硬盘200实际需要测试的容量为100G。该测试模块56测试该硬盘200实际需要测试的容量为30G时，所耗费的时间可能为30天；而测试该硬盘200实际需要测试的容量为50G时，所耗费的时间可能为50天；而测试该硬盘200实际需要测试的容量为100G时，所耗费的时间可能为100天，很明显，当该硬盘200实际需要测试的容量越小时，其对应测试耗费的测试时间就越短，但是在此该硬盘200实际需要测试的容量不可能无限制的被缩小，当该硬盘200实际需要测试的容量被无限制的缩小时，虽然可以使得测试时间无限制的缩短，但是由于无限制缩小的硬盘200实际需要测试的容量无法满足电子装置100上的所有硬件或者软件正常运行，那么测试出来的数据也就无法代替正常测试100G时所耗费的测试时间，由此也就失去了原本测试的意义。
进一步地，该处理单元50还包括有一识别模块57，该识别模块57用于识别读取模块51所读取的硬盘200容量是否在配置表中存在对应的逻辑地址选项；该选项获取模块52是为当读取模块51所读取的硬盘200容量在配置表中存在对应的逻辑地址选项，根据读取模块51所读取硬盘200的容量及存储单元20中的配置表确定该硬盘200容量对应的逻辑地址选项。
进一步地，该处理单元50还包括有一设置模块58及一存储模块59。该设置模块58用于当读取模块51所读取的硬盘200容量在配置表中不存在对应的逻辑地址选项时，根据用户的输入对所读取的硬盘200容量设置对应的逻辑地址选项。该存储模块59用于将设置模块58针对所读取的硬盘200容量设置的逻辑地址选项存储至配置表中。
进一步地，该处理单元50还包括一重设模块60，该重设模块60用于根据用户通过输入单元40的操作重设设置存储单元20中的配置表。
图2为一种缩短硬盘耐用性测试时间的方法流程图。
该读取模块51读取***电子装置200接口 10的硬盘200的容量（步骤S601）。
该识别模块57识别读取模块51所读取的硬盘200容量是否在配置表中存在对应的逻辑地址选项（步骤S602）。
当所读取的硬盘200容量在配置表中存在对应的逻辑地址选项，该选项获取模块52根据读取模块51所读取硬盘200的容量及存储单元20中的配置表确定该硬盘200容量对应的逻辑地址选项（步骤S603）。
该显示模块53显示选项获取模块52所确定的逻辑地址选项于显示单元30（步骤S604）。
该选择模块54根据输入单元40接收到的操作，从显示单元30上显示的多个逻辑地址选项中选择其中一个逻辑地址选项（步骤S605）。
该容量读取模块55根据选择模块54确定的逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量（步骤S606）。
该测试模块56测试该硬盘200实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间（步骤S607）。
当读取模块51所读取的硬盘200容量在配置表中不存在对应的逻辑地址选项时，该设置模块58根据用户的输入对所读取的硬盘200容量设置对应的逻辑地址选项（步骤S608）。
该存储模块59将设置模块58针对所读取的硬盘200容量设置的逻辑地址选项存储至配置表中（步骤S609）。
进一步，该方法还包括以下步骤：该重设模块60根据用户通过输入单元40的操作重设设置存储单元20中的配置表。

Claims (10)

1.一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置，其特征在于：该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元及一处理单元，该接口用于供硬盘***至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有：
一读取模块，用于读取***电子装置接口的硬盘的容量；
一选项获取模块，用于根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；
一容量读取模块，用于根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及
一测试模块，用于测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。
2.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于：该电子装置还包括一显示单元，该处理单元还包括一显示模块及一选择模块，该选项获取模块还用于根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量对应的多个逻辑地址选项；该显示模块用于显示选项获取模块所确定的多个逻辑地址选项于显示单元；该选择模块，根据输入单元接收到的操作，从显示单元上显示的多个逻辑地址选项中选择其中一个逻辑地址选项。
3.如权利要求2所述的电子装置，其特征在于：该处理单元还包括有一识别模块，该识别模块用于识别读取模块所读取的硬盘的容量是否在配置表中存在对应的多个逻辑地址选项；
其中，该选项获取模块是为当读取模块所读取的硬盘容量在配置表中存在对应的多个逻辑地址选项，根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量对应的多个逻辑地址选项。
4.如权利要求3所述的电子装置，其特征在于：该处理单元还包括一设置模块及一存储模块，该设置模块用于当读取模块所读取的硬盘容量在配置表中不存在对应的逻辑地址选项时，根据用户的输入对所读取的硬盘容量设置对应的逻辑地址选项，该存储模块用于将设置模块针对所读取的硬盘容量设置的逻辑地址选项存储至配置表中。
5.如权利要求2所述的电子装置，其特征在于：该处理单元还包括一重设模块，该重设模块用于根据用户通过输入单元的操作重设设置存储单元中的配置表。
6.一种电子装置缩短硬盘耐用性测试时间的方法，其特征在于：该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元，该接口用于供硬盘***至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该方法包括以下步骤：
读取***电子装置接口的硬盘的容量；
根据所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量的默认逻辑地址选项；
根据确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及
测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
根据所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量对应的多个逻辑地址选项；
显示所确定的多个逻辑地址选项；及
根据输入单元接收到的操作，从显示的多个逻辑地址选项中选择其中一个逻辑地址选项。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
识别所读取的硬盘的容量是否在配置表中存在对应的多个逻辑地址选项；及
其中，当所读取的硬盘的容量在配置表中存在对应的多个逻辑地址选项，根据所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量对应的多个逻辑地址选项。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
当所读取的硬盘容量在配置表中不存在对应的多个逻辑地址选项时，根据用户的输入对所读取的硬盘容量设置对应的逻辑地址选项；及
存储对所读取的硬盘容量设置的逻辑地址选项至配置表中。
10.如权利要求7所述的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
根据用户通过输入单元的操作重设设置存储单元中的配置表。
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PB01 Publication
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