CN103149386B - 电源老化测试的电子负载模块及电源老化测试*** - Google Patents

Abstract

本发明提供了电源老化测试的电子负载模块及电源老化测试***，该电源老化测试的电子负载模块提供了一种由MCU控制的智能电子负载模块，该***采用上位机对若干这样的电源老化测试的电子负载模块统一管理，并统一显示和存储，是一种智能化的电源老化***。

Description

电源老化测试的电子负载模块及电源老化测试***

技术领域

本发明涉及电源老化测试设备中的电子负载领域，特别涉及一种用于开关电源老化测试的可编程电子负载模块以及由许多这样的电子负载模块组成的老化车、老化房等老化测试***。

背景技术

为了检验和提高电源产品的可靠性、稳定性和安全性，对电源产品进行老化测试已成为此类产品生产工艺流程中的一个重要环节。所谓“老化”是指仿真出一种高温的恶劣条件对电源产品进行长时间的满负荷测试（又叫烧机测试或煲机，英文称为：Burn-in Test），以模拟实际使用可能出现的恶劣条件来检验产品的性能。

传统的老化测试设备所使用假负载多以大功率电阻为主，也就第一代老化设备，其优点是成本低，简单。但由于电源产品的种类及规格繁多，同一家电源工厂往往会有很多个机型，而每种机型的输出规格又不尽相同，所需的假负载的阻抗及功率也不同，因此传统的电阻型老化设备的缺点也就越来越突出，主要表现如下：

①  电阻阻值固定，可选规格少，很多需向工厂专门定制；

②  电源规格多样，电阻无法精确匹配到老化所需的准确电流；

③  电阻误差大，且温升后易产生偏差，无法确保产品100%负荷老化；

④  调整负载大小需先计算，选择负载电阻只能获得近似电流值；

⑤  老化过程无法自动监控，需人工逐一巡查，效率低且易漏查；

⑥  无法记录老化过程参数，不便于品质追溯管理；

⑦  无法生成老化报表，不便于产品品质的分析与评估；

针对于电阻型老化负载上述的突出缺点，出现了第二代的老化设备，即简易的可调节型模拟电子负载，虽然成本比第一代的产品要高很多，但可以根据产品的规格调节负载电流，克服产品换线时，老化设备需要更换相应电阻的痛苦，同时在一定程度上也提高了老化的精度和效率。第二代负载克服了第一代负载的前三个缺点，但后面4项缺点依然突出，无法满足现代化生产工艺的需求。虽然目前市面有很多标准的测试型电子负载仪器在性能和功能上完全可以满足老化要求，但这类仪器通常价格昂贵、体积庞大，而且其设计主要针对研发、工程、生产等测试用，难以实现上百个通道的***组网用于大批量老化。 

发明内容

本发明的目的是为了克服目前电子负载的不足，设计一种智能的电源老化测试的电子负载模块以及将一组这样的电子负载模块集中管理的电源老化测试***。

本发明的技术方案是：电源老化测试的电子负载模块，所述的电子负载模块包括驱动电路和作为模拟负载的一组场效应管，所述的场效应管的源、漏极分别连接到被老化的电源的输出端与地之间，所述的驱动电路产生驱动信号与所述的场效应管的栅极相连，通过控制所述的场效应管的栅极电流或者电压实现对被老化的电源的老化测试，还包括对电子负载单元进行控制的控制管理***，所述的控制管理***包括微处理单元、反馈电路和与上位机通信的通信接口电路；

所述的反馈电路包括测试被老化的电源的电流检测电路和电压检测电路，所述的电流检测电路和电压检测电路检测的检测结果输入到所述的微处理器；

所述的微处理器接收到所述的反馈电路所检测到的电流和电压值，产生控制信号控制所述的驱动电路，由驱动电路驱动所述的场效应管，使所述的模拟负载为恒流或者恒压模式的模拟负载。　

进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中：还包括模式切换及控制电路，所述的模式切换及控制电路由微处理器输出的恒流或者恒压控制信号控制；

所述的模式切换电路包括恒压模式信号输出电路和恒流模式信号输出电路；

所述的控制电路包括恒流控制电路和恒压控制电路，所述的恒压控制电路包括比较器U503A，所述的比较器U503A的“＋”端接被老化电源的输出端，“－”端接由所述的微处理器设置的参考电压，电源端与恒压模式信号相连，当恒压模式信号有效时，比较器U503A得电工作产生使所述的驱动电路在恒压模式工作的驱动信号接所述的驱动电路；

所述的恒流控制电路包括运算放大器U504A，所述的运算放大器U504A的“＋”端接由所述的微处理器设置的参考电压，所述的比较器U504A的“－”端与输出端相连构成电压跟随器，电源端与所述的恒流模式信号相连，当恒流模式信号有效时，产生使所述的驱动电路在恒流模式工作的驱动信号接所述的驱动电路。

进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中：在所述的恒压控制电路中，在所述的比较器U503A的“＋”端与被老化电源的输出端之间还设置有由电阻R101、R102和R103组成分压电路，所述的电阻R102和R103并联连接在比较器U503A的“＋”端与地之间，电阻R101串接在U503A的“＋”端与被老化电源的输出端之间。

进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中：所述的驱动电路包括运算放大器U101，交流负反馈电容C101，MOSFET驱动电阻R109及MOSFET栅极泄放电阻R110；所述的运算放大器U101的同相端接所述的恒流控制电路的恒流信号输出端或者通过单向隔离二极管D101接恒压控制电路的恒压信号输出端，单向隔离二极管D101的阳极接恒压控制电路的恒压信号输出端；所述的运算放大器U101的反相端通过交流负反馈电容C101接运算放大器U101的输出端，运算放大器U101的输出端通过MOSFET驱动电阻R109接作为假负载的MOSFET的栅极，MOSFET栅极泄放电阻R110连接在运算放大器U101的输出端与地之间。

进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中：在所述的恒流控制电路或者恒压控制电路的恒流或者恒压信号输出端与所述的运算放大器U101的同相端相接之前还分别设置有恒流控制信号分压电路和恒压控制信号分压电路；

所述的恒流控制信号分压电路包括分压电阻R107、R108和R105；所述的分压电阻R107串接在跟随器U504A的输出端与运算放大器U101的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器U101的同相端与地之间；

所述的恒压控制信号分压电路包括分压电阻R104、R108和R105；所述的分压电阻R104串接在单向隔离二极管D101的阴极与运算放大器U101的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器U101的同相端与地之间。

进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中：所述的恒压模式信号输出电路包括三极管Q503和三极管Q504，所述的三极管Q503的集电极通过限流电阻R518接所述的三极管Q504的基极，所述的三极管Q503的基级通过限流电阻R517接所述的微处理器，所述的三极管Q503的发射极接地，所述的三极管Q504的发射极接***电源，所述的三极管Q504集电极通过限流电阻R519驱动恒压模式指示灯，所述的恒压模式信号由所述的三极管Q504集电极引出；

恒流模式信号输出电路包括：三极管Q505、三极管Q506和三极管Q507；所述的三极管Q505的基极通过限流电阻R520接微处理器，三极管Q505的发射极接地，所述的三极管Q505的集电极通过限流电阻R521接***电源；所述的三极管Q506的基极与所述的三极管Q505的集电极相连，三极管Q506的发射极接地，三极管Q506的集电极通过限流电阻R522接所述三极管Q507的基极，所述三极管Q507的发射极接***电源，三极管Q507集电极通过限流电阻R523驱动恒流模式指示灯，恒流模式信号由三极管Q507集电极引出。

进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中：还包括智能散热装置，所述的智能散热装置包括温度检测装置、风扇控制单元和风扇，所述的温度检测装置实时检测电子负载模块的工作温度，所述的温度检测装置的检测信号分两路输出，一路送至所述的风扇控制单元，所述的风扇控制单元在温度高于45℃，启动风扇，在温度低于45℃时停止风扇；另一路送至所述的微控制器，当温度高于100℃时，负载模块停止工作，当负载模块温度低于100℃时，自动恢复工作。

本发明还设计了一种由一组电源老化测试的电子负载模块组成的电源老化测试***，该***可以同时对若干被老化电源进行老化测试，由上位机统一控制和监视，显示并记录测试过程，实现电源老化测试自动化和智能化，该电源老化测试***的技术方案是：该电源老化测试***包括一组电源老化测试的电子负载模块，各电源老化测试的电子负载模块的各个通道分别对被测电源进行老化测试，还包括上位机，所述的上位机分别通过通信装置与每个电源老化测试的电子负载模块相互连接，接收每个电源老化测试的电子负载模块上传的测试状态信息和指标信息，并对测试状态信息和指标信息进行显示和存储。

进一步的，上述的电源老化测试***中：所述的上位机与每个电源老化测试的电子负载模块之间的通信装置为异步串行通信装置，包括分别设置在上位机与每个电源老化测试的电子负载模块的RS－485通信接口电路。

进一步的，上述的电源老化测试***中：所述的每个电源老化测试的电子负载模块的***电源统一设置。

本发明结合标准型的电子负载及前两代老化负载的优、缺点专门针对电源老化测试的需求进行了优化设计，采用高性能MCU（微处理器）作为控制单元的核心，模块化设计。属于第三代的老化负载。其优点如下：

①  同一模块最多具有CC/CV/LED三种模式可选，兼容多种电源产品；

②  同一模块在规格范围内，电压/电流值可任意设定，精确匹配产品规格；

③  负载模式及参数设置灵活快捷，可全局设定，即也可分区域或分层设定；

④  产品老化参数实时监控，自动筛选异常产品并警报，可精确定位不良产品位置；

⑤  负载设置范围宽，拉载精度高，可适应多种规格的电源产品；

⑥  可以记录与追溯所有被测产品的电气性能，便于品质分析；

⑦  电脑集中监控管理，可有效监管老化制程的品质；

⑧  可自动生成老化表报，方便工程人员进行品质分析与评估；

⑨  ***操作方便，一个人可以管理多个老化区域，节省人工成本；

⑩  模块化的结构设计，方便***维护；

下面结合具体实施例对本发明作较为详细的描述。

附图说明

图1为本发明实施例1电源老化测试的电子负载模块原理框图。

图2为本发明实施例1电源老化测试***原理框图。

图3为本发明实施例1中使用的恒流/恒压模式切换电路原理图。

图4为本发明实施例1中使用的恒流/恒压模式控制电路及驱动电路原理图。

具体实施方式

实施例1，如图1、图2所示，本实施例是由一组电源老化测试的电子负载模块和上位机一起组成的电源老化房或者老化车等电源老化测试***，如图2所示：该***可以同时对若干被老化电源进行老化测试，由上位机统一控制和监视，显示并记录测试过程，实现电源老化测试自动化和智能化，该电源老化测试***的技术方案是：该电源老化测试***包括一组电源老化测试的电子负载模块，各电源老化测试的电子负载模块分别对被测电源进行老化测试，还包括上位机，上位机分别通过RS－485接口通信方式与每个电源老化测试的电子负载模块相互连接，接收每个电源老化测试的电子负载模块上传的测试状态信息和指标信息，并对测试状态信息和指标信息进行显示和存储。

本实施例中，电源老化测试的电子负载模块如图1所示，电源老化测试的电子负载模块包括驱动电路和作为模拟负载的一组场效应管，场效应管的源、漏极分别连接到被老化的电源的输出端与地之间，驱动电路产生驱动信号与所述的场效应管的栅极相连，通过控制所述的场效应管的栅极电流或者电压实现对被老化的电源的老化测试，还包括对电子负载单元进行控制的控制管理***，控制管理***包括微处理单元、反馈电路和与上位机通信的通信接口电路；反馈电路包括测试被老化的电源的电流检测电路和电压检测电路，电流检测电路和电压检测电路检测的检测结果输入到所述的微处理器；微处理器接收到所述的反馈电路所检测到的电流和电压值，产生控制信号控制所述的驱动电路，由驱动电路驱动所述的场效应管，使所述的模拟负载为恒流或者恒压模式的模拟负载。在控制管理***中还包括由微处理器控制的模式切换及控制电路，如图3、图4所示，模式切换及控制电路由微处理器输出的恒流或者恒压控制信号控制；

模式切换电路包括恒压模式信号CVPOW输出电路和恒流模式信号CCPOW输出电路；控制电路包括恒流控制电路和恒压控制电路，所述的恒压控制电路包括比较器U503A，所述的比较器U503A的“＋”端接被老化电源的输出端，“－”端接由所述的微处理器设置的参考电压，电源端与恒压模式信号CVPOW相连，当恒压模式信号CVPOW有效时，比较器U503A得电工作产生使所述的驱动电路在恒压模式工作的驱动信号接所述的驱动电路；

同样，恒流控制电路包括电压跟随器U504A，电压跟随器U504A的“＋”端与所述的比较器U503A的“－”端相连，即连接至由所述的微处理器设置的参考电压，由于U504A的“－”端与U504A的输出端相连，构成电压跟随器，其输出电压等于连接U504A同相输入端的由所述的微处理器设置的参考电压，电源端与恒流模式信号CCPOW相连，当恒流模式信号CCPOW有效时，产生使所述的驱动电路在恒流模式工作的驱动信号接驱动电路。恒压模式信号CVPOW输出电路包括三极管Q503和三极管Q504，所述的三极管Q503的集电极通过限流电阻R518接所述的三极管Q504的基极，所述的三极管Q503的基级通过限流电阻R517接所述的微处理器，所述的三极管Q503的发射极接地，所述的三极管Q504的发射极接***电源，所述的三极管Q504集电极通过限流电阻R519驱动恒压模式指示灯，恒压模式信号CVPOW由所述的三极管Q504集电极引出。

恒流模式信号（CCPOW）输出电路包括：三极管Q505、三极管Q506和三极管Q507；所述的三极管Q505的基极通过限流电阻R520接微处理器，三极管Q505的发射极接地，所述的三极管Q505的集电极通过限流电阻R521接***电源；所述的三极管Q506的基极与所述的三极管Q505的集电极连，三极管Q506的发射极接地，三极管Q506的集电极通过限流电阻R522接所述三极管Q507的基极，所述三极管Q507的发射极接***电源，三极管Q507集电极通过限流电阻R523驱动恒流模式指示灯，恒流模式信号（CCPOW）由三极管Q507集电极引出。在本实施例的电源老化测试的电子负载模块中还包括智能散热装置，智能散热装置包括温度检测装置、风扇控制单元和风扇，所述的温度检测装置实时检测电子负载模块的工作温度，所述的温度检测装置的检测信号分两路输出，一路送至所述的风扇控制单元，所述的风扇控制单元在温度高于45℃，启动风扇，在温度低于45℃时停止风扇；另一路送至所述的微控制器，当温度高于100℃时，负载模块停止工作，当温度低于100℃时，负载模块自动恢复工作。

具体的，本实施例中，电源老化测试的电子负载模块的基本工作原理如下：

模块在组成***（如老化车、老化房等）时，通过模块上的“地址码选择开关”给每个模块设置一个唯一的地址，这样上位机便可以精确定位到每个模块的每一个通道。***上电运行时，上位机会扫描并显示每个模块的连接状态。微处理器与RS-485通信电路之间采用光电隔离。由于上位机（电脑）的串行通信所使用标准接口通常为RS-232标准，因此模块与上位机之间需要使用RS232与RS485互相转换的光电隔离转换器。

模块上电后，等待上位机下发具体操作指令，在未收到指令之前模块的负载端处于关闭状态，即不会进行拉载，相当于开路状态。上位机将拉载模式、电压、电流等参数通过通信接口下传到模块的微处理器，微处理器根据指令控制“模式切换”电路选择相应的拉载模式，同时根据指令给出相应的D/A（数/模）信号电平到“反馈控制”电路，“驱动电路”根据“模式切换”电路和“反馈控制”电路的参数去驱动场效应管（MOSFET）拉载。“电压检测”和“电流检测”电路实时的将从负载端采样到的电压和电流信号送到“A/D（模/数）转换器”进行数据采集，等待上位机读取。

“温度检测”电路实时检测模块散热器表面的工作温度，检测信号分两路输出，一路送至“风扇控制单元”，当温度高于45℃，启动风扇进行强制制冷。当温度低于45℃时风扇停止，以降低产品功耗。另一路送至微处理器（MCU），当温度高于100℃时，模块停止拉载，关闭输出，上位机也会给出相应的显示。当温度回落到100℃以下时，模块自动恢复工作。风扇控制和过温保护均设计有回差控制,防止控制电路在温度控制临界点来回动作，提高了***稳定性。

本框架结构的单个模块可依客户需求设计成单通道和任意多通道数，最常见的有单通道、2通道、4通道、8通道。单个模块的功率最大可以做到1KW。

模块与上位机之间采用RS-485串行隔离通信，降低了模块与模块之间的干扰。每个模块设有两个并联的6位的5559（与6位5557端子对接使用）端子作为通信接口，便于模块与模块之间的连接，简化***总线的布局与走线。

模块采用12V直流供电，电源接口采用两个4位的5559端子（与4位5557端子对接使用）并连，组成***时，可由工业电源集中供电，简化***安装及布线，使***的配置及维护变得简单、灵活。负载输入接口使用20位的5559端子，与治具板（接口转换板）上的20位5557端子对接。

模块的模式切换及控制电路，模块的模式切换由图3所示的CC/CV模式切换电路与图4所示的CC/CV模式控制电路共同完成。当MCU输出的CC/CV控制信号为高电平时，模块为恒压（CV）模式，用于老化恒流输出的电源，如充电器、LED驱动电源等；当MCU输出的CC/CV控制信号为低电平时，模块为恒流（CC）模式，用于老化恒压输出的电源，如电源适配器、工业电源等。

具体控制原理：恒压模式时，MCU输出的CC/CV控制信号为高电平，图3所示的Q503、Q504导通，“CVPOW+”有正电源输出，给图4所示的运放U503A供电；此时，图3所示的Q505也因MCU输出高电平而导通，因此，Q506、Q507截止，“CCPOW+”无输出，故图4所示的运放U504A因无正电源供电而停止工作。由于U503A正常工作，其反相输入端“—”连接由所述微控制器设置的控制电压；被老化电源的输出电平经电阻R101、R102和R103分压后（即输出电平分量）连接到U503A的同相输入端“+”，若被老化电源的输出分量高于微控制器设置的控制电压，U503A第1脚输出高电平，经驱动电路放大后使作为假负载的场效应管（MOSFET）加深导通，内阻变小，使被老化电源的输出电流增加，由于使用恒压模式进行老化的电源，其输出控制为恒流模式，当负载电流达到其设置的恒流点时，其输出电流不再增加，输出电压开始下降。当被老化电源的输出电压下降时，U503A同相端“+”的电压分量随之下降，当U503A同相端的电平低于其反相端的电平时，U503A输出为低电平，驱动电路输出减弱，使所述的作为假负载的场效应管导通深度变浅，内阻增大，被老化电源的输出电流相应减小。如此往复，经过短暂的调整之后，电路会进入一个稳定的平衡状态，使连接U503A同相端“+”的被老化电源的输出电压分量等于连接到U503A反相端“—”的微控制器设置的控制电压。此时，被老化电源的输出电压恒定在所设置的电压点上。从而实现模块“CV”模式拉载功能；

相反，恒流模式时，微控制器输出的CC/CV控制信号为低电平，Q503、Q504截止，“CVPOW+”无电压输出，U503A因无电源供电停止工作；同时，由于CC/CV控制信号为低电平，Q505也截止，而Q506基极由于上拉电阻R521接***电源而导通，进而使PNP三极管Q507也导通，“CCPOW+”输出正电源，即U504A可以正常工作，其同相端连接微控制器设置的控制电压，其反相输入端“-”与输出端相连构成电压跟随器，也就是说其第一脚输出的电压等于同相端“+”的输入电压，但电流得到放大，R106作为U504A的负载电阻跨接于输出端与地之间，提高控制电路的抗干扰能力。如图4所示，微控制器设置的控制电压 “DA1” 经电压跟随器U504A进行电流放大后，再经R107与R108和R105分压后送到驱动电路。所述的驱动电路包括，运算放大器U101，交流负反馈电容C101，MOSFET驱动电阻R109及MOSFET栅极泄放电阻R110。当微控制器设置的控制电压“DA1”为0V时，电压跟随器U504A输出也为0V，进而运算放大器U101输出也为0V，作为假负载的场效管MOSFET关断，即不拉载。当微控制器设置的控制电压“DA1”大于0V时，电压跟随器U504A输出相同电压，经R107与R108和R105分压后送到运算放大器U101的同相输入端，由于场效应管导通前电流采样电阻R115和R116两端的压降（也就是电流采样信号IS101）为0V，经电R111连接至运算放大器U101的反相输入端，因此当控制电压信号“DA1”大于0V时，运算放大器U101的同相端电平高于反相端，输出为高电平，经驱动电阻R109驱动作为假负载的场效应管Q101导通，对被老化电源进行拉载。当Q101导通后，负载电流在取样电阻R115、R116两端产生压降，即电流采样信号“IS101”，由反馈电阻R111送到U101反相端。当电流采样信号“IS101”大于“DA1”的分量时，运算放大器输出电压降低，使Q101导通深度变浅，内阻增大，减小负载电流，当DA1电平一定时，运算放大器进入稳定状态，使负载电流恒定在DA1所设定的电流点上，实现恒流拉载功能，也就是模块处于“CC”模式。

Claims (9)

1.电源老化测试的电子负载模块，所述的电子负载模块包括驱动电路和作为模拟负载的一组场效应管(MOSFET)，所述的场效应管的源、漏极分别连接到被老化的电源的输出端与地之间，所述的驱动电路产生驱动信号与所述的场效应管的栅极相连，通过控制所述的场效应管的栅极电流或者电压实现对被老化的电源的老化测试，其特征在于：还包括对电子负载单元进行控制的控制管理***，所述的控制管理***包括微处理单元、反馈电路和与上位机通信的通信接口电路；

所述的反馈电路包括测试被老化的电源的电流检测电路和电压检测电路，所述的电流检测电路和电压检测电路检测的检测结果输入到所述的微处理器；

所述的微处理器接收到所述的反馈电路所检测到的电流和电压值，产生控制信号控制所述的驱动电路，由驱动电路驱动所述的场效应管，使所述的模拟负载为恒流或者恒压模式的模拟负载；

还包括模式切换及控制电路，所述的模式切换及控制电路由微处理器输出的恒流或者恒压控制信号控制；

所述的模式切换电路包括恒压模式信号(CVPOW)输出电路和恒流模式信号(CCPOW)输出电路；

所述的控制电路包括恒流控制电路和恒压控制电路，所述的恒压控制电路包括比较器U503A，所述的比较器U503A的“+”端接被老化电源的输出端(LOAD1+)，“－”端接由所述的微处理器设置的参考电压(DA1)，电源端与恒压模式信号(CVPOW)相连，当恒压模式信号(CVPOW)有效时，比较器U503A得电工作产生使所述的驱动电路在恒压模式工作的驱动信号接所述的驱动电路；

所述的恒流控制电路包括运算放大器U504A，所述的运算放大器U504A的“+”端接由所述的微处理器设置的参考电压(DA1)，所述的运算放大器U504A的“－”端与输出端相连构成电压跟随器，电源端与所述的恒流模式信号(CCPOW)相连，当恒流模式信号(CCPOW)有效时，产生使所述的驱动电路在恒流模式工作的驱动信号接所述的驱动电路。

2.根据权利要求1所述的电源老化测试的电子负载模块，其特征在于：在所述的恒压控制电路中，在所述的比较器U503A的“+”端与被老化电源的输出端(LOADI+)之间还设置有由电阻R101、R102和R103组成分压电路，所述的电阻R102和R103并联连接在比较器U503A的“+”端与地之间，电阻R101串接在U503A的“+”端与被老化电源的输出端(LOADI+)之间。

3.根据权利要求1所述的电源老化测试的电子负载模块，其特征在于：所述的驱动电路包括运算放大器U101，交流负反馈电容C101，MOSFET驱动电阻R109及MOSFET栅极泄放电阻R110；所述的运算放大器U101的同相端接所述的恒流控制电路的恒流信号输出端或者通过单向隔离二极管D101接恒压控制电路的恒压信号输出端，单向隔离二极管D101的阳极接恒压控制电路的恒压信号输出端；所述的运算放大器U101的反相端通过交流负反馈电容C101接运算放大器U101的输出端，运算放大器U101的输出端通过MOSFET驱动电阻R109接作为假负载的MOSFET的栅极，MOSFET栅极泄放电阻R110连接在运算放大器U101的输出端与地之间。

4.根据权利要求3所述的电源老化测试的电子负载模块，其特征在于：在所述的恒流控制电路或者恒压控制电路的恒流或者恒压信号输出端与所述的运算放大器U101的同相端相接之前还分别设置有恒流控制信号分压电路和恒压控制信号分压电路；

所述的恒流控制信号分压电路包括分压电阻R107、R108和R105；所述的分压电阻R107串接在跟随器U504A的输出端与运算放大器U101的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器U101的同相端与地之间；

所述的恒压控制信号分压电路包括分压电阻R104、R108和R105；所述的分压电阻R104串接在单向隔离二极管D101的阴极与运算放大器U101的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器U101的同相端与地之间。

5.根据权利要求1至3中任一所述的电源老化测试的电子负载模块，其特征在于：所述的恒压模式信号(CVPOW)输出电路包括三极管Q503和三极管Q504，所述的三极管Q503的集电极通过限流电阻R518接所述的三极管Q504的基极，所述的三极管Q503的基级通过电阻R517接所述的微处理器，所述的三极管Q503的发射极接地，所述的三极管Q504的发射极接***电源，所述的三极管Q504集电极通过限流电阻R519驱动恒压模式指示灯，所述的恒压模式信号(CVPOW)由所述的三极管Q504集电极引出；

恒流模式信号(CCPOW)输出电路包括：三极管Q505、三极管Q506和三极管Q507；所述的三极管Q505的基极通过限流电阻R520接微处理器，三极管Q505的发射极接地，所述的三极管Q505的集电极通过限流电阻R521接***电源；所述的三极管Q506的基极与所述的三极管Q505的集电极相连，三极管Q506的发射极接地，三极管Q506的集电极通过限流电阻R522接所述三极管Q507的基极，所述三极管Q507的发射极接***电源，三极管Q507集电极通过限流电阻R523驱动恒流模式指示灯，恒流模式信号(CCPOW)由三极管Q507集电极引出。

6.根据权利要求5所述的电源老化测试的电子负载模块，其特征在于：还包括智能散热装置，所述的智能散热装置包括温度检测装置、风扇控制单元和风扇，所述的温度检测装置实时检测电子负载模块的工作温度，所述的温度检测装置的检测信号分两路输出，一路送至所述的风扇控制单元，所述的风扇控制单元在温度高于45℃，启动风扇，在温度低于45℃时停止风扇；另一路送至所述的微控制器，当温度高于100℃时，负载模块停止工作，当负载模块温度低于100℃时，自动恢复工作。

7.一种根据权利要求1所述的电源老化测试的电子负载模块组成的电源老化测试***，该电源老化测试***包括一组电源老化测试的电子负载模块，各电源老化测试的电子负载模块分别对被测电源进行老化测试，其特征在于：还包括上位机，所述的上位机分别通过通信装置与每个电源老化测试的电子负载模块相互连接，接收每个电源老化测试的电子负载模块上传的测试状态信息和指标信息，并对测试状态信息和指标信息进行显示和存储。

8.根据权利要求7所述的电源老化测试***，其特征在于：所述的上位机与每个电源老化测试的电子负载模块之间的通信装置为异步串行通信装置，包括分别设置在上位机与每个电源老化测试的电子负载模块的RS－485通信接口电路。

9.根据权利要求7所述的电源老化测试***，其特征在于：所述的每个电源老化测试的电子负载模块的***电源统一设置。