CN103063183B - 薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法 - Google Patents

薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法 Download PDF

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Abstract

一种薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法，测台(2)通过沉头螺钉(3)水平固定在底座(1)上方，表架(6)联接表托(5)并通过螺钉(7)用于固定测表(4)，根据标准薄壁套圈的外径初步调整两个移动支点(8)到支撑位并使测表的测头对准0位，调整测表的测量范围并控制在0～2 h之间，取出标准薄壁套圈并换上被测薄壁套圈(9)，沿所述侧支点与所述垂直支点方向转动被测薄壁套圈一圈以上，从测表上即可读出最大值A和最小值B，当（A+B）/2≤h且A-B≤h1时，说明被测薄壁套圈的被测外径公差和被测椭圆度误差均符合其加工要求。通过一次检测就能测出薄壁套圈的外径公差和椭圆度误差，适用于外径尺寸较大和较小的薄壁套圈。

Description

薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法
技术领域
本发明属于轴承套圈检测技术领域，特别是一种薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法。
背景技术
轴承套圈一般分为内圈或是外圈，对于壁厚较薄的称其为薄壁套圈，薄壁套圈除了加工较难之外，在未装配之前容易产生变形，特别是尺寸较大的薄壁套圈更容易产生变形。
对于外径尺寸较小的薄壁套圈和一般套圈，通常采用专用仪器来测量其外径公差和椭圆度。
对于外径尺寸较大的薄壁套圈，上述专用仪器或由于测量范围达不到，或由于专用仪器的测量力较大而对薄壁套圈造成测量变形，直接导致测量结果不准确并影响薄壁套圈的成品质量。
发明内容
针对上述问题，本发明提供了一种薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法，该测量方法尤其适用于外径尺寸较大的薄壁套圈，提高了测量工作效率，减轻了测量工作强度，不会由于测量而对薄壁套圈造成测量变形，减少由于测量而对薄壁套圈产生的废品率。
为实现上述发明目的，本发明采用如下技术方案：
一种薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法，设定加工出的被测薄壁套圈以及标准薄壁套圈的外径均为ФD，被测薄壁套圈的外径上偏差为0，被测薄壁套圈的外径下偏差为-h，被测薄壁套圈外径的椭圆度误差为h1，标准薄壁套圈的外径上偏差以及下偏差均为0，本发明的测量方法如下：
将测台通过沉头螺钉水平固定在底座上方，测台上分别设置有垂直燕尾槽和倾斜燕尾槽，所述倾斜燕尾槽与所述垂直燕尾槽的夹角呈45°，在所述倾斜燕尾槽以及所述垂直燕尾槽内分别通过燕尾螺钉联接两个移动支点，将所述垂直燕尾槽内联接的移动支点称其为垂直支点，将所述倾斜燕尾槽联接的移动支点称其为侧支点，在所述垂直燕尾槽的上端联接有表架，表架上联接表托，表托的内孔通过其侧面配置的螺钉用于固定测表的上表杆，这样就保证了测表的测头垂直指向所述垂直支点；根据所述标准薄壁套圈的外径初步调整所述垂直支点与所述侧支点之间距，再将所述标准薄壁套圈放在所述垂直支点和所述侧支点上，向上微调并固定所述垂直支点，使所述标准薄壁套圈接触测表的测头并旋转测表的表盘使其对准0位，同时微调并固定所述侧支点，这时测表的测头到所述垂直支点的间距=所述ФD；松动螺钉使测表向下垂直微移，待测表指向2 h时固定螺钉，此时测表的测量范围就控制在0～2 h之间；取出所述标准薄壁套圈并换上被测薄壁套圈，沿所述侧支点与所述垂直支点方向转动被测薄壁套圈一圈以上，从测表上即可读出最大值A和最小值B，当（A+B）/2≤h且A-B≤h1时，说明被测薄壁套圈的被测外径公差和被测椭圆度误差均符合其加工要求；当（A+B）/2≤h但A-B＞h1时，说明被测薄壁套圈的被测外径公差符合其加工要求但被测椭圆度误差不符合其加工要求；当（A+B）/2＞h但A-B≤h1时，说明被测薄壁套圈的被测椭圆度误差符合其加工要求但被测外径公差不符合其加工要求；当（A+B）/2＞h且A-B＞h1时，说明被测薄壁套圈的被测外径公差和被测椭圆度误差均不符合其加工要求。
由于采用如上所述技术方案，本发明具有如下优越性：
1、本发明的测量方法尤其适用于外径尺寸较大的薄壁套圈，同样适用于外径尺寸较小的薄壁套圈，对其它类套圈也具有借鉴作用。
2、本发明的测量方法简单实用，提高了测量工作效率，减轻了测量工作强度。
3. 本发明的测台直径可根据轴承套圈直径而定，由于测台是水平设置的，故不会导致薄壁套圈发生变形，同时由于测表的测量力较小，也不会对薄壁套圈造成测量变形，减少由于测量而对薄壁套圈产生的废品率。
附图说明
图1是本发明测量方法的立体示意简图。
图1中：1-底座；2-测台；3-沉头螺钉；4-测表；5-表托；6-表架；7-螺钉；8-移动支点；9-被测薄壁套圈。
具体实施方式
本发明是一种薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法，该测量方法通过一次检测就能测出薄壁套圈的外径公差和椭圆度误差，尤其适用于外径尺寸较大的薄壁套圈，同样也适用于外径尺寸较小的薄壁套圈，并且对其它类套圈也具有借鉴作用。
设定加工出的被测薄壁套圈9以及标准薄壁套圈的外径均为ФD=290 mm，被测薄壁套圈9的外径上偏差为0，被测薄壁套圈9的外径下偏差为-h=-0.018 mm，被测薄壁套圈9外径的椭圆度误差为h1=0.019mm，被测薄壁套圈9的壁厚=3.5mm，标准薄壁套圈的外径上偏差以及下偏差均为0。
本发明的测量方法如下：
结合图1，将测台2通过沉头螺钉3水平固定在底座1上方，测台2上分别设置有垂直燕尾槽和倾斜燕尾槽，所述倾斜燕尾槽与所述垂直燕尾槽的夹角呈45°，图1中所述倾斜燕尾槽是设置在所述垂直燕尾槽的左边，所述倾斜燕尾槽设置在所述垂直燕尾槽的右边同样是可行的。测台2的直径可根据被测薄壁套圈9的直径而定并相匹配，由于测台2是水平设置的，故不会导致被测薄壁套圈9发生人为变形。
在所述倾斜燕尾槽以及所述垂直燕尾槽内分别通过燕尾螺钉联接两个移动支点8，两个移动支点8通过内螺纹孔与所述燕尾螺钉联接，将所述垂直燕尾槽内联接的移动支点称其为垂直支点，将所述倾斜燕尾槽联接的移动支点称其为侧支点，在所述垂直燕尾槽的上端联接有表架6，表架6上联接表托5，表托5的内孔通过其侧面配置的螺钉7用于固定测表4的上表杆，这样就保证了测表4的测头垂直指向所述垂直支点。
根据所述标准薄壁套圈的外径初步调整所述垂直支点与所述侧支点之间距，再将所述标准薄壁套圈放在所述垂直支点和所述侧支点上，向上微调并固定所述垂直支点，使所述标准薄壁套圈接触测表4的测头并旋转测表4的表盘使其对准0位，同时微调并固定所述侧支点，这时测表4的测头到所述垂直支点的间距=所述ФD=290 mm，本发明的测量方法选用量程为±0.1mm、精度为0.001mm的测表4。
松动螺钉7使测表4向下垂直微移，待测表指向2 h=0.036 mm时固定螺钉7，此时测表4的测量范围就控制在0～2 h也就是0～0.036 mm之间，这个测量范围能满足被测薄壁套圈9的测量需求。注意：由于测表4的测量力较小，故也不会对被测薄壁套圈9造成测量变形，减少由于测量而对被测薄壁套圈9产生的废品率。
取出所述标准薄壁套圈并换上被测薄壁套圈9，沿所述侧支点与所述垂直支点方向转动被测薄壁套圈9一圈以上，如按图1所示建议逆时针转动被测薄壁套圈9，从测表4上即可读出最大值A和最小值B，假设读出的最大值A=0.015 mm，最小值B=0.005 mm。
当（A+B）/2=（0.015+0.005）/2=0.01mm≤h=0.018 mm且A-B=0.015-0.005=0.01mm≤h1=0.019mm时，说明被测薄壁套圈9的被测外径公差和被测椭圆度误差均符合其加工要求。
同理：
当（A+B）/2≤h但A-B＞h1时，说明被测薄壁套圈的被测外径公差符合其加工要求但被测椭圆度误差不符合其加工要求。
当（A+B）/2＞h但A-B≤h1时，说明被测薄壁套圈的被测椭圆度误差符合其加工要求但被测外径公差不符合其加工要求。
当（A+B）/2＞h且A-B＞h1时，说明被测薄壁套圈的被测外径公差和被测椭圆度误差均不符合其加工要求。
通过上述陈述，本发明的测量方法简单实用，提高了薄壁套圈的测量效率，减轻了因测量薄壁套圈而带来的难度。
为了公开本发明而在本文中选用的实施例，当前认为是适宜的，但是应了解的是：本发明旨在包括一切属于本构思和本发明范围内的实施例的所有变化和改进。

Claims (1)

1.一种薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法，设定加工出的被测薄壁套圈(9)以及标准薄壁套圈的外径均为ФD，被测薄壁套圈(9)的外径上偏差为0，被测薄壁套圈(9)的外径下偏差为-h，被测薄壁套圈(9)外径的椭圆度误差为h1，标准薄壁套圈的外径上偏差以及下偏差均为0，其特征是：
将测台(2)通过沉头螺钉(3)水平固定在底座(1)上方，测台(2)上分别设置有垂直燕尾槽和倾斜燕尾槽，所述倾斜燕尾槽与所述垂直燕尾槽的夹角呈45°，在所述倾斜燕尾槽以及所述垂直燕尾槽内分别通过燕尾螺钉联接两个移动支点(8)，将所述垂直燕尾槽内联接的移动支点称其为垂直支点，将所述倾斜燕尾槽联接的移动支点称其为侧支点，在所述垂直燕尾槽的上端联接有表架(6)，表架(6)上联接表托(5)，表托(5)的内孔通过其侧面配置的螺钉(7)用于固定测表(4)的上表杆，这样就保证了测表(4)的测头垂直指向所述垂直支点；根据所述标准薄壁套圈的外径初步调整所述垂直支点与所述侧支点之间距，再将所述标准薄壁套圈放在所述垂直支点和所述侧支点上，向上微调并固定所述垂直支点，使所述标准薄壁套圈接触测表(4)的测头并旋转测表(4)的表盘使其对准0位，同时微调并固定所述侧支点，这时测表(4)的测头到所述垂直支点的间距=所述ФD；松动螺钉(7)使测表(4)向下垂直微移，待测表(4)指向2 h时固定螺钉(7)，此时测表(4)的测量范围就控制在0～2 h之间；取出所述标准薄壁套圈并换上被测薄壁套圈(9)，沿所述侧支点与所述垂直支点方向转动被测薄壁套圈(9)一圈以上，从测表(4)上即可读出最大值A和最小值B，当（A+B）/2≤h且A-B≤h1时，说明被测薄壁套圈(9)的被测外径公差和被测椭圆度误差均符合其加工要求；当（A+B）/2≤h但A-B＞h1时，说明被测薄壁套圈(9)的被测外径公差符合其加工要求但被测椭圆度误差不符合其加工要求；当（A+B）/2＞h但A-B≤h1时，说明被测薄壁套圈(9)的被测椭圆度误差符合其加工要求但被测外径公差不符合其加工要求；当（A+B）/2＞h且A-B＞h1时，说明被测薄壁套圈(9)的被测外径公差和被测椭圆度误差均不符合其加工要求。
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