CN103021896A - 基板检测及修补装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基板检测及修补装置。根据本发明的基板检测及修补装置，基板支撑并固定在检测单元上，检测单元的探头在基板的下方升降并与基板的电极线进行连接或不进行连接。即，升降的探头相对于基板具有小尺寸、小体积，且探头被安装在检测单元的内部，因此，具有可减少基板检测及修补装置安装空间的效果。另外，无需设置用于移动基板的高价装置，有降低基板检测及修补装置成本的效果。

Description

基板检测及修补装置

技术领域

本发明涉及一种基板检测及修补装置，是一种点亮基板并对其进行检查，对检查后发现的缺陷进行修补的基板检测及修补装置。

背景技术

平板显示器大致分为液晶显示器（LCD：Liquid Crystal Display），等离子显示器（PDP：Plasma Display Panel）,发光二极管（LED：Light-Emitting Diode）显示器，有机发光二极管（OLED：Organic Light-Emitting Diode）显示器等。

有机发光二极管显示器具有低电压驱动，发光效率高，视野角广，反应速度快等优点，作为新一代平板显示器，因可显示高清晰影像而备受瞩目。

有机发光二极管显示器的制造工序中包括检测工序和修补（Repair）工序。检测工序是向形成在基板上的阳极线和阴极线供给电源，对基板的缺陷进行检查，修补工序是利用激光对检测出的基板上的缺陷部位进行修补。

制造平板显示器时，要在检测装置上对基板有无缺陷进行检测，发现基板存有缺陷，需将基板移送至修补装置，以对基板的缺陷部位进行修补。然后，将修补后的基板重新移送至检测装置，对其进行复检。即，缺点是要分别配备检测装置和修补装置，且为完成基板检测→修补→复检，还需移送基板，进而导致生产性能低下。

为解决上述问题而开发了一种实现检测装置和修补装置一体化的检测及修补装置。

但是，现有的基板检测及修补装置的特点在于，与基板阳极线和阴极线相连接并为基板供给电源的探头（Probe）位置是固定的，这样就需要从下往上移送基板，而使基板的阳极线和阴极线连接到探头上。即，现有的基板检测及修补装置的缺点是需要与基板移送空间大小相当的安装空间。另外，缺点还在于，因需要移动基板的高价装置，进而提高成本。

发明内容

本发明为解决上述现有技术中存在的问题而进行了研究，其目的在于提供一种可减少安装空间，同时又能降低成本的基板检测及修补装置。

为达上述目的，本发明提供的基板检测及修补装置，其特点在于，包括：工作台；检测单元，被安装在上述工作台上，搭载并支撑形成有阳极线和阴极线的基板，还具有向上述基板供给电源的多个探头（Probe），以检测上述基板是否存有缺陷；修补单元，被安装在工作台上，能够在X轴方向和Y轴方向移动，对上述基板的缺陷部位进行修补，其中，上述探头位于上述基板的下方，可进行升降，以实现与上述基板的上述阳极线和上述阴极线的连接或不连接。

本发明提供的基板检测及修补装置的效果在于：基板固定并支撑在检测单元上，检测单元的探头在基板下方升降，从而实现与基板电极线的连接与不连接。即，升降的探头的尺寸和体积较小，探头又安置在检测单元内部，因此，能够减少基板检测及修补装置的安装空间。

另外，其效果还在于：无需使用高价的基板移动装置，可降低基板检测及修补装置的成本。

附图说明

图1为本发明的一实施例所示的基板检测及修补装置的立体图。

图2为图1所示检测单元的放大立体图。

图3为图2所示按压板向外侧移动的状态示意立体图。

图4为图3的“A”部的放大图。

图5为图4所示探头的截面图。

附图标记：

100：工作台        200：检测单元

261：探头          271：按压板

300：修补单元

具体实施方式

下面，将参照附图举例说明本发明可实施的特定实施例。本发明的各种实施例虽有所不同，但相互之间并不排斥。为使本领域技术人员能够充分实施本发明，将对这些实施例作以详细说明。例如，这里所记载的特定形状，特定结构和特性与一实施例相关，且在不脱离本发明精神和范围的情况下，也可由其他的实施例来体现。另外，各自公开的实施例中的个别结构组成部分的位置或配置，在不脱离本发明精神和范围的情况下也可进行变动。因此，后述详细说明并无限定之意，只要合理说明，本发明的范围则仅限定于与其权利要求所主张的内容等同的所有范围以及附加的权利要求。为方便起见，也有可能会夸张地表现附图所示实施例的长度、面积、厚度及形态。

以下，结合附图详细说明本发明的一实施例的基板检测及修补装置。

图1为本发明的一实施例所示的基板检测及修补装置的立体图。

如图1所示，本发明基板检测与修补装置包括：工作台100，检测单元200和修补单元300。

检测单元200安装在工作台100上面，用于搭载并支撑着基板50。检测单元200包括，向基板50供给电源并点亮基板的各个像素以检测基板50是否存在缺陷的探头（Probe）261(参照图4)。这时，基板50的一侧和另一侧外缘部上形成有与探头261相连接以接收电源供给的阳极线和阴极线。

以下，称基板50上形成的阳极线与阴极线为‘电极线’。

修补单元300安装在工作台100上，可实现X轴方向和Y轴方向的移动，对基板50的点缺陷（Point Defect）部位或线缺陷（Line Defect）部位进行修补。

参照图2至图4来说明本实施例所示检测单元200。图2为图1所示检测单元的放大立体图。图3为图2所示按压板向外侧移动的状态示意立体图。图4为图3的“A”部的放大图。

如图所示，检测单元200包括安装在工作台100（参照图1）上的底座210。底座210的中央部安装有长度方向与X轴方向平行的第一支撑块220，第一支撑块220上搭载并支撑着需要检测或修补的基板50（参照图1）的中央部。

第一支撑块220上安装有第一钳位器231。第一钳位器231由相互对置的一对构成，其中一个安装在第一支撑块220的一端，另一个安装在第一支撑块220的另一端。第一钳位器231以相互靠近或远离方式运动，来支持与X轴方向垂直的基板50的一个侧面和另一个侧面。

第一支撑块220上安装有电机233，电机233上连接有滚珠丝杠，上述滚珠丝杠上安装有第一钳位器231。因此，电机233带动上述滚珠丝杠正反旋转时，第一钳位器231则也会随滚珠丝杠而做直线往返运动。

底座210上安装有一对第二支撑块240。第二支撑块240隔着第一支撑块220分别安装在第一支撑块240的一侧和另一侧的底座210部位上。即，以第一支撑块220为准，其中一个第二支撑块240安装在Y轴正方向上，另一个第二支撑块240安装在Y轴负方向上。

第二支撑块240的长度方向与X轴方向保持平行的同时，与第一支撑块220也保持平行。第二支撑块240可沿Y轴方向移动，以相互靠近并远离的形态进行运动，搭载并支撑与Y轴方向垂直的基板50的一侧和另一侧外缘部。

第二支撑块240被分别安装在底板243上，底座210上分别安装有支撑底板243的支撑导轨245。另外，底板243与支撑导轨245通过LM导轨等来连接，底板243随支撑导轨245做直线运动。这样，第二支撑块240以相互靠近或远离的方式，即以靠近或远离第一支撑块220的方式进行移动。

第二支撑块240上分别安装有第二钳位器251。在一个第二支撑块240与另一个第二支撑块240上分别安装多个第二钳位器251，其与第二支撑块240一同运动来支撑与Y轴方向垂直的基板50的一个侧面和另一个侧面。

相互对向的一对第一钳位器231之间的距离可变，分别安装有第二钳位器251的一对相互对置的第二支撑块240的距离也可变，可用来支撑具有各种尺寸的基板50。

基板50是有机发光二极管（OLED：Organic Light-Emitting Diode）显示器时，只有通过上述电极线供给电源，才能检测基板50是否存在缺陷。

为此，本实施例所示的检测单元200上安装有与基板50的电极线相连接的多个探头261。探头261位于搭载并支撑在检测单元200上的基板50的下方，可升降而与基板的上述电极线进行连接或不进行连接。

探头261被分别安装在第二支撑块240上，在与第二支撑块240一同运动的同时，可面向第二支撑块240进行升降。

以下，对探头261的升降结构作以说明。

第二支撑块240上分别安装有升降板263，升降板263上可拆卸地分别结合有支撑架265。这时，升降板263与第二支撑块240一同运动的同时，可相对于第二支撑架240进行升降。另外，支撑架265与升降板263一同运动。升降板263由气缸（无图示）等来带动升降。

支撑架265上分别安装有多个探头261。因此，升降板263升降的同时，支撑架265也会升降，且随着支撑架265的升降，探头261也会升降，以与基板50的上述电极线进行连接或不进行连接。通过探头261向基板50供给电源时，未发光的基板50部位或未显示所需颜色的基板50部位即为缺陷部位。

基板50支撑并固定在检测单元200上，尺寸和体积比基板50小的探头261升降并与基板50进行连接或不进行连接，故本实施例所示的基板检测及修补装置，可在相对小的空间内安装。

探头261的上升距离由控制部（未图示）来适当控制。但是，如果探头261被固定在支撑架265上，在探头261与基板50连接的状态下，探头261与基板50之间的作用力处于规定值以上时，会导致探头261受损。为防止该现象的发生，探头261被设置成能够相对于支撑架265进行升降。另外，如图5所示，在支撑架265上安装有对探头261向基板50侧进行弹性支撑的弹性支撑构件267。

这样，即使探头261已经连接到基板50上，如果探头261持续上升，则探头261会下降，从而防止探头261受损。探头261由弹性支撑构件267牢牢地连接到基板50上。

探头261上升并连接到基板50上时，若基板50也因探头261而上升，探头261与基板50将无法牢固连接。为防止该现象的发生，本实施例所示的检测单元200上安装有可升降并向下按压基板50的按压板271。

按压板271在与第二支撑块240一同运动的同时，还可相对于第二支撑块240进行升降，从而向下按压基板50上面的外缘部侧。

具体为，底板243上安装有支撑导轨273，支撑导轨273上安装有水平支撑板275a，水平支撑板275a上安装有垂直支撑板275b。另外，垂直支撑板275b上安装着通过气缸（无图示）进行升降的按压板271。

这样，通过用机械臂等支撑使基板50搭载并支撑在第一和第二支撑块220、240上，则第一钳位器231以相互靠近的方式移动，第二支撑块240以相互靠近的方式移动，从而支撑基板50。在这种状态下，按压板271下降并对基板50进行按压支撑，则探头261上升而连接到基板50。因此，探头261能够牢固地连接到基板50上。

水平支撑板275a独立于第二支撑块240的直线运动，而单独沿着与第一支撑块220靠近或远离的方向、即Y轴方向做直线运动。为此，支撑导轨273与水平支撑板275a通过LM导轨而相互连接，水平支撑板275a可沿着支撑导轨273做直线运动。因此，按压板275a与第二支撑块240的直线运动独立地进行直线运动。

在修理或替换探头261时，因安装有探头261的支撑架265是可拆卸地结合到第二支撑块240上，因此，如图3所示，在朝第一支撑块220的外侧移动水平支撑板275a的状态下，即可替换支撑架265。

底板243上形成第一档块243a和第二档块243b。第一档块243a限定朝靠近第一支撑块220的方向运动的水平支撑板275a的移动距离，第二档块243b限定朝远离第一支撑块220的方向运动的水平支撑板275a的移动距离。即，第一档块243a与第二档块243b限定因水平支撑板275a而做直线运动的按压板271的移动距离。

另外，使按压板271做直线运动的水平支撑板275a上形成沿水平支撑板275a的直线运动方向而卡到第一档块243a或第二档块243b上的凸起275aa。

图5中未说明的标号261a是向探头261供给电源的电线。

本实施例所示的基板检测与修补装置，其基板50被支撑并固定在检测单元200上，检测单元200的探头261在基板50的下方升降并与基板50的上述电极线进行连接或不进行连接。即，升降的探头261与基板50相比具有小尺寸和小体积，且探头261被安装在检测单元200的内部，所以可安装在狭窄的空间内。另外，无需移动基板50的附加装置，进而降低成本。

综上所述，结合最佳实施例及附图而作以详细说明，但并不以此为限，凡具备本发明所属技术领域内一般知识的技术人员，均可在不脱离本发明精神的范围内，进行各种变形和变动。这些变形例和变动例均被看作包含在本发明及权利要求范围之内。

Claims (9)

1.一种基板检测及修补装置，其特征在于，包括：

工作台；

检测单元，被安装在所述工作台上，搭载并支撑形成有阳极线和阴极线的基板，且具有向所述基板供给电源的多个探头，以检测所述基板是否存在缺陷；及

修补单元，以能够沿X轴方向和Y轴方向移动的方式安装在所述工作台上，对所述基板的缺陷部位进行修补；

所述探头位于所述基板的下方，可进行升降，并与所述阳极线和所述阴极线进行连接或不进行连接。

2.根据权利要求1所述的基板检测及修补装置，其特征在于，所述检测单元包括：

底座，设置在上述工作台上；

第一支撑块，以长度方向平行于X轴方向的方式设置在所述底座上，用于搭载并支撑所述基板的中央部侧；

一对第二支撑块，隔着所述第一支撑块分别设置在所述第一支撑块的一侧和另一侧的所述底座部位上，且长度方向与X轴方向平行，能够沿Y轴方向移动，并以相互靠近或远离的方式移动，用于搭载并支撑与Y轴方向垂直的所述基板的一侧和另一侧的外缘部；

一对第一钳位器，设置在所述第一支撑块的一端和另一端，以相互靠近或远离的方式移动，并分别对与X轴方向垂直的所述基板的一侧面和另一侧面进行支撑；以及

第二钳位器，分别设置在所述第二支撑块上以与所述第二支撑块一同移动，并分别对与Y轴方向垂直的所述基板的一侧面和另一侧面进行支撑。

3.根据权利要求2所述的基板检测及修补装置，其特征在于：

所述探头分别设置在所述第二支撑块一侧，与所述第二支撑块一同运动，并且，可相对于所述第二支撑块进行升降。

4.根据权利要求3所述的基板检测及修补装置，其特征在于：

在所述第二支撑块上分别设置有升降板，所述升降板在与所述第二支撑块一同移动的同时，可相对于所述第二支撑板进行升降，

所述升降板上分别可拆卸地结合有支撑架，

所述支撑架上分别支撑并设置有多个所述探头。

5.根据权利要求4所述的基板检测及修补装置，其特征在于：

所述探头设置成可升降设置在支撑架，

在所述支撑架上设置有朝向基板一侧弹性支撑所述探头的弹性支撑构件。

6.根据权利要求4所述的基板检测及修补装置，其特征在于：

所述第二支撑块上分别安装有多个按压板，该按压板在分别与所述第二支撑块一同移动的同时，可相对于第二支撑架进行升降，并向下按压所述基板的上面外缘部。

7.根据权利要求6所述的基板检测及修补装置，其特征在于：

所述按压板设置成，能够与所述第二支撑块的移动独立地沿Y轴方向进行直线移动。

8.根据权利要求7所述的基板检测及修补装置，其特征在于：

所述底座上设置有能够沿Y轴方向移动的底板，

所述底板上设置有所述第二支撑块，

所述底板上形成第一档块和第二档块，该第一档块用于限定朝所述第二支撑块靠近的方向移动的所述按压板的移动距离，该第二档块用于限定朝远离所述第二支撑块的方向移动的所述按压板的移动距离。

9.根据权利要求8所述的基板检测及修补装置，其特征在于：

在所述按压板上形成有沿所述按压板的移动方向而卡到所述第一档块和所述第二档块上的凸起。

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