CN102809343A - 检测装置及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本技术方案的检测装置，包括固定部、支撑部、测试部，所述固定部包括定位导向块，所述定位导向块用于固定被测工件，所述定位导向块上还具有第一孔。所述支撑部固定安装在固定部上，所述支撑部包括支撑块，所述支撑块内形成有收容孔。述测试部包括量测表及锥形测头，所述量测表部分收容于收容孔内，所述锥形测头收容于收容孔及第一孔内，所述锥形测头与被测工件相接触，所述锥形测头在被测工件的沉孔倒角内的伸缩值显示于所述量测表。本发明还涉及一种采用以上检测装置检测工件的沉孔倒角的检测方法。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测装置及检测方法。
背景技术
在各种电子消费品的机箱及各种组合件的制作过程当中，各个组件间要用到螺钉和各种拉铆钉连接。为使螺钉或铆钉与组合件表面平面保持平滑，需检测与之配合的工件沉孔深度。一般的检测装置为预先制作一个与沉孔相配合的辅助工件及一个与所述辅助工件相配合的卡规，使得辅助工件的顶部与卡规相配合，然后将辅助工件放入沉孔中，卡规与工件的配合程度来显现测试沉孔的深度。但由于工件与之相配合的卡规之间将存在可能的缝隙。使得工件沉孔的深度的检测数据不精确。从而对工件的质量产生影响，进而影响工件后续的加工使用。
发明内容
因此，有必要提供一种能够准确，快速量测沉孔倒角深度的检测装置及检测方法。
一种检测装置，用于检测工件，包括固定部、支撑部以及测试部。所述固定部包括定位导向块，所述定位导向块用于与被测工件相配合，所述定位导向块上还具有第一孔。所述支撑部固定安装在所述固定部上，所述支撑部包括支撑块，所述支撑块内形成有收容孔，所述收容孔与所述第一孔相互连通。所述测试部包括量测表及锥形测头，所述量测表包括表体及可相对于所述表体伸缩运动的测试杆，所述测试杆收容于所述收容孔内，所述锥形测头部分收容于所述收容孔内，部分收容于所述第一孔内，所述测试杆与所述锥形测头位于所述收容孔内的一端相抵，所述锥形测头与被测工件相抵触，从而使得所述测试杆产生伸缩，所述表体显示所述测试杆伸缩的数值。
一种检测方法，用于对工件上的沉孔倒角的深度检测，包括步骤提供被测工件及检测装置；将所述被测工件沉孔倒角开口所在的一个面与定位导向块紧密接触，将所述锥形测头伸入所述被测工件的沉孔倒角至所述待测工件与所述沉孔倒角的内壁接触，所述锥形测头的移动带动所述测试杆产生伸缩，将此时所述量测表的读数装置读数清零；将被测工件翻转，使得翻转后的所述被测工件沉孔倒角开口所在的另一个面与所述定位导向块紧密接触，将所述锥形测头伸入所述被测工件的沉孔倒角至所述待测工件与所述沉孔倒角的内壁接触，所述锥形测头的移动带动所述测试杆产生伸缩，此时所述表体显示所述测试杆伸缩的数值即为所述沉孔倒角的深度。
与现有技术相比较，本技术方案中采用固定块内嵌的磁块将被测工件与检测装置紧密接触同时锥形测头在被测工件的伸缩量显示在量测表上，本技术方案可更为牢靠的固定被测工件，同时也能更精确检测被测工件。
附图说明
图1是本技术方案实施例提供的检测装置的立体图。
图2是图1沿II-II局部剖面图。
图3是本技术方案实施例提供的检测装置的结构分解示意图。
图4是本技术方案实施例提供检测装置的工作状态示意图之一。
图5是本技术方案实施例提供检测装置的工作状态示意图之二。
主要元件符号说明
| 检测装置 | 10 |
| 固定部 | 20 |
| 定位导向块 | 21 |
| 磁块 | 22 |
| 第一表面 | 23 |
| 第二表面 | 24 |
| 凹槽 | 25 |
| 第一孔 | 26 |
| 第一配合孔 | 27 |
| 支撑部 | 30 |
| 支撑块 | 31 |
| 固定螺丝 | 32 |
| 螺杆 | 33 |
| 第一端部 | 34 |
| 第二端部 | 35 |
| 凸块 | 36 |
| 第二配合孔 | 37 |
| 第一通孔 | 38 |
| 第一孔段 | 301 |
| 第二孔段 | 312 |
| 第三孔段 | 302 |
| 侧壁 | 303 |
| 收容孔 | 310 |
| 第一环形面 | 313 |
| 第二环形面 | 314 |
| 螺孔 | 304 |
| 测试部 | 40 |
| 量测表 | 41 |
| 弹簧 | 42 |
| 锥形测头 | 43 |
| 护套 | 44 |
| 固定套 | 45 |
| 测试杆 | 46 |
| 表体 | 47 |
| 顶部 | 48 |
| 尾部 | 49 |
| 工件 | 50 |
| 沉孔倒角 | 51 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，本技术方案实施例提供的检测装置10包括固定部20，支撑部30及测试部40。
请一并参阅图1、图2及图3，固定部20包括一个定位导向块21及两块磁块22。所述定位导向块21外观呈长方体状。定位导向块21具有相对的第一表面23和第二表面24。定位导向块21内形成有一个贯穿第一表面23和第二表面24的第一孔26。第一孔26用于配合测试部40。自第一表面23向定位导向块21内部形成两个凹槽25。两个凹槽25位于第一孔26的两侧。每个凹槽25用于收容一个磁块22。每个磁块22和对应的一个凹槽25为过度配合。本实施例中，磁块22配合到凹槽25内部且并不凸出于定位导向块21。由于磁块22的磁性，磁块22用于与磁性金属制作的被测工件相互吸附，使得被测工件与定位导向块21紧密接触。自第二表面24向定位导向块21内部还形成有两个第一配合孔27。第一配合孔27用于配合支撑部30。本实施例中，第一配合孔27和凹槽25的中心轴线重合，当然第一配合孔27和凹槽25的中心轴线也可以不重合。
请参阅图2及图3，支撑部30固定在固定部20的第二表面24上。支撑部30包括支撑块31、两个固定螺丝32及一个螺杆33。支撑块31包括主体部311及形成于主体部311相对两侧的凸块36。主体部311的外观也呈现长方体状。主体部311具有相对的第一端部34和第二端部35。第一端部34与定位导向块21的第二表面24相接触。两个凸块36形成于主体部311靠近第一端部34的一侧。每个凸块36与第二表面24相接触。每个凸块36上具有一个第二配合孔37。每个第一配合孔27和每个第二配合孔37一一对应。每个固定螺丝32对应和一个第一配合孔27及一个第二配合孔37配合。固定螺丝32将支撑块31固定在固定部20的定位导向块21的第二表面24上。自主体部311第一端部34至第二端部35形成有收容孔310，所述收容孔310包括依次连通并且中心轴线重合的第一孔段301、第二孔段312及第三孔段302。其中，第一孔段301的孔径与第三孔段302的孔径大致相等且大于所述第一孔26的孔径，第二孔段312的孔径小于第一孔段301和第三孔段302的孔径。在第一孔段301与第二孔段312连接处，具有第一环形面313其暴露于第一孔段301一侧。在第二孔段312与第三孔段302连接处，具有第二环形面314暴露于第三孔段302一侧。支撑块31还具有一个连接于第一端部34和第二端部35之间的侧壁303，在侧壁303上还形成有一个螺孔304，螺杆33用于与螺孔304配合，以固定测试部40。
请参阅图2与图3，测试部40包括一个量测表41、弹簧42、锥形测头43及护套44。量测表41包括一个表体47、一个固定套45和一个可伸缩的测试杆46，固定套45设置在测试杆46的外壁并与表体47固定连接。测试杆46与表体47内部相互连接，并可以伸缩移动。表体47能够显示测试杆46移动距离的读数。在本实施例中，量测表41为百分表。锥形测头43具有顶部48和尾部49。顶部48为锥状且锥角小于被测沉孔倒角，尾部49为柱状。顶部48与被测工件相接触，容纳于第一孔26内。锥形测头43的顶部48在第一孔26内自由滑动，顶部48的锥角小于被测工件沉孔角度。尾部49容纳于支撑块31的第一孔段301内，尾部49的半径大于第一孔26的半径以使得尾部49只在第一孔段301运动。弹簧42容纳于第一孔段301中，并且弹簧42的一端与第一环形面313相抵触，弹簧42另一端与锥形测头43的尾部49相抵触。护套44外观呈圆筒状。护套44上还包括一个沿着其延伸方向开设的缺口441。护套44容纳于第三孔段302远离第二孔段312的一侧，量测表41的固定套45容置于护套44之中，螺杆33贯穿侧壁303上的螺孔304抵压护套44，使得量测表41固定在支撑部30内。
以下结合检测装置10的使用方法对其做进一步的详细说明。
请结合图4及图5，提供一个被测工件50，工件具有一个沉孔倒角51，将沉孔倒角51开口所在的其中一个表面与定位导向块21的第一表面23紧密接触，当工件50为磁性金属件时，磁块22吸附所述工件50将使得工件50与定位导向块21紧密接触。当所测试工件为非磁性金属件时采用外力将定位导向块21与工件50紧密接触。将所述锥形测头43伸入所述被测工件的沉孔倒角51至所述待测工件与所述沉孔倒角的内壁接触，所述锥形测头的移动带动所述测试杆产生伸缩，此时将量测表41的读数装置的读数清零，以此作为基准点。然后将被测工件50翻转，使得被测工件50的沉孔倒角51开口所在的另一表面与定位导向块21的第一表面23紧密接触。锥形测头43在弹簧42的形变作用下伸缩带动量杆。将所述锥形测头43伸入所述被测工件的沉孔倒角51直至锥形测头43与沉孔倒角51的内壁的边缘相接触。此时量测表41上的读数即为沉孔倒角51的深度值。
本技术方案中采用定位导向块内嵌的磁块将被测工件与检测装置紧密接触同时通过锥形测头的伸缩带动测试杆的移动，量测表即可显示被测工件的沉孔倒角的深度。本技术方案可更为牢靠的固定被测工件，同时也能更精确检测被测工件沉孔倒角的深度值。
本技术方案的检测装置不限于前述描述，本领域普通技术人员可根据本技术方案的技术构思作其它各种相应的改变与变形。但所有这些改变与变形都应属于本申请权利要求的保护范围。
Claims (9)
1.一种检测装置，用于检测工件，包括：
固定部，所述固定部包括定位导向块，所述定位导向块用于与被测工件相配合，所述定位导向块上还具有第一孔；
支撑部，所述支撑部固定安装在所述固定部上，所述支撑部包括支撑块，所述支撑块内形成有收容孔，所述收容孔与所述第一孔相互连通；
测试部，所述测试部包括量测表及锥形测头，所述量测表包括表体及可相对于所述表体伸缩运动的测试杆，所述测试杆收容于所述收容孔内，所述锥形测头部分收容于所述收容孔内，部分收容于所述第一孔内，所述测试杆与所述锥形测头位于所述收容孔内的一端相抵，所述锥形测头与被测工件相抵触，从而使得所述测试杆产生伸缩，所述表体显示所述测试杆伸缩的数值。
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述固定部还包括磁块，所述磁块收容于所述定位导向块内，用于与磁性工件相吸附。
3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，自所述定位导向块背向所述支撑部的表面向所述定位导向块内部形成有凹槽，所述凹槽用于***述磁块，所述磁块和对应的凹槽为过度配合。
4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述锥形测头具有顶部和尾部，所述顶部为锥状且锥角小于被测沉孔倒角，所述顶部与被测工件相抵触，所述尾部为柱状，所述尾部收容于所述收容孔内。
5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述收容孔包括依次连通并且中心轴线重合的第一孔段、第二孔段及第三孔段，所述第一孔段的孔径与所述第三孔段的孔径大致相等且大于所述第一孔的孔径，所述第二孔段的孔径小于所述第一孔段和第三孔段的孔径，在所述第一孔段与第二孔段连接处具有第一环形面，其位于所述第一孔段一侧，在所述第二孔段与第三孔段连接处具有第二环形面，其位于所述第三孔段一侧，所述锥形测头的尾部收容于所述第一孔段内，所述锥形测头的尾部半径大于所述第一孔的半径从而使所述锥形测头的尾部只在所述第一孔段运动。
6.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述测试部还包括弹簧，所述弹簧容纳于所述第一孔段中，所述弹簧的一端与所述第一环形面相抵触，所述弹簧的另一端与所述锥形测头的尾部相抵触。
7.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述测试部还包括护套及固定套，所述护套容纳于所述第三孔段并远离所述第二孔段的一侧，所述固定套设置在所述测试杆的外壁并与所述表体固定连接，所述固定套容置并固定于所述护套之中，使得所述量测表固定在所述支撑部内。
8.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述支撑部还具有螺杆，所述支撑块具有侧壁，在所述侧壁上还形成有螺孔，所述螺杆贯穿所述侧壁上的螺孔抵压所述护套，使得所述量测表固定在所述支撑部内。
9.一种检测方法，用于对工件上的沉孔倒角的深度检测，包括步骤：
提供被测工件及如权利要求1所述的检测装置；
将所述被测工件沉孔倒角开口所在的一个面与定位导向块紧密接触，将所述锥形测头伸入所述被测工件的沉孔倒角至所述待测工件与所述沉孔倒角的内壁接触，所述锥形测头的移动带动所述测试杆产生伸缩，将此时所述量测表的读数装置读数清零；
将被测工件翻转，使得翻转后的所述被测工件沉孔倒角开口所在的另一个面与所述定位导向块紧密接触，将所述锥形测头伸入所述被测工件的沉孔倒角至所述待测工件与所述沉孔倒角的内壁接触，所述锥形测头的移动带动所述测试杆产生伸缩，此时所述表体显示所述测试杆伸缩的数值即为所述沉孔倒角的深度。
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| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20121205 |