CN102539880B - 硬盘电流测试*** - Google Patents

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Abstract

一种硬盘电流测试***，包括一硬盘、一转接板、一测试设备、两线缆及两钳形电流表。所述硬盘通过所述转接板与所述测试设备相连，所述两线缆分别连接所述转接板上的两条电源路径。当所述测试设备通过所述转接板对所述硬盘进行测试时，所述两钳形电流表的钳口分别圈住所述两线缆以测量流经两条电源路径的电流。上述硬盘电流测试***能直接测量所述硬盘的电流。

Description

硬盘电流测试***
技术领域
本发明涉及一种硬盘电流测试***。
背景技术
为了保证硬盘的品质，在硬盘组装完毕后，需对硬盘进行一系列的测试。然而传统的测试方法无法直接量测硬盘的电流，从而使我们无法得知硬盘读写数据时电流的变化等细节参数。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种能直接量测硬盘电流的硬盘电流测试***。
一种硬盘电流测试***，包括一硬盘、一转接板、一测试设备、第一及第二线缆及两钳形电流表，所述转接板包括第一及第二接口、第一及第二连接器及一总线，所述第一及第二连接器均包括一第一针脚及一第二针脚，所述第一接口与所述硬盘相连，所述第二接口与所述测试设备相连，所述第一连接器的第一针脚与所述第二接口的第一电源引脚相连，所述第一连接器的第二针脚与所述第二接口的第二电源引脚相连，所述第二连接器的第一针脚与所述第一接口的第一电源引脚相连，并通过所述第一线缆与所述第一连接器的第一针脚相连，所述第二连接器的第二针脚与所述第一接口的第二电源引脚相连，并通过所述第二线缆与所述第一连接器的第二针脚相连，所述第一接口还通过所述总线与所述第二接口相连，所述测试设备输出的第一电源通过所述第二接口的第一电源引脚、所述第一连接器的第一针脚、所述第一线缆、所述第二连接器的第一针脚及所述第一接口的第一电源引脚为所述硬盘供电，所述测试设备输出的第二电源通过所述第二接口的第二电源引脚、所述第一连接器的第二针脚、所述第二线缆、所述第二连接器的第二针脚及所述第一接口的第二电源引脚为所述硬盘供电，所述测试设备通过所述第二接口、所述总线及所述第一接口与所述硬盘通讯，以对所述硬盘进行测试，所述两钳形电流表的钳口分别圈住所述第一及第二线缆以测量流经所述第一及第二线缆上的电流。
相较现有技术，本发明硬盘电流测试***通过设置所述第一及第二连接器以将所述转接板上的第一及第二电源信号引出，并借助所述第一及第二线缆为引出的第一及第二电源信号形成回路，以方便所述第一及第二钳形电流表通过圈住所述第一及第二线缆来测量所述硬盘的电流。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
图1为本发明硬盘电流测试***较佳实施方式的原理框图。
主要元件符号说明
硬盘10
转接板20
第一接口22
第二接口26
总线28
测试设备30
第一线缆40
第二线缆50
钳形电流表60
硬盘电流测试***100
连接器J1-J4
具体实施方式
请参考图1，本发明硬盘电流测试***100的较佳实施方式包括一硬盘10、一转接板20、一测试设备30、一第一线缆40、一第二线缆50及两钳形电流表60。
所述转接板20包括一第一接口22、一第二接口26、一总线28及两个连接器J1、J2。所述连接器J1、J2均包括三个可通过跳帽或线缆连接的针脚1-3。所述第一接口22与所述硬盘10的接口相连，所述第二接口26与所述测试设备30的相应接口相连。所述连接器J1的针脚1与所述第二接口26的5V电源引脚相连，所述连接器J1的针脚2接地，所述连接器J1的针脚3与所述第二接口26的12V电源引脚相连。所述连接器J2的针脚1与所述第一接口22的5V电源引脚相连，所述连接器J2的针脚2接地，所述连接器J2的针脚3通过与所述第一接口22的12V电源引脚相连。所述第一接口22的信号引脚通过所述总线28与所述第二接口26的信号引脚对应相连。
在本实施方式中，所述硬盘10可为2.5寸SATA(SerialAdvancedTechnologyAttachment，串行高级技术附件)硬盘、3.5寸SATA硬盘、2.5寸SAS(SerialAttachedSCSI，串行连接SCSI)硬盘或3.5寸SAS硬盘。所述第一接口22及第二接口26均为SAS接口。由于SAS的接口技术可以向下兼容SATA接口，且SATA硬盘可以直接在SAS的环境中使用，故所述第一接口22可连接SATA硬盘和SAS硬盘。所述测试设备30为安装有硬盘测试软件的电脑或服务器。由于所述测试设备30只向所述硬盘10提供5V电源及12V电源，而所述硬盘10正常工作所需的各种电源(如1.8V、2.5V、3.3V及8V电源等)均由5V及12V电源经相应电路转换而成，所以只要能了解5V及12V电源路径中流过的电流，就可知晓所述硬盘10的电流。
当需要测量所述硬盘10在测试过程中的电流时，将所述硬盘10的接口与所述转接板20的第一接口22相连，所述测试设备30相应的接口与所述转接板20的第二接口26相连，所述连接器J1的针脚1通过所述第一线缆40与所述连接器J2的针脚1相连，所述连接器J1的针脚3通过所述第二线缆50与所述连接器J2的针脚3相连。所述测试设备30输出的5V电源经所述第二接口26的5V电源引脚、所述连接器J1的针脚1、所述第一线缆40、所述连接器J2的针脚1及所述第一接口22的5V电源引脚为所述硬盘10供电。所述测试设备30输出的12V电源经所述第二接口26的12V电源引脚、所述连接器J1的针脚3、所述第二线缆50、所述连接器J2的针脚3及所述第一接口22的12V电源引脚为所述硬盘10供电。所述硬盘10上电后，所述测试设备30通过所述第二接口26、所述总线28及所述第一接口22与所述硬盘10进行通讯，以对所述硬盘10进行相关测试。在测试过程中，只需将所述两钳形电流表60的钳口分别圈住所述第一线缆40及所述第二线缆50，即可测量出所述硬盘10的5V电源路径及12V电源路径中流过的电流。
在本实施方式中，所述转接板20还包括两连接器J3、J4，所述连接器J3、J4均包括三个可通过跳帽或线缆连接的针脚1-3。所述连接器J3的针脚1与所述第一接口22的5V电源引脚相连，所述连接器J3的针脚2悬空，所述连接器J3的针脚3与所述第二接口26的5V电源引脚相连。所述连接器J4的针脚1与所述第一接口22的12V电源引脚相连，所述连接器J4的针脚2悬空，所述连接器J4的针脚3与所述第二接口26的12V电源引脚相连。
当只需对所述硬盘10进行测试而不需测量所述硬盘10在测试过程中的电流时，断开所述连接器J1的针脚1与所述连接器J2的针脚1之间的连接关系，所述连接器J1的针脚3与所述连接器J2的针脚3之间的连接关系。用两跳帽(图未示)分别将所述连接器J3的两针脚1、3连接起来，所述连接器J4的两针脚1、3连接起来。所述测试设备30输出的5V电源经所述第二接口26的5V电源引脚、所述连接器J3及所述第一接口22的5V电源引脚为所述硬盘10供电。所述测试设备30输出的12V电源经所述第二接口26的12V电源引脚、所述连接器J4及所述第一接口22的12V电源引脚为所述硬盘10供电。所述硬盘10上电后，所述测试设备30通过所述第二接口26、所述总线28及所述第一接口22与所述硬盘进行通讯，以对所述硬盘10进行相关测试。在其它实施方式中，所述连接器J3、J4可省略。
上述硬盘电流测试***100通过在所述转接板20上设置SAS接口21、22来实现测试2.5寸SATA硬盘、3.5寸SATA硬盘、2.5寸SAS硬盘或3.5寸SAS硬盘的功能；并通过设置所述连接器J1、J2将所述转接板20上的5V及12V电源信号引出，再借助所述第一线缆40及第二线缆50为引出的5V及12V电源信号形成回路，以方便所述两钳形电流表60通过圈住所述第一线缆40及第二线缆50来测量所述硬盘10的电流；还通过设置所述连接器J3、J4来实现在不用所述第一线缆40及第二线缆50时也能对所述硬盘10进行测试的功能。

Claims (3)

1.一种硬盘电流测试***，包括一硬盘、一转接板及一测试设备，其中，所述转接板包括第一及第二接口，其特征在于：该硬盘电流测试***还包括第一及第二线缆及两钳形电流表，所述转接板还包括第一及第二连接器及一总线，所述第一及第二连接器均包括一第一针脚及一第二针脚，所述第一接口与所述硬盘相连，所述第二接口与所述测试设备相连，所述第一连接器的第一针脚与所述第二接口的第一电源引脚相连，所述第一连接器的第二针脚与所述第二接口的第二电源引脚相连，所述第二连接器的第一针脚与所述第一接口的第一电源引脚相连，并通过所述第一线缆与所述第一连接器的第一针脚相连，所述第二连接器的第二针脚与所述第一接口的第二电源引脚相连，并通过所述第二线缆与所述第一连接器的第二针脚相连，所述第一接口还通过所述总线与所述第二接口相连，所述测试设备输出的第一电源通过所述第二接口的第一电源引脚、所述第一连接器的第一针脚、所述第一线缆、所述第二连接器的第一针脚及所述第一接口的第一电源引脚为所述硬盘供电，所述测试设备输出的第二电源通过所述第二接口的第二电源引脚、所述第一连接器的第二针脚、所述第二线缆、所述第二连接器的第二针脚及所述第一接口的第二电源引脚为所述硬盘供电，所述测试设备通过所述第二接口、所述总线及所述第一接口与所述硬盘通讯，以对所述硬盘进行测试，所述两钳形电流表的钳口分别圈住所述第一及第二线缆以测量流经所述第一及第二线缆上的电流。
2.如权利要求1所述的硬盘电流测试***，其特征在于：所述第一及第二接口均为SAS接口。
3.如权利要求1所述的硬盘电流测试***，其特征在于：所述转接板还包括第三及第四连接器，所述第三及第四连接器均包括一第一针脚及一第二针脚，所述第三连接器的第一针脚与所述第一接口的第一电源引脚相连，所述第三连接器的第二针脚与所述第二接口的第一电源引脚相连，所述第四连接器的第一针脚与所述第一接口的第二电源引脚相连，所述第四连接器的第二针脚与所述第二接口的第二电源引脚相连，当所述第一连接器的第一针脚与所述第二连接器的第一针脚断开，且所述第一连接器的第二针脚与所述第二连接器的第二针脚断开时，用两跳帽分别将所述第三连接器的第一针脚与第二针脚相连，所述第四连接器的第一针脚与第二针脚相连，所述测试设备输出的第一电源通过所述第二接口的第一电源引脚、所述第三连接器及所述第一接口的第一电源引脚为所述硬盘供电，所述测试设备输出的第二电源通过所述第二接口的第二电源引脚、所述第四连接器及所述第一接口的第二电源引脚为所述硬盘供电，所述测试设备通过所述第二接口、所述总线及所述第一接口与所述硬盘通讯，以对所述硬盘进行测试。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103983864A (zh) * 2013-02-07 2014-08-13 辉达公司 用于图形卡测试的设备
CN104794030A (zh) * 2014-01-21 2015-07-22 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Sas线缆检测***及方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2519939Y (zh) * 2001-10-10 2002-11-06 联想(北京)有限公司 计算机电源对外供电转接板
CN101149663A (zh) * 2006-09-18 2008-03-26 苏州宇达电通有限公司 硬盘转接装置
CN101154141A (zh) * 2006-09-25 2008-04-02 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 序列式硬盘转接盒及其热插拔方法
US7664974B2 (en) * 2003-11-26 2010-02-16 Hitachi, Ltd. Storage control device and control method therefor

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60125588U (ja) * 1984-02-02 1985-08-23 三菱電機株式会社 プリント基板の試験装置
KR950012289B1 (ko) * 1988-08-29 1995-10-16 금성일렉트론주식회사 이온 투입 파라데이시스템의 센타 빔 전류 측정장치
KR100729647B1 (ko) * 2001-01-13 2007-06-18 주식회사 푸르던텍 보드 테스트 시스템
JP2002260375A (ja) * 2001-02-28 2002-09-13 Japan System Engineering Kk コンピュータ記憶部の診断装置
JP2005100332A (ja) * 2003-08-29 2005-04-14 Kyodo Printing Co Ltd 接触式ｉｃカードまたはｉｃモジュールに内蔵されたｉｃチップの電気特性の検査・測定方法及び検査・測定システム並びにこれに用いる安定化電源
US7057401B2 (en) * 2004-03-23 2006-06-06 Pass & Seymour, Inc. Electrical wiring inspection system
JP2007184027A (ja) * 2006-01-05 2007-07-19 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv データ記憶装置の機能試験装置
JP2008034150A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Matsushita Electric Works Ltd タップ装置
JP2009075902A (ja) * 2007-09-21 2009-04-09 Fujitsu Ltd パワーデバイス及び記憶装置
US20090113454A1 (en) * 2007-10-29 2009-04-30 Inventec Corporation System and method of testing bridge sas channels
CN101533983A (zh) * 2008-03-12 2009-09-16 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 硬盘转接装置
US7945424B2 (en) * 2008-04-17 2011-05-17 Teradyne, Inc. Disk drive emulator and method of use thereof
US9146277B2 (en) * 2008-11-07 2015-09-29 Infineon Technologies Ag Test board and test system
CN101782882A (zh) * 2009-01-16 2010-07-21 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 转接板

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2519939Y (zh) * 2001-10-10 2002-11-06 联想(北京)有限公司 计算机电源对外供电转接板
US7664974B2 (en) * 2003-11-26 2010-02-16 Hitachi, Ltd. Storage control device and control method therefor
CN101149663A (zh) * 2006-09-18 2008-03-26 苏州宇达电通有限公司 硬盘转接装置
CN101154141A (zh) * 2006-09-25 2008-04-02 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 序列式硬盘转接盒及其热插拔方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
微硬盘动态特性测试***设计与实现;王海卫 等;《微处理机》;20080430(第2期);127-130,134 *
硬盘常见故障及其处理方法;关林风;《电子世界》;20001231(第11期);30 *

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Effective date of registration: 20151106

Address after: 518109 Guangdong province Shenzhen city Longhua District Dragon Road No. 83 wing group building 11 floor

Applicant after: SCIENBIZIP CONSULTING (SHEN ZHEN) Co.,Ltd.

Address before: 518109 Guangdong city of Shenzhen province Baoan District Longhua Town Industrial Zone tabulaeformis tenth East Ring Road No. 2 two

Applicant before: HONG FU JIN PRECISION INDUSTRY (SHENZHEN) Co.,Ltd.

Applicant before: HON HAI PRECISION INDUSTRY Co.,Ltd.

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Effective date of registration: 20151211

Address after: 518104, building four, building 403, building A3, manholes Industrial Zone, manhole community, Gonghe subdistrict, Gonghe, Shenzhen, Guangdong, Baoan District

Applicant after: Tang Jianning

Address before: 518104, building four, building 403, building A3, manholes Industrial Zone, manhole community, Gonghe subdistrict, Gonghe, Shenzhen, Guangdong, Baoan District

Applicant before: SHENZHEN OUKELI TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Effective date of registration: 20151211

Address after: 518104, building four, building 403, building A3, manholes Industrial Zone, manhole community, Gonghe subdistrict, Gonghe, Shenzhen, Guangdong, Baoan District

Applicant after: SHENZHEN OUKELI TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Address before: 518109 Guangdong province Shenzhen city Longhua District Dragon Road No. 83 wing group building 11 floor

Applicant before: SCIENBIZIP CONSULTING (SHEN ZHEN) Co.,Ltd.

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CB03 Change of inventor or designer information

Inventor after: Zhang Jinghua

Inventor after: Hou Quansheng

Inventor after: Ren Shichao

Inventor after: Zhao Dawei

Inventor after: Yin Yunwei

Inventor after: Xu Changfu

Inventor before: Hu Wensen

Inventor before: Chen Guoyi

COR Change of bibliographic data
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Effective date of registration: 20160429

Address after: 274600 the Yellow River West Road, Juancheng, Shandong, No. 135, No.

Applicant after: State Grid Shandong Electric Power Company Juancheng County Power Supply Co.

Address before: 518104, building four, building 403, building A3, manholes Industrial Zone, manhole community, Gonghe subdistrict, Gonghe, Shenzhen, Guangdong, Baoan District

Applicant before: Tang Jianning

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CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
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Granted publication date: 20160608

Termination date: 20161229