CN102531605A - 高热导率SiC基微波衰减材料及其制备方法 - Google Patents
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Abstract
一种高热导率SiC基微波衰减材料,该材料由W和两种具有不同电阻率的SiC组成,其中W的含量为0~15wt.%,具有低电阻率的SiC的含量为3~40wt.%,其余为具有高电阻率的SiC。其制备方法为:将纯度为高纯Si粉和C粉混合后进行烧结,改变烧结的气体气氛制得高纯SiC粉和掺杂N的SiC粉,将高纯SiC粉、掺杂N的SiC粉与W粉混合后在1900℃~2100℃、氩气气氛下热压烧结,热压的压力为20~100Mpa。然后将热压后的材料在2100~2200℃、1大气压的氩气气氛下热处理。该微波衰减材料在室温的热导率大于120W/m·K,在8-40GHz介电常数ε达到20以上,损耗角正切tgθ>0.1。
Description
技术领域
本发明涉及一种应用于微波真空管的高热导率SiC基微波衰减材料及其制备方法。
背景技术
衰减陶瓷通常由绝缘相和损耗相复合而成,常用的高热导率的衰减陶瓷主要包括:AlN-Mo(W)复合陶瓷、AlN-SiC复合陶瓷、BeO基复合陶瓷等。其中AlN-SiC复合衰减陶瓷的介电常数容易调控,从而有着较广泛的应用。SiC是一种半导体材料,高纯的SiC具有较高的电阻率,但其在微波频段的损耗较小,不能满足衰减陶瓷的要求。SiC在掺杂N等元素后电阻率很小,通常市场上销售的磨料级的SiC杂质含量高,表现出导电特性,因此可以用作AlN-SiC衰减陶瓷的损耗相。对于AlN-SiC衰减陶瓷而言,AlN为绝缘介质,导电的SiC粉末为损耗相。虽然AlN和SiC均具有高的热导率,其理论值分别为320W/m·K和490W/m·K以上,但是复合后会产生严重的界面反应,生成低导热的界面层,同时,为达到高的致密度,通常需要加入具有较低导热率的Al2O3和Y2O3作为助烧剂,从而使复合材料的热导率的显著下降,复合材料的热导率通常只有50W/m·K左右。
发明内容
本发明的目的在于提供一种高热导率SiC基微波衰减材料,该微波衰减材料在微波段具有高的介电常数和损耗。
本发明的另一目的在于提供一种高热导率SiC基微波衰减材料的制备方法,采用该方法能避免微波衰减材料中形成低导热的界面层,同时能提高微波衰减材料热导率。
为达到上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种高热导率SiC基微波衰减材料,该材料由W和两种具有不同电阻率的SiC组成,其中W的含量为0~15wt.%;具有低电阻率的SiC的含量为3~40wt.%,电阻率为10-2~102Ω·cm;其余为具有高电阻率的SiC,电阻率大于104Ω·cm。
高热导率SiC基微波衰减材料中的W及具有低电阻率的SiC起到衰减电磁波的作用,具有高电阻率的SiC为绝缘相,能将材料中的电磁波衰减剂颗粒隔离开来。
所述衰减材料在室温的热导率大于120W/mK。
一种高热导率SiC基微波衰减材料的制备方法,包括以下步骤:
1)制备具有高电阻率的高纯SiC粉
将纯度均为6N以上的Si粉和C粉混合后,放入卤素纯化过的高纯石墨坩埚中,在1500℃、高纯氩气气氛下保温6小时后取出,将反应产物取出再次混合,然后在高纯氩气气氛下于2000℃~2300℃保温2小时,将烧结后的产物破碎后进行分级处理,取粒度在400目以上的粉末;
2)制备具有低电阻率的掺杂N的SiC粉
将纯度均为6N以上的Si粉和C粉混合后,放入卤素纯化过的高纯石墨坩埚中,在1500℃、高纯氩气和高纯氮气的混合气氛下保温6小时后,将反应产物取出再次混合,然后继续在高纯氩气和高纯氮气的混合气氛下于2000℃~2300℃保温2小时,将烧结后的产物破碎后进行分级处理,取粒度在400目以上的粉末;
3)将得到的高纯SiC粉、掺杂N的SiC粉与W粉混合,其中,掺杂N的SiC粉的含量为3~40wt.%,W粉的含量为0~15wt.%,其余为高纯SiC粉,混合均匀后在1900℃~2100℃、氩气气氛下热压烧结,热压的压力为20~100Mpa,烧结时间为2小时,热压后材料的致密度为95~99.8%;
4)将热压后的材料在2100~2200℃、1个大气压的氩气气氛下热处理0.5~2小时。
上述制备方法中所使用的Si粉的平均粒径为1~1.5mm;C粉的平均粒径为0.01mm。
在高纯SiC粉和掺杂N的SiC粉的制备过程中,Si粉与C粉在高纯氩气气氛下保温6小时后,已经部分发生反应生成SiC。将反应产物再次混合后继续保温的目的是使Si和C反应更充分完全,无残余的C或Si。
上述制备方法中所使用的高纯氩气及高纯氮气的纯度均为4N以上。
高纯氩气和高纯氮气的混合气氛中氮气与氩气的摩尔比为0.005~0.10,优选为0.01~0.05。
所述步骤(3)中使用的W粉的平均粒径为3~10微米,纯度为99%以上。
本发明的有益效果是:
本发明的SiC基微波衰减材料在室温的热导率大于120W/m·K,该材料在微波段具有高的介电常数和损耗,在8-40GHz介电常数ε可达到20以上,损耗角正切tgθ>0.1,通过本发明的制备方法采用两种具有不同导电率的SiC粉体进行复合,同时采用高导热的金属W促进烧结致密化,从而避免了低导热界面层的生成,达到提高微波衰减材料热导率的目的。
具体实施方式
以下结合具体实施例对本发明作进一步说明如下:
实施例1
将纯度为6N以上、平均粒度为1.5mm的Si粉和纯度为6N以上、平均粒度为0.01mm的C粉混合后,放入卤素纯化过的高纯石墨坩埚中,在1500℃、高纯氩气(4N以上)气氛下保温6小时后,取出再次混合,然后在2000℃保温2小时,将烧结后的产物破碎后进行分级处理,取粒度在400目以上的粉末作为具有高电阻率的高纯SiC粉末原料,其电阻率大于104Ω·cm。
将纯度为6N以上、平均粒度为1mm的Si粉和纯度为6N以上、平均粒度为0.01mm的C粉混合后,放入卤素纯化过的高纯石墨坩埚中,在1500℃、高纯氩气(4N以上)和高纯氮气(4N以上)的混合气氛下保温6小时,混合气氛中氮气与氩气的摩尔比为0.03,取出再次混合,然后在同样气氛下、2000℃保温2小时,将烧结后的产物破碎后进行分级处理,取粒度在400目以上的粉末作为具有低电阻率的掺杂N的SiC粉末原料,其电阻率在10-3Ω·cm~102Ω·cm之间。
实施例2
将实施例1中制得的具有高电阻率的高纯SiC粉、具有低电阻率的掺杂N的SiC粉混合,其中掺杂N的SiC粉末的添加量为5wt.%,其余为具有高电阻率的SiC粉。混合均匀后在2000℃、氩气气氛下热压烧结2小时,热压的压力为30Mpa。将样品表面磨平用乙醇超声清洗干净后在1个大气压的氩气气氛下于2200℃热处理0.5小时制得SiC基微波衰减材料,材料的致密度为96.2%。
经测试所制得的SiC基微波衰减材料在室温的热导率为152W/m.K,介电常数和损耗角正切如表1所示:
表1
频率 | 8GHz | 16GHz | 26GHz | 40GHz |
介电常数ε | 32 | 28 | 22 | 20 |
损耗角正切tgθ | 0.12 | 0.11 | 0.13 | 0.10 |
实施例3
将实施例1中制得的具有高电阻率的高纯SiC粉、具有低电阻率的掺杂N的SiC粉与W粉混合,W粉的平均粒径为5微米,其中掺杂N的SiC粉的添加量为5wt.%,W粉的添加量为15wt.%,其余为高纯SiC粉。混合均匀后在2000℃、氩气气氛下热压烧结2小时,热压的压力为30Mpa。将样品表面磨平用乙醇超声清洗干净后在1个大气压的氩气气氛下于2200℃热处理0.5小时制得SiC基微波衰减材料。
经测试所制得的SiC基微波衰减材料在室温的热导率为131W/m.K,介电常数和损耗角正切如表2所示:
表2
频率 | 8GHz | 16GHz | 26GHz | 40GHz |
介电常数ε | 38 | 33 | 26 | 25 |
损耗角正切tgθ | 0.14 | 0.11 | 0.13 | 0.13 |
实施例4
将实施例1中制得的具有高电阻率的高纯SiC粉、具有低电阻率的掺杂N的SiC粉与W粉混合,W粉的平均粒径为5微米,其中掺杂N的SiC粉的添加量为20wt.%,W粉的添加量为10wt.%,其余为具有高电阻率的SiC粉。混合均匀后在2000℃、氩气气氛下热压烧结2小时,热压的压力为30Mpa。将样品表面磨平用乙醇超声清洗干净后在1个大气压的氩气气氛下于2200℃热处理1小时制得SiC基微波衰减材料。
经测试所制得的SiC基微波衰减材料在室温的热导率为136W/m.K,介电常数和损耗角正切如表3所示:
表3
频率 | 8GHz | 16GHz | 26GHz | 40GHz |
介电常数ε | 52 | 44 | 36 | 26 |
损耗角正切tgθ | 0.32 | 0.38 | 0.28 | 0.28 |
实施例5
将实施例1中制得的具有高电阻率的高纯SiC粉、具有低电阻率的掺杂N的SiC粉与W粉混合,W粉的平均粒径为5微米,其中掺杂N的SiC粉的添加量为40wt.%,W粉的添加量为10wt.%,其余为具有高电阻率的SiC粉。混合均匀后在2000℃、氩气气氛下热压烧结2小时,热压的压力为100Mpa。将样品表面磨平用乙醇超声清洗干净后在1个大气压的氩气气氛下于2100℃热处理2小时制得SiC基微波衰减材料。
经测试所制得的SiC基微波衰减材料在室温的热导率为141W/m.K,介电常数和损耗角正切如表4所示:
表4
频率 | 8GHz | 16GHz | 26GHz | 40GHz |
介电常数ε | 125 | 102 | 87 | 66 |
损耗角正切tgθ | 0.7 | 0.66 | 0.74 | 0.56 |
实施例6
将实施例1中制得的具有高电阻率放入的高纯SiC粉、具有低电阻率的掺杂N的SiC粉与W粉混合,W粉的平均粒径为5微米,其中掺杂N的SiC粉的添加量为为20wt.%,W粉的添加量为10wt.%,其余为具有高电阻率的SiC粉。混合均匀后在2000℃、氩气气氛下热压烧结2小时,热压的压力为100Mpa。将样品表面磨平用乙醇超声清洗干净后,在1个大气压的氩气气氛下于2100℃热处理2小时制得SiC基微波衰减材料。
经测试所制得的SiC基微波衰减材料在室温的热导率为138W/m.K,介电常数和损耗角正切如表5所示:
表5
频率 | 8GHz | 16GHz | 26GHz | 40GHz |
介电常数ε | 52 | 47 | 42 | 38 |
损耗角正切tgθ | 0.52 | 0.45 | 0.49 | 0.43 |
Claims (8)
1.一种高热导率SiC基微波衰减材料,其特征在于,该材料由W和两种具有不同电阻率的SiC组成,其中W的含量为0~15wt.%,具有低电阻率的SiC的含量为3~40wt.%,电阻率为10-2~102Ω·cm;其余为具有高电阻率的SiC,电阻率大于104Ω·cm。
2.根据权利要求1所述的高热导率SiC基微波衰减材料,其特征在于,所述衰减材料在室温的热导率大于120W/mK。
3.一种高热导率SiC基微波衰减材料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)制备具有高电阻率的高纯SiC粉
将纯度均为6N以上的Si粉和C粉混合后,放入卤素纯化过的高纯石墨坩埚中,在1500℃、高纯氩气气氛下保温6小时后取出,将反应产物取出再次混合,然后在高纯氩气气氛下于2000℃~2300℃保温2小时,将烧结后的产物破碎后进行分级处理,取粒度在400目以上的粉末;
2)制备具有低电阻率的掺杂N的SiC粉
将纯度均为6N以上的Si粉和C粉混合后,放入卤素纯化过的高纯石墨坩埚中,在1500℃、高纯氩气和高纯氮气的混合气氛下保温6小时后,将反应产物取出再次混合,然后继续在高纯氩气和高纯氮气的混合气氛下于2000℃~2300℃保温2小时,然后将烧结后的产物破碎后进行分级处理,取粒度在400目以上的粉末;
3)将得到的高纯SiC粉、掺杂N的SiC粉与W粉混合,其中,掺杂N的SiC粉的含量为3~40wt.%,W粉的含量为0~15wt.%,其余为高纯SiC粉,混合均匀后在1900℃~2100℃、氩气气氛下热压烧结,热压的压力为20~100Mpa,烧结时间为2小时,热压后材料的致密度为95~99.8%;
4)将热压后的材料在2100~2200℃、1个大气压的氩气气氛下热处理0.5~2小时。
4.根据权利要求3所述的高热导率SiC基微波衰减材料的制备方法,其特征在于,所使用的Si粉的平均粒径为1~1.5mm;C粉的平均粒径为0.01mm。
5.根据权利要求3所述的高热导率SiC基微波衰减材料的制备方法,其特征在于,所述高纯氩气及高纯氮气的纯度均为4N以上。
6.根据权利要求3所述的高热导率SiC基微波衰减材料的制备方法,其特征在于,所述高纯氩气和高纯氮气的混合气氛中氮气与氩气的摩尔比为0.005~0.10。
7.根据权利要求6所述的高热导率SiC基微波衰减材料的制备方法,其特征在于,所述高纯氩气和高纯氮气的混合气氛中氮气与氩气的摩尔比为0.01~0.05。
8.根据权利要求3所述的高热导率SiC基微波衰减材料的制备方法,其特征在于,所述步骤(3)中使用的W粉的平均粒径为3~10微米,纯度为99%以上。
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CN2010105964289A CN102531605A (zh) | 2010-12-20 | 2010-12-20 | 高热导率SiC基微波衰减材料及其制备方法 |
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CN110331438A (zh) * | 2019-07-30 | 2019-10-15 | 河北普兴电子科技股份有限公司 | 一种抑制导电型碳化硅晶体生长中碳包裹体缺陷生成的方法 |
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CN101734922A (zh) * | 2008-11-27 | 2010-06-16 | 北京有色金属研究总院 | 高导热微波衰减器材料及其制备方法 |
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