CN102467863B - Tft-lcd电学不良测试电路和测试方法 - Google Patents

Tft-lcd电学不良测试电路和测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明实施例公开了一种TFT-LCD电学不良的测试电路和测试方法，涉及液晶显示器领域，能够有效的区分出电容性和TFT性不良。TFT-LCD电学不良的测试电路包括：测试装置，与对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输入端相连接，所述测试装置控制所述第一参考电压和第二参考电压的输出端向数据线输出恒定电压。本发明应用于液晶显示器。

Description

TFT-LCD电学不良测试电路和测试方法
技术领域
本发明涉及薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay，简称TFT-LCD)领域，尤其是一种TFT-LCD电学不良测试电路和测试方法。
背景技术
在平板显示技术中，TFT-LCD具有体积小、功耗低、无辐射、制造成本相对较低等特点，在当前的平板显示器市场占据了主导地位。
随着液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)生产的不断扩大，产品性能也不断的提高，其中，产品的不良检测在整个生产过程中有着举足轻重的作用。
在TFT-LCD的检测过程中，利用DC/DC(直流转直流电源)测试方法能有效的区分出电学和光学不良，这样能大大缩小不良在前段工程的定位范围，为快速寻找不良机理和对策提供很大帮助。
然而已知了一个显示屏是由电学不良造成的，如何区分出其是电容性的还是TFT性相关的，目前量产测试中尚无很好的办法。目前成盒后的检测方法，跟终端的检测方法和机理一样，虽能很好的检测出液晶显示器的各种光学和电学不良，但在已知了是由电学不良造成的前提下，尚不能很好的区分出其是电容性的还是TFT性相关的，尤其是一些明暗不均痕迹(Mura)类不良，在大规模发生时，不能及时区分出来，这样就造成了不良定位缓慢，从而导致损失较大。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供一种TFT-LCD电学不良的测试电路和测试方法，能够有效的区分出电容性和TFT性不良。
为解决上述技术问题，本发明TFT-LCD电学不良的测试电路和测试方法采用如下技术方案：
一种TFT-LCD电学不良的测试电路，包括：测试装置，与对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输入端相连接，所述测试装置控制所述第一参考电压和第二参考电压的输出端向数据线输出恒定电压。
所述测试装置包括：受第一控制信号控制的第一开关，所述第一开关连接在所述第一参考电压或第二参考电压的输入端；受第二控制信号控制的第二开关，所述第二开关的两端分别连接在所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间。
在测试时，所述第一控制信号控制所述第一开关断开，从而将所述第一参考电压或第二参考电压的输入端的电路断开；所述第二控制信号控制所述第二开关闭合，从而将所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路连通。
所述测试装置包括：受选择控制信号控制的选择开关，所述选择开关的固定连接端与所述第一参考电压或第二参考电压的输入端相连接，所述选择开关的选择连接端选择连通第一参考电压或第二参考电压的输入端与选择开关的固定连接端之间的电路，或选择连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路。
在测试时，所述选择开关的选择连接端连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路。
一种TFT-LCD电学不良的测试方法，包括：
每一帧画面，控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压。
在所述控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压之后包括：
通过调节公共电极电压Vcom调整灰度，得到不同灰度等级的画面。
所述灰度等级的范围为：L40～L80或L100～L150。
所述每一帧画面，控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压包括：
当前帧，向数据线输出电压的数值等于对应同一灰阶的第一参考电压或第二参考电压的电压；
下一帧，向数据线输出的电压与前一帧向数据线输出的电压相同。
在本实施例的技术方案中，通过控制对应同一灰阶的两个参考电压向数据线输出同一恒定电压，从而液晶极性不反转，实现直流检测，直流测试可以一直对TFT实施充电，不存在放电过程，可消除TFT性不良的影响，并且由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，因此，可以有效的区分出电容性和TFT性不良。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术PCB参考电压的电路示意图；
图2为本发明实施例测试电路的结构示意图之一；
图3为本发明实施例测试电路的结构示意图之二；
图4为本发明实施例测试电路的结构示意图之三；
图5为本发明实施例测试方法的流程图之一；
图6为本发明实施例测试方法的流程图之二；
图7为本发明实施例测试方法中步骤101的流程图；
附图标记说明：
1-测试装置；    11-第一开关；    12-第二开关；
13-选择开关。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种TFT-LCD电学不良的测试电路和测试方法，能够有效的区分出电容性和TFT性不良。
电容性不良是指由于电容(阵列基板的结构中会形成多个寄生电容)的不合格引起的不良，TFT性不良是指TFT的电特性不合格引起的不良。二者都有可能造成明暗不均痕迹(Mura)类不良。
TFT-LCD显示图像的基本原理，是利用夹杂在两电极板间的液晶分子，在不同的电压下，旋转角度大小不一样，光透过量也不一样，从而实现每个独立像素控制不同灰阶，利用数据线提供的不同数据信号，精确的控制每个像素的上下极板电压，实现我们需要的画面图像。
为防止液晶在单一方向的电场下产生老化现象，避免直流阻绝效应和避免直流残留等，一般会使信号极性反转，例如，极性反转的实现可以是通过芯片和十四个参考电压(GAM1～GAM14)实现的，十四个参考电压控制着显示器的256个灰阶，如图1所示，以通过GAM1和GAM14处的参考电压对应灰阶L0，数据线分别输出10V和0V电压，公共电极电压(即Vcom)为5V为例，此时液晶两端电压为5V和-5V，即通过GAM1和GAM14实现了L0灰阶的极性反转，其他灰阶下的极性反转原理也一样。例如，灰阶L64，L127也对应着相应的参考电压，同样也可以通过参考电压值的不同实现极性反转。
本发明实施例提供一种TFT-LCD电学不良的测试电路，如图2所示，该测试电路包括：测试装置1，与对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输入端相连接，所述测试装置1控制所述第一参考电压和第二参考电压的输出端向数据线输出恒定电压。
其中，测试装置1可以设置在任意对应同一灰阶的两个参考电压之间，例如，如图2所示，第一参考电压可以为参考电压GAM1，第二参考电压可以为参考电压十四GAM14，则测试装置1设置在GAM1和GAM14之间。测试装置也可以设置在另外的对应同一灰阶的两个参考电压之间。
在测试时，测试装置1控制GAM1和GAM14共用一个电压，具体地，当选择GAM1作为向数据线输出电压的时刻，测试装置1控制关闭GAM1的输入，并将GAM14作为GAM1向数据线的输出；当选择GAM14作为向数据线输出电压的时刻，依然由GAM14向数据线输出，测试装置1在整个画面显示过程中都控制保持向数据线输出与GAM14数值相等的电压，因此，极性不反转，此时相当于直流输出，实现恒定电压输出的直流检测。
在本实施例的技术方案中，通过测试装置控制对应同一灰阶的两个参考电压向数据线输出同一恒定电压，从而液晶极性不反转，实现直流检测，因直流测试可以一直对TFT实施充电，不存在放电过程，故可消除TFT性不良的影响，但由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，故可以有效的区分出电容性和TFT性不良。
实际测试过程中，由于L0画面为黑画面，很多Mura类不良在这个灰阶下很难被发现，故在CT设备上测试过程中可通过调节Vcom信号大小达到调整灰阶的效果，例如，在灰度等级的范围为L40～L80或L100～L150时可以更好地检测出Mura类不良。在任意一个设定的灰阶下，在CT设备上测试过程中，可采用调节Vcom的方法来任意调节灰度，以达到我们想要的灰度画面，便于我们更好地检测出不良。
在极性不反转，实现直流检测时，通过观察在不同灰阶下，所检测屏不良的变化情况，判断为何种不良。如前所述，此时若不良消失，说明该电学不良为TFT性不良，若不良不消失，则为电容性不良。
进一步地，如图3所示，所述测试装置可以包括：受第一控制信号控制的第一开关11，所述第一开关11连接在所述第一参考电压或第二参考电压的输入端；受第二控制信号控制的第二开关12，所述第二开关12的两端分别连接在所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间。
当第一开关11闭合而第二开关12断开时，此时数据信号实现极性反转，即正常显示。
测试屏出现不良，需要区分TFT性和电容性不良时，作业人员或者机器根据预设程序自动通过设备供给第一控制信号和第二控制信号，第一控制信号控制所述第一开关11断开，将所述第一参考电压或第二参考电压的输入端的电路断开；所述第二控制信号控制所述第二开关12闭合，从而将所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路连通，从而实现在每一帧图像都向数据线输出与第一参考电压或第二参考电压相等的恒定电压。
即在测试时，由于第一开关11断开而第二开关12闭合，相当于GAM1和GAM14共用一个电压，即共用GAM14的电压。具体地，当选择GAM1作为向数据线输出电压的时刻，GAM14作为GAM1向数据线的输出；当选择GAM14作为向数据线输出电压的时刻，依然由GAM14向数据线输出，从而在整个画面显示过程中都控制保持向数据线输出与GAM14数值相等的电压，因此，极性不反转，此时相当于直流输出，实现恒定电压输出的直流检测，因直流测试可以一直对TFT实施充电，不存在放电过程，故可消除TFT性不良的影响，但由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，故可以有效的区分出电容性和TFT性不良。
在本实施例的技术方案中，通过在对应同一灰阶的两个参考电压之间设置信号控制开关，从而向数据线输出恒定电压，使液晶极性不反转，实现直流检测，直流测试可以一直对TFT实施充电，不存在放电过程，可消除TFT性不良的影响，但由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，因此可以有效的区分出电容性和TFT性不良。
进一步地，如图4所示，所述测试装置还可以包括：受选择控制信号控制的选择开关13，所述选择开关13的固定连接端与所述第一参考电压或第二参考电压的输入端相连接，所述选择开关13的选择连接端选择连通第一参考电压或第二参考电压的输入端与选择开关的固定连接端之间的电路，或选择连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路。
如图4所示，当选择开关13的选择连接端将第一参考电压或第二参考电压的输入端与选择开关的固定连接端之间的电路连通，此时数据信号实现极性反转，即正常显示。
测试屏出现不良，需要区分TFT性和电容性不良时，作业人员或者机器根据预设程序自动通过设备供给选择控制信号，控制选择开关的选择连接端连通第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路。此时，连接有所述选择开关的固定连接端的第一参考电压或第二参考电压的输入端的电路断开，从而实现在每一帧图像都向数据线输出与第一参考电压或第二参考电压相等的恒定电压。
具体地，如图4所示，由于选择开关13选择连通了GAM1和GAM14之间的电路，相当于GAM1和GAM14共用一个电压，即共用GAM14的电压，当选择GAM1作为向数据线输出电压的时刻，GAM14作为GAM1向数据线的输出；当选择GAM14作为向数据线输出电压的时刻，依然由GAM14向数据线输出，从而在整个画面显示过程中都控制保持向数据线输出与GAM14数值相等的电压，因此，极性不反转，此时相当于直流输出，实现恒定电压输出的直流检测，因直流测试可以一直对TFT实施充电，不存在放电过程，故可消除TFT性不良的影响，但由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，故可以有效的区分出电容性和TFT性不良。
在本实施例的技术方案中，通过在对应同一灰阶的两个参考电压之间设置选择开关，将两个参考电压相连通，并断开其中一个参考电压的输入，从而向数据线输出等于另一个参考电压的恒定电压，使液晶极性不反转，实现直流检测，直流测试可以一直对TFT实施充电，不存在放电过程，可消除TFT性不良的影响，但由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，因此可以有效的区分出电容性和TFT性不良。
本发明实施例提供一种采用上述测试电路的测试方法，如图5所示，该方法包括：
步骤101、每一帧画面，控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压。
如图2所示，以GAM1和GAM14对应同一个灰阶L0为例，在测试时，测试装置1控制GAM1和GAM14共用一个电压，具体地，当选择GAM1作为向数据线输出电压的时刻，测试装置1控制关闭GAM1的输入，并将GAM14作为GAM1向数据线的输出；当选择GAM14作为向数据线输出电压的时刻，依然由GAM14向数据线输出，测试装置1在整个画面显示过程中都控制保持向数据线输出与GAM14数值相等的电压，因此，极性不反转，此时相当于直流输出，实现恒定电压输出的直流检测，因直流测试可以一直对TFT实施充电，不存在放电过程，故可消除TFT性不良的影响，但由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，故可以有效的区分出电容性和TFT性不良。
进一步地，在步骤101之后，如图6所示，还包括：
步骤102、通过调节Vcom调整灰度，得到不同灰度等级的画面。
实际测试过程中，由于L0画面为黑画面，很多Mura类不良在这个灰阶下很难被发现，故在CT设备上的测试过程中可通过调节Vcom信号大小达到调整灰阶的效果，例如，在灰度等级的范围为L40～L80或L100～L150时，可以更好得检测出Mura类不良。在任意一个设定的灰阶下，在CT设备上测试过程中，可采用调节Vcom的方法来任意调节灰度，以达到我们想要的灰度画面，便于我们更好地检测出不良。
通过观察在不同灰阶下的灰度画面，检测屏不良的变化情况，判断为何种不良，若不良消失，说明该电学不良为TFT性不良，若不良不消失，则为电容性不良。
进一步地，如图7所示，步骤101包括：
步骤1011、当前帧，向数据线输出电压的数值等于对应同一灰阶的第一参考电压或第二参考电压的电压；
如图3所示，测试屏出现不良，需要区分TFT性和电容性不良时，作业人员通过设备供给第一控制信号和第二控制信号，第一控制信号控制所述第一开关11断开，所述第二控制信号控制所述第二开关12闭合，当选择GAM1作为向数据线输出电压的时刻，GAM14作为GAM1向数据线的输出。
步骤1012、下一帧，向数据线输出的电压与前一帧向数据线输出的电压相同。
当选择GAM14作为向数据线输出电压的时刻，依然由GAM14向数据线输出，从而在整个画面显示过程中都控制保持向数据线输出与GAM14数值相等的电压，因此，极性不反转，此时相当于直流输出。
在本实施例的技术方案中，通过对应同一灰阶的实现极性反转的两个参考电压向数据线输出同一数值的恒定电压，使液晶极性不反转，实现直流检测，直流测试可以一直对TFT实施充电，不存在放电过程，可消除TFT性不良的影响，但由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，因此可以有效的区分出电容性和TFT性不良。
通过以上的实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在可读取的存储介质中，如计算机的软盘，硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (6)

1.一种TFT-LCD电学不良的测试电路，其特征在于，包括：测试装置，与对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输入端相连接，所述测试装置控制所述第一参考电压和第二参考电压的输出端向数据线输出同一恒定电压，所述电学不良为电容性不良或TFT性不良造成的明暗不均痕迹类不良；
其中，所述测试装置包括：受第一控制信号控制的第一开关，所述第一开关连接在所述第一参考电压或第二参考电压的输入端；受第二控制信号控制的第二开关，所述第二开关的两端分别连接在所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间；
在测试时，所述第一控制信号控制所述第一开关断开，从而将所述第一参考电压或第二参考电压的输入端的电路断开；所述第二控制信号控制所述第二开关闭合，从而将所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路连通。
2.一种TFT-LCD电学不良的测试电路，其特征在于，包括：测试装置，与对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输入端相连接，所述测试装置控制所述第一参考电压和第二参考电压的输出端向数据线输出同一恒定电压，所述电学不良为电容性不良或TFT性不良造成的明暗不均痕迹类不良；
其中，所述测试装置包括：受选择控制信号控制的选择开关，所述选择开关的固定连接端与所述第一参考电压的输入端相连接，所述选择开关的选择连接端选择连通第二参考电压的输入端与选择开关的固定连接端之间的电路，或选择连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路，或，
所述选择开关的固定连接端与所述第二参考电压的输入端相连接，所述选择开关的选择连接端选择连通第一参考电压的输入端与选择开关的固定连接端之间的电路，或选择连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路；
在测试时，所述选择开关的选择连接端连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路。
3.一种TFT-LCD电学不良的测试方法，其特征在于，包括：
每一帧画面，控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出同一恒定电压，使液晶极性不反转，实现恒定电压输出的直流检测，直流测试一直对TFT实施充电，不存在放电过程，消除TFT性不良的影响，但由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，因而有效的区分出电容性和TFT性不良，所述电学不良为电容性不良或TFT性不良造成的明暗不均痕迹类不良。
4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，在所述控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出同一恒定电压之后包括：
通过调节公共电极电压Vcom调整灰度，得到不同灰度等级的画面。
5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述灰度等级的范围为：L40～L80或L100～L150。
6.根据权利要求3-5任一项所述的测试方法，其特征在于，所述每一帧画面，控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出同一恒定电压包括：
当前帧，向数据线输出电压的数值等于对应同一灰阶的第一参考电压或第二参考电压的电压；
下一帧，向数据线输出的电压与前一帧向数据线输出的电压相同。
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