CN102394624B - 一种触摸式按键及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种触摸式按键及其检测方法,所述触摸式按键包括触摸按键模块、分压传输模块和处理模块;其中,分压传输模块包括三个端点,端点1端点2和端点3,处理模块包括三个端点P1、端点P2和接地端点,处理模块的端点P1和端点P2分别连接分压传输模块的端点2和端点1,处理模块的接地端点接地;触摸按键模块有一个端点4,与分压传输模块的端点3相连。本发明中的触摸按键通过最基本的元器件实现,成本低、抗干扰能力强、***电路简单、易用性较好、操作简单、使用周期长。
Description
技术领域
本发明涉及一种触摸式按键及其检测方法,属于电子产品领域。
背景技术
目前很多设备中所使用的机械按键占用体积较大、寿命短、不易操作、成本高。
随着控制技术的发展,触摸按键已经逐渐代替了机械按键,采用触摸按键的产品通常具有操作更加方便、外观更加时尚美观、可靠耐用、无火花干扰、无机械上移动、结构简单、可全封闭的安装等众多优点。
触摸按键可以通过一些不同功能的元器件结合MCU的编程来实现检测按键是否按下;但是,现有的触摸式按键结构较为复杂,实现起来成本也比较高。
发明内容
本发明基于现有技术的不足,本发明提供了一种触摸按键及其检测方法;
一种触摸式按键,包括分压传输模块、处理模块和触摸按键模块,所述分压传输模块的第一端点与所述处理模块的第二端点相连,所述分压传输模块的第二端点与所述处理模块的第一端点相连,所述分压传输模块的第三端点与所述触摸按键模块相连,所述处理模块的接地端点接地;
其中,所述分压传输模块,用于通过所述分压传输模块第二端点接收所述处理模块的第一端点输出的信号,通过所述分压传输模块第三端点接收所述触摸按键模块传递的触摸信号,对所述分压传输模块第二端点和第三端点接收的信号进行分压处理,并将分压处理后得到的信号通过所述分压传输模块的第一端点输出给所述处理模块的第二端点;
所述处理模块,用于控制所述处理模块的第一端点输出的信号的变化,检测所述分压传输模块输出给所述处理模块第二端点的信号状态;
所述触摸按键模块,用于接收人体的触摸信号,并将所述触摸信号通过所述分压传输模块的第三端点传递给所述分压传输模块所述处理模块的第一端点为输出端口,所述处理模块的第二端点为输入端口。
所述分压传输模块包括第一电容、第二电容和第一电阻;
其中,所述第一电容与所述第二电容、所述第一电阻相连,所述第一电容的另一端与所述处理模块的第一端点相连,所述第二电容的另一端与所述处理模块的第二端点相连,所述第一电阻的另一端与所述触摸按键模块中的导电电极相连。
所述分压传输模块包括第一电阻、第二电阻和第一电容;
其中,所述第一电阻与所述第二电阻、所述第一电容相连,所述第一电阻的另一端与所述处理模块的第一端点相连,所述第二电阻的另一端与所述处理模块的第二端点相连,所述第一电容的另一端与所述触摸按键模块中的导电电极相连。
所述处理模块为MCU;
其中,所述MCU的第一端点与所述分压传输模块的第一电容相连,所述MCU的第二端点与所述分压传输模块的第二电容相连。
所述处理模块为MCU;
其中,所述MCU的第一端点与所述分压传输模块的第一电阻相连,所述MCU的第二端点与所述分压传输模块的第二电阻相连。
所述触摸按键模块包括所述导电电极;
其中,所述导电电极与所述分压传输模块中的第一电阻相连。
所述触摸按键模块包括所述导电电极;
其中,所述导电电极与所述分压传输模块中的第一电容相连。
所述的触摸式按键,还包括防静电模块,所述防静电模块的第一端点与所述分压传输模块的第四端点相连,所述防静电模块的第二端点与所述处理模块的第三端点相连,所述防静电模块的第三端点接地;
其中,所述防静电模块,用于将人体触摸所述触摸按键模块时产生的干扰信号通过所述防静电模块的第二端点输出给所述处理模块的第三端点。
所述防静电模块包括第一二极管和第二二极管;
其中,所述第一二极管和第二二极管串联,所述第一二极管的负极与所述处理模块的第三端点相连,所述第二二极管的正极接地,所述第一二极管和第二二极管的连接点与所述分压传输模块中的第一电容、第二电容和第一电阻相连;
所述处理模块的第三端点接电源。
所述防静电模块包括第一二极管和第二二极管;
其中,所述第一二极管和第二二极管串联,所述第一二极管的负极与所述MCU的第三端点相连,所述第二二极管的正极接地,所述第一二极管和第二二极管的连接端点与所述分压传输模块中的第一电阻、第二电阻和第一电容相连;
所述MCU的第三端点接电源。
所述分压传输模块包括所述第一电容、所述第二电容和所述第一电阻;
其中,所述第一电容与所述第二电容、所述第一电阻相连,所述第一电容的另一端与所述处理模块中MCU的第一端点相连,所述第二电容的另一端与所述MCU的第二端点相连,所述第一电阻的另一端与所述触摸按键模块中的导电电极相连,所述第一电容、所述第二电容和所述第一电阻的连接端点与所述防静电模块中的第一二极管和第二二极管的连接端点相连。
所述分压传输模块包括所述第一电阻、所述第二电阻和所述第一电容;
其中,所述第一电阻与所述第二电阻、所述第一电容相联,所述第一电阻的另一端与所述MCU的第一端点相连,所述第二电阻的另一端与所述MCU的第二端点相连,所述第一电容的另一端与所述触摸按键模块中的导电电极相连,所述第一电阻、所述第二电阻和所述第一电容的连接端点与所述防静电模块中的第一二极管和第二二极管的连接端点相连。
所述处理模块为所述MCU;
其中,所述MCU的第一端点与所述分压传输模块的第一电容相连,所述MCU的第二端点与所述分压传输模块的第二电容相连,所述MCU的第三端点与所述防静电模块中第一二极管的负极相连。
所述处理模块为所述MCU;
其中,所述MCU的第一端点与所述分压传输模块的第一电阻相连,所述MCU的第二端点与所述分压传输模块的第二电阻相连,所述MCU的第三端点与所述防静电模块中第一二极管的负极相连。
所述触摸按键模块包括所述导电电极;
其中,所述导电电极与所述分压传输模块的第一电阻相连。
所述触摸按键模块包括所述导电电极;
其中,所述导电电极与所述分压传输模块的第一电容相连。
一种触摸式按键的检测方法包括:
A.初始化输入端口和输出端口;
B.向所述输出端口输出高电平并延时一段时间,再向所述输出端口输出低电平;
C.接收所述输入端口的输入信号;
D.检测触摸按键是否已触摸;
如果是,返回按键已触摸的状态并退出操作;
如果否,执行E;
E.判断连续检测到按键未触摸的持续时间或次数是否已达到预设的检测时间或预设的检测次数范围;
如果是,返回超时信息并退出操作;
如果否,返回B。
所述检测触摸按键是否已触摸包括:
当所述输出端口的状态为低电平时,记录当前时刻所述输入端口的状态由低电平变为高电平所需要的延时时间;
判断所述所需要的延时时间是否小于预设的延时时间;
如果是,则返回按键已触摸的状态并退出操作;
如果否,则将累计的检验到按键未触摸的次数加1;或,在累计的检验按键未触摸的持续时间上自加该次检测按键未触摸所使用的时间;执行E。
所述检测触摸按键是否已触摸包括:
当所述输出端口的状态为低电平时,记录当前时刻所述输入端口的状态由低电平变为高电平所需要的扫描次数;
判断所述所需要的扫描次数是否小于预设的扫描次数;
如果是,则返回按键已触摸的状态并退出操作;
如果否,则将累计的检验到按键未触摸的次数加1;或,在累计的检验按键未触摸的持续时间上加该次检测按键未触摸所使用的时间;执行E。
所述检测触摸按键是否已触摸包括:
当所述输出端口的状态为低电平时,判断当前时刻所述输入端口的电压状态是否为高电平;
如果是,则返回按键已触摸的状态并退出操作;
如果否,则将累计的检验到按键未触摸的次数加1;或,在累计的检验按键未触摸的持续时间上自加该次检测按键未触摸所使用的时间,执行E。
所述E中判断连续检测到按键未触摸的持续时间或次数是否已达到预设的检测时间或预设的检测次数范围,包括:
将连续检测到按键未触摸的次数或持续时间进行累计,判断是否超出预设检测次数或预设检测时间的范围;
如果超出预设检测次数或预设检测时间的范围,则返回超时信息并退出;
如果未超出预设检测次数或预设检测时间的范围,返回B。
在所述如果未超出预设检测次数或预设检测时间的范围之后还包括:
延时一段预设时间,返回B。
本发明与现有技术相比,具有以下优点:
本发明中的触摸按键通过最基本的元器件实现,且整个***成本低、抗干扰能力强、***电路简单、易用性较好、操作简单、使用周期长。其基本原理是当人体触摸金属按键时相当与地并联一个电容,改变容抗值,即可判断按键是否按下,简化操作过程达到同样的技术效果。
附图说明
图1为本发明实施例1提供的一种触摸式按键的方框结构示意图;
图2为本发明实施例1提供的另一种触摸式按键的方框结构示意图;
图3为本发明实施例1提供的触摸式按键中的处理模块的具体方框示意图
图4为本发明实施例2提供的第一种触摸式按键的电路结构示意图;
图5为本发明实施例2提供的第一种按键触摸前后的波形示意图;
图6为本发明实施例2提供的第二种触摸式按键的电路结构示意图;
图7为本发明实施例2提供的第二种按键触摸前后的波形示意图;
图8为本发明实施例2提供的第三种触摸式按键的电路结构示意图;
图9为本发明实施例2提供的第三种按键触摸前后的波形示意图;
图10为本发明实施例3提供的第一种触摸式按键的检测方法流程图;
图11为本发明实施例4提供的第二种检测触摸式按键的检测方法流程图。
具体实施方式
本实施提供了一种触摸式按键及其检测方法,下面结合附图,对优选实施例进行详细说明,应该强调的是,下面说明仅仅是示例性的,而不限制本发明的范围及应用。
实施例1
参见图1,为本发明实施例1提供的一种触摸式按键的方框结构示意图;
本实施例提供了一种触摸式按键,如图1所示,包括触摸按键模块、分压传输模块和处理模块;
触摸按键模块;用于接收人体的触摸信号,并将触摸信号通过分压传输模块的端点3传递给分压传输模块;当人体接触到触摸按键模块后,触摸按键模块相当于对地产生了一定的阻抗;
分压传输模块:用于通过分压传输模块的端点2接收处理模块的端点P1输出的信号,通过分压传输模块的端点3接收触摸按键模块传递的触摸信号,分压传输模块对分压传输模块的端点2和端点3接收的信号进行分压处理,并将分压处理后得到的信号通过分压传输模块的端点1输出给处理模块的端点P2;
处理模块:用于控制处理模块的端点P1输出的信号的变化,检测分压传输模块输出给处理模块的端点P2的信号状态;
分压传输模块包括三个端点,端点1端点2和端点3,处理模块包括三个端点P1、端点P2和接地端点P3,处理模块的端点P1和端点P2分别连接分压传输模块的端点2和端点1,处理模块的接地端点P3接地;触摸按键模块有一个端点4,与分压传输模块的端点3相连;
处理模块的端点P1作为信号的输出端口,端点P2作为信号的输入端口,分压传输模块的端点2作为信号的输入端点,端点1作为信号的输出端点;处理模块的端点P1输出产生的信号,分压传输模块的输入端点2接收端点P1输出的信号,分压传输模块对信号进行处理后从输出端点1输出,并通过处理模块的端点P2输入给处理模块。
本实施例提供的一种触摸式按键还可以包括防静电模块,如图2所示;
防静电模块:用于当触摸按键模块按下时,将人体产生的电流通过防静电模块的端点8流入处理模块的电源端点P4;
分压传输模块包括四个端点,端点1、端点2、端点3和端点5,处理模块包括四个端点P1、端点P2、电源端点P4和接地端点P3;处理模块的端点P1和端点P2分别连接分压传输模块的端点2和端点1;触摸按键模块有一个端点4,与分压传输模块的端点3相连;防静电模块包括三个端点,端点7、端点8和接地端点9,端点7接分压传输模块的端点5,端点8连接处理模块的电源端点P4,处理模块的接地端点P3和防静电模块的接地端点9均接地;
处理模块的端点P1作为信号的输出端口,端点P2作为信号的输入端口,分压传输模块的端点2作为信号的输入端点,端点1作为信号的输出端点;处理模块的端点P1输出产生的信号,分压传输模块的输入端点2接收P1输出的信号,分压传输模块对信号进行处理后从端点1输出,并通过处理模块的端点P2输入给处理模块;当触摸按键模块按下时,防静电模块将人体产生的电流通过端点8流入处理模块的电源端点P4。
参见图3,为本实施例提供的触摸式按键的电路中处理模块的具体方框示意图;
处理模块具体包括:初始化单元31、设置单元32、接收单元33、记录单元34、第一判断单元35、返回单元36、退出单元37和第二判断单元38;
初始化单元31:用于初始化输入和输出端口;
设置单元32:用于向输出端口输出高电平并延时一段时间,再向输出端口输出低电平;
还用于当第二判断单元38判断结果为否时,延时一段时间;
接收单元33:用于接收来自分压传输模块的输出信号;
记录单元34:用于记录当前输入端口的状态由低电平变为高电平所需要的延时时间T0;
或:用于记录当前输入端口的状态由低电平变为高电平所需扫描的次数值k;
第一判断单元35:用于判断延时时间T0是否小于预设的延时时间T’;
或;用于判断次数值k是否小于预设的次数值n;
或;用于判断当前时刻输入端口的电压状态是否为高电平;
返回单元36:用于当第一判断单元35的判断结果为是时将按键触摸模块返回按键已触摸的状态;
或;用于当第二判断单元38的判断结果为否时,返回超时信息;
退出单元37:用于当返回单元36返回按键已触摸的状态后退出操作;
或;用于当返回单元36接收到超时信息时,退出操作;
第二判断单元38;用于当第一判断单元35的判断是结果为否时,判断连续检测到按键未触摸的次数或持续时间是否达到预设值。
实施例2
参见图4,为本实施例2提供的第一种触摸式按键的电路结构示意图;
处理模块为MCU,分压传输模块包括电容C1、C2和电阻R,触摸按键包括TouchKey;其中,MCU的端点P1和端点P2分别与电容C1和C2相连,MCU的接地端点接地;端点P1和端点P2分别为MCU中的两个I/O端口;电容C1和C2的另一端均与电阻R的一端相连,电阻R另一端接触摸按键。
参见图5,为实施例2中图4的第一种按键触摸前后的波形示意图;图5是在图4所示的触摸式按键上检测得到的,输入波形为在MCU的P1端口测得的波形;输出波形1为触摸式按键未触摸的时在MCU的P2端口测得的波形;输出波形2为触摸式按键触摸后时在MCU的P2端口测得的波形。
上述触摸式按键中的电容C1、C2可以代替为电阻R1、R2,电阻R可以代替为电容C1;其中,MCU的端点P1和端点P2分别与电阻R1和电阻R2相连,接地端点P3接地;端点P1和端点P2分别为MCU中的两个I/O端口;电阻R1和R2的另一端均与电容C1的一端相连,电容C1另一端接触摸按键。
参见图6,为本实施例2提供的第二种触摸式按键的电路结构示意图;
触摸式按键包括防静电模块、处理模块MCU、分压传输模块和触摸按键模块;其中,分压传输模块包括电容C1、C2和电阻R,防静电模块由两个二极管D1和D2串联构成的,D1的正极端接地,D2的负极端接MCU的电源端点P4;防静电模块中的二极管D1和D2的连接点同时与电容C1、C2、电阻R的一端连接,;电容C1、C2分别与MCU的端点P1和端点P2连接,端点P1和端点P2分别为MCU中的I/O端口,MCU的电源端点P4与电源连接,MCU的接地端点P3接地;电阻R另一端接触摸按键模块。
参见图7,为图4所示第二种触摸式按键在触摸前后的波形示意图;其中,图7中输入波形为MCU的P1端口测得的波形;输出波形3为触摸式按键未触摸时在MCU的P2端口测得的波形;输出波形4为触摸式按键触摸后在MCU的P2端口测得的波形。
参见图8,为本实施例2提供的第三种新型触摸式按键的电路结构示意图;
触摸式按键包括防静电模块、处理模块MCU、分压传输模块和触摸按键模块;其中,分压传输模块由一个电容C0、两个电阻R1和R2组成;防静电模块由两个二极管D1和D2串联构成的,D1的正极端接地,D2的负极端接MCU的电源端点P4;防静电模块中二极管D1和D2的连接点同时与电阻R1、R2和电容C0的一端连接;电容C0的另一端连接触摸按键模块的Touch Key;电阻R1、R2分别与端点P1和P2连接,端点P1和端点P2分别为MCU中的两个I/O端口,MCU的电源端与电源连接,MCU的接地端点接地。
参见图9,为本实施例2提供的第三种触摸式按键触摸前后的波形示意图;其中,图9中的输入波形为MCU的P1端口测得的波形;输出波形5为触摸式按键未触摸时在MCU的P2端口测得的波形;输出波形6为触摸式按键触摸后在MCU的P2端口测得的波形。
实施例3
参见图10,为本实施例提供的基于图4所示第一种触摸式按键的检测方法流程图;具体包括如下:
S11:上电,初始化输入端口和输出端口;
S12:向输出端口输出高电平并延时一段时间,再向输出端口输出低电平;
优选的,本实施例中,将高电平记为1,将低电平记为0,S12还可以为:向输出端口写入1并延时一段时间,再将输出端口写入0;
优选的,延时时间可为5ms;
S13:接收输入端口的输入信号;
S14:记录当前输入端口的状态由低电平变为高电平所需要的延时时间T0;
当输出端口的状态为低电平时,处理模块开始计时,并开始检测输入端口的状态,直到检测到输入端口的电压状态为高电平,停止计时,处理模块将开始计时到停止计时的延时时间记为T0;
处理模块检测输入端口的状态是通过不断的循环检验输入端口的电压状态来实现的。
优选的,本实施例中,将高电平记为1,将低电平记为0;本步骤可以具体为:当处理模块开始计时的时候,不断的循环检验输入端口的电压状态,当输入端口的电压等于或高于高电平阈值电压A时,输入端口将此时的电压状态读为1,当输入端口的电压低于高电平阈值电压A时,输入端口将此时的电压状态读为0;直到处理模块检测到输入端口的电压状态为1时,停止计时,处理模块将开始计时到停止计时的延时时间记为T0;
S15:判断延时时间T0是否小于预设的延时时间T’;
是,则执行S16;
否,则执行S17;
当上述情况为否时,处理模块将累计的检验到按键未触摸的次数加1或在累计的检验按键未触摸的时间上加该次检测按键未触摸所使用的时间;
计算预设的延时时间T’的方法包括:在按键未触摸的情况下,当输出端口的状态为低电平时,处理模块开始计时,并每隔一个时间间隔s,重复的检验输出端口的电压状态,直到检测到输入端口的电压状态为高电平,停止计时,处理模块将开始计时到停止计时的延时时间记为T’,并记录延时时间T’作为预设的延时时间;
优选的,本实施例中,将高电平记为1,将低电平记为0,则上述计算预设的延时时间T’的方法具体为:在按键未触摸的情况下,当输出端状态为0时,处理模块开始计时,并每隔一个时间间隔s,重复的检验输出端口的电压状态,直到输入端口的电压状态为1,停止计时,处理模块将开始计时到停止计时的延时时间记为T’,并记录延时时间T’作为预设的延时时间;
优选的,本实施例中,还可以将延时时间T’在一定的范围内进行时间微调,并将微调后的T’作为预设的延时时间;预设的延时时间是在对触摸按键进行检测之前得到的。
S16:返回按键已触摸的状态,退出;
S17:判断连续检测到按键未触摸的次数或持续时间是否达到预设值;
是,则返回超时信息并退出;
否,继续执行S12;
优选地,当上述S17中判断连续检测到按键未触摸的次数或持续时间未达到预设值时,处理模块还可以延时一段时间后再继续执行S12;
在本实施例S17中,对连续检测到按键未触摸的次数进行累计,当超出预定次数时则视为超时,则不再对按键是否触摸进行检测;
或
在S17对检测到按键未触摸的持续时间进行累计,当超出预定时间时视为超时,则不再对按键是否触摸进行检测,退出。
上述S14、S15还可以替换为S14’、S15’;
S14’:记录当前输入端口的状态由低电平变为高电平所需扫描的次数值k;
当输出端口的状态为低电平时,处理模块开始计次,并开始检测输入端口的状态,直到检测到输入端口的电压状态为高电平,停止计次,处理模块将输入端口的状态由低电平变为高电平的过程中所记录的次数为k;
处理模块检测输入端口的状态是通过每隔时间t重复的检验输入端口的电压状态来实现的。
优选的,在本实施例中,将高电平记为1,将低电平记为0;本步骤可以具体为:当处理模块开始计次时,每隔时间t重复的检验输入端口的电压状态,当输入端口的电压等于或高于高电平阈值电压A时,输入端口将此时的电压状态读为1,低于高电平阈值电压A时,输入端口将此时的电压状态读为0;直到处理模块检测到输入端口的电压状态为1时,停止计数,并将输入端口的状态由0变为1的过程中所记录的次数为k;当电压值超过一个临界值时视为高电平,低于该临界值时视为低电平,该临界值称为高电平阈值电压。
S15’:判断次数值k是否小于预设的次数值n;
是,则执行S16;
否,则执行S17;当上述情况为否时,处理模块将累计的检验到按键未触摸的次数加1或在累计的检验按键未触摸的时间上加该次检测按键未触摸所使用的时间,再返回执行S12;
计算预设的次数值n的方法包括:在按键未触摸的情况下,当输出端口的状态为低电平时,处理模块开始计次,并每隔时间t重复的检验输入端口的电压状态,直到检测到输入端口的电压状态为高电平,停止计次,处理模块将输入端口的状态由低电平变为高电平的过程中所记录的次数为n,并记录次数值n作为预设的次数值;
在本实施例中,将高电平记为1,将低电平记为0,则上述计算预设的次数值n的方法具体为:在按键未触摸的情况下,当输出端口状态为0时,处理模块开始计次,并每隔时间t重复的检验输入端口的电压状态,直到检测到输入端口的电压状态为1,停止计次,处理模块将输入端口的状态由0变为1的过程中所记录的次数为n作为预设的次数值;优选的,本实施例中,还可以将预设的次数值n在一定的范围内进行次数微调,并将微调后的次数n作为预设的次数值;预设的次数值是在对触摸按键进行检测之前得到的。
实施例4
参见图11,为本实施例提供的基于图6的第二种触摸式按键的检测方法流程图;具体包括如下步骤:
S21:上电,初始化输入端口和输出端口;
S22:向输出端口输出高电平并延时一段时间,再向输出端口输出低电平;
优选的,本实施例中,将高电平记为1,将低电平记为0,S22还可以为:向输出端口写入1并延时一段时间,再将输出端口写入0;
优选的,延时时间可为5ms;
S23:接收输入端口的输入信号;
S24:判断当前时刻输入端口的电压状态是否为高电平;
优选的,本实施例中,将高电平记为1,将低电平记为0,则S24可以为:判断当前时刻输入端口的电压状态是否为1;
如果是,则执行S25;
如果否,则执行S26;
当上述情况为否时,处理模块将累计的检验到按键未触摸的次数加1或在累计的检验按键未触摸的时间上加该次检测按键未触摸所使用的时间;
当输出端口的电压状态由高电平变为低电平时,处理模块开始检测此时刻输入端口由高电平跳变之后的电压状态值,如果检测到的跳变之后的电压状态仍为高电平,代表触摸按键已触摸;如果检测到的跳变之后的电压状态为低电平,则代表触摸按键未触摸;
优选的,在本实施例中,将高电平记为1,将低电平记为0;本步骤可以具体为:当输出端口的电压状态由1变为0时,处理模块开始检测此时刻输入端口由1跳变之后的电压状态值,当输入端口的电压等于或高于高电平阈值电压A时,输入端口将此时的电压状态读为1,当输入端口的电压低于高电平阈值电压A时,输入端口将此时的电压状态读为0;处理模块检测到的跳变之后的电压状态如果仍为1,代表触摸按键已触摸;如果检测到的跳变之后的电压状态为0,则代表触摸按键未触摸;当电压值超过一个临界值时视为高电平,低于该临界值时视为低电平,该临界值称为高电平阈值电压。
S25:返回按键已触摸的状态,退出;
S26:判断连续检测到按键未触摸的次数或持续时间是否达到预设值;
是,则返回超时信息并退出;
否,则继续执行S22;
优选地,当上述S26中判断连续检测到按键未触摸的次数或持续时间未达到预设值时,处理模块还可以延时一段时间后再继续执行S22;
在本实施例S26中,检测到按键未触摸之后,对检测到按键未触摸的次数进行累计,当超出预定次数时则视为超时,则不再对按键是否触摸进行检测;
或
在S26检测到按键未触摸之后,对检测到按键未触摸的持续时间进行累计,当超出预定时间时视为超时,则不再对按键是否触摸进行检测。
实施例5
本实施例提供的基于图8的第三种触摸式按键的检测方法流程,该方法流程与实施例4中的步骤一致,在此不一一赘述。
在上述实施例3、实施例4和实施例5所述的方法中,主要以输出信号为一个周期的时间内,对输入信号进行检查,如果通过检测得知触摸按键已触摸,则检验一次成功,返回按键已触摸的状态并退出操作;如果通过检验得知触摸按键未触摸,则判断检验按键未触摸的次数或连续检测到按键未触摸的时间是否超出预设值,当未超出预设值时,继续检测按键状态,当超出预设值时,返回超时信息并退出操作。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (18)
1.一种触摸式按键,其特征在于,由分压传输模块、处理模块和触摸按键模块组成,所述分压传输模块的第一端点与所述处理模块的第二端点相连,所述分压传输模块的第二端点与所述处理模块的第一端点相连,所述分压传输模块的第三端点与所述触摸按键模块相连,所述处理模块的接地端点接地;
其中,所述分压传输模块,用于通过所述分压传输模块第二端点接收所述处理模块的第一端点输出的信号,通过所述分压传输模块第三端点接收所述触摸按键模块传递的触摸信号,对所述分压传输模块第二端点和第三端点接收的信号进行分压处理,并将分压处理后得到的信号通过所述分压传输模块的第一端点输出给所述处理模块的第二端点;
所述处理模块,用于控制所述处理模块的第一端点输出的信号的变化,检测所述分压传输模块输出给所述处理模块第二端点的信号状态;所述处理模块为MCU;
所述触摸按键模块,用于接收人体的触摸信号,并将所述触摸信号通过所述分压传输模块的第三端点传递给所述分压传输模块,所述处理模块的第一端点为输出端口,所述处理模块的第二端点为输入端口;
所述分压传输模块由第一电容、第二电容和第一电阻组成;
其中,所述第一电容与所述第二电容、所述第一电阻相连,所述第一电容的另一端与所述处理模块的第一端点相连,所述第二电容的另一端与所述处理模块的第二端点相连,所述第一电阻的另一端与所述触摸按键模块中的导电电极相连;
或者所述分压传输模块由第一电阻、第二电阻和第一电容组成;
其中,所述第一电阻与所述第二电阻、所述第一电容相连,所述第一电阻的另一端与所述处理模块的第一端点相连,所述第二电阻的另一端与所述处理模块的第二端点相连,所述第一电容的另一端与所述触摸按键模块中的导电电极相连。
2.根据权利要求1所述的触摸式按键,其特征在于,当所述分压传输模块由第一电容、第二电容和第一电阻组成时,其中,所述MCU的第一端点与所述分压传输模块的第一电容相连,所述MCU的第二端点与所述分压传输模块的第二电容相连。
3.根据权利要求1所述的触摸式按键,其特征在于,当所述分压传输模块由第一电阻、第二电阻和第一电容组成时,其中,所述MCU的第一端点与所述分压传输模块的第一电阻相连,所述MCU的第二端点与所述分压传输模块的第二电阻相连。
4.根据权利要求2所述的触摸式按键,其特征在于,所述触摸按键模块包括所述导电电极;
其中,所述导电电极与所述分压传输模块中的第一电阻相连。
5.根据权利要求3所述的触摸式按键,其特征在于,所述触摸按键模块包括所述导电电极;
其中,所述导电电极与所述分压传输模块中的第一电容相连。
6.根据权利要求1所述的触摸式按键,其特征在于,还包括防静电模块,所述防静电模块的第一端点与所述分压传输模块的第四端点相连,所述防静电模块的第二端点与所述处理模块的第三端点相连,所述防静电模块的第三端点接地;
其中,所述防静电模块,用于将人体触摸所述触摸按键模块时产生的干扰信号通过所述防静电模块的第二端点输出给所述处理模块的第三端点。
7.根据权利要求6所述的触摸式按键,其特征在于,所述防静电模块包括第一二极管和第二二极管;
当所述分压传输模块由第一电容、第二电容和第一电阻组成时,其中,所述第一二极管和第二二极管串联,所述第一二极管的负极与所述处理模块的第三端点相连,所述第二二极管的正极接地,所述第一二极管和第二二极管的连接点与所述分压传输模块中的第一电容、第二电容和第一电阻相连;
所述处理模块的第三端点接电源。
8.根据权利要求6所述的触摸式按键,其特征在于,所述防静电模块包括第一二极管和第二二极管;
当所述分压传输模块由第一电阻、第二电阻和第一电容组成时,其中,所述第一二极管和第二二极管串联,所述第一二极管的负极与所述MCU的第三端点相连,所述第二二极管的正极接地,所述第一二极管和第二二极管的连接端点与所述分压传输模块中的第一电阻、第二电阻和第一电容相连;
所述MCU的第三端点接电源。
9.根据权利要求7所述的触摸式按键,其特征在于,
所述MCU的第一端点与所述分压传输模块的第一电容相连,所述MCU的第二端点与所述分压传输模块的第二电容相连,所述MCU的第三端点与所述防静电模块中第一二极管的负极相连。
10.根据权利要求8所述的触摸式按键,其特征在于,
所述MCU的第一端点与所述分压传输模块的第一电阻相连,所述MCU的第二端点与所述分压传输模块的第二电阻相连,所述MCU的第三端点与所述防静电模块中第一二极管的负极相连。
11.根据权利要求9所述的触摸式按键,其特征在于,所述触摸按键模块包括所述导电电极;
其中,所述导电电极与所述分压传输模块的第一电阻相连。
12.根据权利要求10所述的触摸式按键,其特征在于,所述触摸按键模块包括所述导电电极;
其中,所述导电电极与所述分压传输模块的第一电容相连。
13.一种基于权利要求1-12所述的一种触摸式按键的检测方法,其特征在于包括:
A.初始化处理模块的输入端口和输出端口;
B.向处理模块的所述输出端口输出高电平并延时一段时间,再向所述输出端口输出低电平;
C.接收分压传输模块的第一端点输出给处理模块的所述输入端口的输入信号;
D.根据处理模块的所述输入端口的状态检测触摸按键是否已触摸;
如果是,返回按键已触摸的状态并退出操作;
如果否,执行E;
E.判断连续检测到按键未触摸的持续时间或次数是否已达到预设的检测时间或预设的检测次数范围;
如果是,返回超时信息并退出操作;
如果否,返回B。
14.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,所述检测触摸按键是否已触摸包括:
当所述输出端口的状态为低电平时,记录当前时刻所述输入端口的状态由低电平变为高电平所需要的延时时间;
判断所述所需要的延时时间是否小于预设的延时时间;
如果是,则返回按键已触摸的状态并退出操作;
如果否,则将累计的检验到按键未触摸的次数加1;或,在累计的检验按键未触摸的持续时间上自加该次检测按键未触摸所使用的时间;执行E。
15.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,所述检测触摸按键是否已触摸包括:
当所述输出端口的状态为低电平时,记录当前时刻所述输入端口的状态由低电平变为高电平所需要的扫描次数;
判断所述所需要的扫描次数是否小于预设的扫描次数;
如果是,则返回按键已触摸的状态并退出操作;
如果否,则将累计的检验到按键未触摸的次数加1;或,在累计的检验按键未触摸的持续时间上加该次检测按键未触摸所使用的时间;执行E。
16.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,所述检测触摸按键是否已触摸包括:
当所述输出端口的状态为低电平时,判断当前时刻所述输入端口的电压状态是否为高电平;
如果是,则返回按键已触摸的状态并退出操作;
如果否,则将累计的检验到按键未触摸的次数加1;或,在累计的检验按键未触摸的持续时间上自加该次检测按键未触摸所使用的时间,执行E。
17.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,所述E中判断连续检测到按键未触摸的持续时间或次数是否已达到预设的检测时间或预设的检测次数范围,包括:
将连续检测到按键未触摸的次数或持续时间进行累计,判断是否超出预设检测次数或预设检测时间的范围;
如果超出预设检测次数或预设检测时间的范围,则返回超时信息并退出;
如果未超出预设检测次数或预设检测时间的范围,返回B。
18.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,在所述如果未超出预设检测次数或预设检测时间的范围之后还包括:
延时一段预设时间,返回B。
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