CN102339236B - 侦测可插拔储存装置的方法及电子装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种侦测可插拔储存装置的方法及电子装置。其中,电子装置利用连接端口与可插拔储存装置连接。在本方法中,通过输入引脚来侦测可插拔储存装置是否产生热插拔事件。当产生热插拔事件时,根据可插拔储存装置的插拔状态,写入对应的输入引脚位至晶片组单元的输入引脚寄存器。并且,写入事件状态位至晶片组单元的状态寄存器。接着,根据事件状态位触发中断信号,藉以启动中断处理程序。在执行中断处理程序中,根据输入引脚位来决定使能或禁能连接端口。因此,操作***便不会找到不存在的可插拔储存装置。

Description

侦测可插拔储存装置的方法及电子装置
技术领域
本发明涉及一种使用可插拔储存装置的机制,尤其涉及一种侦测可插拔储存装置的方法及电子装置。
背景技术
在一电脑装置的***中,硬盘可说是极重要的外部储存设备,其形成了整个***的数据储存中心。一般来说,***运行时使用的程序和数据绝大部分都是储存于硬盘上。大致上来看,硬盘按其接口类型可分为传统的并行高级技术附件(Parallel Advanced Technology Attachment,简称为PATA)硬盘及串行高级技术附件(Serial Advanced Technology Attachment,简称为:SATA)硬盘。其中,SATA硬盘采用串行传输,因此引脚(pin)数较少,缆线也可以较长,使得安装较为容易。因此,SATA硬盘渐渐成为市场的主流。
一般而言,SATA硬盘通过SATA控制器而连接至电脑***,SATA控制器可以侦测是否有SATA硬盘***。然而,基于设计考虑(例如便于厂商进行测试),SATA控制器会在没有SATA硬盘连接时,回报一个实际上并不存在的储存装置。因此,在操作***运行时,操作***会看到一个已连接的储存装置(实际上并未连接)却无法使用它。
发明内容
本发明提供一种侦测可插拔储存装置的方法,在产生热插拔事件时可自动禁能或使能连接端口。
本发明提供一种电子装置,根据可插拔储存装置的插拔状态来禁能或使能连接端口。
本发明提出一种侦测可插拔储存装置的方法,适用于电子装置。其中,电子装置通过连接端口与可插拔储存装置连接。在本方法中,通过输入引脚来侦测可插拔储存装置是否产生热插拔事件。当通过输入引脚而侦测到可插拔储存装置产生热插拔事件时,根据可插拔储存装置的插拔状态,写入对应的输入引脚位至晶片组单元的输入引脚寄存器。并且,写入事件状态位至晶片组单元的状态寄存器。接着,根据事件状态位触发中断信号,藉以启动中断处理程序。在执行中断处理程序中,根据输入引脚位来决定使能或禁能连接端口。
在本发明的一实施例中,上述侦测可插拔储存装置的方法还包括执行开机自测试(Power On Self Test)。于开机自测试执行中使能中断机制,并且清除状态寄存器以及写入事件使能位至晶片组单元中的使能寄存器。结束开机自测试而启动操作***,以在执行操作***中通过输入引脚来侦测可插拔储存装置是否发生热插拔事件。
在本发明的一实施例中,上述根据可插拔储存装置的插拔状态,写入对应的输入引脚位至晶片组单元的输入引脚寄存器的步骤中,若可插拔储存装置连接于电子装置,以第一数值作为输入引脚位而写入至输入引脚寄存器。若可插拔储存装置未连接于电子装置,以第二数值作为输入引脚位而写入至输入引脚寄存器。
在本发明的一实施例中,上述根据输入引脚位决定使能或禁能连接端口的步骤中,若输入引脚位为第一数值,使能连接端口。另外,若输入引脚位为第二数值,禁能连接端口。
在本发明的一实施例中,上述在执行中断处理程序中,根据输入引脚位来决定使能或禁能连接端口之后,还可发送一命令至基板管理控制器(Baseboard management controller,简称为:BMC),以记录***事件日志(System Event Log,简称为:SEL)。
在本发明的一实施例中,上述在执行中断处理程序中,根据输入引脚位来决定使能或禁能连接端口之后,还可清除状态寄存器,并且结束中断处理程序。
在本发明的一实施例中,上述可插拔储存装置为串行高级技术附件(Serial Advanced Technology Attachment,简称为:SATA)储存装置,输入引脚为通用输入(general purpose input,简称为:GPI)引脚,连接端口为通用串行总线(Universal Serial Bus,简称为:USB)接口。其中串行高级技术附件储存装置是通过串行高级技术附件控制器与通用串行总线接口连接。另外,上述中断信号为***管理中断(SystemManagement Interrupt,简称为:SMI)信号,中断处理程序为***管理中断处理程序(SMI handler)。
本发明提出一种电子装置,此电子装置至少包括中央处理单元以及晶片组单元。其中,晶片组单元包括输入引脚、连接端口以及多个寄存器(至少包括输入引脚寄存器以及一状态寄存器)。输入引脚与一可插拔储存装置连接,而输入引脚用以侦测可插拔储存装置是否产生热插拔事件。连接端口与一储存装置控制器连接,而此储存装置控制器与可插拔储存装置连接。当中央处理单元通过输入引脚而侦测到可插拔储存装置产生热插拔事件时,根据可插拔储存装置的插拔状态,写入对应的输入引脚位至输入引脚寄存器,并且写入事件状态位至状态寄存器。之后,中央处理单元再根据事件状态位触发一中断信号,藉以启动中断处理程序,并且在执行中断处理程序中,根据输入引脚位决定使能或禁能连接端口。
基于上述,本发明在产生热插拔事件时,若可插拔储存装置为连接于电子装置则使能连接端口,若可插拔储存装置未连接于电子装置,则禁能连接端口。据此,操作***便不会找到不存在的可插拔储存装置。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合附图作详细说明如下。
附图说明
图1是本发明一实施例的电子装置的方块图。
图2是本发明一实施例的侦测可插拔储存装置的方法流程图。
图3是本发明另一实施例的侦测可插拔储存装置的方法流程图。
主要元件符号说明:
100:电子装置;         110:中央处理单元;
120:晶片组单元;       121:输入引脚;
123:连接端口;         125:输入引脚寄存器;
127:状态寄存器;       129:使能寄存器;
130:基板管理控制器;   140:可插拔储存装置
150:储存装置控制器;   S205~S225:步骤;
S305~S335:步骤。
具体实施方式
图1是本发明一实施例的电子装置的方块图。请参照图1,在本实施例中,电子装置100包括中央处理单元110、晶片组单元120以及基板管理控制器130。其中,电子装置100通过晶片组单元120中的输入引脚121来侦测可插拔储存装置140是否产生热插拔事件。并且,电子装置100通过晶片组单元120中的连接端口123与可插拔储存装置140连接。详细地说,可插拔储存装置140通过储存装置控制器150与连接端口123连接,以通过此连接方式来进行数据的传输。
实际上,储存装置控制器150可以设置在可插拔储存装置140上,或者储存装置控制器150可以设置在电子装置100上,又或者储存装置控制器150为独立的设备,在此并不限制。
电子装置100的晶片组单元120中设置有输入引脚寄存器125、状态寄存器127以及使能寄存器129。其中,输入引脚寄存器125所记录的值用以表示可插拔储存装置140的插拔状态,例如可插拔储存装置140与连接端口123连接或可插拔储存装置140未与连接端口123连接。状态寄存器127所记录的值是用来表示输入引脚121是否有自可插拔储存装置140侦测到其产生热插拔事件。使能寄存器129所记录的值则是表示中断机制是否有被使能。在本实施例中,中断信号例如为***管理中断(System Management Interrupt,简称为:SMI)信号,中断处理程序例如为***管理中断处理程序(SMIhandler)。
另外,在本实施例中,可插拔储存装置140为串行高级技术附件(SerialAdvanced Technology Attachment,简称为:SATA)储存装置,输入引脚121为通用输入(general purpose input,简称为:GPI)引脚,连接端口123为通用串行总线(Universal Serial Bus,简称为:USB)接口。储存装置控制器150为SATA控制器。
以下再举一例来说明侦测可插拔储存装置的详细步骤。图2是本发明一实施例的侦测可插拔储存装置的方法流程图。请同时参照图1及图2,在步骤S205中,电子装置100通过输入引脚121来侦测可插拔储存装置140是否产生热插拔事件。
具体而言,电子装置100在开机之后会由基本输入输出***(Basic InputOutput System,简称为:BIOS)来执行开机自测试(Power On Self Test,简称为:POST)。在执行开机自测试的过程中,BIOS会将中断机制使能。在本实施例中,BIOS在使能中断机制之后,可在晶片组单元120的使能寄存器129中写入一事件使能位(例如,1),表示此热插拔事件的中断机制已经使能。并且,将状态寄存器127中的值清除。之后,结束POST而启动操作***,以在执行操作***中通过输入引脚121来侦测可插拔储存装置140是否发生热插拔事件。
而当通过输入引脚121而侦测到可插拔储存装置140产生热插拔事件时,如步骤S210所示,晶片组单元120会根据可插拔储存装置140的插拔状态而写入对应的输入引脚位至晶片组单元120中的输入引脚寄存器125。另一方面,在未侦测到可插拔储存装置140产生热插拔事件时,则不执行其他步骤。
本实施例利用晶片组单元120上的输入引脚121来侦测可插拔储存装置140是否产生热插拔事件。当侦测到产生热插拔事件时,表示使用者将可插拔储存装置140由电子装置100上卸除,或者使用者将可插拔储存装置140连接至电子装置100。另外,在本实施例中,若输入引脚121侦测到可插拔储存装置140连接于电子装置100时,晶片组单元120会以0(第一数值)作为输入引脚位而写入至输入引脚寄存器125。若输入引脚121侦测到可插拔储存装置140未连接于电子装置100,晶片组单元120会以1(第二数值)作为输入引脚位而写入至输入引脚寄存器125。
据此,当使用者将可插拔储存装置140自电子装置100上卸除,或是将可插拔储存装置140连接至电子装置100时,输入引脚位皆会改变。例如,输入引脚位由0变为1代表可插拔储存装置140为自电子装置100上拔除。另外,输入引脚位由1变为0代表可插拔储存装置140为插接至电子装置100上。
并且,当通过输入引脚121而侦测到可插拔储存装置140产生热插拔事件时,如步骤S215所示,晶片组单元120写入事件状态位至晶片组单元120的状态寄存器127。也就是说,当可插拔储存装置140产生了热插拔事件时,不管可插拔储存装置140的插拔状态为何,晶片组单元120皆会写入事件状态位至状态寄存器127。
接着,在步骤S220中,根据事件状态位触发中断信号,藉以启动中断处理程序。在此,晶片组单元120还可根据事件使能位以及事件状态位来决定是否触发中断信号。例如,利用一个逻辑与门(AND gate),其输入端为状态寄存器127以及使能寄存器129,当两者其中之一为0时,便无法触发中断信号。由于在POST阶段中,在使能中断机制之后,即以1作为事件使能位而写入至使能寄存器129中。因此,在本实施例中,当侦测到可插拔储存装置140产生热插拔事件,而以1作为事件状态位,即表示晶片组单元120会触发一中断信号来启动中断处理程序。
之后,在步骤S225中,在执行中断处理程序中,根据输入引脚位来决定使能或禁能连接端口123。并且,还可发送命令(例如智能平台管理接口(Intelligent Platform Management Interface,简称为:IPMI)命令)至基板管理控制器130,以记录***事件日志(System Event Log,简称为:SEL)。之后,清除状态寄存器127,并且结束中断处理程序。
下面再举一例来说明。图3是本发明另一实施例的侦测可插拔储存装置的方法流程图。在本实施例中,假设产生热插拔事件时,事件状态位为1。并且,假设当产生热插拔事件时,若可插拔储存装置与电子装置连接,输入引脚位为0;若插拔储存装置未与电子装置连接,输入引脚位为1。
请参照图3,在步骤S305中,检查事件状态位以及事件使能位。当事件状态位以及事件使能位其中一者为0时,表示并未产生热插拔事件,或者中断机制并未使能,因而结束此流程。
当事件状态位以及事件使能位两者皆为1时,表示产生热插拔事件,而触发中断信号。在执行中断处理程序中,执行步骤S310,检查输入引脚位。当输入引脚位为0时,表示可插拔储存装置140目前连接于电子装置100上,如步骤S315所示,将连接端口123使能。接着,在步骤S320中,传送IPMI命令至基板管理控制器130以记录***事件日志,例如“热插事件(Hot Plug-inevent)”。之后,如步骤S335所示,清除状态寄存器127。
另一方面,当输入引脚位为1时,表示可插拔储存装置140目前并未连接于电子装置100上,如步骤S325所示,将连接端口123禁能。接着,在步骤S330中,传送IPMI命令至基板管理控制器130,以记录***事件日志,例如“热拔事件(Hot Plug-out event)”。之后,如步骤S335所示,清除状态寄存器127。
在本实施例中,由于中断信号为***管理中断信号,而***管理中断信号的优先权大于其他中断信号,因此会先决定将连接端口123使能或禁能之后,再执行其他中断信号。
举例来说,当可插拔储存装置140插接至电子装置100上时,储存装置控制器150会通知连接端口123目前有储存装置连接。此时,以连接端口123为USB接口而言,其会产生USB中断。此USB中断会在SMI中断处理结束之后才执行。而中央处理单元110例如会利用中断服务常式(Interrupt ServiceRoutine,简称为:ISR)来服务此USB中断。倘若可插拔储存装置140未连接至电子装置100,由于连接端口123为禁能,操作***并不会找到可插拔储存装置140。反之,倘若可插拔储存装置140连接至电子装置100,由于连接端口123为使能,储存装置控制器150便能够将可插拔储存装置140回报给连接端口123,因此操作***便可以找到可插拔储存装置140。
综上所述,通过上述实施例的作法,可在产生热插拔事件时自动禁能或使能连接端口。如此一来,当可插拔储存装置没有与电子装置连接时,操作***便无法看到此可插拔储存装置,而可插拔储存装置与电子装置连接时,操作***能够看到此可插拔储存装置。
虽然本发明已以实施例揭示如上,但其并非用以限定本发明,任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,可作适当更改与等同替换,故本发明的保护范围应以专利要求书的范围为准。

Claims (9)

1.一种侦测可插拔储存装置的方法,适用于一电子装置,其特征在于,所述电子装置通过一连接端口与所述可插拔储存装置连接,所述方法包括:
执行一开机自测试;
于所述开机自测试执行中使能一中断机制,并且清除晶片组单元的一状态寄存器以及写入一事件使能位至所述晶片组单元中的一使能寄存器;
结束所述开机自测试而启动一操作***,以在执行所述操作***中通过一输入引脚来侦测所述可插拔储存装置是否产生一热插拔事件;
当通过所述输入引脚而侦测到所述可插拔储存装置产生所述热插拔事件时,根据所述可插拔储存装置的插拔状态,写入对应的一输入引脚位至所述晶片组单元的一输入引脚寄存器;
写入一事件状态位至所述晶片组单元的所述状态寄存器;
根据所述事件状态位触发一中断信号,藉以启动一中断处理程序;以及
在执行所述中断处理程序中,根据所述输入引脚位决定使能或禁能所述连接端口。
2.根据权利要求1所述的侦测可插拔储存装置的方法,其特征在于,根据所述可插拔储存装置的插拔状态,写入对应的所述输入引脚位至所述晶片组单元的所述输入引脚寄存器的步骤包括:
若所述可插拔储存装置连接于所述电子装置,以一第一数值作为所述输入引脚位而写入至所述输入引脚寄存器;以及
若所述可插拔储存装置未连接于所述电子装置,以一第二数值作为所述输入引脚位而写入至所述输入引脚寄存器。
3.根据权利要求2所述的侦测可插拔储存装置的方法,其特征在于,根据所述输入引脚位来决定使能或禁能所述连接端口的步骤包括:
若所述输入引脚位为所述第一数值,使能所述连接端口;以及
若所述输入引脚位为所述第二数值,禁能所述连接端口。
4.根据权利要求2所述的侦测可插拔储存装置的方法,其特征在于,在执行所述中断处理程序中,根据所述输入引脚位来决定使能或禁能所述连接端口的步骤之后还包括:
发送一命令至一基板管理控制器,以记录一***事件日志。
5.根据权利要求2所述的侦测可插拔储存装置的方法,其特征在于,在执行所述中断处理程序中,根据所述输入引脚位来决定使能或禁能所述连接端口的步骤之后还包括:
清除所述状态寄存器;以及
结束所述中断处理程序。
6.根据权利要求1所述的侦测可插拔储存装置的方法,其特征在于,所述可插拔储存装置为串行高级技术附件储存装置,所述输入引脚为通用输入引脚,所述连接端口为通用串行总线接口。
7.根据权利要求6所述的侦测可插拔储存装置的方法,其特征在于,所述串行高级技术附件储存装置是通过一串行高级技术附件控制器与所述通用串行总线接口连接。
8.根据权利要求1所述的侦测可插拔储存装置的方法,其特征在于,所述中断信号为***管理中断信号,所述中断处理程序为***管理中断处理程序。
9.一种电子装置,其特征在于,包括:
一中央处理单元;以及
一晶片组单元,包括:
一输入引脚,与一可插拔储存装置连接,所述输入引脚侦测所述可插拔储存装置是否产生一热插拔事件;
一连接端口,与一储存装置控制器连接,其中所述储存装置控制器与所述可插拔储存装置连接;以及
多个寄存器,包括一输入引脚寄存器以及一状态寄存器;
其中,所述中央处理单元执行一开机自测试,并于所述开机自测试执行中使能一中断机制,并且清除所述状态寄存器以及写入一事件使能位至所述晶片组单元中的一使能寄存器;当所述中央处理单元结束所述开机自测试而启动一操作***,以在执行所述操作***中通过所述输入引脚而侦测到所述可插拔储存装置产生所述热插拔事件时,根据所述可插拔储存装置的插拔状态,写入对应的一输入引脚位至所述输入引脚寄存器,并且写入一事件状态位至所述状态寄存器;之后,根据所述事件状态位触发一中断信号,藉以启动一中断处理程序,并且在执行所述中断处理程序中,根据所述输入引脚位决定使能或禁能所述连接端口。
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