CN102221450A - 一种激光***跟瞄偏差测量装置 - Google Patents

一种激光***跟瞄偏差测量装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102221450A
CN102221450A CN 201110096311 CN201110096311A CN102221450A CN 102221450 A CN102221450 A CN 102221450A CN 201110096311 CN201110096311 CN 201110096311 CN 201110096311 A CN201110096311 A CN 201110096311A CN 102221450 A CN102221450 A CN 102221450A
Authority
CN
China
Prior art keywords
laser system
laser
diffuse reflection
measurement mechanism
reflection screen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN 201110096311
Other languages
English (en)
Other versions
CN102221450B (zh
Inventor
颜宏
雒仲祥
田英华
何丽
罗佳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Institute of Applied Electronics of CAEP
Original Assignee
Institute of Applied Electronics of CAEP
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Institute of Applied Electronics of CAEP filed Critical Institute of Applied Electronics of CAEP
Priority to CN 201110096311 priority Critical patent/CN102221450B/zh
Publication of CN102221450A publication Critical patent/CN102221450A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102221450B publication Critical patent/CN102221450B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

本发明公开了一种激光***跟瞄偏差测量装置，所述装置包括漫反射屏、信标光源、小孔、窄带滤光片、成像镜头和CCD。激光***发射的激光垂直正入射到靶点的漫反射屏上，漫反射屏中心位置设置一小孔，信标光源置于小孔正后方，激光***对小孔后的信标光源进行跟踪，并且瞄准信标光源发射激光，窄带滤光片、成像镜头、CCD依次设置在入射激光和散射激光的夹角α为1°至10°位置。CCD和成像镜头组成的成像***对漫反射屏上的光斑成清晰完整的像，数据处理***计算光斑质心和小孔的位置偏差，获得激光***的跟瞄偏差。本发明的激光***跟瞄偏差测量装置成本低廉、结构简单、使用方便。

Description

一种激光***跟瞄偏差测量装置
技术领域
本发明属于激光***光学参数测量领域，具体涉及一种激光***跟瞄偏差测量装置。用于激光***中，在靶点用CCD测量激光***跟瞄偏差。
背景技术
在激光***中，激光***的跟瞄偏差是衡量激光***性能的重要指标。目前，公知的激光***跟瞄偏差测量装置由光电探测靶、数据处理***、信标光源组成。信标光源置于光电探测靶侧面，激光***对信标光源进行跟踪，并且发射激光照射光电探测靶，由数据处理***计算激光***跟瞄偏差。但是，此种测量方法只能测量偏置后的激光束位置，测量的结果包含了跟瞄误差和偏置误差，不能直接测量激光***的跟瞄偏差。并且测量装置结构复杂，体积和重量较大，使用不便，成本也较高。
发明内容
为了克服已有技术结构复杂、使用不便和不能直接测量的不足，本发明提供了一种在靶点直接测量激光***跟瞄精度的测量装置。
本发明的激光***跟瞄偏差测量装置，特点是，所述的测量装置置于激光***的靶点，所述的测量装置包括窄带滤光片、成像镜头、CCD、数据处理***、信标光源、漫反射屏、小孔。漫反射屏相对于激光***的发射激光正面垂直放置，且中心高度与激光***的发射激光的中心高度相同。漫反射屏中心位置设置一小孔，信标光源置于小孔正后方。激光***对小孔后的信标光源进行跟踪，并且瞄准信标光源发射激光，发射的激光垂直入射到靶点的漫反射屏上，窄带滤光片、成像镜头、CCD设置在漫反射屏的入射激光和散射激光的夹角为1°至10°的位置，窄带滤光片通过螺纹与成像镜头连接，确保仅有激光***的发射激光波长的光进入CCD，成像镜头与CCD直接连接，成像镜头和CCD组成的成像***对漫反射屏上的光斑成清晰完整的像，数据处理***计算光斑质心和小孔的位置偏差从而获得激光***的跟瞄偏差。
所述的漫反射屏的尺寸为激光***（1）的发射激光到达靶点的漫反射屏上的光斑尺寸的1.1倍至10倍。
所述的小孔直径为激光***发射的激光到达漫反射屏上的光斑直径的1/50至1/20。
所述的信标光源亮度与激光***的探测灵敏度相匹配。
所述的信标光源光谱特性与激光***的探测波段相匹配。
所述的信标光源通过小孔后为点光源。
所述的CCD响应波长与激光***发射激光波长相匹配。
所述的窄带滤光片的通过波长与激光***的发射激光波长相匹配。
所述的信标光源中心高度与漫反射屏中心高度相同。
所述的CCD中心高度与漫反射屏中心高度相同。
本发明的激光***跟瞄偏差测量装置，在激光***中，在靶点用CCD测量激光***的跟瞄偏差。激光***发射的激光垂直正入射到靶点的漫反射屏上，漫反射屏中心位置设置一小孔，信标光源置于小孔正后方，激光***对小孔后的信标光源进行跟踪，并且瞄准信标光源发射激光，窄带滤光片、成像镜头、CCD设置在漫反射屏的入射激光和散射激光的夹角为1°至10°的位置，窄带滤光片直接与成像镜头连接，确保仅有激光***发射的激光波长的光进入CCD，CCD和成像镜头组成的成像***对漫反射屏上的光斑成清晰完整的像，数据处理***计算光斑质心和小孔的位置偏差，获得激光***的跟瞄偏差。本发明的激光***跟瞄偏差测量装置，可直接测量激光***的跟瞄偏差，设备成本低廉、结构简单，体积小重量轻，易于携带、搬运和展开，操作使用方便。
附图说明
图1是本发明的激光***跟瞄偏差测量装置的结构示意图。
图中，1.激光***    2.入射激光     3.小孔     4.漫反射屏   5.信标光源    6.散射激光     7.窄带滤光片    8.成像镜头   9.CCD   10.数据处理***。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步说明。
实施例
图1是本发明的激光***跟瞄偏差测量装置结构示意图。图1中，本发明的激光***跟瞄偏差测量装置包括小孔3、漫反射屏4、信标光源5、窄带滤光片7、成像镜头8、CCD9和数据处理***10。本发明的激光***跟瞄偏差测量装置置于激光***靶点对激光***跟瞄偏差进行测量。靶点距激光***1的距离为2km。漫反射屏4的尺寸为激光***1的发射激光到达靶点的漫反射屏4上的光斑尺寸的10倍。漫反射屏4中心位置设置一小孔3，小孔直径为漫反射屏4上的接收光斑直径的1/20。信标光源5置于小孔3正后方，窄带滤光片7通过螺纹与成像镜头8直接连接，确保仅有散射激光6波长的激光进入CCD9。成像镜头8通过与CCD9接口相匹配的螺纹与CCD直接连接。成像镜头8和CCD9组成成像***，调节成像***的位置，成像镜头8至漫反射屏4的距离为10米，入射激光2和散射激光6的夹角α为7°。激光***1发射的入射激光2垂直正入射到漫反射屏4上，成像镜头8和CCD9组成的成像***对漫反射屏4上的激光光斑成完整清晰的像，数据处理***对成像光斑进行数据处理，计算得到激光***的跟瞄偏差。

Claims (10)

1.一种激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的测量装置包括小孔（3）、漫反射屏（4）、信标光源（5）、窄带滤光片（7）、成像镜头（8）、CCD（9）、数据处理***（10），漫反射屏（4）置于激光***正面，漫反射屏（4）中心位置设置有一个小孔（3），信标光源（5）置于小孔（3）正后方，在散射激光（6）的光路上依次设置有窄带滤光片（7）、成像镜头（8）和CCD（9）。
2.如权利要求1所述的激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的漫反射屏（4）的尺寸为激光***（1）的发射激光到达靶点的漫反射屏（4）上的光斑尺寸的1.1倍至10倍。
3.如权利要求1所述的激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的小孔（3）、漫反射屏（4）、信标光源（5）、窄带滤光片（7）、成像镜头（8）、CCD（9）的中心高度与激光***（1）的中心高度相同。
4.如权利要求1所述的激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的漫反射屏（4）相对于激光***（1）的发射激光正面垂直放置。
5.如权利要求1所述的激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的信标光源（5）亮度与激光***（1）的探测灵敏度相匹配。
6.如权利要求1所述的激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的信标光源（5）光谱特性与激光***（1）的探测波段相匹配。
7.如权利要求1所述的激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的小孔（3）直径为激光***（1）发射的激光到达漫反射屏（4）上的光斑直径的1/50至1/20。
8.如权利要求1所述的激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的窄带滤光片（7）的通过波长与激光***（1）的发射激光波长相匹配。
9.如权利要求1所述的激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的CCD（9）响应波长与激光***（1）的发射激光波长相匹配。
10.如权利要求1所述的激光***跟瞄偏差测量装置，其特征在于：所述的窄带滤光片（7）、成像镜头（8）、CCD（9）设置在入射激光（2）和散射激光（6）的夹角α为1°至10°位置。
CN 201110096311 2011-04-18 2011-04-18 一种激光***跟瞄偏差测量装置 Expired - Fee Related CN102221450B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201110096311 CN102221450B (zh) 2011-04-18 2011-04-18 一种激光***跟瞄偏差测量装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201110096311 CN102221450B (zh) 2011-04-18 2011-04-18 一种激光***跟瞄偏差测量装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102221450A true CN102221450A (zh) 2011-10-19
CN102221450B CN102221450B (zh) 2013-01-02

Family

ID=44778064

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 201110096311 Expired - Fee Related CN102221450B (zh) 2011-04-18 2011-04-18 一种激光***跟瞄偏差测量装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102221450B (zh)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102735431A (zh) * 2012-06-21 2012-10-17 中国兵器工业第二0五研究所 光电稳瞄***的瞄准线稳定精度测量方法
CN104034511A (zh) * 2014-06-12 2014-09-10 中国科学院上海技术物理研究所 一种光电跟踪性能检测方法
CN107367721A (zh) * 2017-07-31 2017-11-21 天津大学 一种用于动态位姿测量的位姿测量装置
CN108152013A (zh) * 2017-12-28 2018-06-12 西安应用光学研究所 光电***跟瞄精度测量装置光路调校方法
CN110455498A (zh) * 2019-07-04 2019-11-15 湖北航天技术研究院总体设计所 一种复合轴跟瞄***性能测试装置及测试方法
CN110806307A (zh) * 2019-11-19 2020-02-18 中国兵器装备集团自动化研究所 一种光电稳瞄***稳定精度快速检测方法
CN111336983A (zh) * 2019-12-24 2020-06-26 哈尔滨新光光电科技股份有限公司 一种光学***动态跟瞄方法及***
CN112013953A (zh) * 2020-07-09 2020-12-01 北京工业大学 一种激光器巴条的光束指向性偏差计算***
CN114235149A (zh) * 2021-11-30 2022-03-25 中国科学院合肥物质科学研究院 一种基于ccd反射成像法的激光测量***及其方法
CN116147891A (zh) * 2023-01-04 2023-05-23 北京东方锐镭科技有限公司 一种激光瞄准精度测量设备

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07244318A (ja) * 1994-03-07 1995-09-19 Fujitsu Ltd 画像取得装置
EP0893704A2 (en) * 1997-07-25 1999-01-27 TRW Inc. Imaging system with optical filter for scattered laser radiation
US20030024470A1 (en) * 2001-07-31 2003-02-06 Myerson Allan S. Controlled nucleation of protein crystals
CN1598482A (zh) * 2004-08-31 2005-03-23 哈尔滨工业大学 卫星光通信高速跟瞄探测装置及其探测方法
CN1825786A (zh) * 2006-03-31 2006-08-30 哈尔滨工业大学 基于ccd的复合式反馈控制振动补偿***

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07244318A (ja) * 1994-03-07 1995-09-19 Fujitsu Ltd 画像取得装置
EP0893704A2 (en) * 1997-07-25 1999-01-27 TRW Inc. Imaging system with optical filter for scattered laser radiation
US20030024470A1 (en) * 2001-07-31 2003-02-06 Myerson Allan S. Controlled nucleation of protein crystals
CN1598482A (zh) * 2004-08-31 2005-03-23 哈尔滨工业大学 卫星光通信高速跟瞄探测装置及其探测方法
CN1825786A (zh) * 2006-03-31 2006-08-30 哈尔滨工业大学 基于ccd的复合式反馈控制振动补偿***

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102735431B (zh) * 2012-06-21 2014-11-05 中国兵器工业第二0五研究所 光电稳瞄***的瞄准线稳定精度测量方法
CN102735431A (zh) * 2012-06-21 2012-10-17 中国兵器工业第二0五研究所 光电稳瞄***的瞄准线稳定精度测量方法
CN104034511A (zh) * 2014-06-12 2014-09-10 中国科学院上海技术物理研究所 一种光电跟踪性能检测方法
CN104034511B (zh) * 2014-06-12 2016-03-30 中国科学院上海技术物理研究所 一种光电跟踪性能检测方法
CN107367721A (zh) * 2017-07-31 2017-11-21 天津大学 一种用于动态位姿测量的位姿测量装置
CN107367721B (zh) * 2017-07-31 2023-06-13 天津大学 一种用于动态位姿测量的位姿测量装置
CN108152013A (zh) * 2017-12-28 2018-06-12 西安应用光学研究所 光电***跟瞄精度测量装置光路调校方法
CN110455498A (zh) * 2019-07-04 2019-11-15 湖北航天技术研究院总体设计所 一种复合轴跟瞄***性能测试装置及测试方法
CN110806307B (zh) * 2019-11-19 2021-05-04 中国兵器装备集团自动化研究所 一种光电稳瞄***稳定精度快速检测方法
CN110806307A (zh) * 2019-11-19 2020-02-18 中国兵器装备集团自动化研究所 一种光电稳瞄***稳定精度快速检测方法
CN111336983A (zh) * 2019-12-24 2020-06-26 哈尔滨新光光电科技股份有限公司 一种光学***动态跟瞄方法及***
CN112013953A (zh) * 2020-07-09 2020-12-01 北京工业大学 一种激光器巴条的光束指向性偏差计算***
CN112013953B (zh) * 2020-07-09 2023-06-20 北京工业大学 一种激光器巴条的光束指向性偏差计算***
CN114235149A (zh) * 2021-11-30 2022-03-25 中国科学院合肥物质科学研究院 一种基于ccd反射成像法的激光测量***及其方法
CN114235149B (zh) * 2021-11-30 2024-02-27 中国科学院合肥物质科学研究院 一种基于ccd反射成像法的激光测量***及其方法
CN116147891A (zh) * 2023-01-04 2023-05-23 北京东方锐镭科技有限公司 一种激光瞄准精度测量设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN102221450B (zh) 2013-01-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102221450B (zh) 一种激光***跟瞄偏差测量装置
CN105627857B (zh) 卷尺
US7626688B2 (en) Optical measuring system with a high-speed optical sensing device enabling to sense luminous intensity and chromaticity
CN201622345U (zh) 一种激光测距装置
CN101299066B (zh) 激光雷达透射式同轴发射与接收装置
CN102255655B (zh) 激光通信中跟踪相机兼容实现链路效率的检测方法
CN202511766U (zh) 反射式多光谱、共光路光轴检测装置
US20120013886A1 (en) Distance Measuring Module And Electronic Device Including The Same
CN109164465B (zh) 基于微脉冲激光雷达测量云高的同轴光学***
CN106017404B (zh) 摄像测量相机视轴与辅助激光光轴夹角的检测装置及方法
CN105122038A (zh) 开路式气体检测器
KR20130084863A (ko) 투과율 측정 장치
CN108594257A (zh) 基于多普勒效应的测速传感器及其标定方法与测量方法
JP2014240782A5 (zh)
CN208239052U (zh) 一种激光杂散光测量装置
CN104777486A (zh) 手持式激光近距离测距仪
CN109342758A (zh) 新型测速传感器
CN103712950B (zh) 一种大口径激光玻璃包边剩余反射的测量装置及方法
CN112834462A (zh) 反射镜反射率的测量方法
CN104567796A (zh) 一种3d拍摄测距方法
CN107238840B (zh) 脉冲激光高速测距光学***
CN102809351A (zh) 透明和半透明玻璃瓶壁厚检测装置及方法
TW201428322A (zh) 測距儀
CN104457689B (zh) 一种用于近距离激光测距仪的光学接发结构
CN104101481B (zh) 一种具有双光路的镜片散射光检测仪

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20130102

Termination date: 20140418