CN102213754A - 时域反射仪校正***及方法 - Google Patents

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梁献全
李昇军
许寿国
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Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Abstract

本发明提供一种时域反射仪校正方法，其利用电缆将时域反射仪上两个通道连接到校正器上。该方法将两条通道的Step Deskew及ChannelDeskew值归零，获取两条通道在同一时间测量到的最大特性阻抗，及获取两条通道测量到同一特性阻抗的时间。判断两个特性阻抗之间的差值是否在一允许的范围内，及判断两个时间之间的差值是否在一允许的范围内。当特性阻抗之间的差值不在允许的范围内时，调整其中一个通道的Step Deskew值，当时间之间的差值不在允许的范围内时，调整其中一个通道的Channel Deskew值。本发明还提供一种时域反射仪校正***。本发明根据用户选择的通道，自动对该通道间的误差进行校正。

Description

时域反射仪校正***及方法
技术领域
本发明涉及一种测量仪器校正***及方法，尤其是一种时域反射仪校正***及方法。
背景技术
时域反射仪是一种用于测试电子线路特性的设备。例如，时域反射仪在电子线路上发送一个脉冲信号，这个脉冲信号经过一个开路的线路时，脉冲信号遇到开路会发射回发送端，时域反射仪通过分析接收到的脉冲信号计算出该电子线路的特性阻抗。
然而，在利用时域反射仪进行电子线路特性的测试时，由于时域反射仪本身的误差，如通道间的时间差、电缆长度及脉冲信号间的时间差等因素，可能造成测试的准确度下降。因此，对时域反射仪的校正极为重要。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提出一种时域反射仪校正***，其可根据用户选择的通道，自动地对该通道间的误差进行校正。
此外，还有必要提出一种时域反射仪校正方法，其可根据用户选择的通道，自动地对该通道间的误差进行校正。
一种时域反射仪校正***，用于对一个时域反射仪进行校正。一个校正器通过电缆连接到该时域反射仪的通道上。该***包括：判断模块，用于判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2；通道开启模块，用于开启所连接的两条通道，使其处于工作状态；参数设置模块，用于将所连接的两条通道的参数Step Deskew及Channel Deskew的值归零；测量模块，用于获取上述连接的两条通道在同一预设的时间点所测量到的最大特性阻抗，以及在将连接上述两条通道与校正器的电缆切断后，获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；比较模块，用于通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内，以及通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内；参数调整模块，用于当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的Step Deskew的值，以及当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值。
一种时域反射仪校正方法，用于对一个时域反射仪进行校正。该方法包括：(a)将一个校正器通过电缆连接到上述时域反射仪的通道上；(b)判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2；(c)在通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2的情况下，开启所连接的两条通道，使其处于工作状态；d)将所连接的两条通道的参数StepDeskew及Channel Deskew的值归零；(e)获取上述连接的两条通道在同一预设时间点所测量到的最大特性阻抗；(f)通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内；(g)当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的Step Deskew的值；(h)重复步骤(e)至(g)，直至两个最大特性阻抗之间的差值在所述允许的特性阻抗范围内；(i)将连接上述两条通道与校正器的电缆切断；(j)获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；(k)通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内；(l)当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值；及(m)重复步骤(j)至(l)，直至两个时间之间的差值在所述允许的时间范围内。
本发明所提供的时域反射仪校正***及方法只需要用户选择时域反射仪上待校正的任意两个通道，就能自动地对所选择的通道间的误差进行校正，减少人工校正所造成误差，提高了精准性。
附图说明
图1是本发明时域反射仪校正***较佳实施例的***架构图。
图2是本发明时域反射仪校正***较佳实施例的功能模块图。
图3是本发明时域反射仪校正方法较佳实施例的方法流程图。
主要元件符号说明
  时域反射仪   1
  显示单元   12
  参数设置单元   11
  通道   10
  计算机   2
  时域反射仪校正***   20
  处理单元   21
  存储单元   22
  校正器   3
  电缆   4
  初始化模块   200
  判断模块   201
  提示模块   202
  通道开启模块   203
  参数设置模块   204
  测量模块   205
  比较模块   206
  参数调整模块   207
  显示模块   208
具体实施方式
参阅图1所示，是本发明时域反射仪校正***20较佳实施例的***架构图。该时域反射仪校正***20安装在一台与待校正的时域反射仪1相连接的计算机2中。该时域反射仪校正***20包括多个功能模块(下述图2中描述)，用于对时域反射仪1进行参数校正。
此外，计算机2还包括用于执行时域反射仪校正***20中各功能模块的处理单元21，如中央处理器(central processing unit)，以及用于存储时域反射仪校正***20中各功能模块的存储单元22。
待校正的时域反射仪1是一种用于测试电子线路特性的设备。该时域反射仪1包括多个通道10，参数设置单元11，及显示单元12。所述的各个通道10用于传送脉冲信号，并利用该脉冲信号的反射测量特性阻抗。所述的参数设置单元11可以显示所校正的参数，如脉冲时间差(Step Deskew)及通道时间差(Channel Deskew)，在校正前与校正后的数值。所述显示单元12用于显示参数校正前与校正后，利用上述脉冲信号测得的物理部件的特性阻抗的显示图形。
一个校正器3通过两条电缆4连接到时域反射仪1的任意两个通道10上。该校正器3是一个接地设备，使得所连接的两个通道10通过电缆4接地。
参阅图2所示，是本发明时域反射仪校正***20较佳实施例的功能模块图。该时域反射仪校正***20包括初始化模块200，判断模块201，提示模块202，通道开启模块203，参数设置模块204，测量模块205，比较模块206，参数调整模块207，及显示模块208。
上述各功能模块200-208是完成特定功能的各个程序段，比软件程序本身更适合于描述软件在计算机2中的执行过程，因此本发明对软件程序的描述都以模块描述。
所述的初始化模块200用于初始化时域反射仪1，使其恢复到出厂时的设置。
所述的判断模块201用于判断通过电缆4连接到校正器3上的通道10的数目是否为2，即校正器3是否同时连接两条通道10。
所述的提示模块202用于在没有同时连接两条通道10的情况下，发出提示信息。
所述的通道开启模块203用于开启所连接的两条通道10，使其处于工作状态。
所述的参数设置模块204用于将所连接的两条通道10的参数StepDeskew及Channel Deskew的值都归零。
所述的测量模块205用于获取上述连接的两条通道10在同一预设的时间点所测量到的最大特性阻抗，以及在将连接上述两条通道10与校正器3的电缆4切断后，获取该两条通道10测量到同一预设特性阻抗的时间。
所述的比较模块206用于通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内，以及通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内。
所述的参数调整模块207用于当上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道10的Step Deskew的值，使该两条通道10之间的脉冲时间差缩小。假如所连接的两个通道10包括第一通道及第二通道。那么，如果第一通道所测量到的特性阻抗大，则调整第二通道的StepDeskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Step Deskew的值，使其增大。此外，该参数调整模块207还用于当上述获取的两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道10的Channel Deskew的值，使该两条通道10间的通道时间差缩小。例如，如果第一通道测量到同一预设特性阻抗的时间短，则调整第二通道的Channel Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Channel Deskew的值，使其增大。
所述的显示模块208用于当时域反射仪1上的所有通道10都校正完之后，显示校正之后的参数Step Deskew及Channel Deskew的值。
图3是本发明时域反射仪校正方法较佳实施例的流程图。
步骤S10，初始化模块200初始化时域反射仪1，使其恢复到出厂时的设置。
步骤S11，用户利用电缆4将时域反射仪1上任意选择的两个需要校正的通道10连接到一个校正器3上。所述校正器3是一个接地设备，使得所连接的两个通道10接地。
步骤S12，判断模块201判断校正器3是否同时连接两条通道10。若没有同时连接两条通道，则流程进入步骤S13，提示模块202发出提示信息。否则，若同时连接了两条通道，则流程进入步骤S14。
在步骤S14中，通道开启模块203开启所连接的两条通道10，使其处于工作状态。
步骤S15，参数设置模块204将所连接的两条通道10的参数StepDeskew及Channel Deskew的值都归零。
步骤S16，测量模块205获取上述连接的两条通道10在同一预设时间点所测量到的最大的特性阻抗。
步骤S17，比较模块206通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内。
步骤S18，当上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，参数调整模块207根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道10的Step Deskew的值，使该两条通道10之间的脉冲时间差缩小，并返回步骤S16。假如所连接的两个通道10包括第一通道及第二通道。那么，如果第一通道所测量到的特性阻抗大，则调整第二通道的Step Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的StepDeskew的值，使其增大。
步骤S19，当上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值在所述允许的特性阻抗范围内时，提示模块202提示用户将连接上述两条通道10与校正器3的电缆4切断。
步骤S20，测量模块205获取该两条通道10测量到同一预设特性阻抗的时间。
步骤S21，比较模块206通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内。
步骤S22，当上述获取的两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，参数调整模块207根据该时间之间的差值调整其中一个通道10的Channel Deskew的值，使该两条通道10之间的通道时间差缩小，并返回步骤S20。例如，若第一通道测量到同一预设特性阻抗的时间短，则调整第二通道的Channel Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Channel Deskew的值，使其增大。
步骤S23，当上述获取的两个时间之间的差值在所述允许的时间范围内时，判断模块201判断是否还有其他通道10需要校正。若有，则流程返回步骤S11。否则，若没有需要校正的通道10，则流程进入步骤S24。
在步骤S24中，显示模块208显示校正之后的参数Step Deskew及Channel Deskew的值。

Claims (10)

1.一种时域反射仪校正***，其特征在于，一个待测的时域反射仪的通道通过电缆与一个校正器连接，该***包括：
判断模块，用于判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2；
通道开启模块，用于开启所连接的两条通道，使其处于工作状态；
参数设置模块，用于将所连接的两条通道的参数Step Deskew及Channel Deskew的值归零；
测量模块，用于获取上述连接的两条通道在同一预设的时间点所测量到的最大特性阻抗，以及在将连接上述两条通道与校正器的电缆切断后，获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；
比较模块，用于通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内，以及通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内；
参数调整模块，用于当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的Step Deskew的值，使该两条通道之间的脉冲时间差缩小，以及当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值，使该两条通道之间的通道时间差缩小。
2.如权利要求1所述的时域反射仪校正***，其特征在于，该***还包括：
初始化模块，用于初始化时域反射仪，使其恢复到出厂时的设置。
3.如权利要求1所述的时域反射仪校正***，其特征在于，该***还包括：
提示模块，用于在没有同时连接两条通道的情况下，发出提示信息，以及当上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值在所述允许的特性阻抗范围内时，提示将连接上述两条通道与校正器的电缆切断。
4.如权利要求1所述的时域反射仪校正***，其特征在于，所述参数调整模块调整其中一个通道的Step Deskew值及Channel Deskew值按照如下步骤执行：
当两个通道中的第一通道所测量到的特性阻抗大时，调整第二通道的Step Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Step Deskew的值，使其增大；及
当两个通道中的第一通道测量到同一预设特性阻抗的时间短时，调整第二通道的Channel Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Channel Deskew的值，使其增大。
5.如权利要求1所述的时域反射仪校正***，其特征在于，该***还包括：
显示模块，用于显示校正之后的参数Step Deskew及ChannelDeskew的值。
6.一种时域反射仪校正方法，其特征在于，该方法包括：
(a)将一个校正器通过电缆连接到一个待测的时域反射仪的通道上；
(b)判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2；
(c)在通过电缆连接到校正器上的通道的数目为2的情况下，开启所连接的两条通道，使其处于工作状态；
(d)将所连接的两条通道的参数Step Deskew及Channel Deskew的值归零；
(e)获取上述连接的两条通道在同一预设时间点所测量到的最大特性阻抗；
(f)通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内；
(g)当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的StepDeskew的值，使该两条通道之间的脉冲时间差缩小；
(h)重复步骤(e)至(g)，直至两个最大特性阻抗之间的差值在所述允许的特性阻抗范围内；
(i)将连接上述两条通道与校正器的电缆切断；
(j)获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；
(k)通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内；
(l)当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值，使该两条通道之间的通道时间差缩小；及
(m)重复步骤(j)至(l)，直至两个时间之间的差值在所述允许的时间范围内。
7.如权利要求6所述的时域反射仪校正方法，其特征在于，步骤(a)之前该方法还包括：
初始化时域反射仪，使其恢复到出厂时的设置。
8.如权利要求6所述的时域反射仪校正方法，其特征在于，步骤(b)之后该方法还包括：
在没有同时连接两条通道的情况下，发出提示信息。
9.如权利要求6所述的时域反射仪校正方法，其特征在于，所述调整其中一个通道的Step Deskew值及Channel Deskew值的步骤包括：
当两个通道中的第一通道所测量到的特性阻抗大时，调整第二通道的Step Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Step Deskew的值，使其增大；及
当两个通道中的第一通道测量到同一预设特性阻抗的时间短时，调整第二通道的Channel Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Channel Deskew的值，使其增大。
10.如权利要求6所述的时域反射仪校正方法，其特征在于，步骤(m)之后该方法还包括
显示校正之后的参数Step Deskew及Channel Deskew的值。
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WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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