CN104618930B - 一种多天线测试***校准方法和设备 - Google Patents
一种多天线测试***校准方法和设备 Download PDFInfo
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Abstract
本申请公开了一种多天线测试***校准方法和设备，多天线测试***中的基站的RRU的校准口与多天线测试***中用于连接待校准的终端UE的射频线相连，包括：获取从各下行射频通道传递到校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息，获取从校准口传递到各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，下行信道参数改变信息以及上行信道参数改变信息包括相位和时延，校准序列信号为ZC序列；基于下行信道参数改变信息对各下行射频通道进行校准；基于上行信道参数改变信息对各上行射频通道进行校准；简化了校准步骤，无需改变连线，就能完成所有通道校准，提高了校准的精度。
Description
技术领域
本申请实施例涉及通信技术领域，特别涉及一种多天线测试***校准方法。本申请实施例同时还涉及一种校准设备。
背景技术
移动通信实验室内多天线测试***配置由基站以及核心网、无线信道仿真仪(如图1所示，以C8为例，C8是8输入8输出信道模拟器)、终端、和射频线缆、衰减器以及环形器等连接器件组成。
在现有技术中使用的仪表为矢量网络分析仪，其功能是测量两端口网络的各种参数幅值和相位，属于射频领域的通用仪表，有两个接口Port1和Port2。
目前使用矢量网络分析仪校准方法如下：
以UE1的校准为例，首先进行C8上行相位校准，将UE Ant接Port1口，信号RF接Port2口，其中具体步骤如下：
⑴UE1上行信号线UE1Ant1连接至矢网仪的port1；
⑵上行至耦合器的信号线RF1连接至矢网仪的port2；
⑶设置矢网仪的中心频点，测量带宽，发射S21信号，进行相位测量；
⑷设置矢网仪port1的发射功率，(此功率根据各个厂家使用不同的上行衰减器进行调节，使得上行C8实际输入功率小于-10dbm)；
⑸进行***时延补偿(ElectricalDelay)操作，保存当前通路的相位值，选择“Data&Mem”使Data和Mem同时显示出来；
⑹关闭矢网仪的射频，并连接第二路上行信号线RF2至矢网仪的port2；
⑺调整上行C8输出端口的相位补偿，观察失网相位的变化，使第二路与第一路的相位差趋紧于0；
⑻经过调整后使第二路和第一路接近一致，对其他信号线缆重复步骤6-7直至上行RF8校准完成；
⑼如果上行对UE1有Ant2或有UE2，关闭矢网仪射频，再将第一路上行信号线Ant1连接至矢网仪的port2，并连接UE1的第二路信号线Ant2或UE2的Ant至矢网仪的port1；；
⑽调整上行C8所对应UE1Ant2的输出端口进行相位补偿调整，使之与第一路对齐；
⑾重复步骤9-10，直至所有UE Ant校准完成，关闭矢网仪射频，上行线路相位校准完成。
在完成C8上行相位校准之后进行C8下行相位校准，而C8下行相位校准与上行校准类似，只是将信号Ant接Port1口，UE Ant接Port2口，校准步骤同上行校准。
以上完成UE1的校准；UE2的校准与UE1的校准类似，不再赘述。
然而在现有技术中进行校准时，面临以下问题：由于反复更换射频线缆的连接，造成操作多校准效率低的缺陷，另外校准要人手动调整，边调整边观察；而人为判断结果精度低；校准过程线缆被断开，校准之后再连接回***，这个过程会造成连接松紧程度变化，也会造成***误差加大。
发明内容
本发明的目的在于提供一种多天线测试***校准方法和设备，用以提高校准的精度。
为此，本发明提供了一种多天线测试***校准方法，所述多天线测试***中的基站的RRU的校准口与所述多天线测试***中用于连接待校准的终端UE的射频线相连，所述方法包括：
获取从各下行射频通道传递到所述校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息，以及获取从所述校准口传递到各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，所述下行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从各下行射频通道传递到所述校准口所产生的相位和时延，所述上行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从所述校准口传递到各上行射频通道所产生的相位和时延，所述校准序列信号为ZC序列；
基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准；以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准。
优选的，所述获取从各下行射频通道传递到所述校准口后的校准序列信号的下行信道参数改变信息，具体为：
将所述各下行射频通道的状态设置为发送状态，以及将所述校准口的状态设置为接收状态；
通过所述各下行射频通道发送所述校准序列信号，并通过所述校准口接收所述各下行射频通道发送的校准序列信号；
基于所述校准口接收的各校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述下行信道参数改变信息。
优选的，所述获取从所述校准口传递到所述各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，具体为：
将所述各上行射频通道的状态设置为接收状态，以及将所述校准口的状态设置为发送状态；
通过所述校准口发送所述校准序列信号；并通过所述各上行射频通道接收所述校准口发送的校准序列信号；
基于所述各上行射频通道接收的校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述上行信道参数改变信息。
优选的，所述下行信道参数改变信息为各下行射频通道的信道估计；所述上行信道参数改变信息为各上行射频通道的信道估计；
其中，基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准，以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准，具体为：
基于公式以及公式确定对应射频通道校准系数其中，ka＝1,...,Ka，n＝1,…,Msc，n＝1,...,Msc；
当为各下行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各下行射频通道校准系数，通过所述各下行射频通道校准系数对所述各下行射频通道进行校准；
当为各上行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各上行射频通道校准系数，通过所述各上行射频通道校准系数对所述各上行射频通道进行校准。
本发明还提供了一种校准设备，包括：
第一获取模块，用于获取从各下行射频通道传递到所述校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息；所述下行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从各下行射频通道传递到所述校准口所产生的相位和时延，
第二获取模块，用于获取从所述校准口传递到各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，所述上行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从所述校准口传递到各上行射频通道所产生的相位和时延，所述校准序列信号为ZC序列；
校准模块，用于基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准；以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准。
优选的，所述第一获取模块，具体用于将所述各下行射频通道的状态设置为发送状态，以及将所述校准口的状态设置为接收状态；
通过所述各下行射频通道发送所述校准序列信号，并通过所述校准口接收所述各下行射频通道发送的校准序列信号；
基于所述校准口接收的各校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述下行信道参数改变信息。
优选的，所述第二获取模块，具体用于将所述各上行射频通道的状态设置为接收状态，以及将所述校准口的状态设置为发送状态；
通过所述校准口发送所述校准序列信号；并通过所述各上行射频通道接收所述校准口发送的校准序列信号；
基于所述各上行射频通道接收的校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述上行信道参数改变信息。
优选的，所述下行信道参数改变信息为各下行射频通道的信道估计；所述上行信道参数改变信息为各上行射频通道的信道估计；
所述校准模块，具体用于
基于公式以及公式确定对应射频通道校准系数其中，ka＝1,...,Ka，n＝1,…,Msc，n＝1,...,Msc；
当为各下行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各下行射频通道校准系数，通过所述各下行射频通道校准系数对所述各下行射频通道进行校准；
当为各上行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各上行射频通道校准系数，通过所述各上行射频通道校准系数对所述各上行射频通道进行校准。
与现有技术相比，本发明所提出的技术方案具有以下优点：
获取从各下行射频通道传递到所述校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息，以及获取从所述校准口传递到各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，所述下行信道参数改变信息以及所述上行信道参数改变信息包括相位和时延，所述校准序列信号为ZC序列；基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准；以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准；简化了校准步骤，无需改变连线，，就能完成所有通道校准，同时提高了校准的精度。
附图说明
图1为现有技术中的多天线测试***配置连接示意图；
图2为本申请实施例中的一种天线测试***校准方法的流程示意图；
图3为本申请实施例中的一种多天线测试***校准连接示意图；
图4为本申请实施例中的一种接收校准序列信号示意图；
图5为本申请实施例中的一种发送校准序列信号示意图；
图6为本申请实施例中的一种校准设备的结构示意图。
具体实施方式
针对现有技术存在的上述问题，本发明提出了一多天线测试***校准方法和设备，简化了校准步骤，无需改变连线，，就能完成所有通道校准，同时提高了校准的精度。
为达到以上技术目的，本发明的技术方案利用RRU校准通道，只需要改变一次连线(即将多天线测试***中的基站的RRU的校准口与所述多天线测试***中用于连接待校准的终端UE的射频线相连)，完成测试***所有通道的校准；以下面结合附图2对本发明实施例一进行详细描述。
步骤101，获取从各下行射频通道传递到所述校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息，以及获取从所述校准口传递到所述各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息；所述下行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从各下行射频通道传递到所述校准口所产生的相位和时延，所述上行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从所述校准口传递到各上行射频通道所产生的相位和时延，所述校准序列信号可以为ZC序列；其中，该校准序列信号可以由基站中的基带信号处理单元(BBU)来生成，ZC序列在频域具有高自相关性。
具体的，所述获取从各下行射频通道传递到所述校准口后的校准序列信号的下行信道参数改变信息，具体为：
将所述各下行射频通道的状态设置为发送状态，以及将所述校准口的状态设置为接收状态；通过所述各下行射频通道发送所述校准序列信号，并通过所述校准口接收所述各下行射频通道发送的校准序列信号；基于所述校准口接收的各校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述下行信道参数改变信息。
具体的，是通过各下行射频通道向校准口发送校准序列信号，然后通过对在各下行射频通道发送的下行信道校准序列信号以及在校准口接收到的校准序列信号进行计算，并将计算得到相位以及时延作为所述下行信道参数改变信息。
相应的，所述获取从所述校准口传递到所述各射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，具体为：
将所述各上行射频通道的状态设置为接收状态，以及将所述校准口的状态设置为发送状态；通过所述校准口发送所述校准序列信号；并通过所述各上行射频通道接收所述校准口发送的校准序列信号；基于所述各上行射频通道接收的校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述上行信道参数改变信息。
步骤102，基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准；以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准；
具体的，所述下行信道参数改变信息为各下行射频通道的信道估计；所述上行信道参数改变信息为各上行射频通道的信道估计；
其中，基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准，以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准，具体为：
基于公式以及公式确定对应射频通道校准系数并基于所述射频通道校准系数对所述射频通道进行校准；
其中，ka＝1,...,Ka，n＝1,…,Msc，n＝1,...,Msc。
当为各下行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各下行射频通道校准系数，通过所述各下行射频通道校准系数对所述各下行射频通道进行校准；
当为各上行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各上行射频通道校准系数，通过所述各上行射频通道校准系数对所述各上行射频通道进行校准。
由于各射频通道(包括上行射频通道和下行射频通道)的连线在校准过程和使用过程不会变，从而使得信号的收发双向校准一致，使用一种配置，就能同时校准收和发，并且校准结果可以互相比较，能完全把收发方向调整到一致，提高了测试精度。
具体的，在步骤102之后，也即在基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准；以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准之后，还包括：
断开所述校准口与所述射频线的连接，并建立所述终端与所述射频线的连接。
具体的，在本申请方案刚开始时，要断开待校准的终端的射频线，以便将多天线测试***中的基站的RRU的校准口与多天线测试***中用于连接待校准的终端UE的射频线相连，因此该终端完成校准之后，需要恢复原来的连接，也即断开校准口与射频线的连接，并建立该终端与该射频线的连接；若还有需要进行校准的其他终端，则需要将其他终端的射频线断开，并使校准口与原本连接其他终端的射频线相连，以便开始进行对其他终端的校准过程。
为了进一步对本申请方案进行说明，基于具体的场景，本申请实施例二公开了一种校准方法，如图3所示，基站的射频拉远单元(RRU)有8个射频通道和1个校准通道，其具体步骤如下：
步骤1，基站耦合盘(如图1和图3中Coup)的射频线保持连接，断开终端(如图1中UE1)的射频线；
步骤2、将基站RRU的校准口的射频线与原来连接终端(如图1中UE1)的射频线连接；
步骤3、通过计算机对基站下发校准命令，基站开始进行校准：
其中，基站中的基带信号处理单元(BBU)包括：校准序列生成模块；射频通道和校准通道的收发控制模块；校准系数计算模块；与控制计算机交互的通信模块；
步骤4，开始进行各射频通道(如图3所示，为Coup口经过C8_DownLink再到校准口)的发送校准。
具体的，如图4所示，校准序列生成模块生成频域自相关性较好的ZC序列作为校准序列信号，收发控制模块设置射频通道RF1～RF8为发射状态，校准口设置为接收状态，并逐个通过RF1～RF8射频通道发送校准序列信号，校准通道接收到信号后，校准系数计算模块计算信号的相位、时延；
所述得到的相位、时延即为频域信道估计并基于公式以及公式(其中，ka＝1,...,Ka，n＝1,…,Msc，n＝1,...,Msc)确定所述射频通道校准系数在确定射频通道校准系数之后，可以基于所述射频通道校准系数对该射频通道(如图3所示，为Coup口经过C8_DownLink再到校准口)进行校准。
步骤5，开始进行各射频通道(如图3所示，为校准口经过C8_UpLink再到Coup口)的接收校准。
具体的，各射频通道的接收校准如图5所示，校准序列生成模块生成频域自相关性较好的ZC序列作为校准序列信号，收发控制模块设置射频通道RF1～RF8为接收状态，设置校准口为发送状态，校准口发送校准序列信号，RF1～RF8通道接收校准序列信号，射频通道RF1～RF8接收到信号后，校准系数计算模块计算信号的相位、时延。
所述得到的相位、时延即为频域信道估计并基于公式以及公式(其中，ka＝1,...,Ka，n＝1,…,Msc，n＝1,...,Msc)确定所述射频通道校准系数在确定射频通道校准系数之后，可以基于所述射频通道校准系数对该射频通道(如图3所示，为校准口经过C8_UpLink再到Coup口)进行校准。
具体的，接受校准与前述的发送校准类似，所用的公式是一样的。
另外，在对UE1进行校准完成之后，将UE1的射频线连接恢复到如图1所示的状态；若还有别的设备，如UE2需要进行校准，其校准的过程与UE1的校准类似，在此不再赘述。
本申请实施例二中提出的方案，测试步骤简单，使用方便，简化了校准步骤，无需改变连线，另外，由于各射频通道的连线在校准过程和使用过程不会变，各射频通道的结果也会保持不变，使得标准序列信号的收发双向校准一致，是使用的同一种配置，并能同时校准收和发且校准结果可以互相比较，从而提高了校准精度。
本申请实施例三还公开了一种校准设备，如图6所示，包括：
第一获取模块601，用于获取从各下行射频通道传递到所述校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息，所述下行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从各下行射频通道传递到所述校准口所产生的相位和时延；
第二获取模块602，用于获取从所述校准口传递到所述各下行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，所述上行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从所述校准口传递到各上行射频通道所产生的相位和时延，所述校准序列信号为ZC序列；
校准模块603，用于基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准；以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准。
具体的，所述第一获取模块601，具体用于将所述各下行射频通道的状态设置为发送状态，以及将所述校准口的状态设置为接收状态；
通过所述各下行射频通道发送所述校准序列信号，并通过所述校准口接收所述各下行射频通道发送的校准序列信号；
基于所述校准口接收的各校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述下行信道参数改变信息。
所述第二获取模块602，具体用于将所述各上行射频通道的状态设置为接收状态，以及将所述校准口的状态设置为发送状态；
通过所述校准口发送所述校准序列信号；并通过所述各上行射频通道接收所述校准口发送的校准序列信号；
基于所述各上行射频通道接收的校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述上行信道参数改变信息。
校准模块603，具体用于：
基于公式以及公式确定对应射频通道校准系数其中，ka＝1,...,Ka，n＝1,…,Msc，n＝1,...,Msc；所述下行信道参数改变信息为各下行射频通道的信道估计；所述上行信道参数改变信息为各上行射频通道的信道估计；
当为各下行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各下行射频通道校准系数，通过所述各下行射频通道校准系数对所述各下行射频通道进行校准；
当为各上行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各上行射频通道校准系数，通过所述各上行射频通道校准系数对所述各上行射频通道进行校准。
具体的，所述校准设备还包括：建立模块，用于断开所述校准口与所述射频线的连接，并建立所述终端与所述射频线的连接。
与现有技术相比，本发明所提出的技术方案具有以下优点：
获取从各下行射频通道传递到所述校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息，以及获取从所述校准口传递到各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，所述下行信道参数改变信息以及所述上行信道参数改变信息包括相位和时延，所述校准序列信号为ZC序列；基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准；以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准；简化了校准步骤，无需改变连线，，就能完成所有通道校准，同时提高了校准的精度。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可以通过硬件实现，也可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施场景所述的方法。
本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本申请所必须的。
本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。
上述本申请序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。
以上公开的仅为本申请的几个具体实施场景，但是，本申请并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本申请的保护范围。
Claims (8)
1.一种多天线测试***校准方法，其特征在于，所述多天线测试***中的基站的RRU的校准口与所述多天线测试***中用于连接待校准的终端UE的射频线相连，所述方法包括：
获取从各下行射频通道传递到所述校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息，以及获取从所述校准口传递到各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，所述下行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从各下行射频通道传递到所述校准口所产生的相位和时延，所述上行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从所述校准口传递到各上行射频通道所产生的相位和时延；
基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准，以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取从各下行射频通道传递到所述校准口后的校准序列信号的下行信道参数改变信息，具体为：
将所述各下行射频通道的状态设置为发送状态，以及将所述校准口的状态设置为接收状态；
通过所述各下行射频通道发送所述校准序列信号，并通过所述校准口接收所述各下行射频通道发送的校准序列信号；
基于所述校准口接收的各校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述下行信道参数改变信息。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取从所述校准口传递到所述各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，具体为：
将所述各上行射频通道的状态设置为接收状态，以及将所述校准口的状态设置为发送状态；
通过所述校准口发送所述校准序列信号；并通过所述各上行射频通道接收所述校准口发送的校准序列信号；
基于所述各上行射频通道接收的校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述上行信道参数改变信息。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述下行信道参数改变信息为各下行射频通道的信道估计；所述上行信道参数改变信息为各上行射频通道的信道估计；
其中，基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准，以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准，具体为：
基于公式
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</mrow>
确定对应射频通
道校准系数其中，ka＝1,...,Ka，n＝1,…,Msc，n＝1,...,Msc；
当为各下行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各下行射频通道校准系数，通过所述各下行射频通道校准系数对所述各下行射频通道进行校准；
当为各上行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各上行射频通道校准系数，通过所述各上行射频通道校准系数对所述各上行射频通道进行校准。
5.一种校准设备，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于获取从各下行射频通道传递到所述校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息，所述下行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从各下行射频通道传递到所述校准口所产生的相位和时延；
第二获取模块，用于获取从所述校准口传递到各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，所述上行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从所述校准口传递到各上行射频通道所产生的相位和时延，所述校准序列信号为ZC序列；
校准模块，用于基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准；以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准。
6.如权利要求5所述的设备，其特征在于，
所述第一获取模块，具体用于将所述各下行射频通道的状态设置为发送状态，以及将所述校准口的状态设置为接收状态；
通过所述各下行射频通道发送所述校准序列信号，并通过所述校准口接收所述各下行射频通道发送的校准序列信号；
基于所述校准口接收的各校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述下行信道参数改变信息。
7.如权利要求5所述的设备，其特征在于，
所述第二获取模块，具体用于将所述各上行射频通道的状态设置为接收状态，以及将所述校准口的状态设置为发送状态；
通过所述校准口发送所述校准序列信号；并通过所述各上行射频通道接收所述校准口发送的校准序列信号；
基于所述各上行射频通道接收的校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述上行信道参数改变信息。
8.如权利要求5所述的设备，其特征在于，
所述下行信道参数改变信息为各下行射频通道的信道估计；所述上行信道参数改变信息为各上行射频通道的信道估计；
所述校准模块，具体用于
基于公式
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以及公式
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</mrow>
确定对应射频
通道校准系数其中，ka＝1,...,Ka，n＝1,…,Msc，n＝1,...,Msc；
当为各下行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各下行射频通道校准系数，通过所述各下行射频通道校准系数对所述各下行射频通道进行校准；
当为各上行射频通道的信道估计时，确定的对应射频通道校准系数为各上行射频通道校准系数，通过所述各上行射频通道校准系数对所述各上行射频通道进行校准。
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