CN102021657A - 重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺 - Google Patents

重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺 Download PDF

Info

Publication number
CN102021657A
CN102021657A CN2010105812445A CN201010581244A CN102021657A CN 102021657 A CN102021657 A CN 102021657A CN 2010105812445 A CN2010105812445 A CN 2010105812445A CN 201010581244 A CN201010581244 A CN 201010581244A CN 102021657 A CN102021657 A CN 102021657A
Authority
CN
China
Prior art keywords
corrosion
acid
monocrystalline silicon
heavily doped
percent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2010105812445A
Other languages
English (en)
Inventor
罗翀
李翔
吕莹
刘琦
王丹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tianjin Zhonghuan Semiconductor Joint Stock Co Ltd
Tianjin Zhonghuan Advanced Material Technology Co Ltd
Original Assignee
Tianjin Zhonghuan Semiconductor Joint Stock Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tianjin Zhonghuan Semiconductor Joint Stock Co Ltd filed Critical Tianjin Zhonghuan Semiconductor Joint Stock Co Ltd
Priority to CN2010105812445A priority Critical patent/CN102021657A/zh
Publication of CN102021657A publication Critical patent/CN102021657A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Weting (AREA)

Abstract

本发明涉及重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺。本腐蚀工艺将单晶硅片先用氢氟酸10%~20%、硝酸30%~35%、醋酸50%~60%配比的酸腐蚀液进行酸腐蚀,腐蚀温度22℃,腐蚀时间32s,酸腐蚀去除量为20μm左右;将酸腐蚀后的单晶硅片进行清洗,溢流水洗5min,然后甩干;再用浓度为30%的KOH水溶液进行碱腐蚀,腐蚀温度90℃,腐蚀时间2min8s,碱腐蚀去除量10μm左右。采用本工艺,可以稳定量产TTV增加值小于1.5μm,粗糙度Ra小于0.5μm的重掺腐蚀单晶硅片,产品合格率高达98%以上。从而可满足市场对低粗糙度重掺腐蚀片的需求,并将在市场中占据有利位置。

Description

重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺
技术领域
本发明涉及单晶硅片生产方法,特别涉及一种重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺。
背景技术
硅抛光片主要加工流程包括单晶生长→滚磨→切片→倒角→研磨→腐蚀→抛光→清洗→包装等。其中腐蚀是重要的生产工序,它的作用是除去硅单晶硅片经过切片、研磨等机械加工后,其表面因机械加工产生的应力而形成有一定深度的机械应力损伤层。通常的方法是采用一定浓度和一定温度下的酸腐蚀液或碱腐蚀液与单晶硅片发生化学反应,从而达到去除损伤层的目的。碱腐蚀的工艺的原理是:Si+2OH-+4H2O=Si(OH)6 -2+2H2,这是一种各向异性腐蚀过程,腐蚀后硅片表面平坦;而且由于碱腐蚀具有工艺简单,腐蚀液无需搅拌、腐蚀速率可控;环保处理相对较容易、无毒、废液可以回收利用等优点,目前国内抛光片生产厂商使用在此道工序多选用碱腐蚀的工艺。常用的碱腐蚀液主要有两类,一类是无机碱腐蚀剂,如氢氧化钾溶液,一类是有机碱腐蚀剂,如EPW(乙二胺、邻苯二酸和水的缩写)等。其中由于氢氧化钾溶液工艺比较成熟,腐蚀液成本较低,腐蚀速率又较快的优点,被国内抛光片生产厂商普遍采用。
但遗憾的是,常规碱腐蚀的工艺也存在着局限性,比如其腐蚀速率较慢,可能会在表面残留金属离子等,特别是其腐蚀后的单晶硅片表面粗糙,容易吸附杂质会严重影响寿命等参数指标。另外,随着半导体技术的发展,特别是大尺寸(指6英寸以上)单晶硅片在集成电路中的应用,对单晶硅片表面平整度及加工精度也提出了更高的要求。
发明内容
本发明的目的是针对上述存在问题,提供一种重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺。本工艺针对重掺单晶硅片,采取先进行酸腐蚀再进行碱腐蚀的方法,利用酸腐蚀工艺腐蚀,去除量达20μm,再利用碱腐蚀的工艺腐蚀,去除量达10μm,可以稳定生产出TTV增加值小于1μm,粗糙度Ra小于0.5μm的重掺单晶硅腐蚀片。
本发明采取的的技术方案是:一种重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺,其特征在于:其工艺如下:
1)、先将重掺单晶硅片放入酸腐蚀液中进行酸腐蚀,酸腐蚀液是由氢氟酸、硝酸、醋酸进行混合的溶液,各组分所占的重量百分比为:氢氟酸 10%~20%;硝酸   30%~35%;醋酸50%~60%;设定腐蚀温度22℃;腐蚀时间为32s; 
2)、将酸腐蚀后的单晶硅片放入超声清洗机内进行清洗,溢流水洗5min,再放入甩干机中甩干;
3)、将甩干后的单晶硅片放入浓度为30%的氢氧化钾水溶液中进行碱腐蚀,腐蚀温度为90℃,腐蚀时间为2min 8s。
本发明所产生的有益效果:采取本工艺,可以稳定生产出TTV增加值小于1μm,粗糙度Ra小于0.5μm的重掺腐蚀单晶硅片,产品合格率高达98%以上。从而可满足市场对低粗糙度重掺腐蚀片的需求,并将在市场中占据有利位置。
具体实施方式
    以下结合实例对本发明作进一步说明:
实施例:6英寸重掺单晶硅片,电阻率为0.002~0.005Ω.㎝,腐蚀前硅片TTV<1,去除量要求去除60um/双面。具体腐蚀工艺步骤如下:
1)将清洗过的待腐蚀单晶硅片从片篮中放入酸腐蚀机中;
2)选择酸腐蚀液比例为氢氟酸:硝酸:醋酸=15%:32%:53%进行加工;设置腐蚀温度为22℃;腐蚀时间为32s;
3) 启动酸腐蚀机,开始腐蚀;酸腐蚀去除量为20μm左右;
4) 酸腐蚀结束后,将酸腐蚀后的单晶硅片从酸腐蚀机中取出;将装有单晶硅片的片篮放入超声清洗机内进行清洗,溢流水洗5min,放入甩干机中甩干;
5) 配置碱腐蚀液,先将固体氢氧化钾倒入碱腐蚀槽内,再向槽内注入纯水,调制成固体氢氧化钾:水=30%:70%的水溶液; 
6) 将碱腐蚀机升温至90℃; 
7) 将待加工硅片放入碱腐蚀机中,开始碱腐蚀;腐蚀时间为2min 8s;碱腐蚀去除量为10μm左右;
8) 碱腐蚀结束后,取出硅片,放入水车中;将碱腐蚀后的单晶硅片用清洗机设备进行清洗,之后甩干,送验。
技术效果检测:采用上述酸腐蚀加碱腐蚀的工艺生产6英寸重掺单晶硅片1637片。以腐蚀后单晶硅片TTV<2,粗糙度小于0.5μm的检验标准进行检验,合格1608片,合格率为98.23%。
该检测结果表明:本腐蚀工艺通过采取先酸腐蚀再碱腐蚀的方法腐蚀单晶硅片,能有效改善表面粗糙度;该发明能实现低粗糙度重掺腐蚀片的量产。

Claims (1)

1.一种重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺,其特征在于:其工艺如下:
(1)、先将重掺单晶硅片放入酸腐蚀液中进行酸腐蚀,酸腐蚀液是由氢氟酸、硝酸、醋酸进行混合的溶液,各组分所占的重量百分比为:氢氟酸 10%~20%;硝酸   30%~35%;醋酸50%~60%;设定腐蚀温度22℃;腐蚀时间为32s; 
(2)、将酸腐蚀后的单晶硅片放入超声清洗机内进行清洗,溢流水洗5min,再放入甩干机中甩干;
(3)、将甩干后的单晶硅片放入浓度为30%的氢氧化钾水溶液中进行碱腐蚀,腐蚀温度为90℃,腐蚀时间为2min 8s。
CN2010105812445A 2010-12-10 2010-12-10 重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺 Pending CN102021657A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010105812445A CN102021657A (zh) 2010-12-10 2010-12-10 重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010105812445A CN102021657A (zh) 2010-12-10 2010-12-10 重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102021657A true CN102021657A (zh) 2011-04-20

Family

ID=43863421

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010105812445A Pending CN102021657A (zh) 2010-12-10 2010-12-10 重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102021657A (zh)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102324386A (zh) * 2011-09-15 2012-01-18 宜兴市环洲微电子有限公司 一种平面型固体放电管芯片制造工艺用硅片制备方法
CN102569036A (zh) * 2012-03-09 2012-07-11 常州银河半导体有限公司 硅片的清洗工艺
CN103382578A (zh) * 2012-05-03 2013-11-06 吉林庆达新能源电力股份有限公司 单晶硅片表面的处理方法
CN103603055A (zh) * 2013-11-25 2014-02-26 英利能源(中国)有限公司 单晶硅片的抛光方法、太阳能电池片及其制作方法
CN103643303A (zh) * 2013-12-05 2014-03-19 天津中环领先材料技术有限公司 一种单晶硅酸腐蚀片的加工方法
CN109560023A (zh) * 2018-10-26 2019-04-02 北京亦盛精密半导体有限公司 一种清洗单晶硅片的混酸及其清洗方法
CN111128714A (zh) * 2019-12-31 2020-05-08 杭州中欣晶圆半导体股份有限公司 降低重掺硼色斑的酸腐蚀工艺
CN113793799A (zh) * 2021-07-09 2021-12-14 麦斯克电子材料股份有限公司 一种重掺砷硅片酸腐蚀后表面雾缺陷的清洗方法
CN116403894A (zh) * 2023-05-10 2023-07-07 重庆臻宝科技股份有限公司 一种用于单晶硅的碱性蚀刻方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102324386A (zh) * 2011-09-15 2012-01-18 宜兴市环洲微电子有限公司 一种平面型固体放电管芯片制造工艺用硅片制备方法
CN102569036A (zh) * 2012-03-09 2012-07-11 常州银河半导体有限公司 硅片的清洗工艺
CN103382578A (zh) * 2012-05-03 2013-11-06 吉林庆达新能源电力股份有限公司 单晶硅片表面的处理方法
CN103603055A (zh) * 2013-11-25 2014-02-26 英利能源(中国)有限公司 单晶硅片的抛光方法、太阳能电池片及其制作方法
CN103603055B (zh) * 2013-11-25 2016-03-23 英利能源(中国)有限公司 单晶硅片的抛光方法、太阳能电池片及其制作方法
CN103643303A (zh) * 2013-12-05 2014-03-19 天津中环领先材料技术有限公司 一种单晶硅酸腐蚀片的加工方法
CN109560023A (zh) * 2018-10-26 2019-04-02 北京亦盛精密半导体有限公司 一种清洗单晶硅片的混酸及其清洗方法
CN111128714A (zh) * 2019-12-31 2020-05-08 杭州中欣晶圆半导体股份有限公司 降低重掺硼色斑的酸腐蚀工艺
CN111128714B (zh) * 2019-12-31 2022-06-03 杭州中欣晶圆半导体股份有限公司 降低重掺硼色斑的酸腐蚀工艺
CN113793799A (zh) * 2021-07-09 2021-12-14 麦斯克电子材料股份有限公司 一种重掺砷硅片酸腐蚀后表面雾缺陷的清洗方法
CN113793799B (zh) * 2021-07-09 2022-07-01 麦斯克电子材料股份有限公司 一种重掺砷硅片酸腐蚀后表面雾缺陷的清洗方法
CN116403894A (zh) * 2023-05-10 2023-07-07 重庆臻宝科技股份有限公司 一种用于单晶硅的碱性蚀刻方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102021657A (zh) 重掺单晶硅片先酸腐蚀后碱腐蚀的腐蚀工艺
CN102021658A (zh) 重掺单晶硅片先碱腐蚀后酸腐蚀的腐蚀工艺
CN101700520B (zh) 单晶/多晶硅片的清洗方法
CN103464415B (zh) 太阳能单晶硅片清洗液及清洗方法
CN103087850B (zh) 一种单晶硅片预清洗液及其清洗方法
WO2012045216A1 (zh) 一种晶体硅rie制绒的表面损伤层清洗工艺
CN101590476A (zh) 一种单晶硅片的清洗方法
CN107338126A (zh) 一种水基微电子剥离和清洗液组合物
CN102433563A (zh) 一种igbt用8英寸单晶硅片的酸腐蚀工艺
CN111105995B (zh) 一种单晶硅片的清洗及制绒方法
CN114308814B (zh) 一种清洗石墨舟的方法
CN102021659A (zh) 8英寸轻掺单晶硅片的酸腐蚀工艺
CN105887206A (zh) 单晶硅线切割碎片清洗处理方法
CN110575995A (zh) 一种用于清洗太阳能单晶硅片的清洗工艺
WO2012009940A1 (zh) 极大规模集成电路钨插塞cmp后表面洁净方法
CN103303858B (zh) 采用koh溶液的硅基mems器件湿法释放方法
CN103633202A (zh) 蓝宝石基板的再生方法
CN106733876B (zh) 一种金刚线切割的晶体硅片的清洗方法
CN103681239B (zh) 一种清洗单晶硅片表面的方法
CN101498055A (zh) 一种太阳能级单晶硅棒的抛光处理方法
CN104028503B (zh) 硅原材料的清洗方法
CN105655248B (zh) 一种非抛光单晶硅基器件光刻对准标记的碱腐蚀加工方法
CN103042009B (zh) 一种多晶硅料生产还原炉用电极保护罩的清洗方法
CN107723802A (zh) 一种磷化铟单晶片的腐蚀方法
CN104359431A (zh) 一种铝硅合金中原位观察硅相三维形貌的方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Open date: 20110420