CN101969059B - 显示面板的阵列基板与显示面板的测试方法及显示方法 - Google Patents

Abstract

一种显示面板的阵列基板与显示面板的测试方法及显示方法，所述显示面板的阵列基板包括一基板、一第一数据线与至少一第二数据线、一第一显示数据输入垫与至少一第二显示数据输入垫、一第一开关元件与至少一第二开关元件、一测试线以及至少一旁通线。第一开关元件的一输出端与第一数据线电性连接，第二开关元件的一输出端与第二数据线电性连接，第一开关元件的一输入端与第二开关元件的一输入端均与第一显示数据输入垫电性连接。测试线与第一显示数据输入垫电性连接。旁通线分别电性连接第二显示数据输入垫与第二数据线。本发明可减少阵列基板的制作成本与测试时间。

Description

显示面板的阵列基板与显示面板的测试方法及显示方法

技术领域

本发明涉及一种显示面板的阵列基板，以及显示面板的测试方法及显示方法，尤指一种可使用少量测试信号输入垫进行测试的显示面板及其测试方法及显示方法。

背景技术

显示面板，例如液晶显示面板主要是由阵列基板(array substrate)、彩色滤光片基板(CF substrate)、以及填充于两基板之间的液晶分子所组成，其中阵列基板上设有多个呈阵列状排列的次像素区，每个次像素区包含栅极线、数据线、共通线与薄膜晶体管等元件。随着液晶显示器的应用日渐普及，消费者对于液晶显示器的解析度与像素开口率的要求也不断向上提升，而为了满足高解析度与高像素开口率的规格，导线的线宽必须缩减，且导线的密度必须提高。在上述情况下，在制作薄膜晶体管基板上的栅极线、数据线或其它导线图案时，缺陷产生的机率也会随之增加。为了确保导线无缺陷存在而可正常传递信号，在阵列基板上的导线制作完成后会进行测试，若测试出阵列基板的导线无缺陷存在，则可进行后续液晶显示面板的组装，而若测试出阵列基板的导线有缺陷存在，且此缺陷可修补，则进行修补，而若此缺陷无法修补，则进行重工或报废阵列基板。

请参考图1。图1示出了公知显示面板的阵列基板的示意图。如图1所示，公知显示面板的阵列基板10包括一基板12、一像素阵列14、多个显示数据输入垫16、一测试阵列18，以及多个测试信号输入垫20。基板12包括一有源区(或称为显示区)12A与一周边区(或称为非显示区或驱动电路区)12P。像素阵列14位于基板12的有源区12A内，像素阵列14包括多条栅极线GL与多条数据线DL，且栅极线GL与数据线DL交叉而共同定义出多个次像素(或称为子像素)，例如红色次像素R、绿色次像素G与蓝色次像素B。显示数据输入垫16位于基板12的周边区12P，其中各显示数据输入垫16与一对应的数据线DL的一端电性连接，且显示数据输入垫16可接收由数据驱动芯片(图未示)所发出的数据信号，并传递给数据线DL以驱动像素阵列14。测试阵列18位于基板12的周边区12P，其中测试阵列18包括多条测试线181、多条控制线182、多个控制信号输入垫183与多个开关元件SW。各测试线181的一端与一对应的显示数据输入垫16电性连接，而每12条测试线181的另一端同时与一对应的测试信号输入垫20电性连接。各控制线182的一端与一控制信号输入垫183电性连接。此外，各开关元件SW分别与一对应的测试线181与一对应的控制线182电性连接。也就是说，各开关元件SW具有第一端(或称为栅极，未标示)、第二端(或称为源极，未标示)以及第三端(或称为漏极，未标示)，其中，各开关元件SW的第一端连接对应的控制线182、各开关元件SW的第二端连接对应的测试线181、以及各开关元件SW的第三端连接对应的显示数据输入垫16。

于进行测试时，测试机台(图未示)会经由控制信号输入垫183输入控制信号以依序控制测试阵列18的开关元件SW的开启，以及经由测试信号输入垫20输入测试信号，以测试像素阵列14的数据线DL是否可正常传递信号。然而，根据公知显示面板的阵列基板的测试架构，一条测试线181对应一条数据线DL，且单一测试信号输入垫20仅能对应12条数据线DL，因此必须布设大量的测试线181与测试信号输入垫20。举例而言，若像素阵列14的数据线DL的数目为1080条，则必须设置1080条测试线181以及90个测试信号输入垫20，如此一来会大幅地增加显示面板的阵列基板的制作成本与测试时间。

发明内容

本发明的目的之一在于提供一种显示面板的阵列基板及其测试方法及显示方法，以减少显示面板的阵列基板的制作成本与测试时间。

本发明的一实施例提供一种显示面板的阵列基板，包括一基板、一像素阵列、多个显示数据输入垫单元、多个选择单元、一测试阵列以及多个旁通单元。基板包括一有源区与一周边区。像素阵列位于基板的有源区内，其中像素阵列包括多个数据线单元，且各数据线单元包括一第一数据线与至少一第二数据线。显示数据输入垫单元位于基板的周边区内，其中各显示数据输入垫单元包括一第一显示数据输入垫与至少一第二显示数据输入垫，用以输入显示数据信号。选择单元设置于基板的周边区内，各选择单元包括一第一开关元件与至少一第二开关元件，各选择单元的第一开关元件的一输出端与各数据线单元的对应的第一数据线电性连接，各选择单元的第二开关元件的一输出端与各数据线单元的对应的第二数据线电性连接，各选择单元的第一开关元件的一输入端与第二开关元件的一输入端均与对应的一显示数据输入垫单元的第一显示数据输入垫电性连接。测试阵列位于基板的周边区内，其中测试阵列包括多个测试单元，各测试单元包括多条测试线用以输入测试信号，各测试单元的各测试线分别与对应的一显示数据输入垫单元的第一显示数据输入垫电性连接。旁通单元位于基板的周边区内，其中各旁通单元包括至少一旁通线，且各旁通单元的旁通线分别电性连接对应的第二显示数据输入垫与对应的第二数据线。

本发明的另一实施例提供一种显示面板的阵列基板，包括一基板、一第一数据线与至少一第二数据线、一第一显示数据输入垫与至少一第二显示数据输入垫、一第一开关元件与至少一第二开关元件、一测试线以及至少一旁通线。基板包括一有源区与一周边区。第一数据线与第二数据线位于基板的有源区内。第一显示数据输入垫与第二显示数据输入垫位于基板的周边区内。第一开关元件与第二开关元件位于基板的周边区内，其中第一开关元件的一输出端与第一数据线电性连接，第二开关元件的一输出端与第二数据线电性连接，第一开关元件的一输入端与第二开关元件的一输入端均与第一显示数据输入垫电性连接。测试线位于基板的周边区内，且测试线与第一显示数据输入垫电性连接。旁通线位于基板的周边区内，且旁通线分别电性连接第二显示数据输入垫与第二数据线。

本发明的又一实施例提供一种显示面板的测试方法，包括下列步骤。提供上述的显示面板的阵列基板。对测试线施加一测试信号，以及依序开启第一开关元件与第二开关元件，以使测试信号依序传递至第一数据线与第二数据线。

本发明的另一实施例提供一种显示面板的显示方法，包括下列步骤。提供上述的显示面板的阵列基板。开启第一开关元件，并对第一显示数据输入垫输入一第一显示数据信号，以使第一显示数据信号经由第一开关元件传递至第一数据线。关闭第二开关元件，并对第二显示数据输入垫输入一第二显示数据信号，以使第二显示数据信号经由旁通线传递至第二数据线。

本发明的显示面板的阵列基板利用选择单元的设置，可于测试模式下使数据线接收由测试机台经由测试线所传递的测试信号，以及于显示模式时使数据线接收由驱动芯片经由显示数据输入垫所传递的显示数据信号，因此可减少阵列基板的制作成本与测试时间。

附图说明

图1示出了公知显示面板的阵列基板的示意图。

图2示出了本发明一优选实施例的显示面板的阵列基板的示意图。

图3示出了图2的显示面板的阵列基板的选择单元的放大示意图。

图4示出了本发明的显示面板的阵列基板于一测试模式下的控制信号时序图。

其中，附图标记说明如下：

10     显示面板的阵列基板            12     基板

12A    有源区                        12P    周边区

14     像素阵列                      16     显示数据输入垫

18     测试阵列                      181    测试线

182    控制线                        18     控制信号输入垫

SW     开关元件                      20     测试信号输入垫

DL     数据线                        30     显示面板的阵列基板

32     基板                          32A    有源区

32P    周边区                        34     像素阵列

36     显示数据输入垫单元            361    第一显示数据输入垫

362    第二显示数据输入垫            38     选择单元

381    第一开关元件                  3811   输出端

3812   输入端                        3813   控制端

382    第二开关元件                  3821   输出端

3822   输入端                        3823   控制端

391    第一控制信号输入垫            392    第二控制信号输入垫

40     测试阵列              40U    测试单元

401    测试线                403    第三控制线

402    测试信号输入垫        40S    开关元件

40P    第三控制信号输入垫    42     旁通单元

421    旁通线                DLU    数据线单元

DL1    第一数据线            DL2    第二数据线

GL     栅极线                R      红色次像素

G      绿色次像素            B      蓝色次像素

CL1    第一控制线            CL2    第二控制线

DC1    第一信号源            DC2    第二信号源

ENB    关闭致能开关元件

具体实施方式

为使本领域普通技术人员能更进一步了解本发明，下文特列举本发明的优选实施例，并配合附图，详细说明本发明的构成内容及所欲达成的功效。

请参考图2与图3。图2示出了本发明一优选实施例的显示面板的阵列基板的示意图，图3示出了图2的显示面板的阵列基板的选择单元的放大示意图。在本实施例中，显示面板例如可为一低温多晶硅液晶显示面板，但不以此为限。如图2所示，本实施例的显示面板的阵列基板30包括一基板32、一像素阵列34、多个显示数据输入垫单元36、多个选择单元38、一测试阵列40，以及多个旁通单元42。基板32包括一有源区(或称为显示区)32A与一周边区(或称为非显示区或驱动电路区)32P。像素阵列34位于基板32的有源区32A内，其中像素阵列34包括多条栅极线GL与多个数据线单元DLU，其中各数据线单元DLU包括一第一数据线DL1与至少一第二数据线DL2，且栅极线GL与各数据线单元DLU的第一数据线DL1与第二数据线DL2交叉而共同定义出多个次像素。在本实施例中，单一像素包括三个不同颜色的次像素，例如红色次像素R、绿色次像素G与蓝色次像素B，但不以此为限。单一像素也可包括二或三个以上，例如：四个、五个、六个等等的次像素。在本实施例中，各数据线单元DLU包括一第一数据线DL1与两条第二数据线DL2，但不以此为限。显示数据输入垫单元36位于基板32的周边区32P内，其中各显示数据输入垫单元36包括一第一显示数据输入垫361与至少一第二显示数据输入垫362。第一显示数据输入垫361与第二显示数据输入垫362用以输入显示数据信号，因此其数目与数据线的数目对应。举例而言，在本实施例中，各数据线单元DLU包括一第一数据线DL1与两条第二数据线DL2，因此各显示数据输入垫单元36包括一第一显示数据输入垫361与两个第二显示数据输入垫362为范例，但不限于此。

于其它实施例中，各数据线单元DLU可包括一第一数据线DL1与一第二数据线DL2、或者是两条第一数据线DL1与一第二数据线DL2、或者是两条第一数据线DL1与两条第二数据线DL2等等设计方式。

如图2与图3所示，选择单元38设置于基板32的周边区32P内。精确地说，选择单元38位于像素阵列34与显示数据输入垫单元36之间并与像素阵列34与显示数据输入垫单元36电性连接。各选择单元38包括一第一开关元件381与至少一第二开关元件382。各选择单元38的第一开关元件381的一输出端(或称为漏极)3811与各数据线单元DLU的对应的第一数据线DL1电性连接，各选择单元38的第二开关元件382的一输出端(或称为漏极)3821与各数据线单元DLU的对应的第二数据线DL2电性连接。各选择单元38的第一开关元件381的一输入端(或称为源极)3812与第二开关元件382的一输入端(或称为源极)3822均与对应的一显示数据输入垫单元36的第一显示数据输入垫361电性连接。另外，显示面板的阵列基板30可另包括一第一控制线CL1、至少一第二控制线CL2、一第一控制信号输入垫391、至少一第二控制信号输入垫392、一致能开关元件ENB、一第一信号源DC1以及至少一第二信号源DC2。第一控制线CL1的一端分别与各选择单元38的第一开关元件381的一控制端3813(或称为栅极)电性连接，且第一控制线CL1的另一端与一第一控制信号输入垫391电性连接，而第二控制线CL2的一端分别与各选择单元38的第二开关元件382的一控制端3823(或称为栅极)电性连接，且第二控制线CL2的另一端可与一第二控制信号输入垫392电性连接。第一开关元件381的数目与第一数据线DL1的数目对应，且第二开关元件382的数目与第二数据线DL2的数目对应。举例而言，在本实施例中，各选择单元38具有一第一开关元件381与两个第二开关元件382，但不以此为限。第一开关元件381、第二开关元件382与致能开关元件ENB可为例如薄膜晶体管元件，且薄膜晶体管元件可为P型薄膜晶体管元件或N型薄膜晶体管元件，但不以此为限。举例而言，第一开关元件381、第二开关元件382与致能开关元件ENB也可为金属氧化物半导体晶体管元件或其它各种型式的开关元件。再者，由于第一控制线CL1与第二控制线CL2分别用来控制所有选择单元38的第一开关元件381与第二开关元件382的开启，因此第一控制线CL1的数目与第一开关元件381的数目对应，且第二控制线CL2的数目与第二开关元件382的数目对应。举例而言，在本实施例中，显示面板的阵列基板30具有一第一控制线CL1与两条第二控制线CL2。于其它实施例，各选择单元38可具有一第一开关元件381与一第二开关元件382，则显示面板的阵列基板30具有一第一控制线CL1与一第二控制线CL2、或者是各选择单元38可具有两个第二开关元件381与一第二开关元件382，则显示面板的阵列基板30具有两条第一控制线CL1与一第二控制线CL2。

如图2所示，测试阵列40位于基板32的周边区32P内，其中测试阵列40包括多个测试单元40U，各测试单元40U包括多条测试线401用以输入测试信号，且各测试单元40U的各测试线401分别与对应的一显示数据输入垫单元36的第一显示数据输入垫361电性连接。此外，测试阵列40另包括多条第三控制线403、多个开关元件40S、多个测试信号输入垫402与多个第三控制信号输入垫40P，其中各开关元件40S分别与对应的一测试线401与对应的一第三控制线403电性连接，各测试信号输入垫402与各测试单元40U的测试线401的一端电性连接，且第三控制信号输入垫40P则分别与对应的第三控制线403电性连接。也就是说，各开关元件40S的第一端(或称为栅极)连接至对应的第三控制线403、各开关元件40S的第二端(或称为源极)连接至对应的测试线401、以及各开关元件40S的第三端(或称为漏极)连接至对应的第一显示数据输入垫361。各测试单元40U的测试线401的数目，与第三控制线403的数目以及第三控制信号输入垫40P的数目为相匹配。举例而言，在本实施例中，各测试单元40U分别具有12条测试线401，且测试阵列40也具有12条第三控制线403以及12个第三控制信号输入垫40P，但并不以此为限。本发明的所有测试单元40U的测试线401的总数与所有数据线单元DLU的第一数据线DL1与第二数据线DL2的总数之比为1∶N，其中N为大于等于3的正整数。举例而言，在本实施例中，由于各数据线DLU包括一第一数据线DL1与两条第二数据线DL2，因此测试线401的总数与第一数据线DL1与第二数据线DL2的总数之比为1∶3，但本发明的应用并不以此为限。例如，依据像素设计的不同，例如各像素由四个或五个或六个不同颜色的次像素组成时，测试线401的总数与第一数据线DL1与第二数据线DL2的总数之比也可为1∶4、1∶5或1∶6。再者，依据测试机制的不同，测试线401的总数与第一数据线DL1与第二数据线DL2的总数之比也可作适当变更，而不以上述比例为限。此外，开关元件40S可为例如薄膜晶体管元件，且薄膜晶体管元件可为P型薄膜晶体管元件或N型薄膜晶体管元件，但不以此为限。举例而言，开关元件40S也可为金属氧化物半导体晶体管元件或其它各种型式的开关元件。

另外，旁通单元42位于基板32的周边区32P内，其中各旁通单元42包括至少一旁通线421，且各旁通单元42的旁通线421的一端电性连接至对应的第二显示数据输入垫362，且旁通线421的另一端电性连接至对应的第二数据线DL2。也就是说，旁通线421的另一端不经过/不经由选择单元38，而可电性连接至对应的第二数据线DL2以及对应的第二开关元件382。在本实施例中，各旁通单元42包括两条旁通线421，且各旁通线421的一端分别与各显示数据输入垫单元36的两个第二显示数据输入垫362电性连接。

以下针对本发明的显示面板的阵列基板的测试方法与显示方法分别进行详述，其中在一测试模式下，驱动芯片并未连接于显示数据输入垫单元36上，而在一显示模式下，驱动芯片(图未示)已连接于显示数据输入垫单元36上。

请参考图4，并一并参考图2与图3。图4示出了本发明的显示面板的阵列基板于一测试模式下的控制信号时序图。本发明的一优选实施例的显示面板的阵列基板的测试方法包括下列步骤。于测试模式下，关闭致能开关元件ENB，借此使第一控制线CL1与两条第二控制线CL2未与第一信号源DC1以及第二信号源DC2电性连接。此时，测试机台(图未示)会通过第一控制信号输入垫391与两个第二控制信号输入垫392依序输入的第一控制信号CK1、第二控制信号CK2，CK3，借此依序开启各选择单元38的第一开关元件381与两个第二开关元件382。另外，测试机台也会通过第三控制信号输入垫40P依序输入具有不同时序的第三控制信号CTP1，CTP2...，，而依序开启测试阵列40的多个开关元件40S；同时，测试机台还会通过测试信号输入垫402输入测试信号V_TEST，由于开关元件40S会依序开启，因此测试信号V_TEST可依序经由不同的测试线401传递至各显示数据输入垫单元36的第一显示数据输入垫361，而由于各选择单元38的第一开关元件381与第二开关元件382会依序开启，因此测试信号V_TEST可依序传送至第一数据线DL1与第二数据线DL2。

通过选择单元38的设置，本发明可使用较少量的测试信号输入垫40P与测试线401进行测试而可有效降低测试成本与时间。举例而言，若数据线的数目为1080条，则本实施例在测试线401的总数与第一数据线DL1与第二数据线DL2的总数之比为1∶3的架构下，仅需设置360条测试线401与30个测试信号输入垫402。

当显示面板的阵列基板30于进行测试后确认无缺陷存在时，则可将驱动芯片(图未示)连接在显示数据输入垫单元36上并进行后续彩色滤光片基板(图未示)的组装以及液晶层(图未示)的填充以制作出显示面板。本发明的一优选实施例的显示面板的阵列基板的显示方法包括下列步骤。于显示模式下，开启各选择单元38的第一开关元件381而使各数据线单元DLU的第一数据线DL1接收到驱动芯片经由第一显示数据输入垫361所传递的显示数据信号，以及关闭第二开关元件382而使得驱动芯片所发出的显示数据信号无法通过第二开关元件382，而会通过对应的旁通单元42的旁通线421传送至各数据线单元DLU的第二数据线DL2。在本实施例中，于显示模式下，第一开关元件381的开启与第二开关元件382的关闭利用下列方式达成。将致能开关元件ENB开启，而第一信号源DC1会提供一第一信号开启第一开关元件381，且第二信号源DC2会提供一第二信号关闭第二开关元件382。在本实施例中，例如在第一开关元件381与第二开关元件382使用P型薄膜晶体管元件的状况下，第一信号源DC1与第二信号源DC2优选可分别使用显示面板的栅极低电压与栅极高电压来控制第一开关元件381的开启与第二开关元件382的关闭，或是例如在第一开关元件381与第二开关元件382使用N型薄膜晶体管元件的状况下，第一信号源DC1与第二信号源DC2优选可分别使用显示面板的栅极高电压与栅极低电压来控制第一开关元件381的开启与第二开关元件382的关闭，因此不需额外设置其它信号源而可节省成本。

综上所述，本发明的显示面板的阵列基板利用选择单元的设置，可于测试模式下使数据线接收由测试机台经由测试线所传递的测试信号，以及于显示模式时使数据线接收由驱动芯片经由显示数据输入垫所传递的显示数据信号，因此可减少阵列基板的制作成本与测试时间。

以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (15)

1.一种显示面板的阵列基板，包括：

一基板，包括一有源区与一周边区；

一像素阵列，位于该基板的该有源区内，其中该像素阵列包括多个数据线单元，各所述数据线单元包括一第一数据线与至少一第二数据线；

多个显示数据输入垫单元，位于该基板的该周边区内，其中各所述显示数据输入垫单元包括一第一显示数据输入垫与至少一第二显示数据输入垫，用以输入显示数据信号；

多个选择单元，设置于该基板的该周边区内，各所述选择单元包括一第一开关元件与至少一第二开关元件，各所述选择单元的该第一开关元件的一输出端与各所述数据线单元的对应的该第一数据线电性连接，各所述选择单元的该至少一第二开关元件的一输出端与各所述数据线单元的对应的该第二数据线电性连接，各所述选择单元的该第一开关元件的一输入端与该至少一第二开关元件的一输入端均与对应的一显示数据输入垫单元的该第一显示数据输入垫电性连接；

一测试阵列，位于该基板的该周边区内，其中该测试阵列包括多个测试单元，各所述测试单元包括多条测试线用以输入测试信号，各所述测试单元的各所述测试线分别与对应的一显示数据输入垫单元的该第一显示数据输入垫电性连接；以及

多个旁通单元，位于该基板的该周边区内，其中各所述旁通单元包括至少一旁通线，且各所述旁通单元的所述至少一旁通线分别电性连接对应的该至少一第二显示数据输入垫与对应的一第二数据线。

2.如权利要求1所述的显示面板的阵列基板，其中于一测试模式下，各所述选择单元的该第一开关元件与该至少一第二开关元件为依序开启而使各所述数据线单元的该第一数据线与该至少一第二数据线依序接收到由对应的一测试线所传递的测试信号。

3.如权利要求1所述的显示面板的阵列基板，其中于一显示模式下，各所述选择单元的该第一开关元件为开启而使各所述数据线单元的该第一数据线接收到该第一显示数据输入垫所传递的显示数据信号，且该至少一第二开关元件为关闭，而使各所述数据线单元的该至少一第二数据线通过对应的各所述旁通单元的该至少一旁通线接收到该至少一第二显示数据输入垫所传递的显示数据信号。

4.如权利要求1所述的显示面板的阵列基板，还包括一第一控制线与至少一第二控制线，其中该第一控制线与各所述选择单元的该第一开关元件的一控制端电性连接，且该至少一第二控制线与各所述选择单元的该至少一第二开关元件的一控制端电性连接。

5.如权利要求4所述的显示面板的阵列基板，还包括一第一信号源、一第二信号源以及一致能开关元件，该致能开关元件用以控制该第一信号源与该第一控制线的电性连接，以及用以控制该第二信号源与该至少一第二控制线的电性连接。

6.如权利要求1所述的显示面板的阵列基板，其中该测试阵列还包括多条第三控制线与多个开关元件，各所述开关元件分别与对应的一测试线与对应的一第三控制线电性连接，且所述多条第三控制线可控制所述多个开关元件依序开启而使测试信号依序传递至各所述显示数据输入垫单元的该第一显示数据输入垫。

7.如权利要求6所述的显示面板的阵列基板，其中该测试阵列还包括多个测试信号输入垫，且各所述测试信号输入垫与各所述测试单元的所述测试线的一端电性连接。

8.如权利要求1所述的显示面板的阵列基板，其中所述多个测试单元的所述测试线的总数与所述多个数据线单元的所述第一数据线与所述第二数据线的总数之比为1∶N，其中N为大于等于3的正整数。

9.一种显示面板的阵列基板，包括：

一基板，包括一有源区与一周边区；

一第一数据线与至少一第二数据线，位于该基板的该有源区内；

一第一显示数据输入垫与至少一第二显示数据输入垫，位于该基板的该周边区内；

一第一开关元件与至少一第二开关元件，位于该基板的该周边区内，其中该第一开关元件的一输出端与该第一数据线电性连接，该至少一第二开关元件的一输出端与该至少一第二数据线电性连接，该第一开关元件的一输入端与该至少一第二开关元件的一输入端均与该第一显示数据输入垫电性连接；

一测试线，位于该基板的该周边区内，且该测试线与该第一显示数据输入垫电性连接；以及

至少一旁通线，位于该基板的该周边区内，且该至少一旁通线分别电性连接该至少一第二显示数据输入垫与该至少一第二数据线。

10.如权利要求9所述的显示面板的阵列基板，其中于一测试模式下，该第一开关元件与该至少一第二开关元件为依序开启而使该第一数据线与该至少一第二数据线依序接收到由该测试线所传递的一测试信号。

11.如权利要求9所述的显示面板的阵列基板，其中于一显示模式下，该第一开关元件为开启而使该第一数据线接收到该第一显示数据输入垫所传递的一第一显示数据信号，且该至少一第二开关元件为关闭，而使该至少一第二数据线通过该至少一旁通线接收到该至少一第二显示数据输入垫所传递的一第二显示数据信号。

12.如权利要求9所述的显示面板的阵列基板，还包括一第一控制线与至少一第二控制线，其中该第一控制线与该第一开关元件的一控制端电性连接，且该至少一第二控制线与该至少一第二开关元件的一控制端电性连接。

13.如权利要求12所述的显示面板的阵列基板，还包括一第一信号源、一第二信号源以及一致能开关元件，该致能开关元件用以控制该第一信号源与该第一控制线的电性连接，以及用以控制该第二信号源与该至少一第二控制线的电性连接。

14.一种显示面板的测试方法，包括：

提供如权利要求9所述的显示面板的阵列基板；

对该测试线施加一测试信号；以及

依序开启该第一开关元件与该至少一第二开关元件，以使该测试信号依序传递至该第一数据线与该至少一第二数据线。

15.一种显示面板的显示方法，包括：

提供如权利要求9所述的显示面板的阵列基板；

开启该第一开关元件，并对该第一显示数据输入垫输入一第一显示数据信号，以使该第一显示数据信号经由该第一开关元件传递至该第一数据线；以及

关闭该至少一第二开关元件，并对该至少一第二显示数据输入垫输入一第二显示数据信号，以使该第二显示数据信号经由该至少一旁通线传递至该至少一第二数据线。

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