CN101936929B - X射线荧光元素分析装置及其录井仪 - Google Patents
X射线荧光元素分析装置及其录井仪 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101936929B CN101936929B CN2010102376444A CN201010237644A CN101936929B CN 101936929 B CN101936929 B CN 101936929B CN 2010102376444 A CN2010102376444 A CN 2010102376444A CN 201010237644 A CN201010237644 A CN 201010237644A CN 101936929 B CN101936929 B CN 101936929B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- vacuum chamber
- specimen holder
- hole
- ray
- xrf
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 18
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 17
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 7
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 7
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 26
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000011435 rock Substances 0.000 description 5
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 241001074085 Scophthalmus aquosus Species 0.000 description 1
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000010430 carbonatite Substances 0.000 description 1
- 239000006071 cream Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000000105 evaporative light scattering detection Methods 0.000 description 1
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000003345 natural gas Substances 0.000 description 1
- 239000003129 oil well Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 235000002639 sodium chloride Nutrition 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
一种X射线荧光元素分析装置及其录井仪，该装置含有真空腔，以及安装在真空腔上的X光管和元素分析检测器，该真空腔上设有排气孔，所述的真空腔为圆柱筒形空腔，一端设有封板，另一端安装有密封堵头，该真空腔的上部正上方开有向其中心的X光孔，在该X光孔内安装有准直器，所述X光管的出光口正对真空腔上的X光孔安装，所述的真空腔上部还设有探测器安装孔，该探测器安装孔与所述的X光孔成一定夹角α，所述的真空腔内部安装有半圆柱形的样品架。该录井仪含有壳体，操作仪表面板，门体，安装在壳体内的架体，所述的架体上安装有上述装置，在架体上还安装有电源和X光管控制器；该发明使用携带方便、具有固液两用功能，检测效果好，便于推广。
Description
一、技术领域
本发明涉及石油、天然气钻井技术领域，特别是涉及一种X射线荧光元素分析装置及其录井仪。
二、背景技术
“录井工程”是石油、天然气勘探开发领域的一个常规行业，其主要责任是对石油钻井过程中岩心、泥浆中的岩屑及油气显示给予解释与评价。
长期以来此行业一直存在以下问题：
1、对岩心与岩屑的岩性描述一直以来基本以肉眼观察为主，存在较多人为因素，始终处在“定性”解释的水平上；
2、对碳酸盐岩、膏岩、盐岩等化学岩及火山岩等特殊岩性的识别上缺乏可靠的手段；
3、近年来，为PDC、空气钻、泡沫钻等钻井新工艺的引进，造成岩屑细小甚至成粉末状，常规肉眼识别已无法胜任。
4、溶解于泥浆中的离子成分(特别对于高危的S2-)没有有效的监测手段。
近年来，国内外也出现了一些利用X射线荧光方法对岩石特定元素含量进行分析的设备，但其主要是针对实验室分析研究，其结构及性能特点限制了在录井现场的应用。(1)其真空腔大都是上开门结构，其X光管与探头一般安装在真空腔下部，这种结构极易造成探头被样品粉尘污染，影响其使用和检查效果，不适合大批量检测作业；(2)设计体积一般都较大，不适合野外携带；(3)操作复杂，分析周期过长，适应不了录井现场高频率的检测要求，不能及时跟上钻进速度；(4)仪器价格昂贵，检测成本高，无法在钻井现场大规模推广等诸多问题。
三、发明内容
本发明的目的是为了解决上述问题，提供一种X射线荧光元素分析装置及其录井仪。
本发明的技术方案是：一种X射线荧光元素分析装置，含有真空腔，以及安装在真空腔上的X光管和元素分析检测器，该真空腔上设有排气孔，所述的真空腔为圆柱筒形空腔，一端设有封板，另一端安装有密封堵头，该真空腔的上部正上方开有向其中心的X光孔，在该X光孔内安装有准直器，所述X光管的出光口正对真空腔上的X光孔安装，所述的真空腔上部还设有探测器安装孔，该探测器安装孔与所述的X光孔成一定夹角α，所述的真空腔内部安装有半圆柱形的样品架。
所述的X光管与真空腔连接部位设有密封结构；所述的探测器与真空腔通过安装螺栓连接，并设有密封结构；所述的密封堵头与真空腔之间设有密封结构。
所述的样品架内设有逐次下陷的三个台阶面，第一个台阶面比该样品架上表面略窄，沿样品架的轴向贯穿整个样品架，在第一台阶面和样品架上表面之间形成两个向上突出边缘，其中至少一个边缘上设有通向该样品架外圆周面的样品架定位孔，该定位孔内设有定位螺栓；第二台阶面比第一台阶面略窄，该台阶面沿样品架的轴向深入到样品架内一定深度，该台阶面里端为圆柱形竖直空腔，该圆柱形竖直空腔下面与第三台阶面共面；第三台阶面比第二台阶面略窄；所述的样品架的端头上设有与轴向平行的定位孔；该定位孔位于第二台阶面到第三台阶面之间的竖向里面外侧。
该装置还含有可升降样品支座，该支座包括上体和下体两部分，上体和下体之间通过螺纹连接；上体和下体的直径与所述的样品架内的圆柱形竖直空腔直径匹配。
一种X射线荧光元素录井仪，含有壳体，操作仪表面板，门体，安装在壳体内的架体，所述的架体上安装有X射线荧光元素分析装置，该分析装置含有真空腔，以及安装在真空腔上的X光管和元素分析检测器，该真空腔上设有排气孔，所述的真空腔为圆柱筒形空腔，一端设有封板，另一端安装有密封堵头，该真空腔的上部正上方开有向其中心的X光孔，在该X光孔内安装有准直器，所述X光管的出光口正对真空腔上的X光孔安装，所述的真空腔上部还设有探测器安装孔，该探测器安装孔与所述的X光孔成一定夹角α，所述的真空腔内部安装有半圆柱形的样品架；在架体上还安装有电源和X光管控制器；所述的真空腔的封板四角设有安装孔，通过紧固件安装在架体上。
所述的X光管与真空腔连接部位设有密封结构；所述的探测器与真空腔通过安装螺栓连接，并设有密封结构；所述的密封堵头与真空腔之间设有密封结构。
所述的样品架内设有逐次下陷的三个台阶面，第一个台阶面比该样品架上表面略窄，沿样品架的轴向贯穿整个样品架，在第一台阶面和样品架上表面之间形成两个向上突出边缘，其中至少一个边缘上设有通向该样品架外圆周面的样品架定位孔，该定位孔内设有定位螺栓；第二台阶面比第一台阶面略窄，该台阶面沿样品架的轴向深入到样品架内一定深度，该台阶面里端为圆柱形竖直空腔，该圆柱形竖直空腔下面与第三台阶面共面；第三台阶面比第二台阶面略窄；所述的样品架的端头上设有与轴向平行的定位孔；该定位孔位于第二台阶面到第三台阶面之间的竖向里面外侧。
该装置还含有可升降样品支座，该支座包括上体和下体两部分，上体和下体之间通过螺纹连接；上体和下体的直径与所述的样品架内的圆柱形竖直空腔直径匹配。
所述的门体与壳体之间为合页式连接结构。
本发明的有益效果
1、可对录井现场的岩屑、岩心样进行定量元素分析准确判定岩性；
2、可对录井现场的泥浆样进行元素分析，监测地层流体中的特定离子变化；
3、本装置及其仪器样品腔具有独特的探测器上置且侧开门的结构，将X光管和探测器设置在真空腔的上部，能够有效防止了样品粉末对X光管和探测器的污染；提高检查效果。
4、本装置及其仪器的样品架设计独到具有以下特点：1)真空腔内部为圆柱形，样品架为半圆柱形，二者匹配可以实现样品架在真空腔内可旋转一定角度，能够保证探测器的最佳检测角；2)样品架内置可升降样品支座，对于压制的不同厚度的样片，能够有效保证其检测距离的一致性；3)样品架中的升降台可方便地取出，样品架就可以放置试管瓶，用以检测泥浆液体样。
5、该装置对外界使用环境要求不高，能够在钻井现场使用。
四、附图说明
图1为该X射线荧光元素分析装置立体结构示意图
图2为该X射线荧光元素分析装置正视结构示意图
图3为该X射线荧光元素分析装置左视结构示意图
图4为图2的A-A剖面结构示意图
图5为图3的B-B剖面结构示意图
图6为该X射线荧光元素分析装置俯视结构示意图
图7为X射线荧光元素分析装置的样品架和可升降样品支座的部件立体图
图8为图7的正视结构示意图
图9为图7的俯视结构示意图
图10为样品架的立体结构示意图
图11为可升降样品支座的立体结构示意图
图12为可升降样品支座的正视剖视结构示意图
图13为真空腔的立体结构示意图
图14为X射线荧光元素录井仪立体结构示意图
图15为X射线荧光元素录井仪正视结构示意图
图16为图15的左视图
图17为图15的C-C剖视结构示意图
图18为图16的D-D剖视结构示意图
五、具体实施方式
参见图1-图18，图中1.真空腔、2.X光管、3.探测器、4.安装螺栓、5.密封堵头、6、准直器、7.样品架、8.可升级样品支座下体、9.可升级样品支座上体、10.样品环、11.密封圈、101.壳体、102.门体、103.操作仪表面板、104.架体、105.电源、106.X光管控制器，其中1-1.排气孔、1-2.X光孔、1-3.探测器安装孔、1-4.封板、1-5.安装孔、1-6.腔、7-1.样品架定位孔、7-2.定位孔、7-3.第二台阶面、7-4.第三台阶面、7-5.竖直空腔、7-6.第一台阶面。
实施例一：参见图1-图13，图中一种X射线荧光元素分析装置，含有真空腔，以及安装在真空腔上的X光管和元素分析检测器，该真空腔上设有排气孔，所述的真空腔为圆柱筒形空腔，一端设有封板，另一端安装有密封堵头，该真空腔的上部正上方开有向其中心的X光孔，在该X光孔内安装有准直器，所述X光管的出光口正对真空腔上的X光孔安装，所述的真空腔上部还设有探测器安装孔，该探测器安装孔与所述的X光孔成一定夹角α，所述的真空腔内部安装有半圆柱形的样品架。
所述的X光管与真空腔连接部位设有密封结构；所述的探测器与真空腔通过安装螺栓连接，并设有密封结构，可安装密封圈；所述的密封堵头与真空腔之间设有密封结构，如图中密封圈11。
所述的样品架内设有逐次下陷的三个台阶面，第一个台阶面比该样品架上表面略窄，沿样品架的轴向贯穿整个样品架，在第一台阶面和样品架上表面之间形成两个向上突出边缘，其中至少一个边缘上设有通向该样品架外圆周面的样品架定位孔，该定位孔内设有定位螺栓；第二台阶面比第一台阶面略窄，该台阶面沿样品架的轴向深入到样品架内一定深度，该台阶面里端为圆柱形竖直空腔，该圆柱形竖直空腔下面与第三台阶面共面；第三台阶面比第二台阶面略窄；所述的样品架的端头上设有与轴向平行的定位孔，通过定位螺栓可以定为可升级支座；该定位孔位于第二台阶面到第三台阶面之间的竖向里面外侧。
该装置还含有可升降样品支座，该支座包括上体和下体两部分，上体和下体之间通过螺纹连接；上体和下体的直径与所述的样品架内的圆柱形竖直空腔直径匹配。
实施例二：参见图1-图18，图中一种X射线荧光元素录井仪，含有壳体，操作仪表面板，门体，安装在壳体内的架体，所述的架体上安装有X射线荧光元素分析装置，该分析装置含有真空腔，以及安装在真空腔上的X光管和元素分析检测器，该真空腔上设有排气孔，所述的真空腔为圆柱筒形空腔，一端设有封板，另一端安装有密封堵头，该真空腔的上部正上方开有向其中心的X光孔，在该X光孔内安装有准直器，所述X光管的出光口正对真空腔上的X光孔安装，所述的真空腔上部还设有探测器安装孔，该探测器安装孔与所述的X光孔成一定夹角α，所述的真空腔内部安装有半圆柱形的样品架；在架体上还安装有电源和X光管控制器；所述的真空腔的封板四角设有安装孔，通过紧固件安装在架体上。
所述的X光管与真空腔连接部位设有密封结构；所述的探测器与真空腔通过安装螺栓连接，并设有密封结构，可安装密封圈；所述的密封堵头与真空腔之间设有密封结构，如图中密封圈11。
所述的样品架内设有逐次下陷的三个台阶面，第一个台阶面比该样品架上表面略窄，沿样品架的轴向贯穿整个样品架，在第一台阶面和样品架上表面之间形成两个向上突出边缘，其中至少一个边缘上设有通向该样品架外圆周面的样品架定位孔，该定位孔内设有定位螺栓；第二台阶面比第一台阶面略窄，该台阶面沿样品架的轴向深入到样品架内一定深度，该台阶面里端为圆柱形竖直空腔，该圆柱形竖直空腔下面与第三台阶面共面；第三台阶面比第二台阶面略窄；所述的样品架的端头上设有与轴向平行的定位孔，通过定位螺栓可以定为可升级支座；该定位孔位于第二台阶面到第三台阶面之间的竖向里面外侧。
该装置还含有可升降样品支座，该支座包括上体和下体两部分，上体和下体之间通过螺纹连接；上体和下体的直径与所述的样品架内的圆柱形竖直空腔直径匹配。
所述的门体与壳体之间为合页式连接结构。
该X射线荧光元素录井仪的使用过程：
若需要检测岩屑等固体样品，先将制作好的固定在样品环内的固定样品饼置入所述可升级支座上面，通过调整可升级支座的上体旋转，调整样品饼的高度到合适位置，若样品架角度不合适可以旋转样品架到合适角度；拧上密封堵头，关闭该仪器的门体，启动仪器进行检测；若需要检测泥浆等液体样品，则需要将样品腔内的可升级支座取出，将样品杯置入样品架的竖直空腔内，然后拧上密封堵头，关闭该仪器的门体，启动仪器进行检测。
Claims (9)
1.一种X射线荧光元素分析装置，含有真空腔，以及安装在真空腔上的X光管和元素分析检测器，该真空腔上设有排气孔，其特征是：所述的真空腔为圆柱筒形空腔，一端设有封板，另一端安装有密封堵头，该真空腔的上部正上方开有向其中心的X光孔，在该X光孔内安装有准直器，所述X光管的出光口正对真空腔上的X光孔安装，所述的真空腔上部还设有探测器安装孔，该探测器安装孔与所述的X光孔成一定夹角α，所述的真空腔内部安装有半圆柱形的样品架。
2.根据权利要求1所述的X射线荧光元素分析装置，其特征是：所述的X光管与真空腔连接部位设有密封结构；所述的探测器与真空腔通过安装螺栓连接，并设有密封结构；所述的密封堵头与真空腔之间设有密封结构。
3.根据权利要求1所述的X射线荧光元素分析装置，其特征是：所述的样品架内设有逐次下陷的三个台阶面，第一个台阶面比该样品架上表面略窄，沿样品架的轴向贯穿整个样品架，在第一台阶面和样品架上表面之间形成两个向上突出边缘，其中至少一个边缘上设有通向该样品架外圆周面的样品架定位孔，该定位孔内设有定位螺栓；第二台阶面比第一台阶面略窄，该台阶面沿样品架的轴向深入到样品架内一定深度，该台阶面里端为圆柱形竖直空腔，该圆柱形竖直空腔下面与第三台阶面共面；第三台阶面比第二台阶面略窄；所述的样品架的端头上设有与轴向平行的定位孔；该定位孔位于第二台阶面到第三台阶面之间的竖向里面外侧。
4.根据权利要求3所述的X射线荧光元素分析装置，其特征是：该装置还含有可升降样品支座，该支座包括上体和下体两部分，上体和下体之间通过螺纹连接；上体和下体的直径与所述的样品架内的圆柱形竖直空腔直径匹配。
5.一种X射线荧光元素录井仪，含有壳体，操作仪表面板，门体，安装在壳体内的架体，其特征是：所述的架体上安装有X射线荧光元素分析装置，该分析装置含有真空腔，以及安装在真空腔上的X光管和元素分析检测器，该真空腔上设有排气孔，所述的真空腔为圆柱筒形空腔，一端设有封板，另一端安装有密封堵头，该真空腔的上部正上方开有向其中心的X光孔，在该X光孔内安装有准直器，所述X光管的出光口正对真空腔上的X光孔安装，所述的真空腔上部还设有探测器安装孔，该探测器安装孔与所述的X光孔成一定夹角α，所述的真空腔内部安装有半圆柱形的样品架；在架体上还安装有电源和X光管控制器；所述的真空腔的封板四角设有安装孔，通过紧固件安装在架体上。
6.根据权利要求5所述的X射线荧光元素录井仪，其特征是：所述的X光管与真空腔连接部位设有密封结构；所述的探测器与真空腔通过安装螺栓连接，并设有密封结构；所述的密封堵头与真空腔之间设有密封结构。
7.根据权利要求5所述的X射线荧光元素录井仪，其特征是：所述的样品架内设有逐次下陷的三个台阶面，第一个台阶面比该样品架上表面略窄，沿样品架的轴向贯穿整个样品架，在第一台阶面和样品架上表面之间形成两个向上突出边缘，其中至少一个边缘上设有通向该样品架外圆周面的样品架定位孔，该定位孔内设有定位螺栓；第二台阶面比第一台阶面略窄，该台阶面沿样品架的轴向深入到样品架内一定深度，该台阶面里端为圆柱形竖直空腔，该圆柱形竖直空腔下面与第三台阶面共面；第三台阶面比第二台阶面略窄；所述的样品架的端头上设有与轴向平行的定位孔；该定位孔位于第二台阶面到第三台阶面之间的竖向里面外侧。
8.根据权利要求7所述的X射线荧光元素录井仪，其特征是：该装置还含有可升降样品支座，该支座包括上体和下体两部分，上体和下体之间通过螺纹连接；上体和下体的直径与所述的样品架内的圆柱形竖直空腔直径匹配。
9.根据权利要求5所述的X射线荧光元素录井仪，其特征是：所述的门体与壳体之间为合页式连接结构。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2010102376444A CN101936929B (zh) | 2010-07-27 | 2010-07-27 | X射线荧光元素分析装置及其录井仪 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2010102376444A CN101936929B (zh) | 2010-07-27 | 2010-07-27 | X射线荧光元素分析装置及其录井仪 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101936929A CN101936929A (zh) | 2011-01-05 |
| CN101936929B true CN101936929B (zh) | 2012-05-23 |
Family
ID=43390370
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2010102376444A Active CN101936929B (zh) | 2010-07-27 | 2010-07-27 | X射线荧光元素分析装置及其录井仪 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN101936929B (zh) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102944570B (zh) * | 2012-12-02 | 2014-11-26 | 天津陆海石油设备***工程有限责任公司 | 一种基于x射线元素荧光的岩石样品岩性定名的分析方法 |
| CN104502386B (zh) * | 2014-12-16 | 2017-09-22 | 深圳市善时仪器有限公司 | X‑射线荧光光谱分析仪 |
| CN106555586B (zh) * | 2015-09-24 | 2020-08-04 | 中石化石油工程技术服务有限公司 | 一种随钻连续自然伽玛录井仪及其录井方法 |
| CN106124545A (zh) * | 2016-08-31 | 2016-11-16 | 中国石油集团川庆钻探工程有限公司 | 利用岩屑x射线荧光光谱特征进行分层卡层的方法 |
| CN108240999A (zh) * | 2016-12-26 | 2018-07-03 | 中国石油天然气股份有限公司 | 一种碎屑岩岩性的识别方法 |
| CN108535303A (zh) * | 2018-05-28 | 2018-09-14 | 中石化石油工程技术服务有限公司 | 一种检测岩心样品元素的xrf仪器 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2742415B2 (ja) * | 1987-11-27 | 1998-04-22 | 株式会社日立製作所 | Ｘ線分析装置 |
| EP0955539A2 (de) * | 1998-05-07 | 1999-11-10 | Bruker AXS Analytical X-Ray Systems GmbH | Kompaktes Röntgenspektrometer |
| CN101082277A (zh) * | 2007-07-05 | 2007-12-05 | 北京奥能瑞科石油技术有限公司重庆分公司 | 石油钻井地质x射线荧光岩屑录井方法 |
| CN101669024A (zh) * | 2007-03-06 | 2010-03-10 | 赛默飞世尔科技公司 | X射线分析仪器 |
| CN201749092U (zh) * | 2010-07-27 | 2011-02-16 | 中国石化集团华北石油局 | X射线荧光元素分析装置及其录井仪 |
-
2010
- 2010-07-27 CN CN2010102376444A patent/CN101936929B/zh active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2742415B2 (ja) * | 1987-11-27 | 1998-04-22 | 株式会社日立製作所 | Ｘ線分析装置 |
| EP0955539A2 (de) * | 1998-05-07 | 1999-11-10 | Bruker AXS Analytical X-Ray Systems GmbH | Kompaktes Röntgenspektrometer |
| CN101669024A (zh) * | 2007-03-06 | 2010-03-10 | 赛默飞世尔科技公司 | X射线分析仪器 |
| CN101082277A (zh) * | 2007-07-05 | 2007-12-05 | 北京奥能瑞科石油技术有限公司重庆分公司 | 石油钻井地质x射线荧光岩屑录井方法 |
| CN201749092U (zh) * | 2010-07-27 | 2011-02-16 | 中国石化集团华北石油局 | X射线荧光元素分析装置及其录井仪 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN101936929A (zh) | 2011-01-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101936929B (zh) | X射线荧光元素分析装置及其录井仪 | |
| CN102692399B (zh) | 一种可用于激光诱导击穿光谱的小型多功能样品室 | |
| CN201749092U (zh) | X射线荧光元素分析装置及其录井仪 | |
| CN103776722B (zh) | 负压环境下取样的煤层瓦斯含量测试方法 | |
| CN101082277A (zh) | 石油钻井地质x射线荧光岩屑录井方法 | |
| CN106706361B (zh) | 一种连续采样的螺旋式原状土采样器 | |
| CN110132642A (zh) | 一种土壤环境检测采样器 | |
| CN102478470A (zh) | 一种活塞式真空脱气装置及其脱气方法 | |
| CN103424333B (zh) | 一种等温吸附仪中测试岩石样品比表面的装置 | |
| CN108871876A (zh) | 用于监测注气驱油井场包气带土壤二氧化碳通量的采气柱 | |
| CN205786410U (zh) | 一种x射线荧光岩屑元素分析装置 | |
| CN204439490U (zh) | 一种测试页岩含气量的解析罐 | |
| CN114813981A (zh) | 一种场地VOCs挥发通量检测技术 | |
| CN202793863U (zh) | 岩石解析气高真空脱气集气装置 | |
| CN102607902B (zh) | 一种土壤物理吸附烃真空解吸密封罐 | |
| CN107918002A (zh) | 一种在线测定下层土壤呼吸强度的装置 | |
| CN102768165A (zh) | 利用高温法快速测定残余气量的仪器及方法 | |
| CN108731985A (zh) | 一种主动式土壤吸附烃采样钻具 | |
| CN202735187U (zh) | 利用高温法快速测定残余气量的仪器 | |
| CN201514348U (zh) | 水驱替油岩样盒 | |
| CN213812941U (zh) | 一种地质勘察定位测量*** | |
| CN103808546B (zh) | 岩心抽空加压饱和*** | |
| CN207408138U (zh) | 一种便携式石油地质取样器 | |
| CN102733796A (zh) | 氮气压力检测装置 | |
| CN201535162U (zh) | 油驱替水岩样盒 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| DD01 | Delivery of document by public notice |
Addressee: Patent officer of North China Petroleum Bureau of Sinopec Document name: Notification that Application Deemed not to be Proposed |
|
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Free format text: FORMER OWNER: SINOPEC GROUP Effective date: 20141230 Owner name: SINOPEC OILFIELD SERVICE CORPORATION Free format text: FORMER OWNER: CNPC HUABEI PETROLEUM Effective date: 20141230 |
|
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| COR | Change of bibliographic data |
Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 450006 ZHENGZHOU, HENAN PROVINCE TO: 100029 CHAOYANG, BEIJING |
|
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20141230 Address after: 100029 Beijing City, Chaoyang District Hui Street No. six twelfth floor Patentee after: SINOPEC OILFIELD SERVICE CORPORATION Address before: 450006, five floor, North China Petroleum Bureau, 197 Funiu Road, Zhengzhou, Henan Patentee before: CNPC Huabei Petroleum Patentee before: China Petrochemical Group Corp. |
|
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20220130 Address after: 100028 Chaoyang District, Beijing Hui Xin Street 6, Twelfth level. Patentee after: SINOPEC OILFIELD SERVICE Corp. Patentee after: Sinopec Jingwei Co.,Ltd. Patentee after: SINOPEC NORTH CHINA PETROLEUM ENGINEERING Co.,Ltd. Patentee after: North China Measurement and control company of Sinopec Jingwei Co.,Ltd. Patentee after: North China logging branch of Sinopec Jingwei Co.,Ltd. Address before: 100029 Chaoyang District, Beijing Hui Xin Street six, Twelfth level. Patentee before: SINOPEC OILFIELD SERVICE Corp. |
|
| TR01 | Transfer of patent right |