CN101846828A - 主动组件阵列基板与液晶显示面板 - Google Patents

主动组件阵列基板与液晶显示面板 Download PDF

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Abstract

一种主动组件阵列基板,包括多条电极配线与多个检测单元。每一检测单元包括短路杆与多个电性接续单元,其中电性接续单元分别与对应的短路杆以及对应的电极配线电性连接。电性接续单元包括第一导电图案、第一介电层、第二导电图案、第二介电层与透明导电图案。第一导电图案连接电极配线而分别设置在电极配线的第一侧与第二侧。第二导电图案与电极配线垂直。透明导电图案通过位于第一接触窗开口以及第二接触窗开口电性连接至第一导电图案与第二接触窗以及短路杆。第一接触窗开口附近的至少部分第二导电图案被移除。

Description

主动组件阵列基板与液晶显示面板
技术领域
本发明是有关于一种阵列基板与显示面板,且特别是有关于一种具有检测单元(inspection units)的主动组件阵列基板、以及具有此主动组件阵列基板的液晶显示面板。
背景技术
具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)已逐渐成为显示器的主流。显示时,液晶显示面板通过扫描线与数据线选取特定的像素,并提供此像素适当的操作电压,以显示对应此像素的画面。特别是,在液晶显示面板的制作过程中,需要对其进行测试,以确定所制作出来的液晶显示面板能正常运作。
一般而言,采用短路杆(shorting bar)的设计对于液晶显示面板进行测试。详言之,液晶显示面板包括一主动组件阵列基板、一彩色滤光基板以及配置于两基板之间的液晶层。主动组件阵列基板包括显示区以及周边电路区,而短路杆配置于周边电路区上。
当进行测试时,例如是以栅极短路杆(gate shorting bar)同时接触所有的扫描线,且对每一扫描线施加同一栅极测试信号。所以,可在同一时间开启连接于每一扫描在线的像素内的所有薄膜晶体管。另外,以源极短路杆(sourceshorting bar)同时接触所有的数据线,并经由此源极短路杆输入一共同测试信号至数据在线,以将显示数据输入每一像素中,进而观察整个显示画面的显示情形。
采用上述短路杆的测试方法,所有薄膜晶体管与像素电极均接收并反映同一信号。当电路中存在缺陷(如开路或断路)将会使组件接收不到预定的信号,而显示出与正常组件(像素)不同的电气与光学特性。测试者即可据此观察而知缺陷的所在位置。
图1A为公知一种主动组件阵列基板的示意图。图1B与图1C为分别图1A中的检测单元沿A-A’线的剖面示意图。请同时参照图1A与图1B,主动组件阵列基板10包括多条电极配线20以及多个与电极配线20对应的检测单元22,其中检测单元22包括多条短路杆90以及多个对应短路杆90的电性接续单元30。其中,电性接续单元30包括第一导电图案40、第一介电层70、第二导电图案50、第二介电层80以及透明导电图案60。
如图1A与图1B所示,位于每一电性接续单元30中的第一导电图案40是通过第一接触窗开口H1,而与第二导电图案50以及透明导电图案60连接。第二导电图案50是通过第二接触窗开口H2与透明导电图案60连接。
请参照图1C,在第一介电层70的制作过程中,常因过度蚀刻而使得第一接触窗开口H1附近膜层的坡度不连续,如此一来,使得透明导电图案60断线,而无法顺利与第一导电图案40搭接。因此,将造成检测信号无法输入的情形,而无法有效地进行主动组件阵列基板的检测。如此一来,会导致后续生产成本提高以及良率低落等问题。
为了解决上述第一介电层70因过度蚀刻而使得透明导电图案60于第一接触窗开口H1附近断开的问题,可将第一接触窗开口H1的尺寸缩小,而减缓第一介电层70过度蚀刻的现象。但是,缩小第一接触窗开口H1的尺寸将面临到电阻阻值过高的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明提出一种主动组件阵列基板,其具有可防止导电图案断开设计的检测单元。
本发明是关于另一种液晶显示面板,其具有上述的主动组件阵列基板。
为具体描述本发明的内容,在此提出一种主动组件阵列基板,此主动组件阵列基板具有一显示区以及一周边电路区,主动组件阵列基板包括多条电极配线与多个检测单元。多条电极配线配置于显示区且延伸到周边电路区中。多个检测单元配置于周边电路区,检测单元具有多条短路杆以及多个电性接续单元,其中每一电性接续单元分别与对应的短路杆以及与对应的电极配线电性连接,每一电性接续单元包括第一导电图案、第一介电层、第二导电图案、第二介电层以及透明导电图案。第一导电图案连接电极配线,而分别设置在电极配线的第一侧与相对的第二侧。第一介电层覆盖于第一导电图案上。第二导电图案配置于导电图案上方的第一介电层上,且与电极配线垂直。第二介电层覆盖于第二导电图案上。透明导电图案配置于第二导电图案上方的第二介电层上。短路杆是由该第二导电图案所构成。在电极配线的第一侧设置有一第一接触窗开口,以使得透明导电图案通过第一接触窗开口电性连接至短路杆与第一导电图案,且第一接触窗开口附近的至少部分第二导电图案被移除。在电极配线的第二侧设置有一第二接触窗开口,以使得透明导电图案通过第二接触窗开口而电性连接短路杆。
本发明另提出一种液晶显示面板,此液晶显示面板包括上述的主动组件阵列基板、彩色滤光基板与液晶层。彩色滤光基板配置于主动组件阵列基板的对向侧,而液晶层则配置于彩色滤光基板与主动组件阵列基板之间。
在本发明的一实施例中,上述的第一接触窗开口附近的第二导电图案完全被移除,而使短路杆断开。
在本发明的一实施例中,上述的电性接续单元更包括一第三接触窗开口,设置在电极配线的第一侧,以使得透明导电图案通过第三接触窗开口而电性连接短路杆。
在本发明的一实施例中,上述的电性接续单元更包括一半导体层,配置于移除了第二导电图案的第一介电层上,且半导体层位于第一介电层与第二介电层之间。
在本发明的一实施例中,第一导电图案与电极配线是相同膜层。
在本发明的一实施例中,上述的主动组件阵列基板更包括一像素阵列,设置于显示区中且与电极配线电性相连。
综上所述,本发明的主动组件阵列基板与液晶显示面板因电性接续单元中的第一接触窗开口附近有至少部分第二导电图案被移除,因此可以有效降低由于透明导电图案断开所造成的检测失效。
附图说明
图1A为公知一种主动组件阵列基板的示意图。
图1B与图1C分别为图1A中的检测单元沿A-A’线的剖面示意图。
图2A绘示为本发明第一实施例的主动组件阵列基板的示意图。
图2B为图2A沿B-B’线的剖面示意图。
图3A绘示为本发明第二实施例的主动组件阵列基板的示意图。
图3B为图3A沿C-C’线的剖面示意图。
图4A绘示为本发明第三实施例的主动组件阵列基板的示意图。
图4B为图4A沿D-D’线的剖面示意图。
图5绘示为本发明较佳实施例的一种液晶显示面板的示意图。
为让本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举本发明的较佳实施例,并配合所附图式,作详细说明如下。
具体实施方式
第一实施例
图2A绘示为本发明第一实施例的主动组件阵列基板的示意图。本实施例仅绘示主动组件阵列基板200的一部分,并以三组电极配线220以及对应的检测单元222为例。
请参照图2A,主动组件阵列基板200具有一显示区D以及一周边电路区P,主动组件阵列基板200包括多条电极配线220与多个检测单元222。多条电极配线220配置于显示区D且延伸到周边电路区P中。多个检测单元222配置于周边电路区P,其中检测单元222具有多条短路杆292以及多个电性接续单元230,且每一电性接续单元230分别与对应的短路杆292以及对应的电极配线220电性连接。其中,电极配线220为扫描配线。此外,在本实施例中,上述的主动组件阵列基板200更包括一像素阵列214,设置于显示区D中且与电极配线220电性相连。
图2B为图2A沿B-B’线的剖面示意图。请同时参照图2A与图2B,每一电性接续单元230包括第一导电图案240、第一介电层270、第二导电图案250、第二介电层280以及透明导电图案260。第一导电图案240连接电极配线220,而分别设置在电极配线220的第一侧210A与相对的第二侧210B。第一介电层270覆盖于第一导电图案240上。第二导电图案250配置于导电图案上方的第一介电层270上,且与电极配线220垂直。第二介电层280覆盖于第二导电图案250上。透明导电图案260配置于第二导电图案250上方的第二介电层280上。其中,第一介电层270与第二介电层280的材质例如是氧化硅、氮化硅或氮氧化硅等介电材料,而透明导电图案260的材质例如是铟锡氧化物或铟锌氧化物。
如图2A所示,短路杆292是由第二导电图案250所构成,在电极配线220的第一侧210A设置有第一接触窗开口H1,以使得透明导电图案260通过第一接触窗开口H1电性连接至第一导电图案240,特别是,第一接触窗开口H1附近的至少部分第二导电图案250被移除。在电极配线220的第二侧210B设置有第二接触窗开口H2,以使得透明导电图案260通过第二接触窗开口H2而电性连接短路杆292。
详言之,进行检测时,由短路杆292输入一检测信号S,检测信号S先经由第二接触窗开口H2传递至透明导电图案260。之后,检测信号S再由透明导电图案260经第一接触窗开口H1的途径传递至第一导电图案240。接着,此检测信号S可由第一导电图案240传递至显示区D内作检测。
值得注意的是,不同于公知的电性接续单元30(如图1A所绘示)的第一接触窗开口H1设计,本实施例使电性接续单元230中的第一接触窗开口H1附近的至少部分第二导电图案250被移除,如图2A所示。第一接触窗开口H1附近的第二导电图案250被移除后形成一缺口N。并且,缺口N使得透明导电图案260与第一导电图案240之间的膜层仅由第一介电层270以及第二介电层280所构成。
由于第一介电层270与第二介电层280的膜层结构较为相似,使得电性接续单元230在第一接触窗开口H1附近并不会因为蚀刻速率不同而造成膜层坡度的不连续,因此不需缩小第一接触窗开口H1的尺寸,即可有效避免透明导电图案260断开的情形。特别是,即使在图2B的左侧发生透明导电图案260的断线,在图2B的右侧的透明导电图案仍可以有效地与下方的第一导电图案240电性连接。如此一来,可有效地维持电性接续单元230的正常运作,而提升主动组件阵列基板200的良率。
另外,在本实施例中,第一导电图案240与电极配线220是相同膜层,第二导电图案250与第一导电图案240是不同的膜层,如图2B所示,亦即,构成第一导电图案240为第一金属层,构成第二导电图案250为第二金属层,而构成透明导电图案260为像素电极层。然而,本发明不限定制作电极配线220、第一导电图案240、第二导电图案250与透明导电图案260的膜层,也可搭配第一金属层(metal 1)、第二金属层(metal 2)与像素电极层(pixelelectrode layer)以进行线路布局。
第二实施例
图3A绘示为本发明第二实施例的主动组件阵列基板的示意图。图3B为图3A沿C-C’线的剖面示意图。请同时参照图3A与3B,本实施例的主动组件阵列基板300与第一实施例类似,惟主动组件阵列基板300的电性接续单元320更包括一半导体层290,配置于移除了第二导电图案250的第一介电层270上,且半导体层290位于第一介电层270与第二介电层280之间。
由于半导体层290是采用干蚀刻制程而制作,所以可以预防下方的第一介电层270过度蚀刻,所以可防止膜层坡度的不连续,而达到防止透明导电图案260断开的技术功效。同时,半导体层290可以使得透明导电图案260下方的坡度更为平缓,而促使透明导电图案260与第一导电图案更容易搭接。
第三实施例
图4A绘示为本发明第三实施例的主动组件阵列基板的示意图。图4B为图4A沿D-D’线的剖面示意图。请同时参照图4A与图4B,本实施例的主动组件阵列基板400与第一实施例类似,惟主动组件阵列基板400中的电性接续单元420在第一接触窗开口H1附近的第二导电图案250完全被移除。
在本实施例中,电性接续单元420更包括一第三接触窗开口H3,设置在电极配线220的第一侧210A,以使得透明导电图案260通过第三接触窗开口H3而电性连接短路杆292。详言之,第一接触窗开口H1附近的第二导电图案250被移除后,使得短路杆292断开而形成292A与292B两部分,其中部分短路杆292A位于电极配线220的第一侧210A,并经由第三接触窗开口H3与透明导电图案260连接。另一部份短路杆292B位于电极配线220的第二侧210B,并经由第二接触窗开口H2与透明导电图案260连接。
具体而言,令检测信号S由部分短路杆292B输入,检测信号S会经由第二接触窗开口H2再传递至透明导电图案260。接着,检测信号S会经由透明导电图案260、第一接触窗开口H1的途径而传递至第一导电图案240,以进一步将检测信号S传递至显示区D内作检测。
特别的是,检测信号S会同时经由透明导电图案260、第三接触窗开口H3而传递至另一部分短路杆292A,以利短路杆292B与短路杆292A再次导通。
图5绘示为本发明较佳实施例的一种液晶显示面板的示意图。请参考图5,液晶显示面板500包括一主动组件阵列基板510、一彩色滤光基板520与一液晶层530。主动组件阵列基板510可以是上述任一主动组件阵列基板200、300、400,至于相关的构件已于如上所述,在此不再重述。彩色滤光基板520配置于主动组件阵列基板510的对向侧。液晶层530则配置于彩色滤光基板520与主动组件阵列基板510之间。
同样地,由于主动组件阵列基板510中具有电性接续单元540,而电性接续单元540可以是上述任一电性接续单元230、320、420,而电性接续单元540可以防止透明导电图案260断开的情形,所以,在制作此液晶显示面板500时,可以利用主动组件阵列基板上510的电性接续单元540进行检测,进而增加生产良率与降低成本。
综上所述,本发明所提出的主动组件阵列基板与液晶显示面板至少具有下列优点:
由于电性接续单元的第一接触窗开口附近的至少部分第二导电图案被移除,可以避免电性接续单元中的透明导电图案在后续制程(例如:蚀刻制程)中断开。所以,电性接续单元能正常运作,不会使得主动组件阵列基板与液晶显示面板部分漏检,因此可以提升生产良率。通过在电性接续单元中第一接触窗开口附近膜层的结构设计,可以有效避免透明导电图案断开情形,而不需如公知将第一接触窗开口的尺寸缩小,可以避免电性接续单元阻值过高的问题。
虽然本发明已以较佳实施例公开如上,然其并非用以限定本发明,任何所属技术领域中具有通常知识者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的更动与润饰,因此本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。

Claims (12)

1.一种主动组件阵列基板,其特征在于,具有一显示区以及一周边电路区,该主动组件阵列基板包括:
多条电极配线,配置于该显示区且延伸到该周边电路区中;
多个检测单元,配置于该周边电路区,该些检测单元具有多条短路杆以及多个电性接续单元,其中每一电性接续单元分别与对应的短路杆以及对应的该电极配线电性连接,每一电性接续单元包括:
一第一导电图案,该第一导电图案连接该电极配线,而分别设置在该电极配线的一第一侧与相对的一第二侧;
一第一介电层,覆盖于该第一导电图案上;
一第二导电图案,配置于该导电图案上方的第一介电层上,且与该些电极配线垂直;
一第二介电层,覆盖于该第二导电图案上;以及
一透明导电图案,配置于该第二导电图案上方的该第二介电层上;
其中,该些短路杆是由该第二导电图案所构成,且在该电极配线的该第一侧设置有一第一接触窗开口,以使得该透明导电图案通过该第一接触窗开口电性连接至该短路杆与该第一导电图案,且该第一接触窗开口附近的至少部分该第二导电图案被移除;以及
在该电极配线的该第二侧设置有一第二接触窗开口,以使得该透明导电图案通过该第二接触窗开口而电性连接该短路杆。
2.如权利要求1所述的主动组件阵列基板,其特征在于,其中该第一接触窗开口附近的该第二导电图案完全被移除,而使该短路杆断开。
3.如权利要求2所述的主动组件阵列基板,其特征在于,还包括一第三接触窗开口,设置在该电极配线的该第一侧,以使得该透明导电图案通过该第三接触窗开口而电性连接该短路杆。
4.如权利要求1所述的主动组件阵列基板,其特征在于,还包括一半导体层,配置于移除了该第二导电图案的该第一介电层上,且该半导体层位于该第一介电层与该第二介电层之间。
5.如权利要求1所述的主动组件阵列基板,其特征在于,其中该第一导电图案与该电极配线是相同膜层。
6.如权利要求1所述的主动组件阵列基板,其特征在于,还包括一像素阵列,设置于该显示区中且与该些电极配线电性相连。
7.一种液晶显示面板,其特征在于,包括:
一彩色滤光基板;
一主动组件阵列基板,具有一显示区以及一周边电路区,该主动组件阵列基板包括:
多条电极配线,配置于该显示区且延伸到该周边电路区中;
多个检测单元,配置于该周边电路区,该些检测单元具有多条短路杆以及多个电性接续单元,其中每一电性接续单元分别与对应的短路杆以及对应的该电极配线电性连接,每一该些电性接续单元包括:
一第一导电图案,该导电图案连接该电极配线,而分别设置在该电极配线的一第一侧与相对的一第二侧;
一第一介电层,覆盖于该第一导电图案上;
一第二导电图案,配置于该导电图案上方的第一介电层上,且与该些电极配线垂直;
一第二介电层,覆盖于该第二导电图案上;
一透明导电图案,配置于该第二导电图案上方的该第二介电层上;
其中,该些短路杆是由该第二导电图案所构成,且在该电极配线的该第一侧设置有一第一接触窗开口,以使得该透明导电图案通过该第一接触窗开口电性连接至该短路杆与该第一导电图案,且该第一接触窗开口附近的至少部分该第二导电图案被移除;
在该电极配线的该第二侧设置有一第二接触窗开口,以使得该透明导电图案通过该第二接触窗开口而电性连接该短路杆;以及
一液晶层,配置于该彩色滤光基板与该主动组件阵列基板之间。
8.如权利要求7所述的液晶显示面板,其特征在于,其中该第一接触窗开口附近的该第二导电图案完全被移除,而使该短路杆断开。
9.如权利要求8所述的液晶显示面板,其特征在于,还包括一第三接触窗开口,设置在该电极配线的该第一侧,以使得该透明导电图案通过该第三接触窗开口而电性连接该短路杆。
10.如权利要求7所述的液晶显示面板,其特征在于,还包括一半导体层,配置于移除了该第二导电图案的该第一介电层上,且该半导体层位于该第一介电层与该第二介电层之间。
11.如权利要求7所述的液晶显示面板,其特征在于,其中该第一导电图案与该电极配线是相同膜层。
12.如权利要求7所述的液晶显示面板,其特征在于,还包括一像素阵列,设置于该显示区中且与该些电极配线电性相连。
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