CN101764716A - 一种业务芯片的测试配置方法、设备及*** - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开一种业务芯片的测试配置方法、设备及***。涉及通信技术领域,以提高芯片测试的效率,降低成本。该方法包括:将业务芯片的寄存器和表项数据经总线转换器映射到配置器的内存;配置器根据其存储的测试程序,利用内存中的寄存器和表项数据执行对业务芯片的配置,以便于对业务芯片进行测试。该***包括配置器、测试单板、测试仪表和总线转换器;配置器用于将业务芯片的寄存器和表项数据映射到内存,并根据其上的测试程序,利用内存中的寄存器和表项数据执行对业务芯片的配置;测试仪表在配置器完成对业务芯片的配置后,发送和接收测试数据,提取并记录业务芯片的测试结果。
Description
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种业务芯片的测试配置方法、设备及***。
背景技术
通信设备中大量使用ASIC(Application Specific Integrated Circuit,专用集成电路)业务芯片,以满足高速率和大容量的业务需求。
在采用控制和业务处理分离的架构中,测试单板由业务芯片和嵌入式CPU(Central Processing Unit,中央处理器)***组成。嵌入式CPU***用于配置业务芯片中各种复杂的业务。其中,在业务芯片进入市场前,需要测试该业务芯片的功能和性能。现有的芯片测试方案是开发一块测试单板,如图1所示,测试单板上包含被测业务芯片1和嵌入式CPU***2。PC(Personal Computer,个人计算机)机3通过串口连接到测试单板上。测试仪表4和被测业务芯片1连接。测试过程中:
PC机3向嵌入式CPU***2下发配置命令;
嵌入式CPU***2接收PC3机的配置命令后运行控制软件以对被测业务芯片1进行业务配置、告警性能收集等工作;
测试仪表4发送和接收各种测试数据,检查被测业务芯片1是否符合要求。
然而,现有的测试方案至少存在以下缺点:
使用现有的方案,需要工程师使用嵌入式开发工具开发各种控制、测试、驱动软件,而后由测试工程师在嵌入式操作***环境下运行所述软件以配置业务芯片,以便于测试仪表测试业务芯片的性能。因此,需要针对被测业务芯片1开发专门的嵌入式CPU***2的软硬件(例如:单板软件、驱动软件、编写BSP(Board Support Package,板级支持包)程序等),且复杂的控制软件都在嵌入式CPU***2中运行,导致调试困难、对工程师的要求高、开发出的软硬件的通用性差;而且测试过程中嵌入式CPU***2出现问题会影响被测业务芯片1的测试结果,从而导致业务芯片1从设计到投产的周期长、成本高、测试效率低。
发明内容
本发明实施例提供一种业务芯片的测试配置方法、设备及***,以提高芯片测试的效率,降低成本。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
一方面,提供一种业务芯片的测试配置方法,包括:
将业务芯片的寄存器和表项数据经总线转换器映射到配置器的内存;
所述配置器根据其存储的测试程序,利用所述内存中的寄存器和表项数据执行对所述业务芯片的配置,以便于对所述业务芯片进行测试。
一方面,提供一种测试业务芯片的***,包括:配置器、测试单板和测试仪表,该测试单板上置有被测业务芯片和建立所述业务芯片与所述配置器之间的连接的总线转换器;所述配置器安装有所述业务芯片的测试程序;其中,
所述配置器,用于将所述业务芯片的寄存器和表项数据经总线转换器映射到内存,并根据所述测试程序,利用所述内存中的寄存器和表项数据执行对所述业务芯片的配置;
所述测试仪表,用于在所述配置器完成对所述业务芯片的配置后,发送和接收测试数据,提取并记录所述业务芯片的测试结果。
一方面,提供一种测试业务芯片的设备,该设备为配置器,包括:
映射模块,用于将所述业务芯片的寄存器和表项数据经总线转换器映射到内存;
配置模块,用于根据测试程序,利用所述内存中的寄存器和表项数据执行对所述业务芯片的配置,以便于测试仪表测试所述业务芯片。
本发明实施例提供的测试业务芯片的方法、设备及***,配置器根据映射到内存中的寄存器和表项数据执行对该业务芯片的配置,以便于测试所述业务芯片;避免开发专门的嵌入式CPU***的软硬件来配置和测试业务芯片,降低了成本。另一方面,当该配置器为Windows环境下的PC机时,由于PC机功能强、测试脚本运行速度快、问题定位手段丰富,能准确地定位业务芯片配置和测试过程中故障,从而提高了测试效率。
附图说明
图1为本发明现有技术提供的测试业务芯片的***结构图;
图2为本发明实施例提供的测试业务芯片的***结构图;
图3为本发明实施例提供的测试业务芯片的方法流程图。
具体实施方式
现有的测试业务芯片的方案需要针对业务芯片开发专用的嵌入式CPU***的软硬件,由于嵌入式***的开发和调试非常困难、测试执行缓慢、通用性差,从而提高了测试业务芯片的成本、导致开发周期长、测试效率低。
本发明实施例避免开发和调试用于配置和测试业务芯片的测试单板中的嵌入式CPU***,可以直接在非嵌入式的配置器中执行对该业务芯片的配置。本实施例中的配置器以PC机为例进行说明,因此,可以直接在PC环境中开发测试业务芯片所需的各种软硬件,并在PC环境下运行所述软硬件对所述业务芯片进行配置,以便于测试所述业务芯片。下面结合附图对本发明实施例测试业务芯片的方法、设备及***进行详细描述。
实施例一
本实施例首先提供一种测试业务芯片的***,如图2所示,包括:PC机3、测试仪表5和被测业务芯片1;PC机3用于将被测业务芯片1的寄存器和表项数据映射到内存,并根据本地的测试程序,利用内存中的寄存器和表项数据执行对所述业务芯片1的配置,以便于测试所述业务芯片1。
其中,测试仪表5与被测业务芯片1建立连接,通过发送和接收各种测试数据,检查被测业务芯片1是否符合要求。测试仪表5可以与PC机3分离、单独作业,也可以与PC机3建立连接,根据PC机3的调度发送和接收各种测试数据,并将测试结果反馈到PC机3的显示界面。
其中,被测业务芯片1置于单板之上,由于被测业务芯片1一般只支持Local Bus总线、PCI(Peripheral Component Interconnect,外设部件互连)等并行总线,而并行总线的时序要求高,传输距离短,直接和PC机连接比较困难,因此,PC机3不能直接控制业务芯片1。考虑到与并行总线对应的串行总线传输速率高、抗干扰能力强,传输距离远,因此,当业务芯片1的总线为并行总线时,本实施例通过一个总线转换器4建立业务芯片1与PC机3的通路。
其中,总线转换器4的一端与业务芯片1的并行总线建立连接、另一端与PC机3的串行总线建立连接。在传输数据时,总线转换器4可以将并行总线传输的数据透传到串行总线上,也可以将串行总线传输的数据透传到并行总线上。
如图2所示,总线转换器4包括:
第一接口41,用于与业务芯片1的并行总线建立连接;
第二接口43,用于与PC机3的串行总线建立连接;
转换单元45,用于将第一接口41接收到的数据透传到与第二接口43连接的串行总线上,和/或将第二接口43接收到的数据透传到与第一接口41连接的并行总线上。
其中,总线转换器4可以和被测业务芯片1集成在同一块单板上,通过总线转换器4建立业务芯片1与PC机3之间的通路,使用方便。由于PC机3设有PCIE(PCI Express,高速外设部件互连)插槽,因此,连接总线转换器4与PC机3之间的总线可以是PCIE总线。同时,针对不同的业务芯片1和PC机3的带宽需求,可以进一步选用PCIE的1X、2X、4X等模式的总线来满足不同的带宽需求。其中,连接总线转换器4与PC机3之间的串行总线也可以是USB(Universal Serial Bus,通用串行总线)和IEEE1394(The Institute ofElectrical and Electronics Engineers,美国电气与电子工程师协会)等串行总线。
本实施例还提供一种测试业务芯片1的PC机3,如图2所示,包括映射模块31和配置模块33。映射模块31用于将业务芯片1的寄存器和表项数据映射到内存。配置模块33用于根据其上的测试程序,利用内存中的寄存器和表项数据执行对业务芯片1的配置,以便于测试仪表测试所述业务芯片。其中,配置模块33进一步包括:
驱动单元331,用于开发或安装业务芯片1的驱动程序,运行驱动程序后,触发映射模块31将业务芯片1的寄存器和表项数据映射到内存;
配置单元333,用于开发或安装业务芯片1的测试程序,在映射模块31将业务芯片1的寄存器和表项数据映射到内存后,运行该测试程序,将测试程序中的配置数据写入内存后通过映射关系配置到业务芯片1的寄存器和表项中,以便于所述测试仪表5测试所述业务芯片1。
采用本实施例提供的测试业务芯片1的***及设备,该设备包括测试用的PC机3、单板、测试仪表5等;当把被测业务芯片1通过总线转换器4连接到PC机3的PCIE插槽后,该业务芯片1就等同于PC机3的一个输入输出设备(例如:PCIE设备)。PC机3上电后,操作***会自动扫描PCIE总线,并把扫描到的业务芯片1的数据保存起来,然后根据扫描到的业务芯片的数据信息分配内存空间、中断号码等资源以完成内存映射。完成映射后,业务芯片1的所有寄存器和表项都能可以通过PC机3的内存来读写,而且任何读写芯片内存的操作都通过总线转换器4写入业务芯片1相应的寄存器和表项中以完成芯片配置。
本实施例在PC环境下开发业务芯片1的测试程序和驱动程序,该测试程序和驱动程序可以根据不同的业务需求组织配置数据,然后将该配置数据写入芯片的寄存器和表项,以便于测试仪表5执行对所述业务芯片1的测试。其中,该驱动程序用于在被安装后触发PC机3将所述业务芯片的寄存器和表项数据映射到内存。
本实施例中,PC机根据映射到内存中的寄存器和表项数据执行对该业务芯片的配置,测试用的单板由于避免了嵌入式CPU***的开发和调试,设计简单,器件少,节省了用于测试的单板的开发成本的同时也降低了测试成本,当业务芯片1测试正常时,可以保存在PC环境下开发的各种业务芯片1的驱动程序、测试程序,以便于复用该驱动程序和测试程序、提高了开发成果的利用率。例如:将该驱动程序和测试程序移植到出售单板中,出售单板即投入销售市场的单板,该出售单板仍采用控制与业务分离的架构,包括业务芯片1和控制该业务芯片1的嵌入式CPU***,因此,可以将在PC环境下开发的各种业务芯片1的驱动程序、测试程序等移植到控制该业务芯片1的嵌入式CPU***中,避免嵌入式CPU***的单独开发,从而降低了成本。而且在测试业务芯片1的***中,配置和测试执行活动全部都在PC环境下执行,由于PC机3功能强、测试脚本运行速度快、问题定位手段丰富,能准确地定位业务芯片1配置和测试过程中故障,从而提高了测试效率。例如:可以在PC环境下开发各种界面友好的测试程序以进一步提高测试效率。
实施例二
本实施例提供一种测试业务芯片的方法,如图3所示,包括:
S301,通过总线转换器建立被测业务芯片与PC机的通路,并在PC环境下开发或安装测试所需的驱动程序和测试程序。
当业务芯片的总线为并行总线时,通过总线转换器建立该业务芯片与PC机的通路。总线转换器的一端与业务芯片的并行总线建立连接、另一端与PC机的串行总线建立连接,将并行总线传输的数据透传到串行总线上,和/或将串行总线传输的数据透传到并行总线上。该并行总线可以是LocalBus总线、PCI等总线,该串行总线可以是PCIE总线。
S302,将业务芯片的寄存器和表项数据将总线转换器映射到PC机的内存。
S303,PC机根据内存的寄存器和表项数据执行对业务芯片的配置,测试仪表执行对该业务芯片的测试。包括:
PC机调用并运行测试程序,将测试程序中的配置数据写入内存后通过映射关系配置到业务芯片的寄存器和表项中,然后,测试仪表发送和接收测试数据,提取并记录所述业务芯片的测试结果。可以通过测试仪表发送和接收各种测试数据,查看测试仪表相应的状态信息完成芯片测试。进一步的,还可以建立测试仪表与PC机的连接,将测试结果显示在PC机的显示界面上。
S304,当业务芯片测试通过后,保存PC环境下开发或安装的驱动程序和测试程序,以便于复用所述驱动程序和测试程序。
本实施例提供的测试业务芯片的方法,PC机根据内存中的寄存器和配置数据执行对业务芯片的配置,以便于测试仪表测试所述业务芯片;一方面,当业务芯片测试正常时,可以将在PC环境下开发的各种业务芯片的驱动程序、测试程序等移植到出售单板中控制该业务芯片的嵌入式CPU***中,以提高开发成果的利用率;芯片测试过程不依赖嵌入式CPU***,降低了测试成本;另一方面,PC机功能强、测试脚本运行速度快、问题定位手段丰富,从而能准确地定位业务芯片配置和测试过程中故障,提高了测试效率。
本发明实施例提供的技术方案可以广泛应用于业务芯片厂商的芯片测试、业务演示、芯片诊断等***中。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种业务芯片的测试配置方法,其特征在于,包括:
将业务芯片的寄存器和表项数据经总线转换器映射到配置器的内存;
所述配置器根据其存储的测试程序,利用所述内存中的寄存器和表项数据执行对所述业务芯片的配置,以便于对所述业务芯片进行测试。
2.根据权利要求1所述业务芯片的测试配置方法,其特征在于,所述将业务芯片的寄存器和表项数据经总线转换器映射到配置器的内存之前还包括:
建立所述业务芯片、总线转换器、配置器之间的连接。
3.根据权利要求2所述业务芯片的测试配置方法,其特征在于,所述建立所述业务芯片、总线转换器、配置器之间的连接包括:
所述总线转换器一端与所述业务芯片的并行总线建立连接、另一端与所述配置器的串行总线建立连接;
传输数据时,所述总线转换器将所述并行总线传输的数据透传到所述串行总线上,和/或将所述串行总线传输的数据透传到所述并行总线上。
4.根据权利要求1所述业务芯片的测试配置方法,其特征在于,所述将业务芯片的寄存器和表项数据经总线转换器映射到配置器的内存之前还包括:
在所述配置器上开发或安装所述业务芯片的驱动程序,其中所述驱动程序用于在被安装后触发所述配置器将所述业务芯片的寄存器和表项数据映射到内存。
5.根据权利要求4所述业务芯片的测试配置方法,其特征在于,所述配置器根据所述内存中的寄存器和表项数据执行对所述业务芯片的配置包括:
所述配置器运行所述测试程序;
所述配置器将所述测试程序中的配置数据写入所述内存;
所述配置器将所述内存的配置数据通过映射关系配置到所述业务芯片的寄存器和表项中。
6.根据权利要求5所述业务芯片的测试配置方法,其特征在于,还包括:
执行完对所述业务芯片的配置之后,利用测试仪表提取并记录所述业务芯片的测试结果。
7.根据权利要求1所述业务芯片的测试配置方法,其特征在于,所述利用测试仪表提取并记录所述业务芯片的测试结果还包括:
当所述测试仪表与所述配置器建立连接时,所述测试仪表将所述测试结果显示在所述配置器的显示界面上。
8.一种测试业务芯片的***,其特征在于,包括:配置器、测试单板和测试仪表,该测试单板上置有被测业务芯片和建立所述业务芯片与所述配置器之间的连接的总线转换器;所述配置器安装有所述业务芯片的测试程序;其中,
所述配置器,用于将所述业务芯片的寄存器和表项数据经总线转换器映射到内存,并根据所述测试程序,利用所述内存中的寄存器和表项数据执行对所述业务芯片的配置;
所述测试仪表,用于在所述配置器完成对所述业务芯片的配置后,发送和接收测试数据,提取并记录所述业务芯片的测试结果。
9.一种配置器,其特征在于,包括:
映射模块,用于将所述业务芯片的寄存器和表项数据经总线转换器映射到内存;
配置模块,用于根据测试程序,利用所述内存中的寄存器和表项数据执行对所述业务芯片的配置,以便于测试仪表测试所述业务芯片。
10.根据权利要求9所述的配置器,其特征在于,所述配置模块包括:
驱动单元,用于开发或安装所述业务芯片的驱动程序,运行所述驱动程序后,触发所述映射模块将所述业务芯片的寄存器和表项数据映射到内存;
配置单元,用于开发或安装所述业务芯片的测试程序,在所述映射模块将所述业务芯片的寄存器和表项数据映射到内存后,运行所述测试程序,将所述测试程序中的配置数据写入所述内存后通过映射关系配置到所述业务芯片的寄存器和表项中,以便于所述测试仪表测试所述业务芯片。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103500091A (zh) * | 2013-09-23 | 2014-01-08 | 福建星网锐捷网络有限公司 | 一种交换芯片主频的调整方法、装置及网络设备 |
CN105227390A (zh) * | 2014-06-27 | 2016-01-06 | 中兴通讯股份有限公司 | 快速测试cpu转发性能的方法及装置 |
CN106371995A (zh) * | 2016-09-05 | 2017-02-01 | 芯海科技(深圳)股份有限公司 | 一种通过mcu防真器实现快速自动化测试的方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1863245A (zh) * | 2005-12-31 | 2006-11-15 | 华为技术有限公司 | 一种芯片标准符合度验证设备和方法 |
CN101029918A (zh) * | 2007-01-23 | 2007-09-05 | 北京芯技佳易微电子科技有限公司 | 一种基于可编程器件的可控集成电路测试***及方法 |
CN101038325A (zh) * | 2007-02-14 | 2007-09-19 | 北京中星微电子有限公司 | 一种测试芯片的方法及装置 |
-
2008
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1863245A (zh) * | 2005-12-31 | 2006-11-15 | 华为技术有限公司 | 一种芯片标准符合度验证设备和方法 |
CN101029918A (zh) * | 2007-01-23 | 2007-09-05 | 北京芯技佳易微电子科技有限公司 | 一种基于可编程器件的可控集成电路测试***及方法 |
CN101038325A (zh) * | 2007-02-14 | 2007-09-19 | 北京中星微电子有限公司 | 一种测试芯片的方法及装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103500091A (zh) * | 2013-09-23 | 2014-01-08 | 福建星网锐捷网络有限公司 | 一种交换芯片主频的调整方法、装置及网络设备 |
CN105227390A (zh) * | 2014-06-27 | 2016-01-06 | 中兴通讯股份有限公司 | 快速测试cpu转发性能的方法及装置 |
CN105227390B (zh) * | 2014-06-27 | 2019-05-31 | 中兴通讯股份有限公司 | 快速测试cpu转发性能的方法及装置 |
CN106371995A (zh) * | 2016-09-05 | 2017-02-01 | 芯海科技(深圳)股份有限公司 | 一种通过mcu防真器实现快速自动化测试的方法 |
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