CN101634962A - Pci接口测试卡 - Google Patents

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Abstract

一种PCI接口测试卡，包括一PCI接口芯片、若干PCI接脚及若干个与所述PCI接口芯片引脚对应相连的PCI测试引脚，所述PCI接口芯片与所述PCI接脚连接，所述PCI接脚用于插接一待测主机板上的PCI插槽，以使所述PCI接口芯片与所述待测主机板进行通信，所述PCI测试引脚用于电性接触一电子测试设备的探针以通过所述电子测试设备对PCI信号进行测量。所述PCI接口测试卡测试准确、测试效率高，且测试成本低。

Description

PCI接口测试卡
技术领域
本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种PCI(Peripheral ComponentInterconnection，外设部件互连)接口测试卡。
背景技术
电脑发展日新月异，功能越来越多，各种外接卡也越来越多，特别是具有PCI接口的各种外接设备在不断的发展与增多。PCI接口是主机板的主要扩展接口，通过插接不同的扩展卡可以获得目前电脑能实现的几乎所有外接功能。为了保证电脑主机板上PCI外接扩展卡的正常工作，需要对PCI接口中总线的时钟、复位、中断、数据及地址等信号进行信号完整性测试，以验证是否符合PCI规范的要求。
目前的测试方法通常是选用一块或几块符合PCI规范的PCI扩展卡(如PCI网卡等)作为测试设备，在扩展卡上引出时钟、复位、中断、数据、地址等几类信号，然后做好接地回路，再用探棒进行探测。这种测试方法需要在扩展卡上焊接多个信号测试点和地线来进行测试，造成以下弊端：扩展卡上用于焊接延长线的信号点未必是符合信号完整性测试需求的点，若不是的话会严重影响到PCI接口信号测试结果的准确性；采用焊接信号延长线和地线供探棒测试等于是人为的延长了信号的传输长度，造成测试不够准确，而且焊接质量的好坏也影响到测试结果的精确度；扩展卡上的时钟、复位、中断、数据、地址等信号并未在卡上标示出来，每次测试都需要测试人员通过线路图来确认，影响了测试的效率；多次的焊接容易造成扩展卡的损坏，增加测试的成本。
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供一种测试准确、使用方便的PCI接口测试卡。
一种PCI接口测试卡，包括一PCI接口芯片、若干PCI接脚及若干个与所述PCI接口芯片引脚对应相连的PCI测试引脚，所述PCI接口芯片与所述PCI接脚连接，所述PCI接脚用于插接一待测主机板上的PCI插槽，以使所述PCI接口芯片与所述待测主机板进行通信，所述PCI测试引脚用于电性接触一电子测试设备的探针以通过所述电子测试设备对PCI信号进行测量。
相较现有技术，所述PCI接口测试卡上设置若干PCI信号引脚及相对应的接地引脚的方法供电子测试设备的探针使用，消除了测试点不准确引起的测量误差及延长线的使用引起的信号失真，从而保证了测试精确度；而且设置PCI信号引脚的方法避免了在测试设备上多次焊接而造成设备的损坏，节约了测试的成本。
附图说明
下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。
图1为本发明PCI接口测试卡的较佳实施方式的示意图。
具体实施方式
请参照图1，本发明PCI接口测试卡的较佳实施方式包括一PCI接口芯片10、若干个PCI接脚30(即俗称的“金手指”)及若干个PCI测试引脚40(本实施方式中为十个PCI测试引脚)。每一个PCI测试引脚40均包括一信号引脚J及一接地引脚GND。所述十个PCI测试引脚的信号引脚J分别为总线命令/字节允许引脚C/BE、PCI周期帧引脚FRAME、PCI主控准备好信号引脚IRDY、PCI目标准备好信号引脚TRDY、PCI时钟信号引脚CLOC、电压引脚VCC、停止信号引脚STOP、三个地址/数据复用引脚ADO、AD1、AD2。所述总线命令/字节允许引脚C/BE、PCI周期帧引脚FRAME、PCI主控准备好信号引脚IRDY、PCI目标准备好信号引脚TRDY、时钟信号引脚CLOC、电压引脚VCC、停止信号引脚STOP、三个地址/数据复用引脚ADO、AD1、AD2分别对应连接所述PCI接口芯片10的总线命令/字节允许引脚、PCI周期帧引脚、PCI主控准备好信号引脚、PCI目标准备好信号引脚、时钟信号引脚、电压引脚、停止信号引脚、三个地址/数据复用引脚，每个PCI测试引脚40中的接地引脚GND均与所述PCI接口芯片10的接地引脚连接。本实施方式中，每个PCI测试引脚的信号引脚J的一侧设一三角形标示，以与接地引脚GND区分。
所述PCI接口芯片10与PCI接脚30对应连接，所述PCI接口测试卡的PCI接脚30用于插接一待测主机板(未示出)上的对应PCI插槽，以使所述PCI接口测试卡上的PCI接口芯片10与所述待测主机板进行通信。所述PCI测试引脚40用于电性接触一电子测试设备(如示波器)的探针以通过所述电子测试设备对所述待测主机板的PCI插槽中的时钟、复位、中断、数据、地址等信号的参数进行测量。
本实施方式中，所述PCI接口芯片10设于所述PCI接口测试卡的中央位置并靠近顶边，所述PCI接脚30设于所述PCI接口测试卡的底边位置并置于右侧。所述十个PCI测试引脚40设置于所述PCI接口芯片10的周围，且每个PCI测试引脚40的旁边都标示有相对应的信号引脚的名称。所述PCI接口芯片10及所述PCI接脚30可以根据实际需要设置于所述PCI接口测试卡的其他位置。
测试时，将所述PCI接口测试卡通过所述PCI接脚30插接在所述待测主机板的PCI插槽上，将所述示波器的探针接触到要测量的PCI测试引脚40的信号引脚J(如时钟引脚)上，上电启动所述待测主机板，此时所述示波器上显示出信号引脚J的波形，根据该波形即可判断所述信号引脚J对应的信号(如时钟信号)是否符合PCI规范。当需要测试其他信号引脚J时，首先关闭所述待测主机板，然后将所述示波器的探针接触到待测信号引脚J上，其测试原理与测试所述时钟引脚的测试原理相同，这里不再赘述。
本发明的PCI接口测试卡上设置若干PCI信号引脚及相对应的接地引脚的方法供示波器探针使用，相对现有技术直接应用PCI扩展卡焊接延长线的测试方法，本发明消除了测试点不准确引起的测量误差及延长线的使用引起的信号失真，从而保证了测试精确度；所述PCI接口测试卡上的PCI信号中的时钟、复位、中断、数据、地址等信号均有明显地标示出来，避免了测试过程中测试人员需要通过线路图来确认信号引脚，从而提高了测试效率，而且在所述PCI接口测试卡上设置若干PCI信号引脚的方法避免了在测试设备上多次焊接而造成设备的损坏，节约了测试的成本。

Claims (6)

1.一种PCI接口测试卡，包括一PCI接口芯片、若干PCI接脚及若干个与所述PCI接口芯片引脚相连的PCI测试引脚，所述PCI接口芯片与所述PCI接脚连接，所述PCI接脚用于插接一待测主机板上的PCI插槽，以使所述PCI接口芯片与所述待测主机板进行通信，所述PCI测试引脚用于电性接触一电子测试设备的探针以通过所述电子测试设备对PCI信号进行测量。
2.如权利要求1所述的PCI接口测试卡，其特征在于：每个PCI测试引脚均包括一信号引脚及一接地引脚，所述信号引脚及接地引脚分别与所述PCI接口芯片的对应引脚相连。
3.如权利要求2所述的PCI接口测试卡，其特征在于：每个PCI测试引脚的信号引脚的一侧均设有标示。
4.如权利要求1所述的PCI接口测试卡，其特征在于：所述PCI接口芯片设于所述PCI接口测试卡的中央并靠近顶边的位置，所述PCI接口测试卡的PCI接脚设于所述PCI接口测试卡的底边右侧的位置，所述若干个PCI测试引脚设置于所述PCI接口芯片的周围。
5.如权利要求1所述的PCI接口测试卡，其特征在于：每个PCI测试引脚旁边都标示有相对应的信号引脚的名称。
6.如权利要求1所述的PCI接口测试卡，其特征在于：所述PCI测试引脚有十个，每个PCI测试引脚包括一信号引脚，所述十个PCI测试引脚的信号引脚分别为总线命令/字节允许引脚、PCI周期帧引脚、PCI主控准备好信号引脚、PCI目标准备好信号引脚、时钟信号引脚、电压引脚、停止信号引脚及三个地址/数据复用引脚，并分别对应连接所述PCI接口芯片上的总线命令/字节允许引脚、PCI周期帧引脚、PCI主控准备好引脚、PCI目标准备好引脚、时钟引脚、电压引脚、停止引脚及三个地址/数据复用引脚。
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